JPH02276942A - 光ファイバ導光器における伝送損失測定のための光反射方法 - Google Patents
光ファイバ導光器における伝送損失測定のための光反射方法Info
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- JPH02276942A JPH02276942A JP2023601A JP2360190A JPH02276942A JP H02276942 A JPH02276942 A JP H02276942A JP 2023601 A JP2023601 A JP 2023601A JP 2360190 A JP2360190 A JP 2360190A JP H02276942 A JPH02276942 A JP H02276942A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光フアイバ導光器に基づいて形成された通信線
における減衰率を測定するのに使用可能であるファイバ
オブチックス工学に関する。
における減衰率を測定するのに使用可能であるファイバ
オブチックス工学に関する。
〔従来技術および発明が解決しようとする課題〕光ファ
イバ導光器における伝送損失を測定するための光反射方
法が当業界で知られており（１９８８年５月３０日に認
可されたＵ、Ｓ、 Ｓ、 Ｒ，出願第４．２０４．７２
７号）、この方法は長さが所定種類の導光器の定常状態
モード分布の長さの半分である遊び導光器を通して検査
用光パルスを調査下の導光器に出力し、遊び導光器の出
力端面から反射されるパルスのエネルギＮ１を測定し、
遊び導光器の出力端面および調査下の導光器の入力端面
（これらの端面は互いから最小の間隔てへだてられてい
る）から反射されるパルスのエネルギＮ２を測定し、調
査下の導光器の出力端面から反射されるパルスのエネル
ギＮ３を測定し、調査下の導光器の単位長さあたりの伝
送損失μを定める諸工程よりなる。この方法はその工学
本質の点で本発明に最も関連した先行技術であると考え
られる。
イバ導光器における伝送損失を測定するための光反射方
法が当業界で知られており（１９８８年５月３０日に認
可されたＵ、Ｓ、 Ｓ、 Ｒ，出願第４．２０４．７２
７号）、この方法は長さが所定種類の導光器の定常状態
モード分布の長さの半分である遊び導光器を通して検査
用光パルスを調査下の導光器に出力し、遊び導光器の出
力端面から反射されるパルスのエネルギＮ１を測定し、
遊び導光器の出力端面および調査下の導光器の入力端面
（これらの端面は互いから最小の間隔てへだてられてい
る）から反射されるパルスのエネルギＮ２を測定し、調
査下の導光器の出力端面から反射されるパルスのエネル
ギＮ３を測定し、調査下の導光器の単位長さあたりの伝
送損失μを定める諸工程よりなる。この方法はその工学
本質の点で本発明に最も関連した先行技術であると考え
られる。
この公知の測定方法は、エアギャップを設けずに継ぎ合
された２つの導光器、または最小のエアギ丁ツブを形成
するように互いに継ぎ合された任意数の導光器の接合部
において、あるいはこれらの導光器がエアギャップを設
けず連続された個所において測定を行うことが不可能で
あるという欠点がある。
された２つの導光器、または最小のエアギ丁ツブを形成
するように互いに継ぎ合された任意数の導光器の接合部
において、あるいはこれらの導光器がエアギャップを設
けず連続された個所において測定を行うことが不可能で
あるという欠点がある。
従って、本発明の第１目的は最小のエアギ丁ツブを設け
て継ぎ合された任意数の導光器のうちの任意の１番目の
導光器における損失を測定可能にすることによって融通
性を高めることである。
て継ぎ合された任意数の導光器のうちの任意の１番目の
導光器における損失を測定可能にすることによって融通
性を高めることである。
