JPH02275477A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、複写機、ファクシミリ、プリンタ等の画像形
成装置に関する。

〔従来の技術〕

従来の画像形成装置において、画像品質の安定化を図る
ため、表面電位計、光学センサ等の検出手段にて静電潜
像担体である感光体を回転させながら、感光体の電位、
トナー付着量等の潜像状態を検出し、画像形成条件を補
正するものがある。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来技術においては、感光体を回転させてドラム円
周部分の潜像状態を検出するため、画像形成処理を行う
訳ではないのに、通常の画像形成動作時と略同等の騒音
レベルとなったり、また検出時間も感光体に対して設定
された回転時間が必要となり、作業性に問題があった。

本発明の目的は、低騒音で迅速な潜像状態の検出ができ
る画像形成装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的は、表面に原稿画像に対応する静電潜像が形成
され、かつ回転可能な静電潜像担体と、この静電潜像担
体の潜像状態を検出する検出手段と、現像剤を用いて前
記静電潜像を転写体へ現像する現像手段を有する画像形
成装置において、前記静電潜像担体の停止時に、前記検
出手段を静電潜像担体の回転軸方向に移動させる移動手
段を設けた構成にすることによって達成される。

〔作用〕

静電潜像担体を回転させないで、検出手段を静電潜像担
体の回転軸方向に移動手段にて移動させて、静電潜像担
体の潜像状態を検出する。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。

第２図は本発明による画像形成装置の一実施例である複
写機の概要を示す構成図であって、１は静電潜像担体で
ある回転可能な感光体ドラム、ｌａは感光体ドラムの回
転軸、２は帯電チャージャ、３は前記静電潜像担体１の
表面電位を検出する検出手段であるセンサ、４はイレー
ザ、５は現像スリーブ、６は転写前除電ランプ、７は転
写チャージャ、８はファーブラシ、９はクリーニングブ
レード、１０は除電ランプ、１１は防塵ガラス、■２　
１３．１４．１５は反射ミラー　１６はレンズ、１７は
照射ランプ、１８は白パターン、１９はコンタクトガラ
ス、Ｂは感光体ドラム１を露光する光ビームである。

同図において、コンタクトガラス１９上に載置された原
稿を照射ランプ１７と反射ミラー１２゜１３．１４．１
５とレンズ１６よりなる光学系で走査し、感光体ドラム
１表面を光ビームＢにて露光し、原稿画像に対応する静
電潜像を形成して、感光体ドラム１周囲に配された帯電
チャージャ２゜現像スリーブ５．転写チャージャ７等の
現像手段にて図示しない現像剤を用いて転写紙へ現像す
る作動、および転写前除電ランプ６と除電ランプ１０に
よる除電作動、さらにファーブラシ８とクリニングブレ
ード９による感光体ドラムＩに対するクリーニング作動
が公知のようにして行われる。

第１図は検出手段であるセンサ３の移動手段の構成を示
す正面図であって、３は第２図のように前記帯電チャー
ジャ２とイレーザ４との間に配され、かつ感光体ドラム
１の回転軸１ａの軸線方向へと同方向に移動可能なセン
サ、２０はステッピングモータ（ＳＴＭ）　、２１は３
７Ｍ２０の回転軸に設けられたウオームギア、２２はウ
オームギア２１と噛合する駆動ギヤ、２３は駆動ギヤ２
２と同軸に設けられた駆動側プーリ、２４は従動側プー
リ、２５は前記両ブーＩＪ２３，２４間に架設され一部
に前記センサ３を固定したワイヤである。

第３図は前記センサ３の移動手段の平面図であって、２
６はカギ状をし、センサ３の一部と当接して移動するア
クチエータ、２７はアクチエータ２６を押圧しているば
ね、２８はアクチエータ２Ｇの一端部の存在を検出して
、センサ３のホームポジション復帰を検知するホームポ
ジションセンサである。

第１図、第３図において、感光体ドラム１の停止時（非
回転時）に、後に後述するタイミングによってセンサ３
による感光体ドラム１上の表面電位検出作動がスタート
する。第３図のセンサ３を実線で示した位置がセンサホ
ームポジションであり、３７Ｍ２０の回転によって、ウ
オームギヤ２１と駆動ギヤ２２を介して駆動側プーリ２
３が回転し、ワイヤ２５を移動する。ワイヤ２５に固定
されたセンサ３は感光体ドラム１の回転軸方向Ａへ移動
し、後述するように感光体ドラム１表面の各部位の電位
を読み取る。

