JPH02270190A - グリッチ保護回路を含む集積回路 - Google Patents
グリッチ保護回路を含む集積回路Info
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- JPH02270190A JPH02270190A JP1332535A JP33253589A JPH02270190A JP H02270190 A JPH02270190 A JP H02270190A JP 1332535 A JP1332535 A JP 1332535A JP 33253589 A JP33253589 A JP 33253589A JP H02270190 A JPH02270190 A JP H02270190A
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Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は集積回路、特に半導体メモリに圓するものであ
る。本発明は防衛核局により査定された契約番号DNA
0O1−86−0090の下で米国政府の支持を得てな
されたものである。
る。本発明は防衛核局により査定された契約番号DNA
0O1−86−0090の下で米国政府の支持を得てな
されたものである。
〈従来の技術)
集積回路システムの信号にノイズまたは「グリッチ」が
乗ると望まない結果をひき起すことがある。特にマイク
ロプロセッサシステムにおけるメモリでは重要な問題で
ある。チップイネーブル(CE)入力信号が出力を高イ
ンピーダンスに保つように使われているチップでは、チ
ップイネーブルにグリッチが生じるとグリッチの期間出
力が低インピーダンス状態に遷移する。すると、パスコ
ンテンションという問題が起こりつる。すなわち2g以
上のメモリが同時にバスを駆動することになる。こうし
た現象は特にメモリ基板上のスタティック・ランダム・
アクセス・メモリ(SRAM)が過渡状態下にあるとき
に問題を起こしやすい。−船釣な論理回路内で生じる他
のグリッチはイオン化粒子の衝突のせいで起こるという
ことができる。
乗ると望まない結果をひき起すことがある。特にマイク
ロプロセッサシステムにおけるメモリでは重要な問題で
ある。チップイネーブル(CE)入力信号が出力を高イ
ンピーダンスに保つように使われているチップでは、チ
ップイネーブルにグリッチが生じるとグリッチの期間出
力が低インピーダンス状態に遷移する。すると、パスコ
ンテンションという問題が起こりつる。すなわち2g以
上のメモリが同時にバスを駆動することになる。こうし
た現象は特にメモリ基板上のスタティック・ランダム・
アクセス・メモリ(SRAM)が過渡状態下にあるとき
に問題を起こしやすい。−船釣な論理回路内で生じる他
のグリッチはイオン化粒子の衝突のせいで起こるという
ことができる。
(発明の目的と要旨)
本発明の目的はグリッチ保護回路に新しくかつ改良され
た用途を提供することである。
た用途を提供することである。
本発明の他の目的はグリッチ保護用の非対称遅延回路の
新しくかつ改良された用途を提供することである。
新しくかつ改良された用途を提供することである。
制御信号とその信号により制御される回路との問に非対
称遅延フィルタを設けることにより、上記目的が達成さ
れる。フィルタの遅延は、遅延による総合性能への影響
が最小になるように、その回路に入力する他の入力の遅
延に合致させるようにすることができる。
称遅延フィルタを設けることにより、上記目的が達成さ
れる。フィルタの遅延は、遅延による総合性能への影響
が最小になるように、その回路に入力する他の入力の遅
延に合致させるようにすることができる。
(実施例)
第1図にグリッチ保護を行う本発明の好ましい一実施例
の略図を示す。第1図ではチップイネーブル人力2がナ
ントゲート4の入力に接続されており、ナントゲート4
の出力は出カバソファコントロール6に接続されている
。本発明は所定の時間幅よりも短いイネーブルパルスを
除くことにより、前述の聞届に対する保護を提供するも
のである。この所定の時間幅というのは例えば、チップ
イネーブル人力2とバッファコントロール6との間に接
続されている他の論理回路の処理時間と等しい。したが
ってバッファコントロール6への入力を同時に処理する
ことが可能である。この他の論理回路というのは例えば
メモリ用の一般的な論理回路である。−船釣な論理回路
