JPH02265797A - Icカードモジュール - Google Patents
IcカードモジュールInfo
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- JPH02265797A JPH02265797A JP1087457A JP8745789A JPH02265797A JP H02265797 A JPH02265797 A JP H02265797A JP 1087457 A JP1087457 A JP 1087457A JP 8745789 A JP8745789 A JP 8745789A JP H02265797 A JPH02265797 A JP H02265797A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ICカードに装着されるICカードモジュー
ルの構造に関するものである。
ルの構造に関するものである。
(従来の技術)
従来、このような分野の技術としては、特開昭62−2
61498号公報に記載されるものがあった。以下、そ
の構成を図を用いて説明する。
61498号公報に記載されるものがあった。以下、そ
の構成を図を用いて説明する。
第2図及び第3図は前記文献に記載された&1来のIC
カードモジュールのリードフレームを示し、第2図はそ
のリードフレームの斜視図及び第3図は第2図のA−A
線断面図である。また、第4図は従来のICカードモジ
ュールの断面図である。
カードモジュールのリードフレームを示し、第2図はそ
のリードフレームの斜視図及び第3図は第2図のA−A
線断面図である。また、第4図は従来のICカードモジ
ュールの断面図である。
第2図及び第3図において、リードフレーム1はICカ
ードモジュールの一部を成すものて・あり、複数の外部
接続端子2、素子搭載部3及び配線部4を有している。
ードモジュールの一部を成すものて・あり、複数の外部
接続端子2、素子搭載部3及び配線部4を有している。
外部接続端子2は、配線部4の成す平面より突出するよ
うに設けられている。
うに設けられている。
前記素子搭載部3上には第4図に示すようにICチップ
5が搭載され、その搭載されたICチップ5はボンディ
ングワイヤ6及び配線部4を介して外部接続端子2に接
続されている。ICチップ5が搭載された側のリードフ
レーム1は、樹脂封止部7によって樹脂封止され、第4
図のようなICカードモジュール8が構成されている。
5が搭載され、その搭載されたICチップ5はボンディ
ングワイヤ6及び配線部4を介して外部接続端子2に接
続されている。ICチップ5が搭載された側のリードフ
レーム1は、樹脂封止部7によって樹脂封止され、第4
図のようなICカードモジュール8が構成されている。
このように構成されたICカードモジュール8は、図示
しないICカー呂議着される。その際、外部接続端子2
の上面はICカードの表面に露出し、例えばICカード
リーダ/ライタ等の外部機器どの接続用端子としての役
割をなす。この場合において、外部接続端子2は配線部
4より突出しているので、その露出面はICカードの表
面とほぼ同一平面を成し、凹部を形成することがない。
しないICカー呂議着される。その際、外部接続端子2
の上面はICカードの表面に露出し、例えばICカード
リーダ/ライタ等の外部機器どの接続用端子としての役
割をなす。この場合において、外部接続端子2は配線部
4より突出しているので、その露出面はICカードの表
面とほぼ同一平面を成し、凹部を形成することがない。
従って、外部接続端子2の露出面における塵埃等の付着
が防止され、その接点信頼性が高められる。
が防止され、その接点信頼性が高められる。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、士3占有成のICカードモジュール8に
おいては、ICチップ5等の樹脂封止によって第4図に
示すような反りを生じるという問題があり、その解決力
旙灘であった。
おいては、ICチップ5等の樹脂封止によって第4図に
示すような反りを生じるという問題があり、その解決力
旙灘であった。
即ち、ICチップ5搭載側めリードフレーム1表面をト
ランスファー成形によって樹脂封止した場合、成形金型
内での樹脂唖vえ応と揮発物の散失による体積収縮、及
び成形品を金型がら取り出した直後における樹脂の熱膨
