JPH022714A - Semiconductor integrated circuit device - Google Patents
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- JPH022714A JPH022714A JP63148103A JP14810388A JPH022714A JP H022714 A JPH022714 A JP H022714A JP 63148103 A JP63148103 A JP 63148103A JP 14810388 A JP14810388 A JP 14810388A JP H022714 A JPH022714 A JP H022714A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
この発明は、半導体集積回路装置に関するもので、例え
ば同時に動作状態とされる複数の出力回路(出カバソフ
ァ)を有する半導体集積回路装置に利用して有効な技術
に関するものである。[Detailed Description of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a semiconductor integrated circuit device, and can be used, for example, in a semiconductor integrated circuit device having a plurality of output circuits (output cover sofas) that are activated at the same time. It is about effective techniques.
0MO3(相補型MO5>論理ゲート回路を基本構成と
する高速論理M[回路がある。高速論理集積回路は、比
較的大きな駆動能力を有しかつ同時に動作状態とされる
複数の出力回路を含む。There is a high-speed logic M circuit whose basic configuration is a 0MO3 (complementary MO5>logic gate circuit). A high-speed logic integrated circuit includes a plurality of output circuits that have a relatively large driving capacity and are activated simultaneously.
出力回路については、例えば、特願昭61−06572
9号等に記載されている。Regarding the output circuit, for example, Japanese Patent Application No. 61-06572
It is described in No. 9 etc.
上記高速論理集積回路では、比較的大きな駆動能力を持
つ複数の出力回路が同時に動作状態とされることで、電
源電圧供給線又は接地電位供給線に比較的大きな電流が
断続的に流される。これらの電源電圧供給線及び接地電
位供給線には、比較的大きな値の抵抗性負荷やインダク
タンス性負荷が結合される。このため、複数の出力回路
が同時に動作状態とされ電源電圧供給線又は接地電位供
給線に比較的大きな電流が断続的に流されることで、高
速論理集積回路の電源系に無視できない大きさのノイズ
が誘起される。これらのノイズは、高速論理集積回路の
出力回路又はその周辺回路の誤動作を招く原因となる。In the above-described high-speed logic integrated circuit, a plurality of output circuits having a relatively large driving capacity are simultaneously activated, so that a relatively large current is intermittently passed through the power supply voltage supply line or the ground potential supply line. A relatively large resistive load or inductive load is coupled to these power supply voltage supply line and ground potential supply line. For this reason, multiple output circuits are activated at the same time, and a relatively large current is intermittently passed through the power supply voltage supply line or ground potential supply line, causing non-negligible noise in the power supply system of high-speed logic integrated circuits. is induced. These noises cause malfunctions of the output circuit of the high-speed logic integrated circuit or its peripheral circuits.
これに対処する一つの手段として、第4図に示されるよ
うな電流制御型出力回路が提案されている。同図におい
て、PチャンネルMO3FETQ5及びNチャンネルM
O3FETQI 5は、内部出力信号dOを反転し、デ
ータ出力端子DOを介して送出する出力駆動用のインバ
ータ回路を構成する。MO3FETQ5と回路の電源電
圧■DDとの間には、そのゲートに所定の定電圧Vcl
を受けることで定電流源として機能するPチャンネルM
O3FETQ4が設けられる。また、MO3FETQ1
5と回路の接地電位Vssとの間には、そのゲートに所
定の定電圧Vc2を受けることで定電流源として機能す
るNチャンネルMO3FETQ14が設けられる。これ
により、データ出力端子DOを介して送出される出力信
号のレベル変化が、MOS F ETQ 4又はQ14
からなる定電流源の電流値に応じて制限される。その結
果、複数の出力回路が同時に動作状態とされることで電
源電圧供給線及び接地電位供給線に生じる電流変化が抑
制され、高速論理集積回路の出力回路又はその周辺回路
の誤動作を防止できる。As one means for dealing with this, a current control type output circuit as shown in FIG. 4 has been proposed. In the same figure, P-channel MO3FETQ5 and N-channel MO3FETQ5
The O3FETQI 5 constitutes an inverter circuit for output driving, which inverts the internal output signal dO and sends it out via the data output terminal DO. A predetermined constant voltage Vcl is connected to the gate between MO3FETQ5 and the circuit power supply voltage DD.
P channel M functions as a constant current source by receiving
O3FETQ4 is provided. Also, MO3FETQ1
5 and the circuit ground potential Vss is provided an N-channel MO3FETQ14 which functions as a constant current source by receiving a predetermined constant voltage Vc2 at its gate. As a result, the level change of the output signal sent out via the data output terminal DO is caused by MOS FETQ4 or Q14
The current value is limited according to the current value of the constant current source consisting of. As a result, a plurality of output circuits are brought into operation at the same time, so that current changes occurring in the power supply voltage supply line and the ground potential supply line are suppressed, and malfunctions of the output circuit of the high-speed logic integrated circuit or its peripheral circuits can be prevented.
ところが、これらの電流制御型出力回路は、その駆動能
力が制限されることによって、次のような弊害を持つ、
すなわち、電流制御型出力回路には、前述のように、M
O3FETQ4及びQ14からなる定電流源が設けられ
、その駆動能力すなわち出力電流が制限される。このた
め、相対的に出力回路の出力インピーダンスが高くなり
、出力信号のハイレベル及びロウレベルが圧縮されて出
力信号のレベルマージンが縮小されるとともに、出力信
号線を介して伝達される外部ノイズに対する出力回路の
吸収力が低下する。However, these current-controlled output circuits have the following disadvantages due to their limited driving ability:
That is, as mentioned above, the current controlled output circuit has M
A constant current source consisting of O3FETs Q4 and Q14 is provided, and its driving capability, that is, its output current is limited. Therefore, the output impedance of the output circuit becomes relatively high, the high level and low level of the output signal are compressed, the level margin of the output signal is reduced, and the output against external noise transmitted via the output signal line The absorbing power of the circuit decreases.