は例えば図示の如くアドレス入力とワード線入力とを処
理することができる。チップイネーブル人力2と出力コ
ントロール6との間に、イネーブル時に罪く、デスエー
ブルに対して速いという非対称遅延回路を設けることに
より、グリッチを除去することができる。(非対称遅延
とはハイからa−に遷移する信号とローからハイに遷移
する信号との間で遅延に差があることをいう。)第1図
では、インバータチェーン8により非対称遅延回路を実
現している。
の略図を示す。第1図ではチップイネーブル人力2がナ
ントゲート4の入力に接続されており、ナントゲート4
の出力は出カバソファコントロール6に接続されている
。本発明は所定の時間幅よりも短いイネーブルパルスを
除くことにより、前述の聞届に対する保護を提供するも
のである。この所定の時間幅というのは例えば、チップ
イネーブル人力2とバッファコントロール6との間に接
続されている他の論理回路の処理時間と等しい。したが
ってバッファコントロール6への入力を同時に処理する
ことが可能である。この他の論理回路というのは例えば
メモリ用の一般的な論理回路である。−船釣な論理回路
は例えば図示の如くアドレス入力とワード線入力とを処
理することができる。チップイネーブル人力2と出力コ
ントロール6との間に、イネーブル時に罪く、デスエー
ブルに対して速いという非対称遅延回路を設けることに
より、グリッチを除去することができる。(非対称遅延
とはハイからa−に遷移する信号とローからハイに遷移
する信号との間で遅延に差があることをいう。)第1図
では、インバータチェーン8により非対称遅延回路を実
現している。
インバータチェーン8の入力はチップイネーブル人力2
に接続されており、その出力はナントゲート4の入力に
接続されている。インバータチェーン8のインバータの
数を増減することによって、抑制すべきグリッチの幅に
応じて遅延時間の長さを調節することができる。1個ま
た2個以上のインバータと並列にコンデンサを接続する
ことによっても、遅延時間の長さを51節することがで
きる。
に接続されており、その出力はナントゲート4の入力に
接続されている。インバータチェーン8のインバータの
数を増減することによって、抑制すべきグリッチの幅に
応じて遅延時間の長さを調節することができる。1個ま
た2個以上のインバータと並列にコンデンサを接続する
ことによっても、遅延時間の長さを51節することがで
きる。
チップイネーブルから適当な出力を生ずるのに必要な時
間よりも遅延時間が短かければ、遅延させることがチッ
プの性能を損うことはない。
間よりも遅延時間が短かければ、遅延させることがチッ
プの性能を損うことはない。
SRAMのようなメエリでは、前述の非対称遅延回路を
1込み信号に適用することができる。この場合、遅延時
間はアドレスデコード時のセットアツプ時間に合わせる
。第2図はこのような場合のブロック図で、非対称遅延
フィルタが自込みイネーブル回路と書込み制御回路との
間に接続されている。書込み制御回路にはアドレスtI
IItl入力も接続されている。第3図に第2図の回路
の動作を示す。第3図はハイ/ローまたはロー/ハイに
遷移する論理のタイミング図であり、データバス、アド
レスデコード、書込みイネーブル信号および南込み制御
信号に関して示しである。時間軸はマイクロ秒で示して
いる。アドレスデコードが完全にFがりきって、アドレ
スデコードが終了したことを示す迄は、趨込みコント0
−ルはオンにならない。
1込み信号に適用することができる。この場合、遅延時
間はアドレスデコード時のセットアツプ時間に合わせる
。第2図はこのような場合のブロック図で、非対称遅延
フィルタが自込みイネーブル回路と書込み制御回路との
間に接続されている。書込み制御回路にはアドレスtI
IItl入力も接続されている。第3図に第2図の回路
の動作を示す。第3図はハイ/ローまたはロー/ハイに
遷移する論理のタイミング図であり、データバス、アド
レスデコード、書込みイネーブル信号および南込み制御
信号に関して示しである。時間軸はマイクロ秒で示して
いる。アドレスデコードが完全にFがりきって、アドレ
スデコードが終了したことを示す迄は、趨込みコント0
−ルはオンにならない。
グリッチ保護対メモリアクセス速度の要求のトレードオ
フ次第で、非対称遅延保護を例えばチップイネーブルか
ら出力バッファコントロール以外の回路に接続する他の
信号に適用することもできる。
フ次第で、非対称遅延保護を例えばチップイネーブルか