脹率に基づく冷却収縮を生じる。これらの樹脂の収縮に
より、ICカードモジュール8全体が第4図のような反
り変形を生じてしまう。
ランスファー成形によって樹脂封止した場合、成形金型
内での樹脂唖vえ応と揮発物の散失による体積収縮、及
び成形品を金型がら取り出した直後における樹脂の熱膨
脹率に基づく冷却収縮を生じる。これらの樹脂の収縮に
より、ICカードモジュール8全体が第4図のような反
り変形を生じてしまう。
このような反りを生じれば、リードフレーム1の裏面側
における平坦性が著しく損われ、リードフレーム1とI
Cカード基板側との電気的接続の信頼性が低下すると共
に、リードフレーム1がICカード基板から剥離するお
それを生じる。また、外部接続端子2間にも反りが発生
するので、外部機器どの接続に際してその接点信頼性が
低下するという問題を生じる。
における平坦性が著しく損われ、リードフレーム1とI
Cカード基板側との電気的接続の信頼性が低下すると共
に、リードフレーム1がICカード基板から剥離するお
それを生じる。また、外部接続端子2間にも反りが発生
するので、外部機器どの接続に際してその接点信頼性が
低下するという問題を生じる。
さらに、n報己樹脂封止に際し、外部接続端子2の表面
が樹脂によって覆われ易く、これを放置すれば外部接続
端子2の接点特性が著しく損われるという問題もあった
。
が樹脂によって覆われ易く、これを放置すれば外部接続
端子2の接点特性が著しく損われるという問題もあった
。
本発明は前記従来技術がもっていた課題上して、ICモ
ジュールに発生する反りのなめに、リードフレームとI
Cカード基板との電気的及び機械的接続の信頼性が低下
する点、及び反りと樹脂被覆信頼性が損われる点につい
て解決したICカードモジュールを提供するものである
。
ジュールに発生する反りのなめに、リードフレームとI
Cカード基板との電気的及び機械的接続の信頼性が低下
する点、及び反りと樹脂被覆信頼性が損われる点につい
て解決したICカードモジュールを提供するものである
。
ドフレームと、前記素子搭載部に固定されたICチップ
と1.前記ICチップを封止する樹脂封止部とを備え、
ICカードに装着されるICカードモジュールにおいて
、前記ICチップの周囲における前記リードフレーム上
に、弾性を有する非金属から成る枠状の補強体を設けた
ものである6また、第2の発明では、請求項1記載のI
Cカードモジュールにおいて、前記補強体の厚さを前記
樹脂封止部の前記リードフレーム上の厚さにほぼ等しく
設定したものである。
と1.前記ICチップを封止する樹脂封止部とを備え、
ICカードに装着されるICカードモジュールにおいて
、前記ICチップの周囲における前記リードフレーム上
に、弾性を有する非金属から成る枠状の補強体を設けた
ものである6また、第2の発明では、請求項1記載のI
Cカードモジュールにおいて、前記補強体の厚さを前記
樹脂封止部の前記リードフレーム上の厚さにほぼ等しく
設定したものである。
(作用)
第1の発明によれば、以上のようにICカードモジュー
ルを構成したので、棒状の補強体はり一ドフレームと樹
脂封止部と共に強固な3層構造を構成し、樹脂封止に伴
う熱膨張収縮に起因する反り変形を阻止する働きをする
。さらに、補強体は弾性を有する非金属によって形成さ
れることにより、補強体による短絡を防止すると共に、
応力集中等に起因するICカードモジュールの破損を未
然に防ぐように働く。
ルを構成したので、棒状の補強体はり一ドフレームと樹
脂封止部と共に強固な3層構造を構成し、樹脂封止に伴
う熱膨張収縮に起因する反り変形を阻止する働きをする
。さらに、補強体は弾性を有する非金属によって形成さ
れることにより、補強体による短絡を防止すると共に、
応力集中等に起因するICカードモジュールの破損を未
然に防ぐように働く。
また、第2の発明において、樹脂封止部のリードフレー
ム上の厚さに団r季しくなるように設定された補強体は
、樹脂封止に際してリードフレームを成形金型に押し付
けるように働く。この働きにより、リードフレームと成
形金型の接触面間へは極力厚く設定されることになるの
で、前記反り変形量がさらに減少される。
ム上の厚さに団r季しくなるように設定された補強体は
、樹脂封止に際してリードフレームを成形金型に押し付
けるように働く。この働きにより、リードフレームと成
形金型の接触面間へは極力厚く設定されることになるの