本発明の第２目的は遊び導光器と調査下の導光器との間
の連結個所、従ってエアギャップを設けずに継ぎ合され
た任意のｉ−１番目の導光器と１番目の導光器との間の
連結個所における光伝送損失を測定することによって融
通性を更らに高めることである。
の連結個所、従ってエアギャップを設けずに継ぎ合され
た任意のｉ−１番目の導光器と１番目の導光器との間の
連結個所における光伝送損失を測定することによって融
通性を更らに高めることである。
上記第１目的は検査用光パルスを１番目の導光器に出力
し、１番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの
エネルギＮ、を測定し、最小のエアギャップを形成する
ように１番目および２番目の導光器を継ぎ合せ、更に１
番目の出力端面と、２番目の導光器の入力端面との間に
位置決めされたエアギャップから反射されたパルスのエ
ネルギＮ２を測定し、２番目の導光器の出力端面から反
射されたパルスのエネルギＮ３を測定し、式２式％（１
） （上記式中、ｆ２２は２番目の導光器の長さである）か
ら２番目の導光器における光反射損失を求める諸工程を
含む光フアイバ導光器における伝送損失測定のための光
反射方法において、 １−１番目の導光器の出力端面から反射される光パルス
の成分のエネルギすなわち全パワーが供する信号Ｎ、を
測定し、 最小のエアギャップを形成するように継ぎ合されたｉ−
１番目および１番目の導光器の端面から反射されるパル
スの成分のエネルギすなわち全パワーが供する信号Ｎ２
を測定し、 ｉ番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの成分
のエネルギすなわち全パワーが供する信号Ｎ３を測定し
、式（１）から長さβ１のｉ番目の導光器全体にわたる
光伝送損失μを定めた後、エアギャップを設けずにｉ−
１番の導光器とｉ番目の導光器とを連結し、かくして形
成された一体導光器の出力端面から反射されるパルスの
成分のエネルギすなわち全パワーＮ４を測定し、式（上
記式中、τ１は１番目の接合部の伝送率である） から１番目の接合部における光伝送損失に１を定めるこ
とを特徴とする方法により達成される。
し、１番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの
エネルギＮ、を測定し、最小のエアギャップを形成する
ように１番目および２番目の導光器を継ぎ合せ、更に１
番目の出力端面と、２番目の導光器の入力端面との間に
位置決めされたエアギャップから反射されたパルスのエ
ネルギＮ２を測定し、２番目の導光器の出力端面から反
射されたパルスのエネルギＮ３を測定し、式２式％（１
） （上記式中、ｆ２２は２番目の導光器の長さである）か
ら２番目の導光器における光反射損失を求める諸工程を
含む光フアイバ導光器における伝送損失測定のための光
反射方法において、 １−１番目の導光器の出力端面から反射される光パルス
の成分のエネルギすなわち全パワーが供する信号Ｎ、を
測定し、 最小のエアギャップを形成するように継ぎ合されたｉ−
１番目および１番目の導光器の端面から反射されるパル
スの成分のエネルギすなわち全パワーが供する信号Ｎ２
を測定し、 ｉ番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの成分
のエネルギすなわち全パワーが供する信号Ｎ３を測定し
、式（１）から長さβ１のｉ番目の導光器全体にわたる
光伝送損失μを定めた後、エアギャップを設けずにｉ−
１番の導光器とｉ番目の導光器とを連結し、かくして形
成された一体導光器の出力端面から反射されるパルスの
成分のエネルギすなわち全パワーＮ４を測定し、式（上
記式中、τ１は１番目の接合部の伝送率である） から１番目の接合部における光伝送損失に１を定めるこ
とを特徴とする方法により達成される。
本発明の第２目的を達成するために、長さｌの調査下の
