JPH02272304A - 光軸移動測定器 - Google Patents

光軸移動測定器

Info

Publication number
JPH02272304A
JPH02272304A JP1094912A JP9491289A JPH02272304A JP H02272304 A JPH02272304 A JP H02272304A JP 1094912 A JP1094912 A JP 1094912A JP 9491289 A JP9491289 A JP 9491289A JP H02272304 A JPH02272304 A JP H02272304A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
laser beam
receiving element
optical axis
amount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1094912A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Mizuta
治 水田
Yuji Ito
雄二 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP1094912A priority Critical patent/JPH02272304A/ja
Publication of JPH02272304A publication Critical patent/JPH02272304A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光デイスク原盤露光機等に用いられる光軸移動
測定器に関する。
〔従来の技術〕
従来、光軸移動測定器としては位置検出素子を用いてレ
ーザ光の光軸の移動距離を測定するもの■がある。また
他の光軸移動測定器としては一対の2分割受光素子を互
いに直角な2つの方向に向けて配置し、レーザ光をハー
フミラ−、ビームスプリッタ等の光分割手段で2つに分
割して上記−対の2分割受光素子で受光し、この一対の
2分割受光素子の出力信号よりレーザ光の光軸の移動距
離を測定するもの■が特開昭52−45840号公報、
特開昭62−280713号公報、昭和60年度電子通
信学会総合全国大会報告1055rレーザの光軸変動と
その制御法」により知られている。さらに4分割受光素
子を用いて2つのレーザ光の相対位置の誤差を検出し、
その誤差信号に基づいて2つのレーザ光の一方を制御す
ることにより2つのレーザ光の間隔を一定に保つもの■
が特開昭62−283426号公報により知られている
〔発明が解決しようとする課題〕
上記光軸移動測定器■では分解能が現状では10μmで
あり、より高精度な測定が不可能である。
しかも光量の変化により測定分解能が変化してしまうの
で、光量を一定にしておかなければならない。
また、上記光軸移動測定器■では一対の2分割受光素子
を用いるので、配置及び光軸合わせが複雑になって精度
を上げることができず、大型になる。
上記光軸移動測定器■では光量、先口径を考慮しないで
レーザ光の光軸の移動距煎を測定するので、光軸が変動
したのか光量、先口径が変化したのか分からない。
レーザ光の光軸は常に変動しており、特にレーザのウオ
ーミングアツプ(スタート)時にはレーザのチューブ内
温度等が十分にウオーミングアツプされるまで変動する
。そしてレーザのウオーミングアツプが完了すればレー
ザ光の光軸の変動は微小になる。そこで、安定したレー
ザ光を使用する場合には必ず1〜2時間のウオーミング
アツプをするが、レーザ光が何時安定状態になったかは
上記光軸移動測定器でレーザ光の光軸の移動距離を測定
しても明確には分からなかった。それは上記光軸移動測
定器ではレーザ光の光量、先口径を考慮しないでレーザ
光の光軸の移動距離を測定するので、光軸が変動したの
か光量、先口径が変化したのか分からないからである。
本発明は上記欠点を改善し、正確かつ高精度な測定が可
能で小型にできる光軸移動測定器を提供することを目的
とする。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するため、請求項1の発明は光を2つに
分割する光分割手段と、この光分割手段からの一方の光
を受光する4分割受光素子と、前記光分割手段からの他
方の光の光量を検知する光量モニター用受光素子と、前
記4分割受光素子からの4つの出力信号から互いに直角
な2つの方向の差信号を求めてこれらの差信号を前記光
量モニター用受光素子の出力信号により前記光量に応じ
て補正する演算手段とを備えるようにしたものであり、 請求項2の発明は光を2つに分割する光分割手段と、こ
の光分割手段からの一方の光を受光する4分割受光素子
と、前記光分割手段からの他方の光の口径を検知する光
口径測定手段と、前記4分割受光素子からの4つの出力