ら出力バッファコントロール以外の回路に接続する他の
信号に適用することもできる。
非対称遅延フィルタは集積回路チップのある部分に生じ
たグリッチが望まない結果を生じないように保護するの
に使うことができる。例えば、メモリコントローラチッ
プでは、誤って「出力イネーブル」信号を出さないこと
が最も重要であろう。
たグリッチが望まない結果を生じないように保護するの
に使うことができる。例えば、メモリコントローラチッ
プでは、誤って「出力イネーブル」信号を出さないこと
が最も重要であろう。
論理回路と出力バッフ7との間に非対称遅延フィルタを
いれれば、論理回路内で生じたグリッチが出力されるの
を防止することができよう。このような場合の略図を第
4図に示す。この図はメモリコントローラを示し、論理
回路が非対称遅延フィルタを経由して出力バッファに接
続されている。
いれれば、論理回路内で生じたグリッチが出力されるの
を防止することができよう。このような場合の略図を第
4図に示す。この図はメモリコントローラを示し、論理
回路が非対称遅延フィルタを経由して出力バッファに接
続されている。
出力バッファはバスにデータを送る。フィルタは予期さ
れないノイズに抵抗力がある。例えば、もし予期しない
ノイズ源が過渡放射性パルスならば、フィルタ回路内に
電流補償装置を使うことができ、別の電源バスをフィル
タ回路に供給してレールスパン崩壊を避けることができ
る。メモリコントローラシステム内のすべての他の回路
を遷移ドーズ効果から守るよりも、非対称遅延フィルタ
を導入してその部分を遷移ドーズ効果から守る方が効率
的である。
れないノイズに抵抗力がある。例えば、もし予期しない
ノイズ源が過渡放射性パルスならば、フィルタ回路内に
電流補償装置を使うことができ、別の電源バスをフィル
タ回路に供給してレールスパン崩壊を避けることができ
る。メモリコントローラシステム内のすべての他の回路
を遷移ドーズ効果から守るよりも、非対称遅延フィルタ
を導入してその部分を遷移ドーズ効果から守る方が効率
的である。
第5a図と第5b図はグリッチ保護をhえる本発明の他
の実施例を示す。第5a図ではナントゲート4の入力と
入力INとにインバータチェーン8が接続されている。
の実施例を示す。第5a図ではナントゲート4の入力と
入力INとにインバータチェーン8が接続されている。
入力INはナントゲート4の入力にも接続されている。
第5a図の回路はハイに遷移するグリッチが入力INに
入って来たときに効く。例えば、入力INが始めはロー
レベルで節点Aもローレベルであったときに、入力IN
がハイに遷移してもノードAがハイになるまではナンド
4の出力は応答しない。インバータチェーン8により設
定された所定の時1Ilp過してから節点へがハイに変
る。しかし、RCl路網などを含む別の遅延回路でイン
バータチェーン8を置き換えることができる。もし所定
の遅延模節点Aがハイになる前に、入力lN5u−状態
に戻ったならば、出力OUTは始めにINに起きた遷移
に全く反応しないだろう(OLITはハイ状態のままで
ある)。反対に、もし入力INが始めハイ状fil(出
力OU Tはロー状(1)であったのが、ロー状態に変
わったとすれば、出力OUTは遅延とは無関係にハイに
変わる。第5b図は第5a図のナントゲート4の代わり
にノアゲート5が用いられている点を除けば、第5a図
と同じである。第5b図の回路は入力INでローに遷移
するグリッチが生じたときに効果がある。第5b図の回
路の動作は第5a図の回路と似ている。前述したように
、インバータチェーンはRC回路網のような他の遅延径
路に置き換えることができる。また、所望の遅延時間を
得るために、第5a図と第5b図に示したインバータの
数を増減づることができる。
入って来たときに効く。例えば、入力INが始めはロー
レベルで節点Aもローレベルであったときに、入力IN
がハイに遷移してもノードAがハイになるまではナンド
4の出力は応答しない。インバータチェーン8により設
定された所定の時1Ilp過してから節点へがハイに変
る。しかし、RCl路網などを含む別の遅延回路でイン
バータチェーン8を置き換えることができる。もし所定
の遅延模節点Aがハイになる前に、入力lN5u−状態
に戻ったならば、出力OUTは始めにINに起きた遷移
に全く反応しないだろう(OLITはハイ状態のままで
ある)。反対に、もし入力INが始めハイ状fil(出
力OU Tはロー状(1)であったのが、ロー状態に変