導光器における光伝送損失μを定めたとき、エアギャッ
プを設けずに遊び導光器と調査下の導光器とを継ぎ合せ
、かくして形成された一体導光器の出力端面から反射さ
れるパルスのエネルギすなわち全パワーＮ、を測定し、
式 ％式％ から接合部における光損失Ｋを定めることが提案される
。
導光器における光伝送損失μを定めたとき、エアギャッ
プを設けずに遊び導光器と調査下の導光器とを継ぎ合せ
、かくして形成された一体導光器の出力端面から反射さ
れるパルスのエネルギすなわち全パワーＮ、を測定し、
式 ％式％ から接合部における光損失Ｋを定めることが提案される
。
本発明の上記特徴はこれまで利用されておらず、また知
られてもいなかったので、本発明は世界基準で新規であ
るとみなすことができる。
られてもいなかったので、本発明は世界基準で新規であ
るとみなすことができる。
最小のエアギャップを形成するように継ぎ合された任意
数の導光器のうちの任意のｉ番目の導光器内の損失、お
よびｉ−１番目および１番目の導光器のエアギャップの
ない接合部（ｉ番目の接合部）個所における損失を測定
する方法はり、 ｉ−を個の接続導光器を通って前方
および後方に進み、１番目の導光器の出力端面から反射
されたパルスの成分のエネルギすなわち全パワーを測定
し、 ２、 最小のエアギャップを形成するように１−１番目
の導光器と１番目の導光器とを連結し、これらの導光器
間のエアギャップから反射されたパルスの成分のエネル
ギすなわち全パワーＮ２を測定し、 ３、ｉ番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの
エネルギすなわち全パワーＮ３を測定し、４、式 ％式％（４） から導光器内の全光伝送損失を定め、 ５、 エアギャップを設けずに１番目の導光器と１番目
の導光器とを連結し、 ６、かくして形成された一体導光器の出力端面から反射
されたパルスの成分のエネルギすなわち全パワーＮ４を
測定し、 ７、式（２）から１番目の接合部内の損失を定める相関
諸工程よりなる。
数の導光器のうちの任意のｉ番目の導光器内の損失、お
よびｉ−１番目および１番目の導光器のエアギャップの
ない接合部（ｉ番目の接合部）個所における損失を測定
する方法はり、 ｉ−を個の接続導光器を通って前方
および後方に進み、１番目の導光器の出力端面から反射
されたパルスの成分のエネルギすなわち全パワーを測定
し、 ２、 最小のエアギャップを形成するように１−１番目
の導光器と１番目の導光器とを連結し、これらの導光器
間のエアギャップから反射されたパルスの成分のエネル
ギすなわち全パワーＮ２を測定し、 ３、ｉ番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの
エネルギすなわち全パワーＮ３を測定し、４、式 ％式％（４） から導光器内の全光伝送損失を定め、 ５、 エアギャップを設けずに１番目の導光器と１番目
の導光器とを連結し、 ６、かくして形成された一体導光器の出力端面から反射
されたパルスの成分のエネルギすなわち全パワーＮ４を
測定し、 ７、式（２）から１番目の接合部内の損失を定める相関
諸工程よりなる。
本発明の利点は、互いに継ぎ合された任意数の導光器の
うちの任意の１番目の導光器における光伝送損失、なら
びにエアギャップを設けずに連結された１−１番目およ
び１番目の導光器間の接合部における光伝送損失を測定
することができるという点にある。大きさの程度により
、散乱されるよりも多くの光線が低光損失を示す高品質
の導光器の端面から反射されるため、動的測定範囲がよ
り高い損失の方へ、従ってファイバオブチッタス通信線
のより長い部分の方へ可成り増大される。
うちの任意の１番目の導光器における光伝送損失、なら
びにエアギャップを設けずに連結された１−１番目およ
び１番目の導光器間の接合部における光伝送損失を測定
