JPH0227286A - 地中レーダのサンプリング方法とサンプリング装置 - Google Patents
地中レーダのサンプリング方法とサンプリング装置Info
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- JPH0227286A JPH0227286A JP63177079A JP17707988A JPH0227286A JP H0227286 A JPH0227286 A JP H0227286A JP 63177079 A JP63177079 A JP 63177079A JP 17707988 A JP17707988 A JP 17707988A JP H0227286 A JPH0227286 A JP H0227286A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 4
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- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 abstract 1
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- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電波を用いて地中の埋設物等を探査する地中レ
ーダのサンプリング方法とその装置に係り、特に探査深
度の向上と合せて分解能の向上が計れる地中レーダのサ
ンプリング方法とその装置に関する。
ーダのサンプリング方法とその装置に係り、特に探査深
度の向上と合せて分解能の向上が計れる地中レーダのサ
ンプリング方法とその装置に関する。
従来の地中レーダはアンテナから目標までの距離が非常
に短いため、送信信号は数+1秒程度の幅をもつパルス
またはモノサイクル波等が用いられる。また1反射波の
存在時間が非常に短いため、1回の送信毎に受信波の一
部をサンプリングし、送信のたびにサンプリング位置を
移動させ何回もの送受信を繰り返すことにより、受信波
を再生していた。この種装置として関連するものは(例
えば、特開昭61−11682号公報等が挙げられる。
に短いため、送信信号は数+1秒程度の幅をもつパルス
またはモノサイクル波等が用いられる。また1反射波の
存在時間が非常に短いため、1回の送信毎に受信波の一
部をサンプリングし、送信のたびにサンプリング位置を
移動させ何回もの送受信を繰り返すことにより、受信波
を再生していた。この種装置として関連するものは(例
えば、特開昭61−11682号公報等が挙げられる。
)〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術に用いられているモノサイクルの送信波に
より探査深度を深くするためには、送信波の周波数を低
くしなければならない、しかし周波数を低くすると、送
信波の幅が長くなり、分解能が低下してしまう、また、
送信波の周波数を高くして探査深度を深くするには送信
電力を大きくすれば良いが、受信のダイナミックレンジ
は限られているため、浅い深度からの大きい反射電力を
持つ反射波は飽和してしまい目標を識別することが出来
なくなってしまう。
より探査深度を深くするためには、送信波の周波数を低
くしなければならない、しかし周波数を低くすると、送
信波の幅が長くなり、分解能が低下してしまう、また、
送信波の周波数を高くして探査深度を深くするには送信
電力を大きくすれば良いが、受信のダイナミックレンジ
は限られているため、浅い深度からの大きい反射電力を
持つ反射波は飽和してしまい目標を識別することが出来
なくなってしまう。
本発明は探査深度の向上と合せて分解能の向上を計り得
る地中レーザのサンプリング方法とその装置を提供する
ことを目的とするものである。
る地中レーザのサンプリング方法とその装置を提供する
ことを目的とするものである。
上記目的は1つの探査位置において、一定の送信周期を
もつ送信波の周波数を、段階的または連続的なチャープ
波等を用いて変化させ、地中へ向けて放射する。地中か
らの反射波のサンプリングは、送信周期ごとに1回のサ
ンプリングを行ない、送信周波数が高い時は、浅い深度
に相当する部分を短いサンプル間隔でサンプルを行ない
、送信周波数が低い時は、深い浅度に相当する部分を長
いサンプル間隔でサンプルを行なう、このサンプル間隔