わったとすれば、出力OUTは遅延とは無関係にハイに
変わる。第5b図は第5a図のナントゲート4の代わり
にノアゲート5が用いられている点を除けば、第5a図
と同じである。第5b図の回路は入力INでローに遷移
するグリッチが生じたときに効果がある。第5b図の回
路の動作は第5a図の回路と似ている。前述したように
、インバータチェーンはRC回路網のような他の遅延径
路に置き換えることができる。また、所望の遅延時間を
得るために、第5a図と第5b図に示したインバータの
数を増減づることができる。
第5C図は本発明の他の実施例を示す。この例ではどち
らの方向へ遷移する場合もグリッチ除去効果がある。こ
の回路はクロックで動く信号に使用するのに適している
。第5C図は第5a図と第5b図の回路を組合わせたも
ので、人力INが共通になっている、ナントゲート4と
ノアゲート5の出力はそれぞれ並列接続されたnチャネ
ルトランジスタとnチャネルトランジスタから成る組の
第1のドレーン/ソースに接続されている。nチャネル
トランジスタ20とnチャネルトランジスタ22は第1
のトランジスタ組を形成し、nチャネルトランジスタ2
4とnチャネルトランジスタ26とが第2のトランジス
タ組を形成している。
らの方向へ遷移する場合もグリッチ除去効果がある。こ
の回路はクロックで動く信号に使用するのに適している
。第5C図は第5a図と第5b図の回路を組合わせたも
ので、人力INが共通になっている、ナントゲート4と
ノアゲート5の出力はそれぞれ並列接続されたnチャネ
ルトランジスタとnチャネルトランジスタから成る組の
第1のドレーン/ソースに接続されている。nチャネル
トランジスタ20とnチャネルトランジスタ22は第1
のトランジスタ組を形成し、nチャネルトランジスタ2
4とnチャネルトランジスタ26とが第2のトランジス
タ組を形成している。
インバータ16はインプットINとインバータ18の入
力とに接続されていて、トランジスタ20と24のゲー
トを駆動す°る。他方、インバータ18はトランジスタ
22と26のゲートを駆動する。
力とに接続されていて、トランジスタ20と24のゲー
トを駆動す°る。他方、インバータ18はトランジスタ
22と26のゲートを駆動する。
トランジスタ22と26の第2のドレーン/ソースは出
力0LITを形成している。この双方向性グリッチ保護
回路は、遅延がグリッチよりも長くてもさしつかえない
という信号に適用することができる。例えば、チップが
解放された後出力を3状態(出力はハイ、ロー、過渡状
態を含む)で遅延さぼることが許されるならば、この回
路をSRAM内のチップイネーブルと出力イネーブルと
の間で使うことができる。
力0LITを形成している。この双方向性グリッチ保護
回路は、遅延がグリッチよりも長くてもさしつかえない
という信号に適用することができる。例えば、チップが
解放された後出力を3状態(出力はハイ、ロー、過渡状
態を含む)で遅延さぼることが許されるならば、この回
路をSRAM内のチップイネーブルと出力イネーブルと
の間で使うことができる。
第6図は本発明の更に他の実施例を示す。第6図は遷移
検出回路とラッチとを含む双方向性回路である。第1と
第2のトランジスタ組は第5C図と同様に接続されてい
るが、インバータ18が除かれていて、インバータ40
と42が直列に2組のトランジスタの第2のドレーン/
ソースに接続されている点が異なる。アドレス遷移検出
回路32と非対称遅延回路12とが入力INに接続され
ている。ラッチは要素16,20,22.24゜26.
40.42から成る。しかし、他の種類のラッチを使う
こともできる。アドレス検出回路は遷移を検出すると正
方向に変化するパルスを生ずるが、ラッチ回路は負のパ
ルスも使えるように設計することができる。非対称遅延
回路12は入力INIfili移してからラッチ回路に
ラッチングされる迄の趙延時間に合わせる(それにより
いくらか長い)。遷移検出回路32から発生ずるパルス
の幅は除去すべきグリッチの幅に匹敵するように調節し
なければならない。
検出回路とラッチとを含む双方向性回路である。第1と
第2のトランジスタ組は第5C図と同様に接続されてい
るが、インバータ18が除かれていて、インバータ40
と42が直列に2組のトランジスタの第2のドレーン/
ソースに接続されている点が異なる。アドレス遷移検出
回路32と非対称遅延回路12とが入力INに接続され
ている。ラッチは要素16,20,22.24゜26.
