JPH02276233A - マスク保持機構 - Google Patents
マスク保持機構Info
- Publication number
- JPH02276233A JPH02276233A JP1096327A JP9632789A JPH02276233A JP H02276233 A JPH02276233 A JP H02276233A JP 1096327 A JP1096327 A JP 1096327A JP 9632789 A JP9632789 A JP 9632789A JP H02276233 A JPH02276233 A JP H02276233A
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- JP
- Japan
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- mask
- holder
- mask holder
- vacuum suction
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、基板露光装置等においてガラス基板に回路パ
ターンが印刷されたマスクを保持して半導体基板への露
光位置に対して位置決め固定するマスク保持機構に関し
、特にガラス基板の厚さむらの影響を受けることなく高
精度でマスクが保持できると共にマスクの落下事故を防
止できるマスク保持機構に関する。
ターンが印刷されたマスクを保持して半導体基板への露
光位置に対して位置決め固定するマスク保持機構に関し
、特にガラス基板の厚さむらの影響を受けることなく高
精度でマスクが保持できると共にマスクの落下事故を防
止できるマスク保持機構に関する。
従来のこの種のマスク保持機構は、第3図に示すように
、ガラス基板1に回路パターン2が印刷されたマスク3
を保持するマスクホルダ4と、このマスクホルダ4を半
導体基板5への露光位置に対して位置決め固定するマス
クベース6とを有して成っていた。そして、上記マスク
ホルダ4は、マスクベース6の下面側にて適宜の支持機
構でスライド可能に支持されており、とのマスクホルダ
4の下面側にマスク3の回路パターン2が形成された面
と反対側の面を接触させ、上記マスクホルダ4の周囲に
形成された真空吸着用の溝7で真空吸着することにより
、上記マスク3をマスクホルダ4で保持していた。
、ガラス基板1に回路パターン2が印刷されたマスク3
を保持するマスクホルダ4と、このマスクホルダ4を半
導体基板5への露光位置に対して位置決め固定するマス
クベース6とを有して成っていた。そして、上記マスク
ホルダ4は、マスクベース6の下面側にて適宜の支持機
構でスライド可能に支持されており、とのマスクホルダ
4の下面側にマスク3の回路パターン2が形成された面
と反対側の面を接触させ、上記マスクホルダ4の周囲に
形成された真空吸着用の溝7で真空吸着することにより
、上記マスク3をマスクホルダ4で保持していた。
しかし、このような従来のマスク保持機構においては、
マスク3をマスクホルダ4で保持するのに回路パターン
2が形成された面と反対側の面を真空吸着して保持して
いたので、板面の各所において厚さむらがあるガラス基
板1は、上記の真空吸着により回路パターン2が形成さ
れた面側に歪みが出でくることがあった。そして、その
歪みは、吸着面と反対側の回路パターン2が形成された
面側においては厚さ分に応じて拡大されるものであった
。従って、マスク3の回路パターン2が形成された面の
平坦度が保たれず、半導体基板5との間のギャップにバ
ラツキが生ずることがあった。
マスク3をマスクホルダ4で保持するのに回路パターン
2が形成された面と反対側の面を真空吸着して保持して
いたので、板面の各所において厚さむらがあるガラス基
板1は、上記の真空吸着により回路パターン2が形成さ
れた面側に歪みが出でくることがあった。そして、その
歪みは、吸着面と反対側の回路パターン2が形成された
面側においては厚さ分に応じて拡大されるものであった
。従って、マスク3の回路パターン2が形成された面の
平坦度が保たれず、半導体基板5との間のギャップにバ
ラツキが生ずることがあった。
すなわち、マスク3を高精度に保持できないものであっ
た。このことから、半導体基板5に対する回路パターン
の露光の精度が低下することがあった。
た。このことから、半導体基板5に対する回路パターン
の露光の精度が低下することがあった。
また、上記マスク3はマスクホルダ4の下面側に吸着保
持されるようになっていたので、該マスクホルダ4の周
囲に形成された真空吸着用の溝7による真空吸着系統に
トラブルが発生したときは、マスク3の吸着不良となり
、該マスク3が落下することがあった。この場合は、マ
スク3及び半導体基板5が損傷することがあった。
持されるようになっていたので、該マスクホルダ4の周
囲に形成された真空吸着用の溝7による真空吸着系統に
トラブルが発生したときは、マスク3の吸着不良となり