で、前記反り変形量がさらに減少される。
従って、前記課題を解決することができる。
(実施例)
第1図(a)、(b)は本発明の実権例における樹脂封
止前のICカードモジュールを示すものであり、同図(
a>はその斜視図及び同図(b)はその平面図である。
止前のICカードモジュールを示すものであり、同図(
a>はその斜視図及び同図(b)はその平面図である。
また、第5図(a)、(b)は第1図(a>、(b)の
ICカードモジュールの樹脂封止後を示し、同図(a>
はそのICチップ測斜視図及び同図cb>はその外部接
続端子側斜視図である。
ICカードモジュールの樹脂封止後を示し、同図(a>
はそのICチップ測斜視図及び同図cb>はその外部接
続端子側斜視図である。
第1図(a>、(b)において、このICカードモジュ
ールのリードフレーム11は、そのほぼ中央部に素子搭
載部12を有しており、素子搭載部12の周囲には複数
の外部接続端子13が設けられている。素子搭載部12
にはICチップ14が固定されており、そのICチップ
14と外部接続端子13はボンディングワイヤ15等に
よって電文値りに接続されている。
ールのリードフレーム11は、そのほぼ中央部に素子搭
載部12を有しており、素子搭載部12の周囲には複数
の外部接続端子13が設けられている。素子搭載部12
にはICチップ14が固定されており、そのICチップ
14と外部接続端子13はボンディングワイヤ15等に
よって電文値りに接続されている。
軍raIcチップ14の周囲におけるリードフレーム1
1、上には、四辺形の棒状の補強体16が設けられてい
る。補強体16は弾性を有する非金属、例えばエポキシ
積層板やポリイミド樹脂等から成るものであり、その枠
状の内側にICチップ14及び外部接続端子1.3のボ
ンディングエリアが収まるように配置されている。補強
体16のリードフレーム11上の厚さは、後述の樹脂封
止部のリードフレーム11上の厚さにほぼ等しくなるよ
うに設定されている。
1、上には、四辺形の棒状の補強体16が設けられてい
る。補強体16は弾性を有する非金属、例えばエポキシ
積層板やポリイミド樹脂等から成るものであり、その枠
状の内側にICチップ14及び外部接続端子1.3のボ
ンディングエリアが収まるように配置されている。補強
体16のリードフレーム11上の厚さは、後述の樹脂封
止部のリードフレーム11上の厚さにほぼ等しくなるよ
うに設定されている。
このように補強体16が設けられたリードクレーム11
のICチップ14側は、第5図(a、)、(b)に示す
”ように樹脂封止部17によって樹脂封止される。この
場合において、リードフレーム11のICチップ14側
には第5図(a)に示す如く補強体16の表面が露出し
、補強体16表面と樹脂封止部17の表面はほぼ同一平
面を成している。
のICチップ14側は、第5図(a、)、(b)に示す
”ように樹脂封止部17によって樹脂封止される。この
場合において、リードフレーム11のICチップ14側
には第5図(a)に示す如く補強体16の表面が露出し
、補強体16表面と樹脂封止部17の表面はほぼ同一平
面を成している。
リードフレーム11の外部接続端子13側は、第5図(
b)に示す如く樹脂封止部17と同一平面上にリードフ
レーム11の表面が露出している。
b)に示す如く樹脂封止部17と同一平面上にリードフ
レーム11の表面が露出している。
ここに、露出した外部接続端子13の表面は、例えばI
Cカードリーダ/ライタ等の外部機器との接触部を成す
ものである。
Cカードリーダ/ライタ等の外部機器との接触部を成す
ものである。
次に、上記のように構成されたICカードモジュールの
製造方法について、第1図(a)、(b)及び第6図を
用いて説明する。第6図は成形金型内に収容されたIC
カードモジュールの断面図である。
製造方法について、第1図(a)、(b)及び第6図を
用いて説明する。第6図は成形金型内に収容されたIC
カードモジュールの断面図である。
先ず第1図(a)、(b)において、所定形状のリード
フレーム11を製作する。このリードフレーム11は、
例えばブレスカ旺やエツチング加工等により、素子搭載
部12や外部接続端子13等を一一勺に形成する。次い
で、素子搭載部12のICチップ14搭載側表面及び外
部接続端子13の外部機器接触側表面等に、金めつき等
の処理を施す。
フレーム11を製作する。このリードフレーム11は、
