JPH02274193A - Monitoring device for microbeam image - Google Patents
Monitoring device for microbeam imageInfo
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- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明はマイクロビーム像モニタ装置に関する。[Detailed description of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a microbeam image monitoring device.
(従来の技術)
イオンビームを直径数ミクロンオーダに集束するマイク
ロビーム装置においては、そのビーム像をモニタしなが
らビームを集束することが行なわれる。そのモニタのた
めにテレビカメラを使用し。(Prior Art) In a microbeam device that focuses an ion beam to a diameter on the order of several microns, the beam is focused while monitoring the beam image. Use a TV camera for that monitor.
これによって撮影されたビーム像をテレビモニタによっ
てamするようにしている。The beam image thus photographed is viewed on a television monitor.
第2図は従来のマイクロビーム像モニタ装置を示し、1
はマイクロビーム発生装置からのマイクロビームで、こ
れが蛍光板2に当たって光の像に変換されるにの像は接
写レンズ3を備えたテレビカメラ4によって撮影される
。Figure 2 shows a conventional microbeam image monitor device, with 1
is a microbeam from a microbeam generator, which hits a fluorescent screen 2 and is converted into a light image.The image is photographed by a television camera 4 equipped with a close-up lens 3.
これらは真空槽6内に設置されてあり、テレビカメラ4
からの映像信号は、ハーメチックシール5を貫通する線
路を経て、真空槽6外にあるテレビモニタ (CRT)
7に送られ、ここで可視像として写し出される。These are installed in a vacuum chamber 6, and a television camera 4
The video signal is sent via a line that passes through the hermetic seal 5 to a television monitor (CRT) outside the vacuum chamber 6.
7, where it is projected as a visible image.
(発明が解決しようとする課題)
このような構成によると、接写レンズ3を装着したテレ
ビカメラ4を真空槽6内に設置するようにしているため
、その設置に先だってその焦点を蛍光板2に合わしてお
く必要がある。(Problem to be Solved by the Invention) According to this configuration, since the television camera 4 equipped with the close-up lens 3 is installed in the vacuum chamber 6, its focus is adjusted to the fluorescent screen 2 before installation. It is necessary to keep it.
そしていったん真空槽6内に密封して設置してしまった
ときは、以後その真空槽6を開放しなし1限り、焦点の
調整は不可能である。そのためその焦点の調整は極めて
面倒であった。Once the vacuum chamber 6 is sealed and installed, the focus cannot be adjusted unless the vacuum chamber 6 is opened. Therefore, adjusting the focus was extremely troublesome.
また前記のようにテレビカメラ4を真空槽6内に設置す
る必要があるため、その真空槽6としてこれらを収納す
るに足る十分な大きさのものが必要となり、必然的に大
型のものを使用しなければならない不便があった。Furthermore, as mentioned above, it is necessary to install the television camera 4 in the vacuum chamber 6, so the vacuum chamber 6 needs to be large enough to accommodate them, and a large one is inevitably used. There was an inconvenience that had to be done.
この発明はテレビモニタによってマイクロビーム像をモ
ニタするにあたり、その焦点の調整を容易とするととも
に、真空槽の小型化を図ることを目的とする。The object of the present invention is to facilitate the adjustment of the focus when monitoring a microbeam image on a television monitor, and to downsize the vacuum chamber.
(課題を解決するための手段)
この発明は遠距離顕微鏡を使用し、これを蛍光板が収納
されている真空槽の外部に設置するとともに、その焦点
を真空槽の観察用窓を介して蛍光板上の像に合せるよう
にし、前記遠距離顕微鏡によって観察される像をテレビ
カメラによって撮像し、その像をテレビモニタに写し出
すことによって、前記蛍光板上のマイクロビームの像を
観察するよう゛にしたことを特徴とする。(Means for Solving the Problems) This invention uses a long-distance microscope, which is installed outside a vacuum chamber in which a fluorescent screen is housed, and whose focus is directed onto the fluorescent screen through an observation window of the vacuum chamber. The image of the microbeam on the fluorescent screen is observed by capturing the image observed by the long-distance microscope with a television camera and projecting the image on a television monitor. Features.
(作用)
遠距離顕微鏡を使用することによって、真空槽内の蛍光
板上の像を真空槽の外部からamできるようになる。そ
のためテレビカメラを遠距離顕微鏡とともに、真空槽の
外部に配置することができるようになる。(Function) By using a long-distance microscope, it becomes possible to view the image on the fluorescent screen inside the vacuum chamber from outside the vacuum chamber. This makes it possible to place a television camera and a long-range microscope outside the vacuum chamber.
これにより真空槽の真空を破ることなく、焦点の調整が
可能となり、また真空槽もテレビカメラ系を収納する必
要がないため、小型のものが使用できるようになる。This makes it possible to adjust the focus without breaking the vacuum in the vacuum chamber, and since the vacuum chamber does not need to house the television camera system, a smaller vacuum chamber can be used.
(実施例) この発明の実施例を第1図によって説明する。(Example) An embodiment of the invention will be explained with reference to FIG.
なお第2図と同じ符号を付した部分は、同一または対応
する部分を示す。この発明にしたがい、遠距離顕微@9
が使用される。これは焦点位置と対物レンズとの間の距
離が、たとえば500IIII11程度のものが使用さ
れる。Note that parts given the same reference numerals as in FIG. 2 indicate the same or corresponding parts. According to this invention, a long-distance microscope @9
is used. In this case, the distance between the focal position and the objective lens is, for example, about 500III11.
遠距離顕微鏡9は真空槽6の外部に設置される。A long-range microscope 9 is installed outside the vacuum chamber 6.