することができるという点にある。大きさの程度により
、散乱されるよりも多くの光線が低光損失を示す高品質
の導光器の端面から反射されるため、動的測定範囲がよ
り高い損失の方へ、従ってファイバオブチッタス通信線
のより長い部分の方へ可成り増大される。
そうすると、エアギャップのない導光器接合部における
損失の測定は全導光器線を試験するのに用いられる同一
安定モード分布で行なわれる。
損失の測定は全導光器線を試験するのに用いられる同一
安定モード分布で行なわれる。
エアギャップを設けずに導光器の接合部における光伝送
損失を測定する方法は下記の相関工程よりなる。
損失を測定する方法は下記の相関工程よりなる。
■、長さβの調査下の導光器内の損失μを測定した後、
エアギャップを設けずに接続遊び導光器と調査下の導光
器とを連結し； ２、かくして形成された一体導光器の出力端面から反射
されたパルスのエネルギすなわち全パワー Ｎ ４を測
定し； ３、式（３）から接合部における光伝送損失Ｋを定める
。
エアギャップを設けずに接続遊び導光器と調査下の導光
器とを連結し； ２、かくして形成された一体導光器の出力端面から反射
されたパルスのエネルギすなわち全パワー Ｎ ４を測
定し； ３、式（３）から接合部における光伝送損失Ｋを定める
。
この方法の利点は、調査下の導光器内の伝送損失の測定
とともに、遊び導光器、従って任意の導光器との間のエ
アギャップのない接合部における損失を定量的に測定し
、遊び導光器による安定セード分布に相当する同一光伝
播条件でこれらの測定を行うことができるという点にあ
る。
とともに、遊び導光器、従って任意の導光器との間のエ
アギャップのない接合部における損失を定量的に測定し
、遊び導光器による安定セード分布に相当する同一光伝
播条件でこれらの測定を行うことができるという点にあ
る。
一般特徴： 接合領域の二重測定を行うため、通過光で
行う測定と比較して、接合部における光伝送損失に対す
る感度を２倍にすることができる。
行う測定と比較して、接合部における光伝送損失に対す
る感度を２倍にすることができる。
この装置は放射光源１と、入射／反射光線用のスピリッ
タく分枝装置）２と、反射信号レシーバ３と、ファイバ
オブチックス線を形成するように継ぎ合された導光器４
と、ｉ−１番目の導光器５と、ｉ番目の導光器６と、ｉ
−１番目の導光器とｉ番目の導光器との間の接合領域７
とを備えている。
タく分枝装置）２と、反射信号レシーバ３と、ファイバ
オブチックス線を形成するように継ぎ合された導光器４
と、ｉ−１番目の導光器５と、ｉ番目の導光器６と、ｉ
−１番目の導光器とｉ番目の導光器との間の接合領域７
とを備えている。
本発明は次の如〈実施される。
本発明の工学本質を良く理解するために、まず２つの継
ぎ合された導光器の場合に光伝送損失を測定する方法を
考察してみる（第１図）。
ぎ合された導光器の場合に光伝送損失を測定する方法を
考察してみる（第１図）。
遊び導光器４の出力端面から反射されたパルスのエネル
ギすなわち全パワーＮ（、遊び導光器４と調査下の導光
器５の接続端部間のエアギャップから反射されたパルス
のエネルギすなわち全パワーＮ２および調査下の導光器
５の８刃端面から反射されたパルスのエネルギすなわち
全パワーＮ３を測定した後、式 ％式％（５） （上記式中、βは調査下の導光器の長さである）かろこ
の導光器５における全光伝送損失μｌを測定する。
ギすなわち全パワーＮ（、遊び導光器４と調査下の導光
器５の接続端部間のエアギャップから反射されたパルス
のエネルギすなわち全パワーＮ２および調査下の導光器
５の８刃端面から反射されたパルスのエネルギすなわち
全パワーＮ３を測定した後、式 ％式％（５） （上記式中、βは調査下の導光器の長さである）かろこ
の導光器５における全光伝送損失μｌを測定する。
その後、エアギャップを設けずに導光器４．５を連結す
る。かくして形成された一体導光器４−５の出力端面か