の変化を送信周波数の変化に比例させ、サンプル後の出
力信号周波数を一定周波数に変換することにより、達成
される。
もつ送信波の周波数を、段階的または連続的なチャープ
波等を用いて変化させ、地中へ向けて放射する。地中か
らの反射波のサンプリングは、送信周期ごとに1回のサ
ンプリングを行ない、送信周波数が高い時は、浅い深度
に相当する部分を短いサンプル間隔でサンプルを行ない
、送信周波数が低い時は、深い浅度に相当する部分を長
いサンプル間隔でサンプルを行なう、このサンプル間隔
の変化を送信周波数の変化に比例させ、サンプル後の出
力信号周波数を一定周波数に変換することにより、達成
される。
本発明の地中レーダのサンプリング方法では、1つの探
査位置ごとに高い周波数から低い周波数の送受波を放射
し、高い周波数から低い周波数への変化に合わせ、反射
波の浅い深度から深い深度部分へサンプル位置を移動さ
せることにより浅い深度はど分解能が向上し、高い周波
数の送信波では減衰して反射波が得られなくても、低い
周波数での反射波が得られ、探査深度も向上する。
査位置ごとに高い周波数から低い周波数の送受波を放射
し、高い周波数から低い周波数への変化に合わせ、反射
波の浅い深度から深い深度部分へサンプル位置を移動さ
せることにより浅い深度はど分解能が向上し、高い周波
数の送信波では減衰して反射波が得られなくても、低い
周波数での反射波が得られ、探査深度も向上する。
受信される反射波は、時間と共に周波数が変化するが、
受信波のサンプリング間隔を、サンプル時の送信周波数
の変化に比例して変化することにより1周波数変化は1
つの周波数に圧縮され、低周波信号となる。これにより
サンプリング後は特別な回路を付加する必要がなく、容
易に探査深度の向上した地中レーダを提供することがで
きる。
受信波のサンプリング間隔を、サンプル時の送信周波数
の変化に比例して変化することにより1周波数変化は1
つの周波数に圧縮され、低周波信号となる。これにより
サンプリング後は特別な回路を付加する必要がなく、容
易に探査深度の向上した地中レーダを提供することがで
きる。
以下本発明の一実施例を添付図面を用いて説明図する。
第1図は本実施例の地中レーダのブロック図である。こ
の地中レーダは第1図に示すように、基準パルス発生器
1.高周波発生器2.バラントランス3、送信アンテナ
4、受信アンテナ5、バラントランス6、サンプル回路
7.ホールド回路8、高速鋸歯状波発生器9、遅延電圧
発生器10、およびサンプルパルス発生器11とで構成
されている。
の地中レーダは第1図に示すように、基準パルス発生器
1.高周波発生器2.バラントランス3、送信アンテナ
4、受信アンテナ5、バラントランス6、サンプル回路
7.ホールド回路8、高速鋸歯状波発生器9、遅延電圧
発生器10、およびサンプルパルス発生器11とで構成
されている。
次にこの各構成の個々の動作について説明する。
基準パルス発生器1で、周期Trの基準パルスPrを出
力し、それに同期して高周波発生器2が周期Trの高周
波信号を発生し、バラントランス3により不平衡−平衡
変換され、送信アンテナ4から地中へ電波を放射する。
力し、それに同期して高周波発生器2が周期Trの高周
波信号を発生し、バラントランス3により不平衡−平衡
変換され、送信アンテナ4から地中へ電波を放射する。
高周波発生器2で発生する高周波信号の周波数は、遅延
電圧発生器10からの電圧により周期的に変化する。地
中からの反射波は受信アンテナ5で受信され、受信信号
Srを得る。受信信号Srはバラントランス6により平
衡−不平衡変換され、サンプル回路7でサンプリングさ
れる。サンプリングされパルス状となった受信信号Ss
1は、ホールド回路8によりホールドされ、出力信号S
、を得る。
電圧発生器10からの電圧により周期的に変化する。地
中からの反射波は受信アンテナ5で受信され、受信信号
Srを得る。受信信号Srはバラントランス6により平
衡−不平衡変換され、サンプル回路7でサンプリングさ
れる。サンプリングされパルス状となった受信信号Ss
1は、ホールド回路8によりホールドされ、出力信号S
、を得る。
送信に用いる高周波信号は、モノサイクル波又はチャー
プ波が考えられるが、本実施例ではモノサイクル波を用
いた場合を示す。
プ波が考えられるが、本実施例ではモノサイクル波を用
いた場合を示す。
送信波は、基準パルスに同期した一定周期で発生し、遅
延電圧発生器からの電圧により周波数が段階的又は連続
的に変化するが、例として第2図に示す如く変化するも
