JPH02275365A - Contact pin - Google Patents
Contact pinInfo
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- JPH02275365A JPH02275365A JP1097958A JP9795889A JPH02275365A JP H02275365 A JPH02275365 A JP H02275365A JP 1097958 A JP1097958 A JP 1097958A JP 9795889 A JP9795889 A JP 9795889A JP H02275365 A JPH02275365 A JP H02275365A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は二つの導電体を電気的に接続する際に使用され
るコンタクトピンに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a contact pin used for electrically connecting two conductors.
従来、この種のコンタクトピンは半導体装置の特性検査
あるいは試験装置用のプローブとして広く使われてきた
。また、このコンタクトピンは、接触不良等が起きない
ように種々の工夫及び改善が試みられている。Conventionally, this type of contact pin has been widely used as a probe for testing the characteristics of semiconductor devices or testing equipment. Furthermore, various efforts and improvements have been made to this contact pin in order to prevent poor contact and the like from occurring.
第5図は従来の一例を示すコンタクトピンの断面図、第
6図(a)及び(b)は第5図に示すコンタクトピンの
非接触時及び接触時の状態を示すコンタクトピンの断面
図である。このコンタクトピンは、第5図に示すように
、導電材の丸棒から製作された接触子1と、この接触子
1をはめ込み、接触子1が一方向に摺動し得るスリーブ
2と、このスリーブ2・の中に、接触子1を上方に持ち
上げるコイルばね3が挿入されている6
第6図(a>に示すように、回路基板6の電極パッドに
接続されたコンタクトピンが、回路基板4の電極パッド
5に接触していないときは、コイルばね3は自由長の状
態を保ち、接触子1は上方に位置している。また、この
コンタクトピンが、回路基板4の電極パッド5に接触す
るときは、第6図(b)に示すように、接触子1は電極
パ・7ド5に、コイルばね3の圧縮力で押し付けられ、
回路基板6の電極パッドと回路基板4の電極i<・7ド
5とが電気的に接続される。FIG. 5 is a sectional view of a contact pin showing an example of the conventional method, and FIGS. 6(a) and (b) are sectional views of the contact pin shown in FIG. 5 showing the contact pin in non-contact and contact states. be. As shown in FIG. 5, this contact pin consists of a contact 1 made of a round bar made of a conductive material, a sleeve 2 into which the contact 1 is fitted, and into which the contact 1 can slide in one direction. A coil spring 3 is inserted into the sleeve 2 to lift the contact 1 upward. 6 As shown in FIG. 6 (a), the contact pin connected to the electrode pad of the circuit board 6 When the coil spring 3 is not in contact with the electrode pad 5 of the circuit board 4, the coil spring 3 maintains its free length and the contact 1 is located upward. When making contact, the contact 1 is pressed against the electrode pad 5 by the compressive force of the coil spring 3, as shown in FIG. 6(b).
The electrode pad of the circuit board 6 and the electrode i<.7 dot 5 of the circuit board 4 are electrically connected.
上述した従来のコンタクトピンでは、接触子を電極パッ
ドに一方向に押しつけ接触させ、電極ノ(ラド間を電気
的に接続しているので、電極バ・7ド上にごみが付着し
たり、電極パッドの表面が酸化したりすることにより電
気的に接触が正しく行なわれず、電気信号を正確に伝達
することが不可能になるという問題がある。With the conventional contact pins described above, the contactor is pressed against the electrode pad in one direction to make electrical connection between the electrode pads (Rads). There is a problem that electrical contact cannot be made properly due to oxidation of the surface of the pad, making it impossible to accurately transmit electrical signals.
本発明の目的は、接触面に汚れあるいは酸化膜が発生し
ていても、良好な接触がし得るコンタクトピンを提供す
ることである。An object of the present invention is to provide a contact pin that can make good contact even if dirt or an oxide film is formed on the contact surface.