ら反射されたパルスのエネルギすなわち全パワーＮ４を
測定する。これは下記式に等しい。
る。かくして形成された一体導光器４−５の出力端面か
ら反射されたパルスのエネルギすなわち全パワーＮ４を
測定する。これは下記式に等しい。
Ｎ ４ ＝Ｃｏｎｓｔφｅｘｐ （−２μＸＩＸ）ｒ
”ｅｘｐ（−２ｔｔ ｌ ｐ （６）（上記式中、係
数［ｏｎｓｔはレシーバ３の感度と、前進および反射光
線用のスプリッタ２の伝送係数との特性であり、 φは源１からの光パルスのエネルギすなわち全パワーで
あり、 μＭＪｅＮは導光器４内の全光減衰量であり、μ１１は
調査下の導光器５内の全光減衰量である。） 信号Ｎ ｌ 、Ｎ２ 、Ｎ：ｌが夫々、式％式％（７） に等しく、調査下の導光器内の光法送損失を式により定
めるとき、式（６）、（７）から下記式を得て下記の如
く接合部における損失を確めることができる。
”ｅｘｐ（−２ｔｔ ｌ ｐ （６）（上記式中、係
数［ｏｎｓｔはレシーバ３の感度と、前進および反射光
線用のスプリッタ２の伝送係数との特性であり、 φは源１からの光パルスのエネルギすなわち全パワーで
あり、 μＭＪｅＮは導光器４内の全光減衰量であり、μ１１は
調査下の導光器５内の全光減衰量である。） 信号Ｎ ｌ 、Ｎ２ 、Ｎ：ｌが夫々、式％式％（７） に等しく、調査下の導光器内の光法送損失を式により定
めるとき、式（６）、（７）から下記式を得て下記の如
く接合部における損失を確めることができる。
ｒ２ｅｙ、ｐ （−２μｎ＞ ＝
Ｑｌ）導光器接合部における光（云送損失Ｋを式α
Ｏおよび０１）から、あるいは次の如く式（６）〜ＯＤ
から以下のようにして直接窓めることができ、 あるいはｄＢ Ｋ ＝１０ Ａｇ −＝１０ ｆｇＮ＋＋５ ｆｇＮｚ
−１０βｇ （Ｎ ２ Ｎ Ｉ）τ ５！ｇＮ＜ α■ ｅＸｐ（−２μｆり ρ で表わすことができくこの際、式 から、信号Ｎ３の測定直後に損失μ！を定めである）、
あるいはｄＢ ＝ （−４，３４３μｆ）（５ＡｇＮ、−５ｎｇＮ＋
） ＱＳＩで表わすことができる。
Ｑｌ）導光器接合部における光（云送損失Ｋを式α
Ｏおよび０１）から、あるいは次の如く式（６）〜ＯＤ
から以下のようにして直接窓めることができ、 あるいはｄＢ Ｋ ＝１０ Ａｇ −＝１０ ｆｇＮ＋＋５ ｆｇＮｚ
−１０βｇ （Ｎ ２ Ｎ Ｉ）τ ５！ｇＮ＜ α■ ｅＸｐ（−２μｆり ρ で表わすことができくこの際、式 から、信号Ｎ３の測定直後に損失μ！を定めである）、
あるいはｄＢ ＝ （−４，３４３μｆ）（５ＡｇＮ、−５ｎｇＮ＋
） ＱＳＩで表わすことができる。
ｎ個の導光器を継ぎ合せる場合、本発明による方法を次
の如く行う。
の如く行う。
エネルギすなわち全パワーφを有する光パルスを放射光
源１からスプリッタ２を通して導光器４に供給し、ｉ−
１番目の導光器５ （第２ａ図）の出力端部から反射さ
れたパルスにより生じられる信号Ｎ、をレシーバ３の助
けにより測定する。
源１からスプリッタ２を通して導光器４に供給し、ｉ−
１番目の導光器５ （第２ａ図）の出力端部から反射さ
れたパルスにより生じられる信号Ｎ、をレシーバ３の助
けにより測定する。
（上記式中、τ３．２；τ２，３は前進および後進光用
のスプリッタの伝送率であり、 τ４は光学線の伝送率であり、 ｒ、はｉ−１番目の伝送率であり、 ρは端面の反射率である。） その後、最小のエアギャップを形成するように１−１番
目の導光器とｉ番目の導光器とを連結する。導光器５．
６間のエアギャップから反射される全パルスが供する信
号 およびｉ−１番目の導光器６のａカ端面がら反射される
パルスが供する信号 を次々に測定する。
のスプリッタの伝送率であり、 τ４は光学線の伝送率であり、 ｒ、はｉ−１番目の伝送率であり、 ρは端面の反射率である。） その後、最小のエアギャップを形成するように１−１番
目の導光器とｉ番目の導光器とを連結する。導光器５．
６間のエアギャップから反射される全パルスが供する信