この発明の目的は、出力信号のレベルマージンを縮小す
ることなくかつ外部ノイズに対する吸収力を低下させる
ことな(、出力信号のレベル変化を抑制しうる出力回路
を提供することにある。この発明の他の目的は、同時に
動作状態とされる複数の出力回路を含む半導体集積回路
装置のチップ面積の増大を避けつつ、電源系ノイズを抑
制し誤動作を防止することにある。An object of the present invention is to provide an output circuit that can suppress changes in the level of an output signal without reducing the level margin of the output signal and without reducing the ability to absorb external noise. Another object is to suppress power system noise and prevent malfunctions while avoiding an increase in the chip area of a semiconductor integrated circuit device that includes a plurality of output circuits that are activated at the same time.
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。The above and other objects and novel features of this invention include:
It will become clear from the description of this specification and the accompanying drawings.
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。すなわち、
出力回路を、比較的大きな駆動能力を持つインバータ回
路と、上記インバータ回路の入力容量を内部出力信号に
従って選択的にチャージ又はディスチャージする二つの
電流源によって構成し、また上記インバータ回路の入力
信号の振幅を、その遷移fa域を包含しうる程度に制限
するものである。A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows. That is,
The output circuit is configured by an inverter circuit with a relatively large driving capacity and two current sources that selectively charge or discharge the input capacitance of the inverter circuit according to an internal output signal, and the amplitude of the input signal of the inverter circuit is is limited to an extent that can include the transition fa region.
上記した手段によれば、インバータ回路の駆動能力を低
下させることなく、言い換えると出力回路の出力信号の
レベルマージンを縮小することな(かつ外部ノイズに対
する吸収力を低下させることなく、出力信号のレベル変
化を的確に抑制できる、これにより、同時に動作状態と
される複数の出力回路を含む高速論理集積回路の電源系
のノイズを削減し、その誤動作を防止できる。According to the above means, the output signal level can be increased without reducing the drive capability of the inverter circuit, in other words, without reducing the level margin of the output signal of the output circuit (and without reducing the absorption capacity for external noise). As a result, noise in the power supply system of a high-speed logic integrated circuit including a plurality of output circuits that are activated at the same time can be reduced and malfunction thereof can be prevented.
〔実施例1〕
第1図には、この発明が適用された出力回路の一実施例
の回路図が示されている。この実施例の出力回路は、特
に制限されないが、CMO3論理ゲート回路を基本構成
とする高速論理集積回路に含まれる。高速論理集積回路
は、第1図の出力回路と同一の回路構成とされ同時に動
作状態とされる複数の出力回路と、多数のCMO3論理
ゲート回路とを含む、第1図の各回路素子は、高速論理
集積回路の図示されない他の回路素子とともに、特に制
限されないが、単結晶シリコンのような1個の半導体基
板上に形成される。以下の図において、チャンネル(バ
ックゲート)部に矢印が付加されるMOS F ETは
Pチャンネル型であり、矢印の付加されないNチャンネ
ルMO3FETと区別して示される。[Embodiment 1] FIG. 1 shows a circuit diagram of an embodiment of an output circuit to which the present invention is applied. The output circuit of this embodiment is included in a high-speed logic integrated circuit whose basic configuration is a CMO3 logic gate circuit, although it is not particularly limited. The high-speed logic integrated circuit includes a plurality of output circuits that have the same circuit configuration as the output circuit of FIG. 1 and are activated at the same time, and a large number of CMO3 logic gate circuits, and each circuit element of FIG. Together with other circuit elements (not shown) of the high-speed logic integrated circuit, it is formed on a single semiconductor substrate, such as, but not limited to, single crystal silicon. In the figures below, a MOS FET whose channel (back gate) part is marked with an arrow is a P-channel type, and is shown to be distinguished from an N-channel MO3FET whose channel (back gate) part is not marked with an arrow.
この実施例の出力回路は、特に制限されないが、高速論
理集積回路の図示されない他の回路から伝達される内部
出力信号doを受け、対応するデータ出力端子DOを介
して外部に送出する。高速論理集積回路は、前述のよう
に、同一の回路構成とされる複数の出力回路を含み、各
出力回路に対して同様な内部出力信号がそれぞれ供給さ
れる。これらの内部出力信号は、図示されないタイミン
グ信号に従って同時に形成され、その結果複数の出力回
路の状態が同時に遷移される。Although not particularly limited, the output circuit of this embodiment receives an internal output signal do transmitted from another circuit (not shown) of the high-speed logic integrated circuit, and sends it to the outside via a corresponding data output terminal DO. As described above, a high-speed logic integrated circuit includes a plurality of output circuits having the same circuit configuration, and a similar internal output signal is supplied to each output circuit. These internal output signals are formed simultaneously according to timing signals (not shown), resulting in simultaneous state transitions of the plurality of output circuits.
第1図において、出力回路は、出力駆動用のインバータ
回路N1を含む、このインバータ回路N1は、特に制限
されないが、0MO3すなわち回路の電源電圧van及
び接地電位Vss間に直列形態に設けられる一対のPチ
ャンネルMOS F ET及びNチャンネルMO3FE
Tを基本構成とする。In FIG. 1, the output circuit includes an inverter circuit N1 for output driving.This inverter circuit N1 includes, but is not particularly limited to, a pair of 0MO3, that is, a pair of inverter circuits provided in series between the power supply voltage van of the circuit and the ground potential Vss. P channel MOS FET and N channel MO3FE
Let T be the basic configuration.
これらのMOS F ETは比較的大きなコンダクタン
スを持つように設計される。これにより、インバータ回
路Nlは、比較的大きな駆動能力を持つようにされる。These MOS FETs are designed to have relatively large conductance. Thereby, the inverter circuit Nl is made to have a relatively large driving capacity.
インバータ回路N1の入力端子は、ノードnlとされる
。このノードn1と回路の接地電位Vsaとの間には、
キャパシタC1が設けられる。この実施例において、キ
ャパシタC1は、特に制限されないが、インバータ回路
N1の入力容量すなわちインバータ回路N1を構成する
上記PチャンネルMOS F ET及びNチャンネルM
O3FETのゲート容量によって実現される。An input terminal of the inverter circuit N1 is a node nl. Between this node n1 and the circuit ground potential Vsa,
A capacitor C1 is provided. In this embodiment, the capacitor C1 is the input capacitance of the inverter circuit N1, that is, the P-channel MOS FET and the N-channel M
This is realized by the gate capacitance of O3FET.