本発明のコタクトピンは、導電性金属棒の接触子と、こ
の接触子をはめ込み一方向に摺動し得るスリーブと、こ
のスリーブの一端と前記接触子の一端との間に前記スリ
ーブ内に挿入されたコイルばねとを有するコンタクトピ
ンにおいて、前記接触子の外表面あるいは前記スリーブ
の内表面の一方に前記摺動する方向に蛇行もしくは螺旋
状に形成された溝と、他方にこの溝にはめ合うピンが埋
め込まれていることを備え構成される。The contact pin of the present invention includes a contact made of a conductive metal rod, a sleeve in which the contact is fitted and can slide in one direction, and inserted into the sleeve between one end of the sleeve and one end of the contact. A contact pin having a coil spring having a meandering or spiral groove in the sliding direction on one of the outer surface of the contactor or the inner surface of the sleeve, and a pin that fits into the groove on the other side. Embedded and configured.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1の実施例を示すコンタクトピンの
断面図、第2図は第1図に示すコンタクトピンの接触時
の状態を示すコンタクトピンの断面図である。FIG. 1 is a sectional view of a contact pin showing a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of the contact pin shown in FIG.
このコンタクトピンは、接触子1の外表面に埋め込まれ
たピン7と、このピン7とはめ合い一方向に伸る螺旋状
の溝8がスリーブ2の内壁に設けられている。これ以外
は従来例と同じである。This contact pin includes a pin 7 embedded in the outer surface of the contactor 1, and a spiral groove 8 that fits into the pin 7 and extends in one direction on the inner wall of the sleeve 2. Other than this, it is the same as the conventional example.
こような構造にすることによって、第2図に示すように
、接触子1が電極パッド5に接触したとき、接触子1に
埋め込まれたピン7は、溝8によGピン7は強制される
ので接触子1は矢印9の方向に回転する。この回転作用
により電極パッド5の表面にあるごみあるいは酸化膜を
接触子1が除去しながら、確実に、電極パッド5と接触
子1とが接触する。With this structure, as shown in FIG. 2, when the contact 1 comes into contact with the electrode pad 5, the pin 7 embedded in the contact 1 is forced into the G pin 7 by the groove 8. Therefore, the contact 1 rotates in the direction of the arrow 9. This rotating action ensures that the electrode pad 5 and the contact 1 come into contact with each other while the contact 1 removes dust or oxide film on the surface of the electrode pad 5.
ここで、この螺旋状に形成された溝の代りに、製作し易
い螺旋状のスリットに形成してもよい。Here, instead of this spiral groove, a spiral slit may be formed, which is easy to manufacture.
第3図は本発明の第2の実施例を示すコンタクトピンン
の断面図、第4図は第2図のコンタクトピンの接触時の
状態を示すコンタクトピンの断面図である。この実施例
は、第3図に示すように、第1の実施例で説明した螺旋
状の満8の代りに、蛇行した溝8aを形成したことであ
る。FIG. 3 is a cross-sectional view of a contact pin showing a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a cross-sectional view of the contact pin showing the state of the contact pin of FIG. 2 at the time of contact. In this embodiment, as shown in FIG. 3, a meandering groove 8a is formed instead of the spiral groove 8a described in the first embodiment.
このような溝8aを形成したことにより、第4図に示す
ように、接触子1は矢印9aに示す時計方向及び反時計
方向に回転を繰返しながら、電極パッド5の表面のごみ
あるいは酸化膜を除去して、確実に、接触子と電極パッ
ドと接触する。By forming such a groove 8a, as shown in FIG. 4, the contact 1 repeatedly rotates in the clockwise and counterclockwise directions shown by the arrow 9a, removing dust or oxide film from the surface of the electrode pad 5. Remove to ensure contact with the contact and electrode pad.
以上説明した実施例では、スリーブ側に溝を、接触子(
mにピンを設けた場合で説明したが、逆に、スリーブ側
にピンを、接触子側に溝を設けても同じ効果が得られる
。In the embodiment described above, the groove is formed on the sleeve side, and the contact (
Although the explanation has been given on the case where a pin is provided on the sleeve side, the same effect can be obtained even if the pin is provided on the sleeve side and the groove is provided on the contact side.