のとする。このような周波数変化の送信波を地中へ向け
放射し、送信周波数がflの時、第3図に示す受信波S
r工のごとく送信後t1の時間に現われた部分を短いサ
ンプル間隔Δt1でサンプルされ、t、の時間で受信ア
ンテナ5へ達した受信信号はサンプルされない、送信周
波数がf、での受信波Sr、は、tLの時間で受信アン
テナ5へ達した受信信号はサンプルされず、時間t、で
達した受信波を長いサンプル間隔でサンプルする。この
サンプルは、1回の送信ごとに1回のサンプルを行ない
サンプル位置が送信周波数がflの時Δt1ずつ遅れて
行き、送信周波数がf、に達した時はΔt、ずつ遅れ、
300回の送信で1つの受信波のサンプルを完了する。
延電圧発生器からの電圧により周波数が段階的又は連続
的に変化するが、例として第2図に示す如く変化するも
のとする。このような周波数変化の送信波を地中へ向け
放射し、送信周波数がflの時、第3図に示す受信波S
r工のごとく送信後t1の時間に現われた部分を短いサ
ンプル間隔Δt1でサンプルされ、t、の時間で受信ア
ンテナ5へ達した受信信号はサンプルされない、送信周
波数がf、での受信波Sr、は、tLの時間で受信アン
テナ5へ達した受信信号はサンプルされず、時間t、で
達した受信波を長いサンプル間隔でサンプルする。この
サンプルは、1回の送信ごとに1回のサンプルを行ない
サンプル位置が送信周波数がflの時Δt1ずつ遅れて
行き、送信周波数がf、に達した時はΔt、ずつ遅れ、
300回の送信で1つの受信波のサンプルを完了する。
第4図に基準パルスPrのタイミングとホールド回路8
の出力信号sHの例を示す。
の出力信号sHの例を示す。
周波数とサンプル間隔の関係は第3図のサンプル例に示
すごとく、サンプル時の送信周波数における1サイクル
あたりのサンプル数が同じになる様に設定することによ
り、送信周波数の変化は、サンプリング後は第4図に示
すように同一周波数に圧縮され、周波数変換される。
すごとく、サンプル時の送信周波数における1サイクル
あたりのサンプル数が同じになる様に設定することによ
り、送信周波数の変化は、サンプリング後は第4図に示
すように同一周波数に圧縮され、周波数変換される。
サンプルパルスPsの発生は、遅延電圧発生器10から
の電圧と、高速鋸歯状波発生器9からの電圧との交点で
パルスを発生するコンパレータで構成されたサンプルパ
ルス発生器11により行なわれる。遅延電圧発生器10
からのサンプル遅延電圧は、第5図に示す波形例である
。この周期T0は1つの探査位置の受信波サンプリング
が行なわれる時間である。サンプル遅延電圧変化は基準
パルスPrに同期し、基準パルスPrのn回をもって1
周期となり、T、:nTrの関係となる。高速鋸歯状波
も基準パルスPrと同期し、サンプル遅延電圧との交点
でサンプルパルス発生1111がサンプルパルスPsを
発生する。遅延パルス電圧は送信周波数がf1〜f、へ
低くなるにしたがって変化量の傾きが大きくなり、サン
プルパルスPsの基準パルスの遅延時間tdnの変化量
であるΔt=tdn+1−tdnも大きくなる。
の電圧と、高速鋸歯状波発生器9からの電圧との交点で
パルスを発生するコンパレータで構成されたサンプルパ
ルス発生器11により行なわれる。遅延電圧発生器10
からのサンプル遅延電圧は、第5図に示す波形例である
。この周期T0は1つの探査位置の受信波サンプリング
が行なわれる時間である。サンプル遅延電圧変化は基準
パルスPrに同期し、基準パルスPrのn回をもって1
周期となり、T、:nTrの関係となる。高速鋸歯状波
も基準パルスPrと同期し、サンプル遅延電圧との交点
でサンプルパルス発生1111がサンプルパルスPsを
発生する。遅延パルス電圧は送信周波数がf1〜f、へ
低くなるにしたがって変化量の傾きが大きくなり、サン
プルパルスPsの基準パルスの遅延時間tdnの変化量
であるΔt=tdn+1−tdnも大きくなる。
各送信周波数f□〜f、における受信波Srをサンプリ
ングにより周波数変換するためには、各周波数における
サンプル遅延電圧の傾きにより、各サンプル間隔Δtを
、サンプル時の送信周波数1サイクルあたりの時間に比
例させる。
ングにより周波数変換するためには、各周波数における
サンプル遅延電圧の傾きにより、各サンプル間隔Δtを
、サンプル時の送信周波数1サイクルあたりの時間に比
例させる。
第6図において、送信周波数がf工〜f3へ変化した時
における地中0.25++からの反射波P□、地中0.