、該マスク3が落下することがあった。この場合は、マ
スク3及び半導体基板5が損傷することがあった。
そこで、本発明は、このような問題点を解決し。
ガラス基板の厚さむらの影響を受けることなく高精度で
マスクが保持できると共にマスクの落下事故を防止でき
るマスク保持機構を提供することを目的とする。
マスクが保持できると共にマスクの落下事故を防止でき
るマスク保持機構を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明によるマスク保持機
構は、ガラス基板に回路パターンが印刷されたマスクを
保持するマスクホルダと、このマスクホルダを半導体基
板への露光位置に対して位置決め固定するマスクベース
とを有して成るマスク保持機構において、上記マスクホ
ルダの上面にてマスク載置部の周囲にはマスクのパター
ン面側の周縁を吸着保持する真空吸着部を設けると共に
、該マスクホルダの周辺部には移動用部材を設け。
構は、ガラス基板に回路パターンが印刷されたマスクを
保持するマスクホルダと、このマスクホルダを半導体基
板への露光位置に対して位置決め固定するマスクベース
とを有して成るマスク保持機構において、上記マスクホ
ルダの上面にてマスク載置部の周囲にはマスクのパター
ン面側の周縁を吸着保持する真空吸着部を設けると共に
、該マスクホルダの周辺部には移動用部材を設け。
上記マスクベースの上面にてマスクホルダを露光位置に
位置決めする部分には上記移動用部材が沈み込んでマス
クホルダの下面をマスクベースの上面に接触させる凹所
を設けると共に、上記位置決め部の周囲にはマスクホル
ダの周縁を吸着保持する真空吸着部を設けたものである
。
位置決めする部分には上記移動用部材が沈み込んでマス
クホルダの下面をマスクベースの上面に接触させる凹所
を設けると共に、上記位置決め部の周囲にはマスクホル
ダの周縁を吸着保持する真空吸着部を設けたものである
。
このように構成されたマスク保持機構は、マスクホルダ
の上面にてマスク載置部の周囲に設けられた真空吸着部
でマスクのパターン面側の周縁を吸着保持し、上記マス
クホルダの周辺部に設けられた移動用部材をマスクベー
スの上面にて該マスクホルダを露光位置に位置決めする
部分に設けられた凹所に沈み込ませることにより、マス
クホルダの下面をマスクベースの上面に接触させて該マ
スクホルダの周縁をマスクベースに設けられた真空吸着
部で吸着保持するものである。
の上面にてマスク載置部の周囲に設けられた真空吸着部
でマスクのパターン面側の周縁を吸着保持し、上記マス
クホルダの周辺部に設けられた移動用部材をマスクベー
スの上面にて該マスクホルダを露光位置に位置決めする
部分に設けられた凹所に沈み込ませることにより、マス
クホルダの下面をマスクベースの上面に接触させて該マ
スクホルダの周縁をマスクベースに設けられた真空吸着
部で吸着保持するものである。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明によるマスク保持機構の実施例を示す断
面説明図である。このマスク保持機構は、基板露光装置
等においてガラス基板に回路パターンが印刷されたマス
クを保持して半導体基板への露光位置に対して位置決め
固定するもので、マスクホルダ10と、マスクベース1
1とを有して成る。
面説明図である。このマスク保持機構は、基板露光装置
等においてガラス基板に回路パターンが印刷されたマス
クを保持して半導体基板への露光位置に対して位置決め
固定するもので、マスクホルダ10と、マスクベース1
1とを有して成る。
上記マスクホルダ10は、ガラス基板1に回路パターン
2が印刷されたマスク3を保持するもので、第2図に示
すように、例えば矩形状の平板に形成されており、その
中央部には矩形の切欠窓12が穿設され、この切欠窓1
2の周囲がマスク載置部とされている。そして、このマ
スクホルダ10の上面にてマスク載置部の周囲には、第
1図に示すように、上記マスク3の回路パターン2が形
成された面側の周縁を吸着保持する真空吸着部13が設
けられている。この真空吸着部13は、上記切欠窓12
の周囲の全周にわたって形成され。
2が印刷されたマスク3を保持するもので、第2図に示
すように、例えば矩形状の平板に形成されており、その
中央部には矩形の切欠窓12が穿設され、この切欠窓1
2の周囲がマスク載置部とされている。そして、このマ
スクホルダ10の上面にてマスク載置部の周囲には、第
1図に示すように、上記マスク3の回路パターン2が形
成された面側の周縁を吸着保持する真空吸着部13が設
けられている。この真空吸着部13は、上記切欠窓12
の周囲の全周にわたって形成され。
図示外の真空源と連結された凹溝から成る。さらに、こ
のマスクホルダ10の四隅部には、第2図に示すように
、ガイドローラ14,14.・・・が設けられている。
のマスクホルダ10の四隅部には、第2図に示すように
、ガイドローラ14,14.・・・が設けられている。
このガイドローラ14は、上記マスクホルダ10を後述