センサ３が従動側ブーＩＪ２４まで達すると３７Ｍ２０
が逆回転し、駆動側ブーＩＪ２３方向ヘセンサ３を移動
させる。この時、センサ３がばね２７にて押し出されて
いるアクチエータ２６を押し戻し、センサ３がホームポ
ジションに戻った時点で、アクチエータ２６の一端の存
在がホームポジションセンサ２８にて検知され、センサ
３による検出作動の１サイクルが完了する。このサイク
ルは感光体ドラム１の通常の１回転に要する時間より短
くできるし、感光体ドラム１の回転より低騒音の作動と
なる。

第４図（ａｌはセンサ３の位置を示す説明図、第４図（
ｂ）は第４図（ａ）における各部位の電位を示す説明図
であって、帯電チャージャ２とイレーザ４との間のセン
サ３は、第４図（ｂｌに示すように感光体ドラム１表面
の帯電チャージャ２部分の電位のピーク部分Ｃと、イレ
ーザ４部分の電位のピーク部分り間の谷間部分Ｅの電位
を測定する。

第５図は開口制限機構を示す平面図であって、１１は感
光体ドラム１の回転軸方向Ａに延出する防塵ガラス、３
０．３１は開口用ステッピングモータ（ＳＴＭ）　、３
２．３３は開口用ＳＴＭ３０゜３１の回転軸に設けられ
た開口用ウオームギヤ、３４．３５は防塵ガラス１１部
分において入射する光ビームＢの光量を制限するため回
動する開口制限手段であるアーム、３６．３７はアーム
３４゜３５の端部に固定されて前記開口用ウオームギヤ
３２．３３と噛合する開口用駆動ギヤ、３８，３９は前
記アーム３４．３５の開口部分の端部Ｆ。

Ｇを検知する開口用ホームポジションセンサである。

同図において、アーム３４．３５は前記センサ３による
感光体ドラム１の表面電位の検出結果に基づいて、感光
体ドラム１表面の帯電面を露光する光ビームＢの光量を
制限するため、光ビームＢの光路中にある防塵ガラス１
１部分にて光量制限用のスリットを形成している。また
アーム３４゜３５は第２図において感光体ドラム１の手
前側（Ｆ側とする）と奥側（Ｒ側とする）に配されてい
る。

前記アーム３４．３５は、作動信号を受けた開口用ＳＴ
Ｍ３０．３１が回動し、この開口用ＳＴＭ３０，３１に
より開口用ウオームギヤ３２．３３と開口用駆動ギヤ３
６．３７を介して、ある角度だけ回転し、防塵ガラス１
１の一部を光遮蔽する。そして非作動時には、アーム３
４．３５は防塵ガラスエ１を光遮蔽せず、開口用ホーム
ポジションセンサ３８．３９にて検知される位置にて待
機している。

第６図（ａ）、第７図（ａ）、第８図（ａ）、第９図（
ａｌは補正前の光量を示す説明図、第６図（ｂ）、第７
図（ｂ）。

第８図（ｂ）、第９図（ｂ）は補正後の光量変化を示す
説明図、第６図（Ｃ）、第７図（Ｃ）、第８図（Ｃ）、
第９図（Ｃ）は光量補正時のアーム３４．３５の作動を
示す構成図である。

第６図（ａ）は感光体ドラム１０Ｆ側（手前側）の電位
が高い時を示しており、この時には第６図（Ｃ１のよう
に感光体ドラム１のＲ側（奥側）のアーム３４を回動さ
せてＲ側の光量を第６図（ｂｌのように上昇させ、電位
を感光体ドラム１上で均一化させる。

第７図（ａ）は感光体ドラム１のＲ側の電位が高い時を
示しており、この時には第７図（ｅ）のように感光体ド
ラム１のＦ側のアーム３５を回動させてＦ側の光量を第
７図（ｂ）のように上昇させる。

第８図（ａｌは感光体ドラム１の中央部の電位が高い時
を示しており、この時には第８図（Ｃ）のように両アー
ム３４．３５を回動させて、Ｒ側とＦ側の光量を第８図
（ｂｌに示すように上昇させる。