号 およびｉ−１番目の導光器６のａカ端面がら反射される
パルスが供する信号 を次々に測定する。
式００〜０８）から、調査下の１番目の導光器内の伝送
損失μｍｆｌを定めることができる。
損失μｍｆｌを定めることができる。
Ｎ、Ｎ。
ｅｙ、ｐ （２μ＋ｌ＋） ＝
Ｑ！１０（Ｎ２−Ｎ、）２ 次いで、エアギャップを設けずに導光器５．６を連結す
る（第２ｃ図）。かくして形成された一体導光器５−６
の出力端面から反射されるパルスが供する信号Ｎ４を測
定する。
Ｑ！１０（Ｎ２−Ｎ、）２ 次いで、エアギャップを設けずに導光器５．６を連結す
る（第２ｃ図）。かくして形成された一体導光器５−６
の出力端面から反射されるパルスが供する信号Ｎ４を測
定する。
Ｎ、＝Ｃｏｎｓｔφｒｌ、２＝２，３ｒ４ｒ５ｒ１ｅＸ
ｐ＜２μ＃＋’）（’ Ｑ！Ｊ）導光器５−６の接合
部７の伝送率ｒ１を式００および（至）から求めること
ができ、 ＝ ｒ Ｌ ｅＸｐ （２μ＋ ’２ ＋）
（２１）あるいは、ｉ−１番目の導光器とｉ番目の
導光器との間の接合部における光伝送損失Ｋを定めるこ
とができ、 あるいはｄＢ −（−４，３４３μ１ｌｌ）（５βｇＮ＋ ５ ｊｉ
’ｇＮ４）で表わすことができる。
ｐ＜２μ＃＋’）（’ Ｑ！Ｊ）導光器５−６の接合
部７の伝送率ｒ１を式００および（至）から求めること
ができ、 ＝ ｒ Ｌ ｅＸｐ （２μ＋ ’２ ＋）
（２１）あるいは、ｉ−１番目の導光器とｉ番目の
導光器との間の接合部における光伝送損失Ｋを定めるこ
とができ、 あるいはｄＢ −（−４，３４３μ１ｌｌ）（５βｇＮ＋ ５ ｊｉ
’ｇＮ４）で表わすことができる。
であることは式Ｑ６）〜（至）から推定することができ
、あるいはｄＢ に１＝１０１！ｇ ＝ｌＯｊｌ！ｇＮ＋＋５ｊ’ｇＮ
ｚ １０βｇ（Ｎ２−ｒ’Ｌ）τ１ ５１ｇＮ４ （２５）で表
わすことができる。
、あるいはｄＢ に１＝１０１！ｇ ＝ｌＯｊｌ！ｇＮ＋＋５ｊ’ｇＮ
ｚ １０βｇ（Ｎ２−ｒ’Ｌ）τ１ ５１ｇＮ４ （２５）で表
わすことができる。
導光器における光伝送損失を定める際、導光器の前に位
置決めされたファイバオプチックス通信線の要素すべて
を変化不可能な定常状態位置で光パルスにより検査して
いるとき、式αつに従う損失μ、の測定の精度は反射パ
ルスのエネルギパラメータΔＮを測定する精度と、導光
器の長さ！、とによって定められる。
置決めされたファイバオプチックス通信線の要素すべて
を変化不可能な定常状態位置で光パルスにより検査して
いるとき、式αつに従う損失μ、の測定の精度は反射パ
ルスのエネルギパラメータΔＮを測定する精度と、導光
器の長さ！、とによって定められる。
Ｎ；△（Ｎ２−Ｎ＋）ミ△Ｎ３ミ△Ｎ、ミ△Ｎ （
２６）である場合、弐〇９）を微分すると、 Δμｍ＝（２△Ｎ／Ｎ）（１／βｔ） （２７）
が得られる。
２６）である場合、弐〇９）を微分すると、 Δμｍ＝（２△Ｎ／Ｎ）（１／βｔ） （２７）
が得られる。
従って、導光器における光損失を定める精度は信号ΔＮ
／Ｎを測定する際の２倍の相対誤差により定められる。
／Ｎを測定する際の２倍の相対誤差により定められる。
ΔＮ ／ Ｎ ＝±０．１％である場合、△μ１ｆｌ＝
±０．０１ｄＢ、βｒ ＝ ０．１ ｋｍである場合で
も、Δμｍ＝土０．０１ ｄＢ ； ｌ＝ １０ｋｍで
ある場合、Δμ、＝±Ｏ，０Ｏ１ｄＢである。
±０．０１ｄＢ、βｒ ＝ ０．１ ｋｍである場合で
も、Δμｍ＝土０．０１ ｄＢ ； ｌ＝ １０ｋｍで
ある場合、Δμ、＝±Ｏ，０Ｏ１ｄＢである。
ｉ−１番目の導光器と１番目の導光器との間の接合部に
おける損失の測定精度は式（２１）による信号Ｎ ＋
、Ｎ４の測定精度と、式（２４）から推定することがで
きるように全損失μｍＡＩを定める精度とによって定め
られる。
おける損失の測定精度は式（２１）による信号Ｎ ＋
、Ｎ４の測定精度と、式（２４）から推定することがで