例えばブレスカ旺やエツチング加工等により、素子搭載
部12や外部接続端子13等を一一勺に形成する。次い
で、素子搭載部12のICチップ14搭載側表面及び外
部接続端子13の外部機器接触側表面等に、金めつき等
の処理を施す。
その後、リードフレーム11上の所定位置に補強体16
を固定する。この固定は、例えばエポキシ接着剤等によ
り補強体16をリードフレーム1.1に貼着することに
よって行なわれる。続いて、素子搭載部12上にICチ
ップ14をダイボンディングし、ICチップ14と外部
接続端子13のボンディングエリアとをワイヤボンディ
ング等により接続する。
を固定する。この固定は、例えばエポキシ接着剤等によ
り補強体16をリードフレーム1.1に貼着することに
よって行なわれる。続いて、素子搭載部12上にICチ
ップ14をダイボンディングし、ICチップ14と外部
接続端子13のボンディングエリアとをワイヤボンディ
ング等により接続する。
次に第6図に示すように、リードフレーム1]を成形金
型19内に収容し1、トランスファーD’U3によりI
Cチップ14等の樹脂封止を行なっ。その際、補強体1
6は前述の如く弾性を有する非金属で形成され、その厚
さは樹脂封止部17のり・−ドフレーム11上の厚さに
ほぼ等しくなるように設定されでいるので、補強体16
の表面はキャビティ20の上部金型19aに接触する。
型19内に収容し1、トランスファーD’U3によりI
Cチップ14等の樹脂封止を行なっ。その際、補強体1
6は前述の如く弾性を有する非金属で形成され、その厚
さは樹脂封止部17のり・−ドフレーム11上の厚さに
ほぼ等しくなるように設定されでいるので、補強体16
の表面はキャビティ20の上部金型19aに接触する。
即ち、成型金型19を金締めしたとき、補強体16表面
は上部金型19aに密着し、金締めの圧力が弾性体であ
る補強体16を介してリードフレーム11に伝わる。従
って、リードフレーム11は平部金型19bに密着する
。
は上部金型19aに密着し、金締めの圧力が弾性体であ
る補強体16を介してリードフレーム11に伝わる。従
って、リードフレーム11は平部金型19bに密着する
。
このような状態において、溶融樹脂をランナー21及び
ゲート22を介してキャビティ20内に加圧注入すれば
、ICチップ14等の樹脂封止がなされると共に、上部
金型19aと補強体〕6の接触面間及び下部金型19b
とリードフレーム11の接触面間への樹脂流入が防止さ
れる。特に、下部金型19bとリードフレーム11の接
触面間への樹脂流入が防止されることにより、外部接続
端子13の外部機器接触面が樹脂によって覆われるおそ
れがなくなる。
ゲート22を介してキャビティ20内に加圧注入すれば
、ICチップ14等の樹脂封止がなされると共に、上部
金型19aと補強体〕6の接触面間及び下部金型19b
とリードフレーム11の接触面間への樹脂流入が防止さ
れる。特に、下部金型19bとリードフレーム11の接
触面間への樹脂流入が防止されることにより、外部接続
端子13の外部機器接触面が樹脂によって覆われるおそ
れがなくなる。
成形完了後、成形金型19からリードフレーム11を取
出し、個々に分離すれば、第5図(a>、(b)に示す
ような所望のICカードモジュールが得られる。
出し、個々に分離すれば、第5図(a>、(b)に示す
ような所望のICカードモジュールが得られる。
以上のように構成されたICカードモジュールの反り変
形について、第7図を用いて説明する。
形について、第7図を用いて説明する。
第7図は、第5図(a)、(b)のICカードモジュー
ルを単純模式化した多層板モデルの断面図である。
ルを単純模式化した多層板モデルの断面図である。
リードフレーム11の片面側が樹脂側止されたICカー
ドモジュールの反り変形においては、変形を発生させる
因子として熱膨脹収縮特性が考えられ、変形を阻止する
因子として構成材料のヤング率及び厚さが考えられる。
ドモジュールの反り変形においては、変形を発生させる
因子として熱膨脹収縮特性が考えられ、変形を阻止する
因子として構成材料のヤング率及び厚さが考えられる。
反り変形の大きさは、変形を生じさせる力とこれを阻止
する力どが平衡になったところで決定される。
する力どが平衡になったところで決定される。
従って、第7図の多層板モデルの理論計算による反り変
形量Wは次式で表わされる。
形量Wは次式で表わされる。