第９図（ａ）は感光体ドラム１のＲ側とＦ側の電位が高
い時を示しており、この時には第９図（Ｃ１のように両
アーム３４．３５を大きく回動して、中央の光量を第９
図（ｂｌに示すように上昇させる。

上述のようにアーム３４．３５により光量補正を行うこ
とによって、感光体ドラムｌの表面電位の均一化が図れ
、画像形成時の地汚れの発生を防止できる。

第１０図は制御系のブロック図であって、４０はメイン
制御部（ＣＰＵ）　、４１はＣＰＵ４０に内蔵される不
揮発性のメモリであるＲＡＭ、４２は帯電パワーパック
、４３は定着サーミスタ、４４は光学系制御部、４５は
操作・ＡＣ制御部、４６はＡＣ駆動回路、４７は各種位
置センサ、４８はスキャナ駆動回路、４９は変倍駆動回
路、５０はキー人力部、５１は表示手段、５２は定着ヒ
ータ、５３は駆動モータである。

同図において、ＣＰＵ４０はイレーザ４、帯電チャージ
ャ２の帯電パワーバック４２、各ＳＴＭ２０．３０．３
１への駆動信号を出力し、また定着サーミスタ４３、セ
ンサ３、各ホームポジションセンサ２８，３８．３９か
ら検出信号を受けている。さらにＣＰＵ４０は光学制御
部４４と操作・ＡＣ制御部４５と信号のやりとりをして
おり、光学制御部４４ではスキャナ駆動回路４８と変倍
駆動回路４９によって光学系の制動を行い、操作・ＡＣ
制御部４５ではキー人力部５０からの信号を受けて、表
示手段５１の表示をさせ、またＡＣ駆動回路４６とＣＰ
Ｕ４０へ信号を送る。ＡＣ駆動回路４６では定着ヒータ
５２、各種駆動モータ５３、照射ランプ１７のオン・オ
フを行う。

第１１図は上記実施例の全体作動を示すフローチャート
である。同図において作動スタートすると、後述するイ
ニシャルモードに入り　（ステップ１ｌ−１）、感光体
ドラムｌの停止状態で一定時間、帯電チャージャ２をオ
ンし、感光体ドラム１に電荷をのせ（ステップ１ｌ−２
）、センサ３を感光体ドラムｌの回転軸方向Ａに移動さ
せて電位（Ｖｏ）を測定する（ステップ１ｌ−３）。感
光体ドラム１の電位において、イレーザ４のオンにより
感光体ドラム１の残留電位分のみが残され（ステップ１
ｌ−４）、その残留電位ｖＲをセンサ３の前記回転軸方
向Ａの移動にて測定する（ステップ１ｌ−５）。前記電
位Ｖ０と残留電位■８を演算しくステップ１ｌ−６）、
得られたデータをＣＰＵ４０ヘフイードハツクし、感光
体ドラム１の状態をコピー状態に備えるようにし、合わ
せて各種制御フラグをクリアする（ステップ１ｌ−７）
。

第１２図は前記イニシャルモードの作動を示すフローチ
ャートであって、このモードで仮コピー動作を行い、感
光体ドラム１の状態を安定化させる。モードスタートす
ると、感光体ドラム１の状態によって必要である場合に
（ステップ１２−１のＹ）、ドラムならし運転（フォー
ミング動作）を行い（ステップ１２−２）、フォーミン
グ動作をコピー２０枚分行うと（ステップ１２−３）、
フォーミング動作がオフされ（ステップ１２−４）、コ
ピー禁止状態になる（ステップ１２５）。またフォーミ
ングが必要でない時（ステップ１２−１のＮ）は、その
まま通常のコピーモードへ移る（ステップ１２−６）。

第１３図は帯電時の作動を示すフローチャートであって
、本実施例では感光体ドラム１を回転させないで帯電さ
せるため、感光体ドラム１の帯電電位と時間との関係は
、第１４図に示すようになり、所定の帯電電位（Ｖｏ）
になるのに必要な帯電パワーバック４２のオン時間は０
．５秒となる。

第１３図において、まず０．５秒タイマがクリアされ（
ステップ１３−１）、タイマスタートフラグが０となる
（ステップ１３−２）。タイマスタートフラグがオンし
てないと（ステップ１３−３のＮ）、スタートフラグを
たて（ステップ１３−４）、帯電パワーバック４２をオ
ンしくステップ１３−５）、０．５秒タイマをスタート
させ（ステップ１３−６）、タイムアツプしたら（ステ
ップ１３−７）、帯電パワーバック４２をオフしくステ
ップ１３−８）、０．５秒タイマのリセット、クリアが
なされる（ステップ１３−９）。