信号から互いに直角な2つの方向の差信号を求めてこれ
らの差信号を前記光口径測定手段の出力信号により前記
口径に応じて補正する演算手段とを備えるようにしたも
のである。
〔作 用〕
請求項1の発明では光が光分割手段により2つに分割さ
れ、この光分割手段からの一方の光が4分割受光素子で
受光されて光分割手段からの他方の光の光量が光量モニ
ター用受光素子により検知される。演算手段は4分割受
光素子からの4つの出力信号から互いに直角な2つの方
向の差信号を求めてこれらの差信号を光量モニター用受
光素子の出力信号により前記光量に応じて補正する。
請求項2の発明では光が光分割手段により2つに分割さ
れ、この光分割手段からの一方の光が4分割受光素子に
より受光されて光分割手段からの他方の光の口径が光口
径測定手段により検知される。演算手段は4分割受光素
子からの4つの出力信号から互いに直角な2つの方向、
の差信号を求めてこれらの差信号を光口径測定手段の出
力信号により前記口径に応じて補正する。
〔実施例〕
第1図は本発明の一実施例を示す。
この実施例は光デイスク原盤露光機のAr+レーザのウ
オーミングアツプ時間の確認などに用いられるものであ
り、レーザ11からの1本のレーザ光はハーフミラ−1
2により2本に分割されて4分割受光素子13及び光量
モニター用受光素子14によりそれぞれ受光される。4
分割受光素子13は第2図に示すようにレーザ光の光軸
にほぼ直角で且つ互いに直角なX、Z方向に分割された
4つの受光部A、B、C,Dを有し、ハーフミラ−12
からのレーザ光がスポットSとして照射される。この4
分割受光素子13の中心はスポットSが正規の位置にあ
るときにはその中心と一致し、演算回路15は第3図に
示すように構成されている。4分割受光素子13の各受
光部A、B、C,Dの出力信号a。
b、c、dはコンパレータ16〜19によりゼロレベル
で2値化されてパルス信号となり、加算器20〜23に
より互いに異なる2つづつの信号が加算されて(a+b
L(c+d)、(a+d)、(b+c)となる。
加算器20.21の各出力信号(a +b)、(c +
d)は減算器24により差がとられてX方向の差信号ノ
=(a + b)−(c + d)となり、加算器22
.23の各出力信号(a+d)、(b+c)は減算器2
4により差がとられてZ方向の差信号m=(a十d)−
(b+c)となる。光量モニター用受光素子14はレー
ザ光の光量を検知するものであり、その出力信号はコン
パレータ26によりゼロレベルで2値化される。補正回
路27は加算器24 、25からのX方向、Z方向の差
信号!=(a+b)−(c+d)、m=(a+d)  
(b+C)に対してコンパレータ26からのパルス信号
nに基づいて第4図に示すようにレーザ光の光量に応じ
た係数に1.に、を掛けて補正し、その結果j=((a
 +b)  (c + d)) X kz、k =((
a + d )−(b + c))X k工をレーザ光
の光軸移動距離を示す測定信号として出力する。この演
算回路15の各部の信号は第5図に示すようになり、レ
ーザ光の光量、係数に□lk2、レーザ光の光軸移動量
測定値(j、k)の関係が第6図に示すようになってレ
ーザ光の光軸移動量測定値(j、k)はレーザ光の光量
に影響されなくなる。係数に工l k2は実験により求
められ、第7図及び第8図は実験で求めたレーザ光の光
量が0.03mwの場合におけるレーザ光の光軸移動量
とX方向、Z方向の差信号!+mとの関係を示す。第9
図及び第10図は実験で求めたレーザ光の光量が0.0
5a+vの場合におけるレーザ光の光軸移動量とX方向
、Z方向の差信号ノ2mとの関係を示し、第11図及び
第12図は実験で求めたレーザ光の光量が0.07mw
の場合におけるレーザ光の光軸移動量とX方向、2方向
の差信号!1mとの関係を示す。第13図及び第14図
は実験で求めたレーザ光の光量と係数に□lkmとの関
係を示し、この実験結果から係数によtk2はに□= 
8.5 X 10−’x+2.02X10−’、 k、
=8.25X10−’x+2.4X10−4となった。
ここに、Xはレーザ光の光量を示す値である。
第15図は本発明の他の実施例を示す。
この実施例は上記実施例においてX方向、2方向の差信
号!1mをレーザ光の光量に応じて補正する代りに、X
方向、Z方向の差信号をレーザ光の口径に応じて補正す
るようにしたものである。
レーザ11からの1本のレーザ光はハーフミラ−12に
より2本に分割されて4分割受光素子13及び光口径モ
ニター用受光素子28によりそれぞれ受光される。光口
径モニター用受光素子28はハーフミラ−12からのレ
ーザ光の口径を検知するものであり、演算回路29は1
6図に示すように構成されている。
この演算回路29は前記実施例と同様な加算器20〜2
3、減算器24 、25を含み、減算器24の出力信号
をyとすれば y=に’x k ’ =0.0402 φ−0・”9φ:レーザ光の