C=−ΣEk (Zk −Zk−1>D=tΣEkα
k (Zk−Zk−1>Ek:各層のヤング率に=1〜
3 Zk:ベースZ。がら各層の下方境界 間道の距離 αに:各層の熱膨張係数 t :温度差 (1)式において、多層板モデルの幅J=12mmとし
、樹脂封止部17、補強体16及びリードフレーム11
のそれぞれのヤング率E1〜E3、熱膨張係数α 〜α
、厚さT1〜T3をE 1 = 1200kg/le
rm2E 2 = 900 kg/rtvm2E 3
= 15800 kg/rrtn2α1=1.7X10
/’C α3 ”O,、8x 10−5x℃ ’1−1=0.17順 T2 ””0.2811111 T3. = 0 、15!I1m とすれば、反り変形iwはw=43μmとなる。
k (Zk−Zk−1>Ek:各層のヤング率に=1〜
3 Zk:ベースZ。がら各層の下方境界 間道の距離 αに:各層の熱膨張係数 t :温度差 (1)式において、多層板モデルの幅J=12mmとし
、樹脂封止部17、補強体16及びリードフレーム11
のそれぞれのヤング率E1〜E3、熱膨張係数α 〜α
、厚さT1〜T3をE 1 = 1200kg/le
rm2E 2 = 900 kg/rtvm2E 3
= 15800 kg/rrtn2α1=1.7X10
/’C α3 ”O,、8x 10−5x℃ ’1−1=0.17順 T2 ””0.2811111 T3. = 0 、15!I1m とすれば、反り変形iwはw=43μmとなる。
一方、従来の第4図のような2層構造の場合には、同一
の幅gにおいて樹脂封止部の厚さを0.45m、リード
フレームの厚さを0.1511111として(1)式に
より反り変形量Wを求めると、w−62μmを得る。従
って、第7図の多層板モデルは、第4図の2層構造に比
して反り変形IWを約30%低減できることになる。実
際には、本実施例のICカードモジュールは、第5図(
a)、(b)の如く補強体16の厚さとリードフレーム
11上の樹脂封止部17の厚さとがほぼ同じなので、反
り変形量Wはさらに少なくなる。
の幅gにおいて樹脂封止部の厚さを0.45m、リード
フレームの厚さを0.1511111として(1)式に
より反り変形量Wを求めると、w−62μmを得る。従
って、第7図の多層板モデルは、第4図の2層構造に比
して反り変形IWを約30%低減できることになる。実
際には、本実施例のICカードモジュールは、第5図(
a)、(b)の如く補強体16の厚さとリードフレーム
11上の樹脂封止部17の厚さとがほぼ同じなので、反
り変形量Wはさらに少なくなる。
以上のように本実施例においては、補強体16を設けた
ことにより、ICカードモジュールの反り変形量を従来
に比して著しく少なくすることができる。また、補強体
16の厚さを樹脂封止部17のリードフレーム11上の
厚さに等しくすることにより、反り変形量をさらに少な
くできると共に、リードフレーム11と下金型191)
の接触面間への樹脂流入が防止されるので、外部接続端
子13の接点信頼性が向上する。さらに、補強体16は
弾性を有する非金属で1成されているので、応力集中や
電気的短絡を生じないという利点もある。
ことにより、ICカードモジュールの反り変形量を従来
に比して著しく少なくすることができる。また、補強体
16の厚さを樹脂封止部17のリードフレーム11上の
厚さに等しくすることにより、反り変形量をさらに少な
くできると共に、リードフレーム11と下金型191)
の接触面間への樹脂流入が防止されるので、外部接続端
子13の接点信頼性が向上する。さらに、補強体16は
弾性を有する非金属で1成されているので、応力集中や
電気的短絡を生じないという利点もある。
カ嘲ヂられる。
(a) 上記実施例では第6図に示すよ・うに、補強
体16の厚さを樹脂封止部17のリードフレーム11上
の厚さにほぼ等しくなるようにしたが、必ずしもこれに
限定されない。即ち、第8図の成形金型内に収容された
ICカードモジュール断面図に示すように、補強体16
の厚さが樹脂封止部17より薄くなるように設定しても
よい。
体16の厚さを樹脂封止部17のリードフレーム11上
の厚さにほぼ等しくなるようにしたが、必ずしもこれに
限定されない。即ち、第8図の成形金型内に収容された
ICカードモジュール断面図に示すように、補強体16
の厚さが樹脂封止部17より薄くなるように設定しても
よい。
この場合においても、補強体16による反り防止効果が