ノードn1と電圧供給点Vl(第1の電圧供給点)との
間には、特に制限されないが、Pチャンネル型(第1導
電型)のMOSFETQI (第1)MOS F ET
)及びQ2(第2(7)MOSFET)からなるチャー
ジ回路が設けられる。MOSFETQIのゲートには所
定の定電圧Vclが供給され、MO3!’ETQ2のゲ
ートには、高速論理集積回路の図示されない回路から対
応する内部出力信号dOが供給される。これにより、M
OSFETQIは定電流源として機能し、MOS F
ETQ2は内部出力信号dOに従って選択的にオン状態
とされる。一方、ノードn1と電圧供給点v2(第2の
電圧供給点)との間には、Nチャンネル型(第2導電型
)のMO3FETQII (第3のMOSFET)及び
Q12(第4のMOSFET)からなるディスチャージ
回路が設けられる0M03FETQI 1のゲートには
所定の定電圧Vc2が供給され、MOSFETQI 2
のゲートには上記内部出力信号dOが供給される。これ
により、MOSFETQI 1は定電流源として機能し
、MOSFETQI2は内部出力信号doに従って選択
的にオン状態とされる。Between the node n1 and the voltage supply point Vl (first voltage supply point), there is a P-channel type (first conductivity type) MOSFET QI (first) MOS FET, which is not particularly limited.
) and Q2 (second (7) MOSFET). A predetermined constant voltage Vcl is supplied to the gate of MOSFETQI, and MO3! A corresponding internal output signal dO is supplied to the gate of ETQ2 from a circuit (not shown) of the high-speed logic integrated circuit. As a result, M
OSFETQI functions as a constant current source, and MOS FETQI functions as a constant current source.
ETQ2 is selectively turned on according to internal output signal dO. On the other hand, between node n1 and voltage supply point v2 (second voltage supply point), there are N-channel type (second conductivity type) MO3FET QII (third MOSFET) and Q12 (fourth MOSFET). A predetermined constant voltage Vc2 is supplied to the gate of 0M03FETQI 1 provided with a discharge circuit, and MOSFETQI 2
The internal output signal dO is supplied to the gate of . As a result, MOSFET QI 1 functions as a constant current source, and MOSFET QI 2 is selectively turned on according to internal output signal do.
ここで、内部出力信号dOは、特に制限されないが、そ
れが論理“0°とされるとき回路の接地電位Vssのよ
うなロウレベルとされ、論理°1”とされるとき回路の
電源電圧VDDのようなハイレベルとされるMOSレベ
ルの信号とされる。また、定電圧Vcl及びVC2は、
後述するように、対応するMOSFETQI及びQll
がキャパシタC1に対して所定のチャージ電流又はディ
スチャージ電流を供給する定電流源として機能できるよ
うな所定の電圧値とされる。さらに、電圧供給点v1及
びv2には、特に制限されないが、ノードnlすなわち
インバータ回路Nlの入力信号がその遷移領域を包含し
かつ充分小さな信号振幅を持つような所定の電圧v1及
びv2がそれぞれ供給される。Here, the internal output signal dO is not particularly limited, but when it is set to logic 0°, it is set to a low level like the ground potential Vss of the circuit, and when it is set to logic 1, it is set to a low level similar to the circuit power supply voltage VDD. This is a MOS level signal that is set to a high level. Moreover, the constant voltages Vcl and VC2 are
As described below, the corresponding MOSFETQI and Qll
A predetermined voltage value is set such that the capacitor C1 can function as a constant current source that supplies a predetermined charge current or discharge current to the capacitor C1. Further, voltage supply points v1 and v2 are supplied with predetermined voltages v1 and v2, respectively, such that the input signal of the node nl, that is, the inverter circuit Nl, covers its transition region and has a sufficiently small signal amplitude, although this is not particularly limited. be done.
第2図には、第1図の出力回路の一実施例の信号波形図
が示されている。以下、第2図及び上記第1図に従ワて
、この実施例の出力回路の動作の概要を説明する。FIG. 2 shows a signal waveform diagram of one embodiment of the output circuit of FIG. 1. Hereinafter, an outline of the operation of the output circuit of this embodiment will be explained with reference to FIG. 2 and the above-mentioned FIG. 1.
第2図において、内部出力信号dOが回路の接地電位V
ssのようなロウレベルとされるとき、MOSFETQ
2がオン状態とされ、MOSFETQI2はオフ状態と
される。このとき、キャパシタC1は、MOSFETQ
I及びQ2を介してチャージされ、ノードn1は、最終
的に電圧Vlのようなハイレベルとなる。ここで電圧■
1は、インバータ回路N1の入力信号の遷移領域のハイ
レベルすなわちインバータ回路N1の出力信号がロウレ
ベルからハイレベルに遷移され始める入力電圧vaより
やや高い電圧とされる。その結果、インバータ回路N1
の出力信号すなわちデータ出力端子DOの電位は、回路
の接地電位Vssのようなロウレベルとされる。In FIG. 2, the internal output signal dO is at the circuit ground potential V
When it is set to low level like ss, MOSFETQ
MOSFET QI2 is turned on, and MOSFETQI2 is turned off. At this time, capacitor C1 is MOSFETQ
The node n1 is charged through I and Q2, and the node n1 eventually reaches a high level such as the voltage V1. Here the voltage
1 is a high level in the transition region of the input signal of the inverter circuit N1, that is, a voltage slightly higher than the input voltage va at which the output signal of the inverter circuit N1 begins to transition from a low level to a high level. As a result, inverter circuit N1
The output signal of , that is, the potential of the data output terminal DO is set to a low level like the ground potential Vss of the circuit.
内部出力信号dOが、回路の接地電位Vssのようなロ
ウレベルから回路の電源電圧vnoのようなハイレベル
に変化されると、そのレベルが電圧Vb″を超えた時点
でMOSFETQI 2がオン状態となり、MO3FE
TQ2がオフ状態となる。When the internal output signal dO is changed from a low level such as the circuit ground potential Vss to a high level such as the circuit power supply voltage vno, when the level exceeds the voltage Vb'', the MOSFET QI 2 is turned on. MO3FE
TQ2 is turned off.