第１５図はイレーザ４の作動を示すフローチャートであ
って、本実施例では、第１６図に示すように感光体ドラ
ム１の帯電電圧Ｖ。を、イレーザ４によって０．４秒後
に■８レベルの残留電位となるようにしている。

第１５図において、まずイレーザ４がリセットされ（ス
テップ１５−１）、全点灯モードのデータをシリアル点
灯しくステップ１５−２）　、４ｍ秒タイマをクリアし
て（ステップ１５−３）、イレーザ４をオン（全点灯）
する（ステップ１５−４）。この時４ｍ秒タイマはスタ
ートシ（ステップ１５−５）、カウントアツプされると
（ステップ１５−６）、イレーザ４がオフされ（ステッ
プ１５−７）、４ｍ秒タイマとイレーザ４がリセット、
クリアされる（ステップ１５−８）。

第１７図は前記電位Ｖｏ　、ＶＲのサンプリングのフロ
ーチャートであって、センサ３を３７Ｍ２０のステップ
角に同期して感光体ドラム１の回転軸方向Ａへ移動して
、前記電位Ｖ。、■８が測定されるが、まず３７Ｍ２０
のステップ角が立上がり（ステップ１７−１）　、セン
サ３が移動するとセンサ３の測定結果がＡＮボートを介
してＣＰＵ４０のレジスタに入力される（ステップ１７
２）。この入力はＣＰＵ４０内にてレジスタからメモリ
４１へ送られ（ステップ１７−３）、メモリ４１のメモ
リアドレスを＋１にする（ステップ１７−４）。

前記メモリ４１は、第１８図に示すように、内部でメモ
リ　（１）〜メモリ　（２５６）の２５６個のメモリを
有しており、そのメモリ　（１）〜（２５６）は第１９
図に示すように１６分割されて■〜［相］の平均値メモ
リとしている。

第２０図はメモリ４１の作動を示すフローチャートであ
って、まず平均値メモリのカウンタをクリアしくステッ
プ２Ｏ−１）、メモリアドレスと平均値メモリアドレス
を設定しくステップ２Ｏ−２）、加算されている回数カ
ウンタとメモリ加算レジスタとをクリアしておく　（ス
テップ２〇−３）ａそしてメモリアドレスのメモリデー
タと加算レジスタを各々＋１加算しくステップ２〇−４
）、加算回数が１６より小さいと（ステップ２０−５の
Ｎ）、さらにメモリアドレスと加算レジスタに加算して
いき、加算回数が１６になると（ステップ２０−５のＹ
）、メモリ加算レジスタを１６等分する（ステップ２Ｏ
−６）。平均値メモリアドレスに測定データを格納しく
ステップ２Ｏ−７）、順次、平均値メモリカウンタが＋
１加算されて（ステップ２Ｏ−８）、平均値メモリカウ
ンタのカウント数が１６より大きくなると（ステップ２
０−９のＹ）、各種カウンタ、レジスタをクリアしくス
テップ２Ｏ−１０）、前記カウント数が１６より小さい
と、前記ステップ（２０−３）へ入る（ステップ２０−
９のＮ）。

前記平均値メモリ■〜［相］において、Φ〜［相］の平
均値（データＡ）は感光体ドラム１全体の電位平均（電
位Ｖ。、ＶＲ）であり、■〜■の平均値（データＦ）は
感光体１の手前側の電位平均であり、■〜［相］の平均
値（データＣ）は感光体ドラム１の中央の電位平均であ
り、＠〜［相］の平均値（データＲ）は感光体１の奥側
の電位平均とする処理が行われる。

第２１図は電位■。＋ＶＩＩの演算作動を示すフローチ
ャートであって、Ｖｏ−ＶＲを演算しくステップ２ｌ−
１）、その演算結果によって現像バイアスの補正を行う
（ステップ２ｌ−２）と共に、帯電電位の補正を行う（
ステップ２ｌ−３）。