40.42から成る。しかし、他の種類のラッチを使う
こともできる。アドレス検出回路は遷移を検出すると正
方向に変化するパルスを生ずるが、ラッチ回路は負のパ
ルスも使えるように設計することができる。非対称遅延
回路12は入力INIfili移してからラッチ回路に
ラッチングされる迄の趙延時間に合わせる(それにより
いくらか長い)。遷移検出回路32から発生ずるパルス
の幅は除去すべきグリッチの幅に匹敵するように調節し
なければならない。
もし論理回路内のある節点が高エネルギー粒子がぶつか
ったならば、−時的に電圧が変動するが回復するであろ
う。こうして信号にグリッチが発生する。もしグリッチ
がラッチされると、永久的な誤りになる。こうした事態
はラッチの入力に眞述したような非対称遅延回路を設け
ることにより避けることができる。
ったならば、−時的に電圧が変動するが回復するであろ
う。こうして信号にグリッチが発生する。もしグリッチ
がラッチされると、永久的な誤りになる。こうした事態
はラッチの入力に眞述したような非対称遅延回路を設け
ることにより避けることができる。
もし非対称遅延フィルタを一貫してクロック信号上に設
けるならば、すべてのクロックが一様に遅れるから、サ
イクル時間は変わらない。例えば、第7図に示すように
、クロックボードシステムが同じクロックで1.II御
される複数のチップ(マイクロプロセッサ、SRAM、
および掛偉器)を有する場合、非対称遅延フィルタを各
チップのクロック入力に設けることができる。この考え
はチップ内部のクロックにも適用することができる。も
しクロックにグリッチが生ずる可能性があれば、ラッチ
へのすべてのり日ツク入力にグリッチ保!IF回路を設
けることができる。そうすれば、すべてのり0ツク入力
が同じ時間だけ遅れるから、保護のために速度が遅くな
るということはないであろう。
けるならば、すべてのクロックが一様に遅れるから、サ
イクル時間は変わらない。例えば、第7図に示すように
、クロックボードシステムが同じクロックで1.II御
される複数のチップ(マイクロプロセッサ、SRAM、
および掛偉器)を有する場合、非対称遅延フィルタを各
チップのクロック入力に設けることができる。この考え
はチップ内部のクロックにも適用することができる。も
しクロックにグリッチが生ずる可能性があれば、ラッチ
へのすべてのり日ツク入力にグリッチ保!IF回路を設
けることができる。そうすれば、すべてのり0ツク入力
が同じ時間だけ遅れるから、保護のために速度が遅くな
るということはないであろう。
ただ面積が大きくなる点だけが負担になる(回路スペー
スが余分に必要となる)。あるいは、グリッチ保護回路
をクロック発生回路の中、例えばり0ツク発生論理回路
とクロックトライバとの間、に設けてもよい。容量が大
きいから、イオン化が起きても大きなドライバ上ではグ
リッチが生じにくい。クロックトライバでも同様であり
、大きな容量を持つ信号に対しては、グリッチ保11回
路をラッチ入力の所に設ける代わりに、大きいドライバ
の直前に設けてもよい。
スが余分に必要となる)。あるいは、グリッチ保護回路
をクロック発生回路の中、例えばり0ツク発生論理回路
とクロックトライバとの間、に設けてもよい。容量が大
きいから、イオン化が起きても大きなドライバ上ではグ
リッチが生じにくい。クロックトライバでも同様であり
、大きな容量を持つ信号に対しては、グリッチ保11回
路をラッチ入力の所に設ける代わりに、大きいドライバ
の直前に設けてもよい。
第8図は本発明の更に他の実施例を示す。ワードIIa
制御信号Wが非対称遅延フィルタに入力する。
制御信号Wが非対称遅延フィルタに入力する。
データ入力と列アドレス入力とが論理回路50に入力す
る。非対称遅延フィルタと論理回路50とが列駆動論理
回路に接続されており、列駆動論理回路はメモリアレイ
回路を制御する。非対称遅延フィルタがあるため、列駆
動回路では論理回路50の出力とワード線制御信号Wと
を同時に処理することができる。
る。非対称遅延フィルタと論理回路50とが列駆動論理
回路に接続されており、列駆動論理回路はメモリアレイ
回路を制御する。非対称遅延フィルタがあるため、列駆
動回路では論理回路50の出力とワード線制御信号Wと
を同時に処理することができる。
以上本発明を好ましい実施例とその代替例について詳細
に説明したが、この説明は例示にすぎないのであって、
限定的意味を持つものではない。
に説明したが、この説明は例示にすぎないのであって、
限定的意味を持つものではない。
この説明を読めば当業者にとって各種の修正や追加を施
すことは容易であろう。そうした修正や追加は本発明の