このため、キャパシタCIは、MOSFETQIl及び
Q12を介してディスチャージされる。これにより、ノ
ードn1の電位は、MOSFETQI1からなる定電流
源の電流値に従って徐々に低下され、最終的に電圧V2
のようなロウレベルとなる。ここで、電圧V2は、イン
バータ回路Nlの入力信号の遷移領域のロウレベルすな
わちインバータ回路Nlの出力信号がハイレベルからロ
ウレベルに遷移され始める入力電圧vbよりやや低い電
圧とされる。Therefore, capacitor CI is discharged via MOSFETs QIl and Q12. As a result, the potential of node n1 is gradually lowered according to the current value of the constant current source made of MOSFET QI1, and finally the voltage V2
It becomes a low level like . Here, the voltage V2 is set to a low level in the transition region of the input signal of the inverter circuit Nl, that is, a voltage slightly lower than the input voltage vb at which the output signal of the inverter circuit Nl starts to transition from a high level to a low level.
ノードn1の電位が上記遷移領域のハイレベルvaより
低下しさらに徐々に低くされることで、インパーク回路
N1の出力信号すなわちデータ出力端子DOの電位は、
徐々に上昇し、最終的に回路の電源電圧vI)Dのよう
なハイレベルとされる。As the potential of the node n1 falls below the high level va of the transition region and is further gradually lowered, the output signal of the impark circuit N1, that is, the potential of the data output terminal DO, becomes
It gradually rises and finally reaches a high level like the circuit power supply voltage vI)D.
つまり、この実施例の出力回路では、キャパシタC1に
対するディスチャージ回路がMOS F ETQllか
らなる定電流源を含むことで、ノードn1の電位が徐々
に低くされ、その結果、インバータ回路N1の出力信号
がロウレベルからハイレベルに徐々に変化されるものと
なる。That is, in the output circuit of this embodiment, the discharge circuit for the capacitor C1 includes a constant current source made of a MOS FETQll, so that the potential of the node n1 is gradually lowered, and as a result, the output signal of the inverter circuit N1 becomes low level. It will gradually change from high level to high level.
次に、内部出力信号dOが、回路の電源電圧VDりのよ
うなハイL・ベルから回路の接地電位Vssのようなロ
ウレベルに変化されると、そのレベルが電圧va’ よ
り低(なった時点でMO3FETQ2がオン状態となり
、MOSFETQI 2がオフ状態となる。このため、
キャパシタC1は、MOSFETQI及びQ2を介して
、再度チャージされる。これにより、ノードn1の電位
は、MOSFETQIからなる定電流源の電流値に従っ
て徐々に高くされ、最終的に上記電圧v1のようなハイ
レベルとされる。Next, when the internal output signal dO is changed from a high level, such as the power supply voltage VD of the circuit, to a low level, such as the ground potential Vss of the circuit, its level becomes lower than the voltage va'. MO3FETQ2 turns on and MOSFETQI 2 turns off. Therefore,
Capacitor C1 is charged again via MOSFETs QI and Q2. As a result, the potential of the node n1 is gradually raised in accordance with the current value of the constant current source made of MOSFET QI, and finally reaches a high level such as the voltage v1.
ノードn1の電位が上記遷移領域のロウレベルvbを超
えさらに徐々に高(されることで、インバータ回路N1
の出力信号すなわちデータ出力端子Doの電位は、徐々
に低下し、最終的に回路の接地電位Vssのようなロウ
レベルとされる。つまり、この実施例の出力回路では、
キャパシタC1に対するチャージ回路がMOSFETQ
Iからなる定電流源を含むことで、ノードnlの電位が
徐々に高くされ、その結果、インバータ回路N1の出力
信号がハイレベルからロウレベルに徐々に変化されるも
のとなる。The potential of the node n1 exceeds the low level vb of the transition region and gradually increases (as a result, the inverter circuit N1
The output signal of , that is, the potential of the data output terminal Do gradually decreases and finally reaches a low level similar to the ground potential Vss of the circuit. In other words, in the output circuit of this example,
The charge circuit for capacitor C1 is MOSFETQ
By including the constant current source made of I, the potential of the node nl is gradually increased, and as a result, the output signal of the inverter circuit N1 is gradually changed from high level to low level.
ところで、対応する内部出力信号doに従って、同時に
動作状態とされる複数のインバータ回路N1の出力信号
がロウレベルからハイレベル又はハイレベルからロウレ
ベルに比較的ゆっ(りと変化されることで、高速論理集
積回路の電源電圧供給線及び接地電位供給線の電流変化
は比較的小さなものとなる。このため、これらの電源電
圧供給線及び接地電位供給線に比較的大きな値の抵抗性
負荷やインダクタンス性負荷が結合されるにもかかわら
ず、電流変化によって発生するts源系のノイズは抑制
され、高速論理集積回路の出力回路及びその周辺回路の
誤動作が防止される。一方、ノードn1すなわちインバ
ータ回路Nlの入力信号の振幅は、前述のように、電圧
供給点v1及びv2に供給される電圧v1及びv2に制
限され、かつこれらの電圧v1及びv2がインパーク回
路N1の入カイR号の遷移領域を包含しかつ充分小さな
レベル差を持つようにされる。このため、インバータ回
路N1の入力信号のレベル変化が的確に制御され、出力
回路の出力16号が所望の伝達遅延時間をもって遷移さ
れるものとなる。By the way, by relatively slowly changing the output signals of the plurality of inverter circuits N1, which are activated simultaneously, from a low level to a high level or from a high level to a low level according to the corresponding internal output signal do, high-speed logic integration is possible. Current changes in the circuit's power supply voltage supply line and ground potential supply line are relatively small.Therefore, relatively large resistive or inductive loads are placed on these power supply voltage supply lines and ground potential supply lines. Despite being coupled, noise in the ts source system generated by current changes is suppressed, and malfunctions of the output circuit of the high-speed logic integrated circuit and its peripheral circuits are prevented.On the other hand, the input of node n1, that is, the inverter circuit Nl The amplitude of the signal is, as described above, limited to the voltages v1 and v2 supplied to the voltage supply points v1 and v2, and these voltages v1 and v2 encompass the transition region of the input voltage R of the impark circuit N1. Moreover, the level difference is made to be sufficiently small.Therefore, the level change of the input signal of the inverter circuit N1 is accurately controlled, and the output No. 16 of the output circuit is made to transition with a desired transmission delay time. .