口径 に′:補正係数 となる。これらの式から x = y / k ’ = y 10.0402・φ
−0・G59となり、これを対数表示に変換すると、1
ogx =1.396+0.6591ogφ十log 
yとなる。この式の左辺定数項を考慮すると、log 
x 、 = 0.6591ogφ十log yを演算す
ればレーザ光の光軸移動量(口径の変化又は口径の設定
変更による誤差を補正したもの)が求められることにな
る。そこで、減算Q24の出力信号は正負判定部30で
正であるが負であるかが判定されてこの正負判定部3o
の出力信号がインバータ31で反転される。そして減算
器24の出力信号は正であれば正負判定部30の出力信
号によりゲート32を通って対数増幅器33へ送られ、
負であれば反転回路34で反転されてからインバータ3
1の出力信号によりゲート35を通って対数増幅器33
へ送られる。また、光口径モニター用受光素子28の出
力信号は対数増幅器36により増幅されて係数器37に
より係数k”(=0.659)が掛けられ、対数増幅器
33の出力信号は加算器38にて係数器37の出力信号
が加算される。
同様に減算器25の出力信号は正負判定部39で正であ
るか負であるかが判定されてこの正負判定部39の出力
信号がインバータ40で反転される。そして減算器25
の出力信号は正であれば正負判定部39の出力信号によ
りゲート41を通って対数増幅器42へ送られ、負であ
れば反転回路43で反転されてからインバータ40の出
力信号によりゲート44を通って対数増幅器42へ送ら
れる。また、対数増幅器36の出力信号は係数器46に
より係数に″′が掛けられ、対数増幅器42の出力信号
が加算器47にて係数器46の出力信号が加算されて加
算器38.47の出力信号がレーザ光の光軸移動距離を
示す測定信号として出力される。
第17図及び第18図は上記実施例においてレーザ光の
口径φをφ=0.68とした場合の光軸ずれ量とX方向
、2方向の差信号との関係の実測値を示し、第19図及
び第20図は上記実施例においてレーザ光の口径φをφ
=1.08とした場合の光軸ずれ量とX方向、2方向の
差信号との関係の実測値を示す。
第21図及び第22図は上記実施例においてレーザ光の
口径φをφ=2.1とした場合の光軸ずれ量とX方向、
2方向の差信号との関係の実測値を示し、第23図及び
第24図は上記実施例においてレーザ光の口径φをφ=
3.2とした場合の光軸ずれ量とX方向、Z方向の差信
号との関係の実測値を示す。
第25図及び第26図は上記実施例においてレーザ光の
口径φをφ=3.81とした場合の光軸ずれ量とX方向
、2方向の差信号との関係の実測値を示し。
第27図及び第28図はこれらの実測値についての係数
(X方向、Z方向の差信号/光軸ずれ量)とレーザ光の
口径との関係(補正曲線)を示したものである。
〔発明の効果〕
以上のように請求項1の発明によれば光を2つに分割す
る光分割手段と、この光分割手段からの一方の光を受光
する4分割受光素子と、前記光分割手段からの他方の光
の光量を検知する光量モニター用受光素子と、前記4分
割受光素子からの4つの出力信号から互いに直角な2つ
の方向の差信号を求めてこれらの差信号を前記光量モニ
ター用受光素子の出力信号により前記光量に応じて補正
する演算手段とを備えたので、光量が変化しても正確か
つ高精度な測定が可能となり、しかも小型化が可能であ
る。
また請求項2の発明によれば光を2つに分割する光分割
手段と、この光分割手段からの一方の光を受光する4分
割受光素子と、前記光分割手段からの他方の光の口径を
検知する光口径測定手段と、前記4分割受光素子からの
4つの出力信号から互いに直角な2つの方向の差信号を
求めてこれらの差信号を前記光口径測定手段の出力信号
により前記口径に応じて補正する演算手段とを備えたの
で、正確かつ高精度な測定が可能となり、しかも小型化
が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
同実施例の4分割受光素子を示す平面図。 第3図は同実施例の演算回路を示すブロック図、第4図
は同実施例の光量と補正係数との関係を示す特性図、第
5図は同実施例の各部の信号波形を示すタイミングチャ
ート、第6図は同実施例のレーザ光の光量、補正係数、
レーザ光の光軸移動量測定値の関係を示す図、第7図乃
至第12図は同実施例の各光量におけるレーザ光の光軸
移動量とX方向、Z方向の差信号との関係を示す特性図
、第13図及び第14図は同実施例におけるレーザ光の
光量と係数との関係を示す特性図、第15図は本発明の
他の実施例を示すブロック図、第16図は同実施例の演
算回路を示すブロック図、第17図乃至第26図は同実
施例の各先口径における光軸ずれ量とX方向、2方向の
差信号との関係を示す特性図、第27図及び第28図は
同実施例の係数(X方向、2方向の差信号/光軸ずれ量
)とレーザ光の口径との関係を示す特性図である。 12・・・ハーフミラ−113・・・4分割受光素子、