範囲内にあると考える。したがって本発明の範囲は請求
の範囲の記載に従うべきである。
すことは容易であろう。そうした修正や追加は本発明の
範囲内にあると考える。したがって本発明の範囲は請求
の範囲の記載に従うべきである。
以上の説明に関して更に以下の項を開示する。
(1) チップイネ−ゾル入力と、
出力バッファイネーブル回路と、
前記チップイネーブル入力と前記出力バッファイネーブ
ル回路との間に接続された非対称遅延フィルタと、 を含む、集積回路。
ル回路との間に接続された非対称遅延フィルタと、 を含む、集積回路。
(2) 第(1)項記載の集積回路を含むメモリチッ
プ。
プ。
(3) 第(2)項記載の@誼において、前記メtり
がスタティック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップブ。
がスタティック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップブ。
(4) 第(2)項記載の装置において、前記メモリ
がダイナミック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップ。
がダイナミック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップ。
(5) 第(2)項記載の装置において、前記メモリ
がリード・オンリー・メモリである、メモリチップ。
がリード・オンリー・メモリである、メモリチップ。
(6) 第(1)項記載の装置において、前記非対称
遅延フィルタの遅延は、所定のパルス幅よりも短いチッ
プイネーブルパルスが発生したときに、前記出力バッフ
ァイネーブルが有効に働らくのを防ぐ役目をする、集積
回路。
遅延フィルタの遅延は、所定のパルス幅よりも短いチッ
プイネーブルパルスが発生したときに、前記出力バッフ
ァイネーブルが有効に働らくのを防ぐ役目をする、集積
回路。
(7) 第(1)項記載の装置における非対称遅延フ
ィルタであって、インバータ入力とインバータ出力とを
含むインバータと、第1と第2のナントゲート入力を含
むナントゲートとから成り、前記インバータ出力は前記
第1のナントゲート入力に接続され、前記インバータ入
力は前記第2のナントゲート入力に接続されている、非
対称遅延フィルタ。
ィルタであって、インバータ入力とインバータ出力とを
含むインバータと、第1と第2のナントゲート入力を含
むナントゲートとから成り、前記インバータ出力は前記
第1のナントゲート入力に接続され、前記インバータ入
力は前記第2のナントゲート入力に接続されている、非
対称遅延フィルタ。
(8) 書込みイネーブル入力と、書込み!ill
m1回路と、前記書込みイネーブル入力と前記−込みt
ilII11回路との間に接続された非対称遅延フィル
タと、を含む集積回路。
m1回路と、前記書込みイネーブル入力と前記−込みt
ilII11回路との間に接続された非対称遅延フィル
タと、を含む集積回路。
(9) 第(8)項記載の集積回路を含むメモリチッ
プ。
プ。
(10)第(9)項記載の装置において、前記メモリは
スタティック・ランダム・アクセス・メモリでる、メモ
リチップ。
スタティック・ランダム・アクセス・メモリでる、メモ
リチップ。
(11) 第(9)項記載の装置において、前記メモ
リはリード・オンリー・メモリである、メモリチップ。
リはリード・オンリー・メモリである、メモリチップ。
(12) 第(8)項記載の装置において、前記非対
称遅延フィルタの遅延は、所定のパルス幅よりも短い自
込みイネーブルパルスが発生したときに、前記書込みi
ll ¥a回路が有効に働らくのを防ぐ役目をする、集
積回路。
称遅延フィルタの遅延は、所定のパルス幅よりも短い自
込みイネーブルパルスが発生したときに、前記書込みi
ll ¥a回路が有効に働らくのを防ぐ役目をする、集
積回路。
(13) 第(8)項記載の装置における非対称d紙
フイルタであって、インバータ入力とインバータ出力と
を含むインバータと、第1と第2のナントゲート入力を
含むナントゲートとから成り、前記インバータ出力は前
記第1のナントゲート入力に接続され、前記インバータ
入力は前記第2のナントゲート入力に接続されている、
非対称遅延フィルタ。
フイルタであって、インバータ入力とインバータ出力と
を含むインバータと、第1と第2のナントゲート入力を
含むナントゲートとから成り、前記インバータ出力は前
記第1のナントゲート入力に接続され、前記インバータ
入力は前記第2のナントゲート入力に接続されている、
非対称遅延フィルタ。