以上のように、この実施例の出力回路は、比較的大きな
FIA !l1IJtp2力を持つCM a Sインバ
ータ回路N1と、上記インバータ回路Nlの入力端子と
回路の接地電位Vssとの間に設けられるキャパシタC
1を含む、インバータ回路N1の入力端子すなわちノー
ドn1と電圧供給点Vlとの間には、そのゲートに所定
の定電圧Vclが供給されることで定電流源として機能
するMOS F ETQ 1と、そのゲートに内部出力
信5)doを受けるMOSFETQ2が直列形態に設け
られる。また、上記ノードn1と電圧供給点v2との間
には、そのゲートに所定の定電圧Vc2が供給されるこ
とで定電流源として機能するMO3FETQI 1と、
そのゲートに上記内部出力信号doを受けるMOSFE
TQ12が直列形態に設けられる。このため、内部出力
信号doがロウレベルからハイレベルに又はハイレベル
からロウレベルに変化されるとき、ノードnlの電位は
、MO3FETQI及びQllからなる定電流源の電流
値に従って徐々に変化されるものとされ、またその信号
振幅は、遷移領域を包含しかつ充分小さなものとされる
。これにより、インバータ回路Nlの出力信号は、その
レベJL/変化が的確に制御され、所定の伝達遅延時間
をもって遷移されるものとなる。その結果、高速論理集
積回路等の電源系に誘起されるノイズレベルが抑制され
、その誤動作が防止される。As described above, the output circuit of this embodiment is a relatively large FIA! A CM a S inverter circuit N1 having l1IJtp2 power, and a capacitor C provided between the input terminal of the inverter circuit Nl and the ground potential Vss of the circuit.
1, between the input terminal of the inverter circuit N1, that is, the node n1, and the voltage supply point Vl, there is a MOS FETQ 1 which functions as a constant current source by supplying a predetermined constant voltage Vcl to its gate; A MOSFET Q2 which receives an internal output signal 5)do at its gate is provided in series. Furthermore, between the node n1 and the voltage supply point v2, there is an MO3FET QI1 which functions as a constant current source by supplying a predetermined constant voltage Vc2 to its gate;
A MOSFE which receives the above internal output signal do at its gate.
TQ12 is provided in series form. Therefore, when the internal output signal do is changed from a low level to a high level or from a high level to a low level, the potential of the node nl is gradually changed according to the current value of the constant current source consisting of MO3FETs QI and Qll. , and the signal amplitude is made small enough to include the transition region. As a result, the level JL/change of the output signal of the inverter circuit Nl is accurately controlled, and the transition occurs with a predetermined transmission delay time. As a result, the noise level induced in the power supply system of high-speed logic integrated circuits and the like is suppressed, and malfunction thereof is prevented.
〔実施例2〕
第3図には、この発明が適用された出力回路のもう一つ
の実施例の回P3図が示されている。この実施例の出力
回路は、基本的に上記第1図の実施例を踏襲するもので
あり、第3図のインバータ回路N2及びキャパシタC2
は、第1図のインバータ回路N1及びキャパシタC1に
それぞれそのまま対応する。また、内部出力信号doな
らびに電圧v1及びV2は、上記第1図の内部出力信号
dOならびに電圧v1及びv2とそれぞれ同一の条件で
形成される。以下、第1図の実施例と異なる部分につい
て、説明を追加する。[Embodiment 2] FIG. 3 shows a diagram P3 of another embodiment of the output circuit to which the present invention is applied. The output circuit of this embodiment basically follows the embodiment of FIG. 1 above, and includes the inverter circuit N2 and capacitor C2 of FIG.
correspond to the inverter circuit N1 and capacitor C1 of FIG. 1 as they are. Further, the internal output signal do and the voltages v1 and V2 are formed under the same conditions as the internal output signal dO and the voltages v1 and v2 shown in FIG. 1, respectively. Hereinafter, explanations will be added regarding parts that are different from the embodiment shown in FIG.
第3図において、出力回路は、電圧供給点■1及び■2
間に直列形態に設けられるPチャンネルMO3FETQ
3及びNチャンネルMO3FETQ13を含む。これら
のMO3FETQ3及びQ13は、上記電圧Vl及びv
2を動作電源とする1個のCMOSインバータ回路を構
成する。MO3FETQ3及びQ13のゲートは共通結
合され、高速論理集積回路の図示されない回路から内部
出力信号dOが供給される。また、MO3FETQ3及
びQ13の共通結合されたドレインは、抵抗R1を介し
てノードn2に結合される。ここで、抵抗R1は、MO
3FETQ3とともにキャパシタC2に対するチャージ
回路を構成し、またMOSFETQ13とともにキャパ
シタc2に対するディスチャージ回路を構成する。この
ため、抵抗R1は、ノードn1のレベルが所望の速度で
高くされまた低くされるような所定の抵抗値を持つよう
に設計される。In Figure 3, the output circuit has voltage supply points ■1 and ■2.
P-channel MO3FETQ provided in series between
3 and N channel MO3FETQ13. These MO3FETs Q3 and Q13 are connected to the above voltages Vl and v
A single CMOS inverter circuit is constructed using the circuit 2 as an operating power supply. The gates of the MO3FETs Q3 and Q13 are commonly coupled, and an internal output signal dO is supplied from a circuit (not shown) of the high-speed logic integrated circuit. Further, the commonly coupled drains of MO3FETs Q3 and Q13 are coupled to node n2 via resistor R1. Here, the resistor R1 is MO
Together with 3FETQ3, it constitutes a charge circuit for capacitor C2, and together with MOSFETQ13, it constitutes a discharge circuit for capacitor c2. Therefore, the resistor R1 is designed to have a predetermined resistance value such that the level of the node n1 is raised and lowered at a desired speed.
