JPH0227848A - イミュニティ試験回路 - Google Patents
イミュニティ試験回路Info
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- JPH0227848A JPH0227848A JP63178377A JP17837788A JPH0227848A JP H0227848 A JPH0227848 A JP H0227848A JP 63178377 A JP63178377 A JP 63178377A JP 17837788 A JP17837788 A JP 17837788A JP H0227848 A JPH0227848 A JP H0227848A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はイミユニティ（ｉ＋ｕｉｕｎｔ ｔｙ）試験回
路に関し、互いに通信を行なうような関係にあり、共通
電位点（例えば大地）を基準として動作する少なくとも
一対の通信装置につき、例えば雑音耐力等の試験を行な
うべき一方の通信装置を被試験通信装置、他方の通信装
置を対向通信装置として、被試験通信装置につながる通
信線と共通電位点（例えば大地）との間に電圧を印加し
、通信装置で発生するディジタル伝送の符号誤り等の伝
送品質劣化や誤動作等の試験を行なうためのイミユニテ
ィ試験回路に関するものである。
路に関し、互いに通信を行なうような関係にあり、共通
電位点（例えば大地）を基準として動作する少なくとも
一対の通信装置につき、例えば雑音耐力等の試験を行な
うべき一方の通信装置を被試験通信装置、他方の通信装
置を対向通信装置として、被試験通信装置につながる通
信線と共通電位点（例えば大地）との間に電圧を印加し
、通信装置で発生するディジタル伝送の符号誤り等の伝
送品質劣化や誤動作等の試験を行なうためのイミユニテ
ィ試験回路に関するものである。
従来から、通信装置の運用前に（例えば機器の開発段階
９機器設置前等）、一方の被試験通信装置となる機器か
ら例えばある特定のパターンを他方の対向通信装置とな
る機器に対して伝送し、その間でのディジタル伝送の符
号誤り等を検証して、通信装置１通信線における伝送品
質劣化や誤動作等の試験を行なうことがあった。そのよ
うな動作試験が、雑音に対してどの程度まで行ない得る
かつまり通信装置の機器耐力を調べるためにイミユニテ
ィ試験は行なわれるものであった。
９機器設置前等）、一方の被試験通信装置となる機器か
ら例えばある特定のパターンを他方の対向通信装置とな
る機器に対して伝送し、その間でのディジタル伝送の符
号誤り等を検証して、通信装置１通信線における伝送品
質劣化や誤動作等の試験を行なうことがあった。そのよ
うな動作試験が、雑音に対してどの程度まで行ない得る
かつまり通信装置の機器耐力を調べるためにイミユニテ
ィ試験は行なわれるものであった。
そのようなイミユニティ試験を行なう際に、被試験通信
装置につながる通信線と大地との間にイミユニティ試験
用の電圧（疑僚的な雑音源）を印加する回路としては、
第９図に示すようなものがあった。ここで、被試験通信
装置１１とこれと対向して通信を行なう対向通信装置１
３との間の通信線１５が２導体の場合であり、該通信線
１５のそれぞれには対向通信装置１３側にてコモンモー
トチツークコイル１７が挿入されている。２つの通信線
１５の間に電圧注入コイル２０を挿入し、該電圧注入コ
イル２０を形成する中点タップ付きコイル２１の中点２
３と大地との間で電圧発生装置２５によってイミユニテ
ィ試験用の電圧を印加する回路である。この試験用の電
圧としては、正弦波の交流電圧、振幅変調あるいは周波
数変調された信号電圧、サージ電圧等がある。
装置につながる通信線と大地との間にイミユニティ試験
用の電圧（疑僚的な雑音源）を印加する回路としては、
第９図に示すようなものがあった。ここで、被試験通信
装置１１とこれと対向して通信を行なう対向通信装置１
３との間の通信線１５が２導体の場合であり、該通信線
１５のそれぞれには対向通信装置１３側にてコモンモー
トチツークコイル１７が挿入されている。２つの通信線
１５の間に電圧注入コイル２０を挿入し、該電圧注入コ
イル２０を形成する中点タップ付きコイル２１の中点２
３と大地との間で電圧発生装置２５によってイミユニテ
ィ試験用の電圧を印加する回路である。この試験用の電
圧としては、正弦波の交流電圧、振幅変調あるいは周波
数変調された信号電圧、サージ電圧等がある。
この回路において、コモンモードチロ−クコイル１７を