(14) クロック発生回路と、クロックトライバと
、前記クロック発生回路と前記クロックトライバとの間
に接続された非対称遅延フィルタとを含む集積回路。
、前記クロック発生回路と前記クロックトライバとの間
に接続された非対称遅延フィルタとを含む集積回路。
(15) 第(10項記載の集積回路を含む、メモリ
チップ。
チップ。
(16)第(15)項記載の装置において、前記メモリ
がスタティック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップ。
がスタティック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップ。
(11)第(15)項記載の装置において、前記メモリ
はダイナミック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップ。
はダイナミック・ランダム・アクセス・メモリである、
メモリチップ。
(18)第(15)項記載の装置において、前記メモリ
はリード・オンリ・メモリである、メモリチップ。
はリード・オンリ・メモリである、メモリチップ。
(19)第(14)項記載の装置において、前記非対称
遅延フィルタの遅延は、所定のパルス幅よりも短いクロ
ックパルスがクロック発生回路から発生したときに、前
記クロックトライバが有効に働らくのを防ぐ役目をする
、集積回路。
遅延フィルタの遅延は、所定のパルス幅よりも短いクロ
ックパルスがクロック発生回路から発生したときに、前
記クロックトライバが有効に働らくのを防ぐ役目をする
、集積回路。
(20) 1(14)項記11にノ%lLオGJ6非
対称U延フィルタであって、インバータ入力とインバー
タ出力とを含むインバータと、第1と第2のナントゲー
ト入力を含むナントゲートとから成り、前記インバータ
出力は前記第1のナントゲート入力に接続され、前記イ
ンバータ入力は前記第2のナントゲート入力に接続され
ている、非対称遅延フィルタ。
対称U延フィルタであって、インバータ入力とインバー
タ出力とを含むインバータと、第1と第2のナントゲー
ト入力を含むナントゲートとから成り、前記インバータ
出力は前記第1のナントゲート入力に接続され、前記イ
ンバータ入力は前記第2のナントゲート入力に接続され
ている、非対称遅延フィルタ。
(21)非対称遅延フィルタは制御ll信号を受Gノで
動作するようになっていて、前記制御信号により制御さ
れる回路に接続されており、前記フィルタの遅延は前記
回路の他方の入力の遅延と合致している、集積回路。
動作するようになっていて、前記制御信号により制御さ
れる回路に接続されており、前記フィルタの遅延は前記
回路の他方の入力の遅延と合致している、集積回路。
(22) rグリッチ」を抑制するために非対称遅延
回路を用いた集積回路を開示している。この集積回路は
例えばスタティック・ランダム・アクセス・メモリ、S
RA Mである。具体的に言うと、非対称遅延回路を
用いることにより、「チップ選択」信号に生じたグリッ
チが出力イネーブル信号上にグリッチとして現われない
ようにする。その際、SRAMの性能を損わないように
してグリップを抑制する。双方向性グリッチ保護回路も
開示している。この回路は特にSEUに対するグリッチ
保護に有効である。
回路を用いた集積回路を開示している。この集積回路は
例えばスタティック・ランダム・アクセス・メモリ、S
RA Mである。具体的に言うと、非対称遅延回路を
用いることにより、「チップ選択」信号に生じたグリッ
チが出力イネーブル信号上にグリッチとして現われない
ようにする。その際、SRAMの性能を損わないように
してグリップを抑制する。双方向性グリッチ保護回路も
開示している。この回路は特にSEUに対するグリッチ
保護に有効である。
第1図は本発明の好ましい一実施例を示す図。
第2図は書込みイネーブル回路と1込み制御回路との間
に非対称遅延フィルタを接続した場合のブロック図を示
す図。第3図はタイミング図で、データバス、アドレス
デコード、書込みイネーブル信号および書込み制御信号
が論理ハイ/ローまたはロー/ハイに遷移する様子を時
間軸マイク[1秒で表わしている。第4図は論理回路が
非対称遅延フィルタを経由して出力バッファに接続され
ている、メモリコントローラを示す図。第5a図と第5
b図はグリッチ保護を提供する本発明の他の実施例を示
す図である。第5C図はどちらの方向のグリッチに対し
ても保護する他の実施例を示す図である。第6図は本発
明の更に他の実施例であり、過渡保護回路とラッチとか
ら成る双方向性回路を示す図。第7図は本発明の更に他