5mからの反射波Pat地中L5mからの反射波P3、
地中4.5mからの反射波P4を例とし、ホールド回路
8からの出力信号S、は同図のように同一周波数に変換
され、P 1′P 2’ P 3’ P 4′なる出力
を得る。
における地中0.25++からの反射波P□、地中0.
5mからの反射波Pat地中L5mからの反射波P3、
地中4.5mからの反射波P4を例とし、ホールド回路
8からの出力信号S、は同図のように同一周波数に変換
され、P 1′P 2’ P 3’ P 4′なる出力
を得る。
以上のように深度の違いが、各パルスP□′〜P、′の
遅延量の違いt□T tut tel t4となって、
時間差測定回路12により遅延量tを測ることにより、
反射物体までの深度を知ることができる。
遅延量の違いt□T tut tel t4となって、
時間差測定回路12により遅延量tを測ることにより、
反射物体までの深度を知ることができる。
請求項1および2記載の本発明によれば、1つの位置あ
たりの探査で送信周波数を変化させても、サンプル受信
後は同一周波数に周波数変換できる。
たりの探査で送信周波数を変化させても、サンプル受信
後は同一周波数に周波数変換できる。
このため、高い周波数を送信した時に、その周波数で得
られる探査深度まで分解能よく探査でき、高い周波数で
は探査できない深度に対しては、低い周波数の送信時に
サンプルすることにより探査が可能となり、探査深度を
深くできる。1つの受信波での全サンプリング数も必要
以上のサンプリングを行なわず、効率の良いデータ取得
が行なえる。さらに、サンプリング後の信号周波数が一
定であるため、信号処理回路が安価で容易に構成できる
。
られる探査深度まで分解能よく探査でき、高い周波数で
は探査できない深度に対しては、低い周波数の送信時に
サンプルすることにより探査が可能となり、探査深度を
深くできる。1つの受信波での全サンプリング数も必要
以上のサンプリングを行なわず、効率の良いデータ取得
が行なえる。さらに、サンプリング後の信号周波数が一
定であるため、信号処理回路が安価で容易に構成できる
。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図。
第2図は実施例に用いた送信周波数の変化を示すグラフ
、第3図はサンプリングによる周波数変換の動作を示す
波形図、第4図はホールド後の出力信号の波形例を示す
図、第5図はサンプルパルス発生の動作と、ホールド後
の出力信号を得るまでの動作を示した波形図、第6図は
受信波と出力信号の例を示す波形図である。 1・・・基準パルス発生器、2・・・高周波発生器、3
・・バラントランス、4・・・送信アンテナ、訃・・受
信アンテナ、6・・・バラントランス、7・・・サンプ
ル回路、8・・・ホールド回路、9・・・高速鋸歯状波
発生器、10・・・遅延電圧発生器、11・・・サンプ
ルパルス発生器、12・・・時間差測定回路。 特許出願人 日立湘南電子株式会社 代理人弁理士 秋 本 正 実(外1名) 纂 図 纂 図 ! 十 ご
、第3図はサンプリングによる周波数変換の動作を示す
波形図、第4図はホールド後の出力信号の波形例を示す
図、第5図はサンプルパルス発生の動作と、ホールド後
の出力信号を得るまでの動作を示した波形図、第6図は
受信波と出力信号の例を示す波形図である。 1・・・基準パルス発生器、2・・・高周波発生器、3
・・バラントランス、4・・・送信アンテナ、訃・・受
信アンテナ、6・・・バラントランス、7・・・サンプ
ル回路、8・・・ホールド回路、9・・・高速鋸歯状波
発生器、10・・・遅延電圧発生器、11・・・サンプ
ルパルス発生器、12・・・時間差測定回路。 特許出願人 日立湘南電子株式会社 代理人弁理士 秋 本 正 実(外1名) 纂 図 纂 図 ! 十 ご
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、マイクロ波を地中へ向け送信し、地中からの反射波
をサンプリング受信し、地中の埋設物や地中の状態を映
像化する地中レーダにおいて、浅い位置の探査を行なう
時には送信周波数を高くして、サンプリング受信のサン
プリング周期を上げ、深い位置の探査を行なう時には送
信周波数を低くしてサンプリング受信のサンプリング周
期を下げ、このサンプリング周期の変化を送信周波数の
変化と比例させることにより、サンプリング受信の出力
は送信周波数が変化しても一定の周波数となるようにし
た地中レーダのサンプリング方法。 2、基準パルスを出力する基準パルス発生器と、前記基
準パルスに同期して高周波信号を発生する高周波発生器