十分得られると共に、補強体16の厚さに対する厳密な
管理が不要となり、ICカードモジュールの製造が容易
になる。
十分得られると共に、補強体16の厚さに対する厳密な
管理が不要となり、ICカードモジュールの製造が容易
になる。
(b) 第1図(a>、(b)では補強体16は四辺
形の枠状としたが、これに代えて円形等の他の形状の棒
状としてもよい。また、棒状の形態は必ずしもICチッ
プ14の全周に渡って連続させる必要はなく、部分的に
存在するような形態とすることもできる。
形の枠状としたが、これに代えて円形等の他の形状の棒
状としてもよい。また、棒状の形態は必ずしもICチッ
プ14の全周に渡って連続させる必要はなく、部分的に
存在するような形態とすることもできる。
(C) 外部接続端子13の外部機器との接触面は、
ICチップ14に対する反対面側に設けるものとしたが
、ICナツプ14と同一面側に設けてもよい。また、外
部接続端子13はICチップ14の周囲に設けず、これ
と離れた位置に設けることもできるが、この場合には外
部接続端子13の位置に合わせて補強体16の寸法を変
えるとよい。
ICチップ14に対する反対面側に設けるものとしたが
、ICナツプ14と同一面側に設けてもよい。また、外
部接続端子13はICチップ14の周囲に設けず、これ
と離れた位置に設けることもできるが、この場合には外
部接続端子13の位置に合わせて補強体16の寸法を変
えるとよい。
(d) ICカードモジュールの製造方法は例示のも
のに限らず、例えばICチップ14のワイヤボンディン
グを行なった後に補強体16をリードフレーム11上に
固定してもよい。また、ワイヤボンディングに代えてパ
ンツ等による他の接続方法を用いることもできる。
のに限らず、例えばICチップ14のワイヤボンディン
グを行なった後に補強体16をリードフレーム11上に
固定してもよい。また、ワイヤボンディングに代えてパ
ンツ等による他の接続方法を用いることもできる。
(発明の効果)
以上詳細に説明したように、第1の発明によれば、補強
体を設けたことによりICカードモジュールを多層構造
とすることができるので、その反り変形量を従来に比し
て著しく減少させることができる。それ故、樹脂封止後
においてもICカードモジュールの平坦性が維持される
ので、リードフレームとICカード基板との電気的及び
機械的接続の信頼性が向上すると共に、外部機器に対す
る外部接続端子の接点信頼性も高められる。また、補強
体を弾性を有する非金属で構成することにより、補強体
による短絡が防止されると同時に、応力集中等に起画す
るICカードモジュールの破損も的確に防止することが
できる。
体を設けたことによりICカードモジュールを多層構造
とすることができるので、その反り変形量を従来に比し
て著しく減少させることができる。それ故、樹脂封止後
においてもICカードモジュールの平坦性が維持される
ので、リードフレームとICカード基板との電気的及び
機械的接続の信頼性が向上すると共に、外部機器に対す
る外部接続端子の接点信頼性も高められる。また、補強
体を弾性を有する非金属で構成することにより、補強体
による短絡が防止されると同時に、応力集中等に起画す
るICカードモジュールの破損も的確に防止することが
できる。
第2の発明によれば、補強体の厚さを樹脂封止部のリー
ドフレーム上の厚さにほぼ等しく設定し上するという効
果がある。また、補強体の厚さが増大することにより、
I’Cカードモジュールの反り変形量がさらに少なくな
るという効果もある。
ドフレーム上の厚さにほぼ等しく設定し上するという効
果がある。また、補強体の厚さが増大することにより、
I’Cカードモジュールの反り変形量がさらに少なくな
るという効果もある。
第1図(a>、(b)は本発明の実施例における樹脂封
止前のICカードモジュールを示し、同図(a)はその
斜視図及び同図(b)はその平面図、第2図は従来のI
Cカードモジュールにおけるリードフレームの斜視図、
第3図は第2図のA−A線断面図、第4図は従来のIC
カードモジュールの断面図、第5図(a)、(b、)は
第1図(a)、(b)のICカードモジュールの樹脂封
止後を示し、同図(a)はそのICチップ(剋斜視図及
び“同図(b)はその外部摺田汐1召財糾視図第6図は
成形金型内に収容された第1図(a>、(b)のICカ
ードモジュールの断面図、第7図は第5図(a)、(b