以上説明したように、本発明のコンタクトピンは、接触
子あるいはスリーブの一方に一方向に仲る螺旋状または
蛇行する案内溝を設け、他方にこの溝にはめ合うピンを
埋込むことにより、接触子は回転しながら電極パッドの
表面に接触するので、この回転動作により電極パッドの
表面のよごれ及び酸化膜を除去し、確実に、接触子と電
極パッドとが接触することができる。従って、接触面に
汚れあるいは酸化膜が発生していても、確実に電気的に
接続できる効果がある。As explained above, the contact pin of the present invention provides a spiral or meandering guide groove extending in one direction on one side of the contact or the sleeve, and embeds a pin that fits in this groove on the other side. Since the contactor contacts the surface of the electrode pad while rotating, this rotational action removes dirt and oxide film from the surface of the electrode pad, thereby ensuring reliable contact between the contactor and the electrode pad. Therefore, even if there is dirt or an oxide film on the contact surface, it is possible to ensure electrical connection.
第1図は本発明の第1の実施例を示すコンタクトピンの
断面図、第2図は第1図に示すコンタクトピンンの接触
時の状態を示すコンタクトピンの断面図、第3図は本発
明の第2の実施例を示すコンタクトピンの断面図、第4
図は第2図のコンタクトピンの接触時の状態を示すコン
タクトピンの断面図、第5図は従来の一例を示すコンタ
クトピンの断面図、第6図(a>及び(b)は第5図に
示すコンタクトピンの非接触時及び接触時の状態を示す
コンタクトピンの断面図である。
1・・・接触子、2・・・スリーブ、3・・・コイルば
ね、4.6・・・回路基板、5・・・電極パッド、7・
・・ピン、8.8a・・・溝、9.9a・・・矢印。FIG. 1 is a sectional view of a contact pin showing a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a sectional view of the contact pin shown in FIG. Fourth sectional view of a contact pin showing a second embodiment of the invention
The figure is a cross-sectional view of the contact pin showing the contact state of the contact pin in Figure 2, Figure 5 is a cross-sectional view of the contact pin showing a conventional example, and Figures 6 (a> and (b) are Figure 5). It is a cross-sectional view of the contact pin showing the non-contact state and the contact state of the contact pin shown in 1. 1... Contactor, 2... Sleeve, 3... Coil spring, 4. 6... Circuit Substrate, 5... Electrode pad, 7.
...Pin, 8.8a...Groove, 9.9a...Arrow.
Claims (1)
に摺動し得るスリーブと、このスリーブの一端と前記接
触子の一端との間に前記スリーブ内に挿入されたコイル
ばねとを有するコンタクトピンにおいて、前記接触子の
外表面あるいは前記スリーブの内表面の一方に前記摺動
する方向に蛇行もしくは螺旋状に形成された溝と、他方
にこの溝にはめ合うピンが埋め込まれていることを特徴
とするコンタクトピン。It has a contact made of a conductive metal rod, a sleeve in which the contact is fitted and can slide in one direction, and a coil spring inserted into the sleeve between one end of the sleeve and one end of the contact. In the contact pin, a groove formed in a meandering or spiral shape in the sliding direction is formed on one of the outer surface of the contactor or the inner surface of the sleeve, and a pin that fits into the groove is embedded in the other. A contact pin featuring
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1097958A JPH02275365A (en) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | Contact pin |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1097958A JPH02275365A (en) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | Contact pin |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02275365A true JPH02275365A (en) | 1990-11-09 |
Family
ID=14206180
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1097958A Pending JPH02275365A (en) | 1989-04-17 | 1989-04-17 | Contact pin |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02275365A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0493595U (en) * | 1990-12-28 | 1992-08-13 | ||
| JPH08202691A (en) * | 1995-01-23 | 1996-08-09 | Fujitsu Ltd | Document creation device |
| CN102226816A (en) * | 2009-07-24 | 2011-10-26 | 住友电气工业株式会社 | Sensing probes for measuring device performance |
| JPWO2018105444A1 (en) * | 2016-12-08 | 2019-07-25 | 三菱電機株式会社 | Probe pin |
-
1989
- 1989-04-17 JP JP1097958A patent/JPH02275365A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0493595U (en) * | 1990-12-28 | 1992-08-13 | ||
| JPH08202691A (en) * | 1995-01-23 | 1996-08-09 | Fujitsu Ltd | Document creation device |
| CN102226816A (en) * | 2009-07-24 | 2011-10-26 | 住友电气工业株式会社 | Sensing probes for measuring device performance |
| JPWO2018105444A1 (en) * | 2016-12-08 | 2019-07-25 | 三菱電機株式会社 | Probe pin |
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