14・・・光量モニター用受光素子、15・・・演算回
路、28・・・光口径モニター用受光素子、29・・・
演算回路。 も 図 九量 も2 =フー− 塵だ 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光を2つに分割する光分割手段と、この光分割手段
    からの一方の光を受光する4分割受光素子と、前記光分
    割手段からの他方の光の光量を検知する光量モニター用
    受光素子と、前記4分割受光素子からの4つの出力信号
    から互いに直角な2つの方向の差信号を求めてこれらの
    差信号を前記光量モニター用受光素子の出力信号により
    前記光量に応じて補正する演算手段とを備えたことを特
    徴とする光軸移動測定器。 2、光を2つに分割する光分割手段と、この光分割手段
    からの一方の光を受光する4分割受光素子と、前記光分
    割手段からの他方の光の口径を検知する光口径測定手段
    と、前記4分割受光素子からの4つの出力信号から互い
    に直角な2つの方向の差信号を求めてこれらの差信号を
    前記光口径測定手段の出力信号により前記口径に応じて
    補正する演算手段とを備えたことを特徴とする光軸移動
    測定器。
JP1094912A 1989-04-14 1989-04-14 光軸移動測定器 Pending JPH02272304A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1094912A JPH02272304A (ja) 1989-04-14 1989-04-14 光軸移動測定器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1094912A JPH02272304A (ja) 1989-04-14 1989-04-14 光軸移動測定器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02272304A true JPH02272304A (ja) 1990-11-07

Family

ID=14123223

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1094912A Pending JPH02272304A (ja) 1989-04-14 1989-04-14 光軸移動測定器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02272304A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0755419A (ja) * 1993-08-18 1995-03-03 Digital Stream:Kk 光学式位置および姿勢検出装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0755419A (ja) * 1993-08-18 1995-03-03 Digital Stream:Kk 光学式位置および姿勢検出装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0749207A (ja) 絶対干渉測定方法とこの方法に適したレーザー干渉装置
CN105182000B (zh) 光学mems加速度计中三光路信号补偿系统及其方法
JP2000234912A (ja) ウエハ厚さ測定装置
CN117811649A (zh) 一种光频域反射计中扫频干涉信号非线性补偿系统及方法
JPH02272304A (ja) 光軸移動測定器
JPH10253892A (ja) 位相干渉顕微鏡
CN204832242U (zh) 一种光学mems加速度计中三光路信号补偿系统
CN223940215U (zh) 一种光强补偿式位移传感器
JPH073323B2 (ja) 干渉装置
JPS6283604A (ja) 変位変換器
JPS6344166B2 (ja)
JPS63108218A (ja) 光学式変位測定装置
JP3479515B2 (ja) 変位測定装置および方法
JPH0454407A (ja) 光学式変位計
JPH05272913A (ja) 高精度干渉測長計
JPS623609A (ja) 測距装置
JP2984072B2 (ja) レーザ干渉計
JP2001066125A (ja) 干渉計測のドリフト成分抽出方法
JPH01302546A (ja) 変位検出方法
JPH08304020A (ja) 移動精度測定装置
JPS58225301A (ja) 光学式変位測定装置
JPS5840123B2 (ja) 物体位置測定装置
JPS63101702A (ja) 光測長計
JPS6285812A (ja) 光学式変位計
JPH07181006A (ja) レーザ測長器