内部出力信号doが回路の接地電位Vssのようなロウ
レベルとされるとき、MO3FETQ3がオン状態とさ
れ、MO3FETQI 3はオフ状態とされる。このと
き、キャパシタC2は、MO3FETQ3及び抵抗R1
を介してチャージされ、ノードn2ば最終的に電圧v1
のようなハイレベルとされる。ノードn2が電圧v1の
ようなハイレベルとされることで、インバータ回路N2
の出力信号すなわちデータ出力端子DOは、回路の接地
電位Vssのようなロウレベルとされる。When the internal output signal do is set to a low level such as the ground potential Vss of the circuit, MO3FETQ3 is turned on and MO3FETQI3 is turned off. At this time, capacitor C2 is connected to MO3FETQ3 and resistor R1.
is charged via the node n2, and finally the voltage v1
It is considered to be a high level such as. By setting the node n2 to a high level like the voltage v1, the inverter circuit N2
The output signal of , that is, the data output terminal DO is set to a low level like the ground potential Vss of the circuit.
内部出力信号doが、回路の接地電位Vssのようなロ
ウレベルから回路の電源電圧VDDのようなハイレベル
に変化されると、MO3FETQ3はオフ状態とされ、
代わってMO3FETQI 3がオン状態とされる。こ
のため、キャパシタC2は、MO3FETQ13及び抵
抗R1を介してディスチャージされる。これにより、ノ
ードn2の電位は、抵抗R1によって決まる所定の速度
で徐々に低くされ、最終的に電圧v2のようなロウレベ
ルとされる。ノードn2の電位がその遷移領域のハイレ
ベルより低くされ、さらに徐々に低くされることで、イ
ンバータ回路N2の出力信号は、ゆっくりとロウレベル
からハイレベルに遷移され、最終的に回路の電源電圧V
OOのようなハイレベルとされる。When the internal output signal do is changed from a low level such as the circuit ground potential Vss to a high level such as the circuit power supply voltage VDD, the MO3FETQ3 is turned off,
Instead, MO3FETQI 3 is turned on. Therefore, capacitor C2 is discharged via MO3FET Q13 and resistor R1. As a result, the potential of the node n2 is gradually lowered at a predetermined speed determined by the resistor R1, and is finally brought to a low level such as the voltage v2. By making the potential of node n2 lower than the high level of its transition region and further lowering it gradually, the output signal of inverter circuit N2 is slowly transitioned from low level to high level, and finally the power supply voltage V of the circuit
It is considered to be at a high level such as OO.
次に、内部出力信号dOが、回路の電源電圧Vooのよ
うなハイレベルから回路の接地電位Vssのような、ロ
ウレベルに変化されると、MO3FETQ13はオフ状
態とされ、代わってMO3FETQ3が再度オン状態と
される。このため、キャパシタC2は、MO3FETQ
3及び抵抗R1を介してチャージされる。これにより、
ノードn2の電位は、抵抗R1によって決まる所定の速
度で徐々に高くされ、最終的に電圧■1のようなハイレ
ベルとされる。ノードn2の電位がその遷移領域のロウ
レベルを超えさらに徐々に高くされることで、インバー
タ回路N2の出力信号は、ゆっくりとハイレベルからロ
ウレベルに遷移され、最終的に回路の接地電位Vssの
ようなロウレベルとされる。つまり、この実施例の出力
回路では、キャパシタC2に対するチャージ回路及びデ
ィスチャージ回路が所定の抵抗値を持つ抵抗R1を共通
に含むことで、ノードn2のレベル変化が抑制され、そ
の結果、インバータ回路N2の出力信号のレベル変化が
抑制されるものである。Next, when the internal output signal dO is changed from a high level such as the circuit power supply voltage Voo to a low level such as the circuit ground potential Vss, MO3FETQ13 is turned off, and MO3FETQ3 is turned on again. It is said that Therefore, capacitor C2 is MO3FETQ
3 and the resistor R1. This results in
The potential of the node n2 is gradually increased at a predetermined speed determined by the resistor R1, and is finally brought to a high level such as voltage 1. As the potential of the node n2 exceeds the low level of the transition region and is further gradually raised, the output signal of the inverter circuit N2 is slowly transitioned from high level to low level, and finally reaches a low level such as the ground potential Vss of the circuit. It is said that That is, in the output circuit of this embodiment, since the charge circuit and discharge circuit for the capacitor C2 commonly include the resistor R1 having a predetermined resistance value, the level change of the node n2 is suppressed, and as a result, the change in the level of the inverter circuit N2 is suppressed. This suppresses level changes in the output signal.
以上のように、この実施例の出力回路は、電圧供給点v
1及び■2の間に直列形態に設けられCMOSインバー
タ回路を構成するPチャンネルMO3FETQ3及びN
チャンネルMOS F ETQ13を含む、これら(7
)MO3FETQ3及びQ13の共通結合されたドレイ
ンとインバータ回路N2の入力端子との間には、上記M
O3FETQ3とともにキャパシタC2に対するチャー
ジ回路を構成し、かつ上記MO3FETQI 3ととも
にキャパシタC2に対するディスチャージ回路を構成す
る抵抗R1が設けられる。抵抗R1は、ノードn2の電
位が、所定の傾きをもって徐々に高く又は低くされるよ
うな所定の抵抗値を持つようにされる。また、電圧供給
点v1及びv2に供給される電圧v1及び■2は、上記
第1図の実施例と同様に、インバータ回路N2の入力信
号の遷移領域を包含しかつ充分小さなレベル差を持つよ
うにされる。このため、内部出力信号doがロウレベル
からハイレベル又はハイレベルからロウレベルに変化さ
れるとき、ノードn2の電位は所定の速度で徐々に変化
され、その結果、インバータ回路N2のすなわち出力回
路の出力信号のレベル変化が抑制奎れる。これにより、
この実施例の出力回路は、比較的簡素な回路構成とされ
るにもかかわらず、上記第1図の実施例と同様な効果を
持つものとなる。As described above, the output circuit of this embodiment has a voltage supply point v
P-channel MO3FETQ3 and N are provided in series between 1 and 2 to form a CMOS inverter circuit.