と、前記高周波信号を地中に放射する送信アンテナと、
前記高周波信号の周波数を周期的に変化させる遅延電圧
発生器と、地中からの反射波を受信する受信アンテナと
、前記アンテナで受信された受信信号をサンプリングす
るサンプリング回路と、前記サンプリング回路の出力を
ホールドするホールド回路と前記サンプリング回路にサ
ンプリング信号を供給する高周波鋸歯状波発生回路とサ
ンプルパルス発生回路と、前記基準パルス発生器の基準
パルスとホールド回路からの出力信号との遅延量の違い
を表示する時間差測定回路とを具備してなる地中レーダ
のサンプリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63177079A JPH0227286A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 地中レーダのサンプリング方法とサンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63177079A JPH0227286A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 地中レーダのサンプリング方法とサンプリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227286A true JPH0227286A (ja) | 1990-01-30 |
Family
ID=16024759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63177079A Pending JPH0227286A (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | 地中レーダのサンプリング方法とサンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0227286A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05180938A (ja) * | 1992-01-07 | 1993-07-23 | Japan Radio Co Ltd | 埋設物探査装置 |
| JP2020507750A (ja) * | 2017-01-27 | 2020-03-12 | マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー | 表面貫通レーダーを用いた乗物位置特定方法およびシステム |
| JPWO2023100954A1 (ja) * | 2021-12-02 | 2023-06-08 |
-
1988
- 1988-07-18 JP JP63177079A patent/JPH0227286A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05180938A (ja) * | 1992-01-07 | 1993-07-23 | Japan Radio Co Ltd | 埋設物探査装置 |
| JP2020507750A (ja) * | 2017-01-27 | 2020-03-12 | マサチューセッツ インスティテュート オブ テクノロジー | 表面貫通レーダーを用いた乗物位置特定方法およびシステム |
| US11402493B2 (en) | 2017-01-27 | 2022-08-02 | Massachusetts Institute Of Technology | Determining surface characteristics |
| JPWO2023100954A1 (ja) * | 2021-12-02 | 2023-06-08 | ||
| WO2023100954A1 (ja) * | 2021-12-02 | 2023-06-08 | 住友金属鉱山株式会社 | 物質状態の測定方法、物質状態の測定装置 |
| AU2022401201B2 (en) * | 2021-12-02 | 2025-07-17 | National University Corporation Chiba University | Method for measuring state of substance and device for measuring state of substance |
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