のマスクベース11上で矢印A、B方向に移動させる部
材となるもので、上記マスクホルダ10をマスクベース
11上に適宜の高さだけ浮かせた状態で移動させるよう
になっている。
のマスクベース11上で矢印A、B方向に移動させる部
材となるもので、上記マスクホルダ10をマスクベース
11上に適宜の高さだけ浮かせた状態で移動させるよう
になっている。
上記マスクホルダ10は、マスクベース11の上面側に
移動可能に設けられている。このマスクベース11は、
上記マスクホルダ10を半導体基板5への露光位置に対
して位置決め固定するもので、第2図に示すように、上
記マスクホルダ10より長い矩形状の平板に形成されて
おり、その−端部側には矩形の切欠窓15が穿設され、
この切欠窓15の周囲がマスクホルダ10を露光位置に
位置決めする部分とされている。そして、このマスクベ
ース11の上面にて上記マスクホルダ10を露光位置に
位置決めする部分には、第2図に示すように、マスクホ
ルダ10の四隅部に設けられたガイドローラ14が沈み
込んで該マスクホルダ10の下面をマスクベース11の
上面に接触させる凹所16,16.・・・が設けられて
いる。この凹所16は、上記切欠窓15の四隅部の近傍
に設けられ、第1図に示すように、矢印A方向に進むに
従って段々深くなる傾斜面を有するテーパー状の凹所と
されている。さらに、このマスクベース11の上面にて
露光位置への位置決め部の周囲には、第1図に示すよう
に、マスクホルダ10の下面周縁を吸着保持する真空吸
着部17が設けられている。この真空吸着部17は、上
記切欠窓15の周囲の全周にわたって形成され、図示外
の真空源と連結された凹溝から成る。
移動可能に設けられている。このマスクベース11は、
上記マスクホルダ10を半導体基板5への露光位置に対
して位置決め固定するもので、第2図に示すように、上
記マスクホルダ10より長い矩形状の平板に形成されて
おり、その−端部側には矩形の切欠窓15が穿設され、
この切欠窓15の周囲がマスクホルダ10を露光位置に
位置決めする部分とされている。そして、このマスクベ
ース11の上面にて上記マスクホルダ10を露光位置に
位置決めする部分には、第2図に示すように、マスクホ
ルダ10の四隅部に設けられたガイドローラ14が沈み
込んで該マスクホルダ10の下面をマスクベース11の
上面に接触させる凹所16,16.・・・が設けられて
いる。この凹所16は、上記切欠窓15の四隅部の近傍
に設けられ、第1図に示すように、矢印A方向に進むに
従って段々深くなる傾斜面を有するテーパー状の凹所と
されている。さらに、このマスクベース11の上面にて
露光位置への位置決め部の周囲には、第1図に示すよう
に、マスクホルダ10の下面周縁を吸着保持する真空吸
着部17が設けられている。この真空吸着部17は、上
記切欠窓15の周囲の全周にわたって形成され、図示外
の真空源と連結された凹溝から成る。
次に、このように構成されたマスク保持機構の動作につ
いて説明する。まず、初期状態においては、第1図にお
いて、マスクホルダ10はマスクベース11上で二点鎖
線で示すように矢印B方向に後退している6次に、この
状態で、上記マスクホルダ10の上面にマスク3を載置
する。このとき、上記マスク3の回路パターン2が形成
された面を下に向けて切欠窓12に合致させ、この切欠
窓12の周囲のマスク載置部にマスク3のパターン面側
の周縁を載せる。次に、この状態から、上記マスクホル
ダ10を手作業にて矢印A方向に押す。すると、上記マ
スクホルダ10は、その上面にマスク3を載せたままガ
イドローラ14によりマスクベース11上に適宜の高さ
だけ浮いた状態で矢印A方向に前進する。そして、この
前進に従って、第2図に示すようにマスクホルダ10の
四隅部に設けられたガイドローラ14がマスクベース1
1上に形成された凹所16までそれぞれ進むと、第1図
に示すように各ガイドローラ14はテーパー状の傾斜面
に沿って凹所16内に沈み込んで行く。そして、ある深
さ以上のところまで進むと、上記マスクホルダ10の下
面がマスクベース11の上面に接触して停止する。この
とき、マスクホルダ10は、マスクベース11に形成さ
れた切欠窓15に合致され、この切欠窓15の周囲にて
露光位置への位置決め部にセットされる。この状態で、
図示外の真空源を駆動して真空吸引すると、マスクホル
ダ10の真空吸着部13及びマスクベース11の真空吸
着部17内がそれぞれ真空吸引され、マスク3のパター
ン面側の周縁がマスクホルダ10の上面に吸着保持され
ると共に、上記マスクホルダ10の下面周縁がマスクベ
ース11の上面に吸着保持される。この結果、マスク3
が半導体基板5への露光位置に対して位置決め固定され
る。このとき、上記マスク3は回路パターン2が形成さ
れた面側において直接マスクホルダ10に吸着保持され
るので、ガラス基板1の厚さむらがあってもそれが拡大
されず、マスク3の回路パターン2が形成された面の平
坦度が保たれ、該マスク3を高精度に保持することがで