)のICカードモジ1−ルを単純模式化した多層板モデ
ルの断面図、第8図は本発明の実施例における変形例を
示す成形金型内のICカードモジュール1析而図である
。 11・・・・・・リードフレーム、12・・・・・・素
子搭載部、13・・・・・・外部接続端子、14・・・
・・・ICチ・ツブ、16・・・・・・補強体、17・
・・・・・樹#i’4止部、19・・・・・・成形金型
。
止前のICカードモジュールを示し、同図(a)はその
斜視図及び同図(b)はその平面図、第2図は従来のI
Cカードモジュールにおけるリードフレームの斜視図、
第3図は第2図のA−A線断面図、第4図は従来のIC
カードモジュールの断面図、第5図(a)、(b、)は
第1図(a)、(b)のICカードモジュールの樹脂封
止後を示し、同図(a)はそのICチップ(剋斜視図及
び“同図(b)はその外部摺田汐1召財糾視図第6図は
成形金型内に収容された第1図(a>、(b)のICカ
ードモジュールの断面図、第7図は第5図(a)、(b
)のICカードモジ1−ルを単純模式化した多層板モデ
ルの断面図、第8図は本発明の実施例における変形例を
示す成形金型内のICカードモジュール1析而図である
。 11・・・・・・リードフレーム、12・・・・・・素
子搭載部、13・・・・・・外部接続端子、14・・・
・・・ICチ・ツブ、16・・・・・・補強体、17・
・・・・・樹#i’4止部、19・・・・・・成形金型
。
Claims (2)
- 1.素子搭載部及び複数の外部接続端子を有するリード
フレームと、前記素子搭載部に固定されたICチップと
、前記ICチップを封止する樹脂封止部とを備え、IC
カードに装着されるICカードモジュールにおいて、 前記ICチップの周囲における前記リードフレーム上に
、弾性を有する非金属から成る枠状の補強体を設けたこ
とを特徴とするICカードモジュール。 - 2.請求項1記載のICカードモジュールにおいて、前
記補強体の厚さは、前記樹脂封止部の前記リードフレー
ム上の厚さにほぼ等しくしたICカードモジュール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1087457A JPH02265797A (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-06 | Icカードモジュール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1087457A JPH02265797A (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-06 | Icカードモジュール |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02265797A true JPH02265797A (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=13915398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1087457A Pending JPH02265797A (ja) | 1989-04-06 | 1989-04-06 | Icカードモジュール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02265797A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002042097A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-08 | Sony Corp | カード状情報記録媒体及びカード状情報記録媒体の製造方法 |
-
1989
- 1989-04-06 JP JP1087457A patent/JPH02265797A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002042097A (ja) * | 2000-07-19 | 2002-02-08 | Sony Corp | カード状情報記録媒体及びカード状情報記録媒体の製造方法 |
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