そして真空槽6に設けられた観察用窓8を介して。and through an observation window 8 provided in the vacuum chamber 6.
蛍光板2上の像に焦点が合せられる。The image on the fluorescent screen 2 is focused.
なお蛍光板2としては、たとえば放射線計測用の無機結
晶シンチレータ、たとえばC5I(T Q )、 Zn
S(Ag)などを使用するとよい。As the fluorescent screen 2, for example, an inorganic crystal scintillator for radiation measurement, such as C5I (TQ), Zn
It is preferable to use S(Ag) or the like.
これによると、従来より一般に使用されていた。According to this, it has been commonly used.
水晶板よりなる蛍光板よりも発光効率がよいので。It has better luminous efficiency than fluorescent screens made of crystal plates.
水晶板では約50pAのビーム電流が検出限度であった
のに対し、前記のように無機結晶シンチレータを使用す
れば、ビーム電流が1ρA以下まで検出が可能となるこ
とが確かめられている。While the detection limit for a quartz plate was a beam current of about 50 pA, it has been confirmed that if an inorganic crystal scintillator is used as described above, it is possible to detect a beam current of 1 ρA or less.
遠距離顕微鏡9によってwl察される像は、テレビカメ
ラ4によって撮像される。この場合直接撮像するのに代
えて、イメージインテンシファイア10を使用して、遠
距離顕微鏡9による像の光強度を増幅し、その像をテレ
ビカメラ4によって撮像するようにしてもよい。The image observed by the long-distance microscope 9 is captured by the television camera 4. In this case, instead of directly capturing an image, the image intensifier 10 may be used to amplify the light intensity of the image taken by the long-distance microscope 9, and the image may be captured by the television camera 4.
このようなイメージインテンシファイア10を使用する
と、その増幅度が約5,5 X 10’の場合、装置系
の光感度がほぼ30μluxにまで向上させることがで
きた。When such an image intensifier 10 is used, the light sensitivity of the device system can be improved to approximately 30 μlux when the amplification degree is approximately 5.5×10′.
テレビカメラ4によって撮像された像は、テレビモニタ
7に写し出され、ここで蛍光板2上のマイクロビームの
像が観察される。これは第2図の構成と同じである。The image captured by the television camera 4 is displayed on a television monitor 7, where the image of the microbeam on the fluorescent screen 2 is observed. This is the same configuration as shown in FIG.
(発明の効果)
以上詳述したようにこの発明によれば、遠距離顕微鏡を
使用し、これをマイクロビームが照射される蛍光板を収
納する真空槽の外部に設置し、これによって蛍光板上の
像を111!察するようにしたので、従来のようにテレ
ビカメラ系を真空槽の内部に設置する必要はなくなり、
したがって真空槽の小型化が可能となるとともに、焦点
の調整が従来のように真空槽の真空を破ることなく可能
となり。(Effects of the Invention) As detailed above, according to the present invention, a long-distance microscope is used, and this is installed outside a vacuum chamber that houses a fluorescent screen that is irradiated with a microbeam. 111! As a result, there is no need to install a TV camera system inside the vacuum chamber as in the past.
Therefore, it is possible to downsize the vacuum chamber, and the focus can be adjusted without breaking the vacuum of the vacuum chamber as in the past.
その調整を極めて容易とすることができるといった効果
を奏する。This has the effect of making the adjustment extremely easy.
第1図はこの発明の実施例を示す断面図、第2図は従来
例の断面図である。
1・・・マイクロビーム、2・・・蛍光板、4・・・テ
レビカメラ、6・・・真空槽、7・・・テレビモニタ、
8・・・観察用窓、
9・・・遠距離顕微鏡、FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of a conventional example. 1... Microbeam, 2... Fluorescent screen, 4... Television camera, 6... Vacuum chamber, 7... Television monitor,
8... Observation window, 9... Distance microscope,
Claims (1)
収納する真空槽の外部に設置するとともに、前記遠距離
顕微鏡の焦点を、前記真空槽の観察用窓を介して前記蛍
光板上の像に合せるようにしてなり、更に前記遠距離顕
微鏡によって観察される前記蛍光板上の像を撮像するテ
レビカメラと、前記テレビカメラによって撮像された像
を写し出すテレビモニタとを備えてなるマイクロビーム
像モニタ装置。A long-distance microscope is installed outside a vacuum chamber housing a fluorescent screen to which the microbeam is irradiated, and the focus of the long-distance microscope is set on the image on the fluorescent screen through an observation window of the vacuum chamber. A microbeam image monitoring device further comprising: a television camera for capturing an image on the fluorescent screen observed by the long-distance microscope; and a television monitor for displaying the image captured by the television camera.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1096855A JPH0683450B2 (en) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | Micro beam image monitor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1096855A JPH0683450B2 (en) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | Micro beam image monitor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02274193A true JPH02274193A (en) | 1990-11-08 |
| JPH0683450B2 JPH0683450B2 (en) | 1994-10-19 |
Family
ID=14176094
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1096855A Expired - Fee Related JPH0683450B2 (en) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | Micro beam image monitor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0683450B2 (en) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6287614U (en) * | 1985-09-12 | 1987-06-04 | ||
| JPS63122427A (en) * | 1986-11-12 | 1988-05-26 | 株式会社東芝 | X-ray diagnostic apparatus |
-
1989
- 1989-04-17 JP JP1096855A patent/JPH0683450B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6287614U (en) * | 1985-09-12 | 1987-06-04 | ||
| JPS63122427A (en) * | 1986-11-12 | 1988-05-26 | 株式会社東芝 | X-ray diagnostic apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0683450B2 (en) | 1994-10-19 |
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