きるように全損失μｍＡＩを定める精度とによって定め
られる。
または
Ｎ
誤差の通常の大きさΔＮ／Ｎ＝０．１％の場合、誤差Δ
に／に＝±０．０１３ｄＢ＜±０．１５ ｃｊ Ｂであ
る。
に／に＝±０．０１３ｄＢ＜±０．１５ ｃｊ Ｂであ
る。
実施上では、敗乱持性の再現のみが±０．１−〇、 ２
ｄ Ｂの程度である場合、反射率計を使用して散乱光
測定を行うときには、かかる精度を達成することができ
ない。
ｄ Ｂの程度である場合、反射率計を使用して散乱光
測定を行うときには、かかる精度を達成することができ
ない。
通過光測定方法と比較して、本発明による方法によれば
、測定精度を２倍はど向上させることができ、これは光
束が導光器接合部を２回通ることにより達成される。
、測定精度を２倍はど向上させることができ、これは光
束が導光器接合部を２回通ることにより達成される。
本発明は、ファイバオブチッタス通信線の構成、修理お
よび保守の途中で利用することができる。
よび保守の途中で利用することができる。
第１図は２つの継ぎ合された導光器について本発明によ
る方法を実施するための装置を示す図；第２図はｎ個の
継ぎ合された導光器について上記方法を実施するための
装置を示す図である。 １・・・放射光線 ２・・・入射光線および反射光線用のスプリッタ（分岐
装置） ３・・・反射信号のレシーバ ４・・・ファイバオブチックス線を形成するように継ぎ
合された導光器 ５・・・ｉ−１番目の導光器 ６・・・ｉ番目の導光器 ７・・・ｉ−１番目の導光器とｉ番目の導光器との間の
接合領域 Ｆ／に、／
る方法を実施するための装置を示す図；第２図はｎ個の
継ぎ合された導光器について上記方法を実施するための
装置を示す図である。 １・・・放射光線 ２・・・入射光線および反射光線用のスプリッタ（分岐
装置） ３・・・反射信号のレシーバ ４・・・ファイバオブチックス線を形成するように継ぎ
合された導光器 ５・・・ｉ−１番目の導光器 ６・・・ｉ番目の導光器 ７・・・ｉ−１番目の導光器とｉ番目の導光器との間の
接合領域 Ｆ／に、／
Claims (2)
- （１）検査用光パルスを１番目の導光器に出力し、１番
目の導光器の出力端面から反射されるパルスのエネルギ
Ｎ＿１を測定し、最小のエアギャップを形成するように
１番目および２番目の導光器を継ぎ合せ、更らに１番目
および２番目の導光器の出力端面と入力端面との間に位
置決めされたエアギャップから反射されるパルスのエネ
ルギＮ＿２を測定し、２番目の出力端面から反射された
パルスのエネルギＮ＿３を測定し、式２μｌ＿２＝２ｌ
＿ｎ（Ｎ＿２−Ｎ＿１）−ｌ＿ｎＮ＿１−ｌ＿ｎＮ＿３
（１）から２番目の導光器における伝送損失を定める諸
工程の含む光ファイバ導光器における伝送損失測定のた
めの光反射方法において、最小のエアギャップを形成す
るように継ぎ合された任意数の導光器のうちの任意のｉ
番目の導光器およびエアギャップを設けずに継ぎ合され
たｉ−１番目の導光器とｉ番目の導光器との間の接合部
（ｉ番目の接合部）における損失を測定可能にすること
により融通性を高めるために、ｉ−１番目の導光器の出
力端面から反射された放射線パルスの成分のエネルギす
なわち全パワーからの信号Ｎ＿１を測定し、最小のエア
ギャップを形成するように継ぎ合されたｉ−１番目およ
びｉ番目の導光器の端面から反射されたパルスの成分の
エネルギすなわち全パワーからの信号Ｎ＿２を測定し、
ｉ番目の導光器の出力端面から反射されたパルスの成分
のエネルギすなわち全パワーからの信号Ｎ＿３を測定し
、長さｌのｉ番目の導光器全体内の伝送損失μ＿ｉを式
（１）から定めた後、ｉ−１番目およびｉ番目の導光器
をエアギャップなしに連結し、かくして形成された一体
導光器の出力端面から反射されたパルスの成分のエネル
ギすなわち全パワーＮ＿４を測定し、式Ｋ＿ｉ＝１０ｌ
ｇ（１／τ＿ｉ）＝（−４．３４３μ＿ｉｌ＿ｉ）（５
ｌｇＮ＿１−５ｌｇＮ＿４）＝１０ｌｇＮ＿１−１０ｌ