の実施例を示す図であり、同じクロックで1lill
allされる複数のチップが1枚のクロック基板システ
ムに収容されている場合に使われている。第8図は本発
明の更に他の実施例を示ず図であり、論理回路の出力と
り−ドm制御信号とを同時に列駆動回路により処理する
ことができるように、ワードI Ill m信号を非対
称遅延フィルタに入力している。
に非対称遅延フィルタを接続した場合のブロック図を示
す図。第3図はタイミング図で、データバス、アドレス
デコード、書込みイネーブル信号および書込み制御信号
が論理ハイ/ローまたはロー/ハイに遷移する様子を時
間軸マイク[1秒で表わしている。第4図は論理回路が
非対称遅延フィルタを経由して出力バッファに接続され
ている、メモリコントローラを示す図。第5a図と第5
b図はグリッチ保護を提供する本発明の他の実施例を示
す図である。第5C図はどちらの方向のグリッチに対し
ても保護する他の実施例を示す図である。第6図は本発
明の更に他の実施例であり、過渡保護回路とラッチとか
ら成る双方向性回路を示す図。第7図は本発明の更に他
の実施例を示す図であり、同じクロックで1lill
allされる複数のチップが1枚のクロック基板システ
ムに収容されている場合に使われている。第8図は本発
明の更に他の実施例を示ず図であり、論理回路の出力と
り−ドm制御信号とを同時に列駆動回路により処理する
ことができるように、ワードI Ill m信号を非対
称遅延フィルタに入力している。
Claims (1)
- (1)チップイネーブル入力と、 出力バッファイネーブル回路と、 前記チップイネーブル入力と前記出力バッファイネーブ
ル回路との間に接続された非対称遅延フィルタと、 を含む、集積回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US28853288A | 1988-12-21 | 1988-12-21 | |
| US288532 | 1988-12-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02270190A true JPH02270190A (ja) | 1990-11-05 |
Family
ID=23107536
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1332535A Pending JPH02270190A (ja) | 1988-12-21 | 1989-12-21 | グリッチ保護回路を含む集積回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02270190A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013527551A (ja) * | 2010-04-30 | 2013-06-27 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | ワン・タイム・プログラマブル・メモリの書き込みイネーブルを検証するための回路 |
| CN116566413A (zh) * | 2023-06-28 | 2023-08-08 | 思瑞浦微电子科技(上海)有限责任公司 | 接收机电路及信号处理方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62120694A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
-
1989
- 1989-12-21 JP JP1332535A patent/JPH02270190A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62120694A (ja) * | 1985-11-20 | 1987-06-01 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013527551A (ja) * | 2010-04-30 | 2013-06-27 | フリースケール セミコンダクター インコーポレイテッド | ワン・タイム・プログラマブル・メモリの書き込みイネーブルを検証するための回路 |
| CN116566413A (zh) * | 2023-06-28 | 2023-08-08 | 思瑞浦微电子科技(上海)有限责任公司 | 接收机电路及信号处理方法 |
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