きる。
いて説明する。まず、初期状態においては、第1図にお
いて、マスクホルダ10はマスクベース11上で二点鎖
線で示すように矢印B方向に後退している6次に、この
状態で、上記マスクホルダ10の上面にマスク3を載置
する。このとき、上記マスク3の回路パターン2が形成
された面を下に向けて切欠窓12に合致させ、この切欠
窓12の周囲のマスク載置部にマスク3のパターン面側
の周縁を載せる。次に、この状態から、上記マスクホル
ダ10を手作業にて矢印A方向に押す。すると、上記マ
スクホルダ10は、その上面にマスク3を載せたままガ
イドローラ14によりマスクベース11上に適宜の高さ
だけ浮いた状態で矢印A方向に前進する。そして、この
前進に従って、第2図に示すようにマスクホルダ10の
四隅部に設けられたガイドローラ14がマスクベース1
1上に形成された凹所16までそれぞれ進むと、第1図
に示すように各ガイドローラ14はテーパー状の傾斜面
に沿って凹所16内に沈み込んで行く。そして、ある深
さ以上のところまで進むと、上記マスクホルダ10の下
面がマスクベース11の上面に接触して停止する。この
とき、マスクホルダ10は、マスクベース11に形成さ
れた切欠窓15に合致され、この切欠窓15の周囲にて
露光位置への位置決め部にセットされる。この状態で、
図示外の真空源を駆動して真空吸引すると、マスクホル
ダ10の真空吸着部13及びマスクベース11の真空吸
着部17内がそれぞれ真空吸引され、マスク3のパター
ン面側の周縁がマスクホルダ10の上面に吸着保持され
ると共に、上記マスクホルダ10の下面周縁がマスクベ
ース11の上面に吸着保持される。この結果、マスク3
が半導体基板5への露光位置に対して位置決め固定され
る。このとき、上記マスク3は回路パターン2が形成さ
れた面側において直接マスクホルダ10に吸着保持され
るので、ガラス基板1の厚さむらがあってもそれが拡大
されず、マスク3の回路パターン2が形成された面の平
坦度が保たれ、該マスク3を高精度に保持することがで
きる。
なお、上記のように位置決め固定されたマスク3を外す
には、図示外の真空源からの真空吸引を停止してそれぞ
れの部材の吸着保持を解除した後、マスクホルダ10を
ガイドローラ14によってマスクベース11上で矢印B
方向に後退させ、上記マスクホルダ10の待機位置にて
マスク3を上方に取り除けばよい。
には、図示外の真空源からの真空吸引を停止してそれぞ
れの部材の吸着保持を解除した後、マスクホルダ10を
ガイドローラ14によってマスクベース11上で矢印B
方向に後退させ、上記マスクホルダ10の待機位置にて
マスク3を上方に取り除けばよい。
本発明は以上のように構成されたので、マスクホルダ1
0の上面にてマスク載置部の周囲に設けられた真空吸着
部13でマスク3のパターン面側の周縁を吸着保持する
ことができると共に、上記マスクホルダ10の周辺部に
設けられた移動用部材(14)をマスクベース11の上
面にて該マスクホルダlOを露光位置に位置決めする部
分に設けられた凹所16,16.・・・に沈み込ませる
ことにより、マスクホルダ10の下面をマスクベース1
1の上面に接継させて該マスクホルダ10の周縁をマス
クベース11に設けられた真空吸着部17で吸着保持す
ることができる。従って、上記マスク3は回路パターン
2が形成された面側において直接マスクホルダ10に吸
着保持されることとなり、ガラス基板1の厚さむらがあ
っても従来のようにそれが拡大されることはなく、マス
ク3の回路パターン2が形成された面の平坦度を保つこ
とができる。このことから、半導体基板5との間のギャ
ップにバラツキが生ずることを防止してマスク3を高精
度に保持することができ、上記半導体基板5に対する回
路パターンの露光の精度を向上することができる。
0の上面にてマスク載置部の周囲に設けられた真空吸着
部13でマスク3のパターン面側の周縁を吸着保持する
ことができると共に、上記マスクホルダ10の周辺部に
設けられた移動用部材(14)をマスクベース11の上
面にて該マスクホルダlOを露光位置に位置決めする部
分に設けられた凹所16,16.・・・に沈み込ませる
ことにより、マスクホルダ10の下面をマスクベース1
1の上面に接継させて該マスクホルダ10の周縁をマス
クベース11に設けられた真空吸着部17で吸着保持す
ることができる。従って、上記マスク3は回路パターン
2が形成された面側において直接マスクホルダ10に吸
着保持されることとなり、ガラス基板1の厚さむらがあ
っても従来のようにそれが拡大されることはなく、マス
ク3の回路パターン2が形成された面の平坦度を保つこ
とができる。このことから、半導体基板5との間のギャ
ップにバラツキが生ずることを防止してマスク3を高精
度に保持することができ、上記半導体基板5に対する回
路パターンの露光の精度を向上することができる。
また、上記マスク3はマスクホルダ10の上面側に吸着
保持されるので、該マスクホルダ10に設けられた真空
吸着部13による真空吸着系統にトラブルが発生しても