ｇ（Ｎ＿２−Ｎ＿１）＋５ｌｇＮ＿３−５ｌｇＮ＿４（
上記式中、τ＿ｉ＝ｉ番目の接合部についての伝送率、
ｌ＿２＝２番目の導光器の長さ） からｉ番目の接合部内の損失Ｋを定めることを特徴とす
る方法。 - （２）エアギャップを設けずに導光器間の接合部におけ
る光伝送損失を測定可能にすることによって融通性を高
めるために、調査下の長さｌの導光器における伝送損失
μを定めた後、遊び導光器および調査下の導光器をエア
ギャップを設けずに継ぎ合せ、かくして形成された一体
導光器の出力端面から反射されたパルスのエネルギすな
わち全パワーＮ＿４を測定し、式 Ｋ＝１０ｌｇ（１／τ）＝（−４．３４３μｌ）（５ｌ
ｇＮ＿１−５ｌｇＮ＿４）＝１０ｌｇＮ＿１−ｌｇ（Ｎ
＿２−Ｎ＿１）＋５ｌｇＮ＿５−５ｌｇＮ＿４から接合
部における光伝送損失Ｋを測定することを特徴とする請
求項（１）記載の光ファイバ導光器における伝送損失測
定のための光反射方法。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU4688093 | 1989-02-01 | ||
| SU4688091 | 1989-02-01 | ||
| SU4688093 | 1989-02-01 | ||
| SU4688091 | 1989-02-01 |
Publications (1)
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|---|---|
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Family
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Family Applications (1)
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| JP (1) | JPH02276942A (ja) |
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| FR2597986B1 (fr) * | 1986-04-28 | 1990-09-21 | Foucault Marc | Dispositif a coupleur optique, pour calibrer ou etalonner un reflectometre, systeme d'echometrie et procedes de caracterisation d'un coupleur et de mesure d'attenuations utilisant ce dispositif |
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-
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- 1990-01-31 ES ES9000281A patent/ES2020417A6/es not_active Expired - Lifetime
- 1990-01-31 BR BR909000410A patent/BR9000410A/pt unknown
- 1990-02-01 US US07/472,375 patent/US5226102A/en not_active Expired - Fee Related
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- 1990-02-01 AU AU48983/90A patent/AU4898390A/en not_active Withdrawn
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