These (7), including channel MOS FETQ13
) The above-mentioned M
A resistor R1 is provided, which together with the O3FET Q3 constitutes a charge circuit for the capacitor C2, and together with the MO3FET QI 3 constitutes a discharge circuit for the capacitor C2. The resistor R1 is configured to have a predetermined resistance value such that the potential of the node n2 is gradually raised or lowered with a predetermined slope. Further, the voltages v1 and (2) supplied to the voltage supply points v1 and v2 are made to include the transition region of the input signal of the inverter circuit N2 and have a sufficiently small level difference, as in the embodiment shown in FIG. be made into Therefore, when the internal output signal do is changed from a low level to a high level or from a high level to a low level, the potential of the node n2 is gradually changed at a predetermined speed, and as a result, the output signal of the inverter circuit N2, that is, the output circuit level changes are suppressed. This results in
Although the output circuit of this embodiment has a relatively simple circuit configuration, it has the same effects as the embodiment of FIG. 1 described above.
以上の二つの実施例に示されるように、この発明を高速
論理集積回路等の半導体集積回路装置に含まれる出力回
路に通用した場合、次のような効果が得られる。すなわ
ち、
(1)出力回路を、比較的大きな駆動能力を持つインバ
ータ回路と、上記インバータ回路の入力容量を内部出力
信号に従って選択的にチャージ又はディスチャージする
二つの電流源によって構成することで、インバータ回路
の入力信号のレベル変化を抑制できるため、チップ面積
の増大を避け、インバータ回路の駆動能力を低下させる
ことなく、出力信号のレベル変化を抑制できるという効
果が得られる。As shown in the above two embodiments, when the present invention is applied to an output circuit included in a semiconductor integrated circuit device such as a high-speed logic integrated circuit, the following effects can be obtained. (1) By configuring the output circuit with an inverter circuit with a relatively large driving capacity and two current sources that selectively charge or discharge the input capacitance of the inverter circuit according to an internal output signal, the inverter circuit Since the change in the level of the input signal can be suppressed, it is possible to suppress the change in the level of the output signal without increasing the chip area or reducing the driving ability of the inverter circuit.
(21,41記(1)項において、上記インパーク回路
の入力信号の振幅を、その遷移領域を包含しかつ充分小
さなものとすることで、キャパシタのチャージ又はディ
スチャージ時間を的確に制御できるという効果が得られ
る。(In paragraphs 21 and 41 (1), by making the amplitude of the input signal of the impark circuit sufficiently small to include its transition region, the capacitor charging or discharging time can be accurately controlled. is obtained.
(3)−上記(11項及び(2)項により、インバータ
回路の駆動能力を低下させることなく、言い換えると出
力回路の出力信号のレベルマージンを縮小することなく
かつ外部ノイズに対する吸収力を低下させることなく、
出力信号のレベル変化を的確に抑制できるという効果が
得られる。(3) - According to the above (11) and (2), the ability to absorb external noise is reduced without reducing the drive capability of the inverter circuit, or in other words, without reducing the level margin of the output signal of the output circuit. without any
This provides the effect of accurately suppressing level changes in the output signal.
(4)上記(1)項〜(3)項により、同時に動作状態
とされる複数の出力回路を含む高速論理集積回路の電源
系ノイズを削減し、その誤動作を防止できるという効果
が得られる。(4) Items (1) to (3) above provide the effect of reducing power supply noise and preventing malfunctions of high-speed logic integrated circuits that include a plurality of output circuits that are activated at the same time.
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸税しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、第1図におい
て、MO5FETQ1、Q2及びQll、Q12は、す
べてPチャンネルMOS F ET又はNチャンネルM
O3FETによって構成することができる。この場合、
MOS F E、TQ 2又はQ12のいずれかのゲー
トには、内部出力信号dOの反転信号を供給する必要が
あるし、定電圧Vcl及びVc2もこれらのMOSFE
Tの導電型に合わせてその値を選定する必要がある。第
1図及び第3図において、キャパシタC1及びC2は、
インバータ回路Nl又はN2の入力容量ではなく、所定
の静電容量を持つ別個な容量手段を用いるものであって
もよい。また、インバータ回路N1及びN2は、CMO
Sインバータ回路である必要もない。これらの実施例に
おいて、電圧供給点■1及び■2には、出力制御信号に
従って選択的に電圧v1及びv2が供給されるものであ
ってもよいし、これらの電圧■1及びV2に代えて回路
の電源電圧VOO及び接地電位Vssがそれぞれ供給さ
れることもよい。さらに、第1図及び第3図に示される
出力回路の具体的な回路構成は、種々の実施形態を採り
うる。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, this invention is not limited to the above Examples, and it should be noted that various changes can be made without departing from the gist of the invention. For example, in FIG. 1, MO5FETs Q1, Q2 and Qll, Q12 are all P-channel MOS FETs or N-channel M
It can be configured by O3FET. in this case,
It is necessary to supply the inverted signal of the internal output signal dO to the gate of MOS F E, TQ 2 or Q12, and the constant voltages Vcl and Vc2 are also connected to these MOS FEs.
It is necessary to select the value according to the conductivity type of T. In FIGS. 1 and 3, capacitors C1 and C2 are
Instead of the input capacitance of the inverter circuit Nl or N2, separate capacitance means having a predetermined capacitance may be used. In addition, the inverter circuits N1 and N2 are CMO
It does not need to be an S inverter circuit. In these embodiments, the voltages v1 and v2 may be selectively supplied to the voltage supply points ■1 and ■2 according to the output control signal, or the voltages v1 and v2 may be supplied instead of these voltages ■1 and V2. The power supply voltage VOO and the ground potential Vss of the circuit may be respectively supplied. Furthermore, the specific circuit configuration of the output circuit shown in FIGS. 1 and 3 can take various embodiments.
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野である高速論理集積回路の
出力回路に通用した場合について説明したが、それに限
定されるものではなく、例えば、CMO3論理ゲート回
路を基本構成とするゲートアレイ集積回路や各種の半導
体記憶装置等にも適用できる0本発明は、少なくとも同
時に動作状態とされる複数の出力回路を有する半導体集
積回路装置に広く通用できる。In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to the output circuit of a high-speed logic integrated circuit, which is the background application field, but the invention is not limited thereto. The present invention, which can also be applied to gate array integrated circuits whose basic configuration is gate circuits, various semiconductor memory devices, etc., is widely applicable to semiconductor integrated circuit devices having a plurality of output circuits that are activated at least simultaneously.