、該マスク3はマスクホルダ10の周縁で機械的に支え
られ、マスク3の落下事故を防止することができる。
保持されるので、該マスクホルダ10に設けられた真空
吸着部13による真空吸着系統にトラブルが発生しても
、該マスク3はマスクホルダ10の周縁で機械的に支え
られ、マスク3の落下事故を防止することができる。
第1図は本発明によるマスク保持機構の実施例を示す断
面説明図、第2図はその平面説明図、第3図は従来のマ
スク保持機構を示す断面説明図である。 1・・・ガラス基板、 2・・・回路パターン、
3・・・マスク、 5・・・半導体基板、 10・・
・マスクホルダ、 11・・・マスクベース、 13
.17・・・真空吸着部、 14・・・ガイドローラ
(移動用部材)、16・・・凹所6 マス7、jI+シダ” 第1図 第3図 第2図 マス7ベ゛−ス +−辱傅暮穢
面説明図、第2図はその平面説明図、第3図は従来のマ
スク保持機構を示す断面説明図である。 1・・・ガラス基板、 2・・・回路パターン、
3・・・マスク、 5・・・半導体基板、 10・・
・マスクホルダ、 11・・・マスクベース、 13
.17・・・真空吸着部、 14・・・ガイドローラ
(移動用部材)、16・・・凹所6 マス7、jI+シダ” 第1図 第3図 第2図 マス7ベ゛−ス +−辱傅暮穢
Claims (1)
- ガラス基板に回路パターンが印刷されたマスクを保持す
るマスクホルダと、このマスクホルダを半導体基板への
露光位置に対して位置決め固定するマスクベースとを有
して成るマスク保持機構において、上記マスクホルダの
上面にてマスク載置部の周囲にはマスクのパターン面側
の周縁を吸着保持する真空吸着部を設けると共に、該マ
スクホルダの周辺部には移動用部材を設け、上記マスク
ベースの上面にてマスクホルダを露光位置に位置決めす
る部分には上記移動用部材が沈み込んでマスクホルダの
下面をマスクベースの上面に接触させる凹所を設けると
共に、上記位置決め部の周囲にはマスクホルダの周縁を
吸着保持する真空吸着部を設けたことを特徴とするマス
ク保持機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1096327A JP2807893B2 (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | マスク保持機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1096327A JP2807893B2 (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | マスク保持機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02276233A true JPH02276233A (ja) | 1990-11-13 |
| JP2807893B2 JP2807893B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=14161914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1096327A Expired - Lifetime JP2807893B2 (ja) | 1989-04-18 | 1989-04-18 | マスク保持機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2807893B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100314552B1 (ko) * | 1995-04-04 | 2001-11-15 | 시마무라 테루오 | 노광장치 및 노광장치 작동방법 |
| JP2013054343A (ja) * | 2011-08-10 | 2013-03-21 | Nsk Technology Co Ltd | 近接露光装置及び近接露光方法 |
-
1989
- 1989-04-18 JP JP1096327A patent/JP2807893B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100314552B1 (ko) * | 1995-04-04 | 2001-11-15 | 시마무라 테루오 | 노광장치 및 노광장치 작동방법 |
| JP2013054343A (ja) * | 2011-08-10 | 2013-03-21 | Nsk Technology Co Ltd | 近接露光装置及び近接露光方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2807893B2 (ja) | 1998-10-08 |
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