通信線１５に間挿するのは、本来イミユニティ試験を行
なう被試験通信装置１１のみならず対向通信装置１３に
も同じ電圧が印加されてしまうので、当該対向通信装置
１３に印加される電圧を低減させるためである。
通信線１５に間挿するのは、本来イミユニティ試験を行
なう被試験通信装置１１のみならず対向通信装置１３に
も同じ電圧が印加されてしまうので、当該対向通信装置
１３に印加される電圧を低減させるためである。
第１０図に別な従来例を示す、この回路でも、第９図の
場合と同様に、２つの通信装置をつなぐ通信線１５が２
導体の場合であり、被試験通信装置１１とこれと対向し
て通信を行なう対向通信装置、１３との間に結合トラン
ス２６を設け、この結合トランス２６の二次巻線２７ｇ
をそれぞれの通信線１５に挿入し、結合トランス２６の
一次巻線２７１に電圧発生装置２５によりイミユニティ
試験用に電圧を印加する回路である。この回路でも、対
向通信装置１３に印加される電圧を低減させるようにコ
モンモードチョークコイル１７を挿入している。
場合と同様に、２つの通信装置をつなぐ通信線１５が２
導体の場合であり、被試験通信装置１１とこれと対向し
て通信を行なう対向通信装置、１３との間に結合トラン
ス２６を設け、この結合トランス２６の二次巻線２７ｇ
をそれぞれの通信線１５に挿入し、結合トランス２６の
一次巻線２７１に電圧発生装置２５によりイミユニティ
試験用に電圧を印加する回路である。この回路でも、対
向通信装置１３に印加される電圧を低減させるようにコ
モンモードチョークコイル１７を挿入している。
しかしながら、上述した第９図に示す従来回路にあって
は、イミユニティ試験を行なう際に、対向通信装置１３
に印加される電圧の影響を軽減するために、コモンモー
トチツークコイル１７を挿入しているが、そのコモンモ
ードチョークコイル１７は高周波では電圧を低減できる
が、低周波ではその効果が少ない、そのため、対向通信
装置１３の機器耐力が低い場合には、対向通信装置１３
で符号誤りや誤動作が生じ、正確な試験ができないとい
う問題点があった。
は、イミユニティ試験を行なう際に、対向通信装置１３
に印加される電圧の影響を軽減するために、コモンモー
トチツークコイル１７を挿入しているが、そのコモンモ
ードチョークコイル１７は高周波では電圧を低減できる
が、低周波ではその効果が少ない、そのため、対向通信
装置１３の機器耐力が低い場合には、対向通信装置１３
で符号誤りや誤動作が生じ、正確な試験ができないとい
う問題点があった。
また、第１θ図に示す回路にあっても、対向通信装置１
３に印加される電圧を低減させるようにコモンモードチ
ョークコイル１７を挿入しているが、低周波では第９図
の回路と同様に効果が小さい。そのため、対向通信装置
１３の機器耐力が低い場合には、対向通信装置１３で符
号誤り、誤動作が生じ、被試験通信装置１１の機器耐力
を正しく評価できないという問題点があった。
３に印加される電圧を低減させるようにコモンモードチ
ョークコイル１７を挿入しているが、低周波では第９図
の回路と同様に効果が小さい。そのため、対向通信装置
１３の機器耐力が低い場合には、対向通信装置１３で符
号誤り、誤動作が生じ、被試験通信装置１１の機器耐力
を正しく評価できないという問題点があった。
第１０図の従来回路において、例えばある回路定数を定
めた場合における印加電圧の特性を測定した結果を第１
１図に示す。ここで、第１０図に示す回路の電圧発生装
置２５による印加電圧ｖ０をＱ印、被試験通信装置１１
にかかる電圧■１をＸ印、共通接続点Ｂ（コモンモード
チョークコイル１７）にかかる電圧ｖｚをΔ印、対向通
信装置１３にかかる電圧Ｖ、を口印にてそれぞれ示す。
めた場合における印加電圧の特性を測定した結果を第１
１図に示す。ここで、第１０図に示す回路の電圧発生装
置２５による印加電圧ｖ０をＱ印、被試験通信装置１１
にかかる電圧■１をＸ印、共通接続点Ｂ（コモンモード
チョークコイル１７）にかかる電圧ｖｚをΔ印、対向通
信装置１３にかかる電圧Ｖ、を口印にてそれぞれ示す。
ここで、共通接続点Ｂにかかる電圧ｖ２は電圧発生装置
２５から供給した電圧ｖ０とほぼ等しく、被試験通信装
置１１に印加される電圧Ｖｌと同等の電圧がコモンモー
ドチョークコイル１７に印加される。このようにコモン
モードチョークコイル１７にかかる電圧に対して、該コ
モンモードチョークコイル１７の効果は数百ｋＨｚ以下
では殆どない。そのため、対向通信装置１３の機器耐力
が小さい場合には、符号誤り、誤動作などが起こる可能
性があった。