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。すなわち、出力回路を、比較的大きな駆動能力を持
つインバータ回路と、上記インバータ回路の入力容量を
内部出力信号に従って選択的にチャージ又はディスチャ
ージする二つの電流源によって構成し、また上記インバ
ータ回路の入力信号の振幅を、その遷移領域を包含しか
つ充分小さなものとすることで、チップ面積の増大を避
け、インバータ回路の駆動能力を低下させることなく、
言い換えると出力信号のレベルマージンを縮小すること
なくかつ外部ノイズに対する吸収力を低下させることな
く、出力信号のレベル変化を的確に抑制できる。これに
より、同時に動作状態とされる複数の出力回路を含む高
速論理集積回路の電源系ノイズを削減し、その誤動作を
防止できるものである。A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. That is, the output circuit is constituted by an inverter circuit with a relatively large driving capacity and two current sources that selectively charge or discharge the input capacitance of the inverter circuit according to an internal output signal, and the input signal of the inverter circuit is By making the amplitude sufficiently small to include the transition region, an increase in the chip area can be avoided and the drive capability of the inverter circuit can be maintained.
In other words, changes in the level of the output signal can be accurately suppressed without reducing the level margin of the output signal and without reducing the ability to absorb external noise. This makes it possible to reduce power supply noise and prevent malfunctions of high-speed logic integrated circuits that include a plurality of output circuits that are activated at the same time.
第1図は、この発明が通用された出力回路の一実施例を
示す回路図、
第2図は、第1図の出力回路の一実施例を示す信号波形
図、
第3図は、この発明が通用された出力回路のもう一つの
実施例を示す回路図、
第4図は、従来の電流it、IJ御型出力同型出力回路
示す■路図である。
N1.N2・・・インバータ回路、Q1〜Q5・・・P
チャンネルMO3FE’!’%Qll〜Q15−Nチャ
ンネルMO3FET、CI、C2・・・キャパシタ、R
1・・・抵抗。
第
図
第
図
■1
■2
SS
第
図
ssFIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of an output circuit to which this invention is applied. FIG. 2 is a signal waveform diagram showing an embodiment of the output circuit of FIG. 1. FIG. 3 is a circuit diagram showing an embodiment of the output circuit of FIG. FIG. 4 is a circuit diagram showing another embodiment of an output circuit in which the same type of output circuit is used. N1. N2...Inverter circuit, Q1-Q5...P
Channel MO3FE'! '%Qll~Q15-N channel MO3FET, CI, C2...capacitor, R
1...Resistance. Figure ■1 ■2 SS Figure ss
Claims (1)
路の入力端子と回路の接地電位との間に設けられるキャ
パシタと、対応する内部出力信号に従って選択的に動作
状態とされ上記キャパシタをチャージするチャージ回路
と、上記第1の電流源と相補的に動作状態とされ上記キ
ャパシタをディスチャージするディスチャージ回路とを
含む出力回路を具備することを特徴とする半導体集積回
路装置。 2、上記チャージ回路は、第1の電圧供給点と上記イン
バータ回路の入力端子との間に直列形態に設けられその
ゲートに第1の定電圧を受ける第1導電型の第1のMO
SFET及びそのゲートに上記内部出力信号を受ける第
1導電型の第2のMOSFETによって構成され、上記
ディスチャージ回路は、第2の電圧供給点と上記インバ
ータ回路の入力端子との間に直列形態に設けられそのゲ
ートに第2の定電圧を受ける第2導電型の第3のMOS
FET及びそのゲートに上記内部出力信号を受ける第2
導電型の第4のMOSFETによって構成され、上記キ
ャパシタは、上記インバータ回路の入力容量によって構
成されることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
半導体集積回路装置。 3、上記第1及び第2の電圧供給点の電位は、上記イン
バータ回路の入力信号の遷移領域を包含しかつ回路の電
源電圧及び接地電位に比較して充分小さなレベル差を持
つようにされることを特徴とする特許請求の範囲第1項
又は第2項記載の半導体集積回路装置。[Claims] 1. An inverter circuit for output driving, a capacitor provided between the input terminal of the inverter circuit and the ground potential of the circuit, and a capacitor that is selectively put into an operating state according to a corresponding internal output signal, and the above-mentioned A semiconductor integrated circuit device comprising: an output circuit including a charge circuit that charges a capacitor; and a discharge circuit that is activated in a complementary manner to the first current source and discharges the capacitor. 2. The charge circuit includes a first MO of a first conductivity type that is provided in series between a first voltage supply point and an input terminal of the inverter circuit and receives a first constant voltage at its gate.
The discharge circuit is configured of an SFET and a second MOSFET of the first conductivity type that receives the internal output signal at its gate, and the discharge circuit is provided in series between the second voltage supply point and the input terminal of the inverter circuit. a third MOS of a second conductivity type which receives a second constant voltage on its gate;
A second FET and a second one receiving the internal output signal at its gate.
2. The semiconductor integrated circuit device according to claim 1, wherein the semiconductor integrated circuit device is constituted by a fourth conductive type MOSFET, and the capacitor is constituted by an input capacitance of the inverter circuit. 3. The potentials of the first and second voltage supply points are made to include the transition region of the input signal of the inverter circuit and have a sufficiently small level difference compared to the power supply voltage and ground potential of the circuit. A semiconductor integrated circuit device according to claim 1 or 2, characterized in that:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63148103A JPH022714A (en) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | Semiconductor integrated circuit device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63148103A JPH022714A (en) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | Semiconductor integrated circuit device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022714A true JPH022714A (en) | 1990-01-08 |
Family
ID=15445311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63148103A Pending JPH022714A (en) | 1988-06-17 | 1988-06-17 | Semiconductor integrated circuit device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH022714A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5377776A (en) * | 1993-02-09 | 1995-01-03 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Frame structure for a motorcycle |
| JPH0818432A (en) * | 1994-06-28 | 1996-01-19 | Nec Corp | Driving circuit |
-
1988
- 1988-06-17 JP JP63148103A patent/JPH022714A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5377776A (en) * | 1993-02-09 | 1995-01-03 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Frame structure for a motorcycle |
| JPH0818432A (en) * | 1994-06-28 | 1996-01-19 | Nec Corp | Driving circuit |
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