第２２図は感光体ドラム１の電位とコピー枚数との関係
を示した説明図であって、同図のように経時的に感光体
ドラム１の帯電電位ｖ０と残留電位■８は上昇し、■。

−Ｖ、Ｉのレンジが狭くなり、このことにより、地汚れ
などの画質品質の劣化が発生するため、上述のような補
正が必要となる。

第２３図（その１）、　（その２）は補正値決定のフロ
ーチャートであって、設定値と測定されたデータへの差
の絶対値ΔＡを演算しくステップ２３−１）、ΔＡが設
定値より大きいと（ステップ２３−２のＹ）ランプ電圧
補正のルーチンへ入る（ステップ２３−３）。データＦ
がデータＣより大きいと（ステップ２３−４のＹ）、差
分をΔＦＣとして出しくステップ２３−５）、データＦ
がデータＣより小さいと（ステップ２３−４のＮ）、差
分をΔＣＦとして出す（ステップ２３−６）。

同様にしてデータＲとデータＣとを比較しくステップ２
３−７）、差ΔＣＲを出しくステップ２３−８）、また
差ΔＲＣを出す（ステップ２３−９）。さらにデータＲ
とデータＦとを比較しくステップ２３−１０）、差ΔＦ
Ｒを出しくステップ２３−１１）　、また差ΔＲＦを出
す（ステップ２３−１２）。

前記ΔＣＦが設定値より大きいと（ステップ２３−１３
）、開口用ＳＴＭ３０，３１の内、手前側のＳＴＭ−Ｆ
３１にプラスフラグを立て（ステップ２３−１４）、以
下、同様にΔＦＣ≧設定値であると（ステップ２３−１
５）　、ＳＴＭ−Ｆ３１にマイナスフラグを立て（ステ
ップ２３−１６）、ΔＲＣ≧設定値であると（ステップ
２３−１７）、奥側のＳＴＭ−Ｒ３０にプラスフラグを
立て（ステップ２３−１８）、ΔＣＲ≧設定値であると
（ステップ２３−１９＞　、ＳＴＭ−Ｒ３０にマイナス
フラグを立てる（ステップ２３−２０）。

上記ステップ（２３−１４）、　　（２３−１６）。

（２３−１８）、　　（２３−２０）は開口用ＳＴＭ３
０．３１の補正用のフラグを立てるステップであって、
ここをデータテーブルにすると補正量も調整することが
できる。

第５図に示した開口用ホームポジション３８゜３９を、
手前側をＨＰ、Ｆ３９とし、奥側をＨＰ。

Ｒ２Ｏとすると、ＨＰ、Ｆ３９とＨＰ、Ｒ３８がオンで
ないと（ステップ２３−２１のＮ）、ＳＴＭ−Ｆ３１と
ＳＴＭ−Ｒ３０を駆動してアーム３４．３５をホームポ
ジション（ＨＰ）に戻す（ステップ２３−２２）。

ここでアーム３４．３５の位置基準はＨＰに戻った時で
あるが、第５図において両アーム３４゜３５の面Ｈ＋、
Ｈｚが平行となる位置がアーム３４．３５による光量補
正がない位置である。したがって、制御としては、常に
１度ＳＴＭ−Ｆ３１とＳＴＭ−Ｒ３０によりアーム３４
．３５をＨＰに戻し、それから補正がない前記面Ｈ３と
Ｒ２が平行となる位置に対してＳＴＭ−Ｆプラス（マイ
ナス）フラグ、あるいはＳＴＭ−Ｒプラス（マイナス）
フラグによってアーム３４．３５による開口（スリット
）幅を補正する。

ＳＴＭ−Ｆプラスフラグが立つと（ステップ２３−２３
）　、ＳＴＭ−Ｆデータをインクリメントしくステップ
２３−２４）　、ＳＴＭ−Ｆマイナスフラグが立つと（
ステップ２３−２５）　、ＳＴＭ・Ｆデータをデクリメ
ントする（ステップ２３−２６）。またＳＴＭ−Ｒプラ
スフラグが立つと（ステップ２３−２７）　、ＳＴＭ−
Ｒデータをインクリメントしくステップ２３−２８）　
、ＳＴＭ・Ｒマイナスフラグが立つと（ステップ２３−
２９）　、ＳＴＭ−Ｒデータをデクリメントする（ステ
ップ２３−３０）。そしてアーム３４．３５の面ＨＩ、
Ｈｚが平行になるようにｓＴＭ−Ｆ２ＯとＳＴＭ−Ｒ３
１を駆動する（ステップ２３−３１）。ただし、アーム
３４．３５の開口幅の補正をするため、照射ランプ１７
のランプ電圧を変え、照度の絶対量の補正（アップ・ダ
ウン）が必要である。

前記ΔＡに応じてデータテーブルに基づき照射ランプ１
７のランプ電圧をアップ・ダウンしくステップ２３−３
２）　、ＳＴＭ−ＦとＳＴＭ−Ｒのプラスフラグが立っ
ていれば（ステップ２３−３３のＹ）、ランプ電圧をア
ップしくステップ２３−３４）、またＳＴＭ−ＦとＳＴ
Ｍ−Ｒ（７）？イナスフラグが立っていれば（ステップ
２３−３５のＹ）、ランプ電圧をダウンさせる（ステッ
プ２３−３６）。

第２４図は核データのリセット作動を示すフローチャー
トであって、上記補正が終了すると、電位Ｖ、、Ｖ、Ｉ
の各メモリデータがクリアされ（ステップ２４−１）、
メイン駆動モータがオンされ（ステップ２４−．２）、
現像スリーブ５にバイアスが加わり（ステップ２４−３
）、クリーニングブレード９などのクリーニング手段が
作動しくステップ２４−４）、除電手段である除電ラン
プ１０がオンしくステップ２４−５）、感光体ドラム１
力月、５回転すると（ステップ２４−６のＹ）、スター
トフラグがＯとなる（ステップ２４−７）。

スタートフラグが０となると、前記メイン駆動モータ、
バイアス、クリーニング手段９．除電手段１０等がオフ
となり（ステップ２４−８）、コピー禁止フラグが０と
なって（ステップ２４−９）、通常のコピーモードへ移
る（ステップ２４−１０）。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明によれば、静電潜像担体を
作動せずに潜像状態が検出でき、低騒音で迅速な潜像状
態の検出ができる画像形成装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による画像形成装置の検出手段における
移動手段の一実施例を示す正面図、第２図は複写機の構
成図、第３図は第１図の移動手段段の平面図、第４図（
ａ）はセンサの位置を示す説明図、第４図（ｂ）は各部
位の電位を示す説明図、第５図は開口制限機構を示す平
面図、第６図（ａ）、第７図（ａ）、第８図（ａ）、第
９図（ａｌは補正前の光量を示す説明図、第６図（ｂ）
、第７図（ｂ）、第８図（ｂ）、第９図（ｂｌは補正後
の光量変化を示す説明図、第６図（Ｃ）。 第７図（Ｃ）、第８図〔Ｃ）、第９図（Ｃ１はアームの
作動を示す構成図、第１０図は制御系のブロック図、第
１１図は全体作動を示すフローチャート、第１２図はイ
ニシャルモードの作動を示すフローチャート、第１３図
は帯電作動のフローチャート、第１４図は帯電電位と時
間との関係を示す説明図、第１５図はイレーザの作動を
示すフローチャート、第１６図は残留電位を説明する説
明図、第１７図は電位のサンプリングのフローチャート
、第１８図は内部メモリを示す説明図、第１９図はメモ
リの分割を示す説明図、第２０図はメモリ作動を示すフ
ローチャート、第２１図は電位演算作動を示すフローチ
ャート、第２２図は電位とコピー枚数との関係を示す説
明図、第２３図は補正値決定作動を示すフローチャート
、第２４図はリセット作動を示すフローチャートである
。 １・・・静電潜像担体、２，５．７・・・現像手段、３
・・・検出手段、２０，２１，２２，２３．２４．２５
・・・移動手段、Ａ・・・回転軸方向。 第５図 ム 弔 図（ａ） 第 図（ｂ） 第 図　（ｃ） 第 図（ａ） 第 図ｒｂノ 弔 図 〔ａ） 第 図（ｂ） 弔 図（ａ） 用 図のフ 第 図（Ｃ） ＋＋ 第１４ 図 弔 図 第 図 第１７ 図 第１８図 ０回つ メ云り２５６ 弔 図 第２２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 表面に原稿画像に対応する静電潜像が形成され、かつ回
   転可能な静電潜像担体と、この静電潜像担体の潜像状態
   を検出する検出手段と、現像剤を用いて前記静電潜像を
   転写体へ現像する現像手段を有する画像形成装置におい
   て、前記静電潜像担体の停止時に、前記検出手段を静電
   潜像担体の回転軸方向に移動させる移動手段を設けたこ
   とを特徴とする画像形成装置。