２５から供給した電圧ｖ０とほぼ等しく、被試験通信装
置１１に印加される電圧Ｖｌと同等の電圧がコモンモー
ドチョークコイル１７に印加される。このようにコモン
モードチョークコイル１７にかかる電圧に対して、該コ
モンモードチョークコイル１７の効果は数百ｋＨｚ以下
では殆どない。そのため、対向通信装置１３の機器耐力
が小さい場合には、符号誤り、誤動作などが起こる可能
性があった。
本発明は、このような点にかんがみて創作されたもので
あり、符号誤り、誤動作の発生しないレベルに対向通信
装置に印加される電圧を抑えて、被試験通信装置のみの
機器耐力を正確に測定できるようにしたイミユニティ試
験回路を提供することを目的としている。
あり、符号誤り、誤動作の発生しないレベルに対向通信
装置に印加される電圧を抑えて、被試験通信装置のみの
機器耐力を正確に測定できるようにしたイミユニティ試
験回路を提供することを目的としている。
（ｉ 端末１１による 日
上述した目的を達成するために、請求項１記載の発明に
あっては、互いに通信を行なうような関係にある少なく
とも一対の通信装置につき、所望の試験を行なうべき一
方の通信装置を被試験通信装置、他方の通信装置を対向
通信装置とするイミユニティ試験回路において、一対の
通信装置の間に介在する通信線の２導体のそれぞれにコ
モンモードチョークコイルを挿入し、該コモンモードチ
ョークコイルと被試験通信装置との間で通信線の２導体
のそれぞれに結合トランスの二次巻線を挿入し、結合ト
ランスの一次巻線から電圧供給源によって電圧を供給し
、中点が共通電位点に接続された中点タップ付きコイル
を設け、コモンモードチロ−クコイル、結合トランスの
二次巻線のそれぞれの共通接続点と中点タップ付きコイ
ルの両端との間にインピーダンス素子を挿入し、電圧供
給源から結合トランスを介して被試験通信装置にイミユ
ニティ試験用に電圧を印加するように構成している。
あっては、互いに通信を行なうような関係にある少なく
とも一対の通信装置につき、所望の試験を行なうべき一
方の通信装置を被試験通信装置、他方の通信装置を対向
通信装置とするイミユニティ試験回路において、一対の
通信装置の間に介在する通信線の２導体のそれぞれにコ
モンモードチョークコイルを挿入し、該コモンモードチ
ョークコイルと被試験通信装置との間で通信線の２導体
のそれぞれに結合トランスの二次巻線を挿入し、結合ト
ランスの一次巻線から電圧供給源によって電圧を供給し
、中点が共通電位点に接続された中点タップ付きコイル
を設け、コモンモードチロ−クコイル、結合トランスの
二次巻線のそれぞれの共通接続点と中点タップ付きコイ
ルの両端との間にインピーダンス素子を挿入し、電圧供
給源から結合トランスを介して被試験通信装置にイミユ
ニティ試験用に電圧を印加するように構成している。
Ｕ ・ ２による 明
上述した目的を達成するために、請求項２記載の発明に
あっては、互いに通信を行なうような関係にある少なく
とも一対の通信装置につき、所望の試験を行なうべき一
方の通信装置を被試験通信装置、他方の通信装置を対向
通信装置とするイミユニティ試験回路において、一対の
通信装置の間に介在する１信線の２導体のそれぞれにコ
モンモートチツークコイルを挿入し、該コモンモードチ
ョークコイルと被試験通信装置との間で通信線の２導体
のそれぞれに結合トランスの二次巻線を挿入し、結合ト
ランスの一次巻線から電圧供給源によって電圧を供給し
、トランスの中点タップ付きコイルおよびそれと同一コ
アに巻かれた別なコイルにインピーダンス素子を接続し
、この中点タップ付きコイルの中点と共通電位点との間
に別なインピーダンス素子を挿入すると共にこの中点タ
ップ付きコイルと通信線との間に容量性素子を挿入し、
電圧供給源から結合トランスを介して被試験通信装置に
イミユニティ試験用に電圧を印加するように構成してい
る。
あっては、互いに通信を行なうような関係にある少なく
とも一対の通信装置につき、所望の試験を行なうべき一
方の通信装置を被試験通信装置、他方の通信装置を対向
通信装置とするイミユニティ試験回路において、一対の
通信装置の間に介在する１信線の２導体のそれぞれにコ
モンモートチツークコイルを挿入し、該コモンモードチ
ョークコイルと被試験通信装置との間で通信線の２導体
のそれぞれに結合トランスの二次巻線を挿入し、結合ト
ランスの一次巻線から電圧供給源によって電圧を供給し
、トランスの中点タップ付きコイルおよびそれと同一コ
アに巻かれた別なコイルにインピーダンス素子を接続し
、この中点タップ付きコイルの中点と共通電位点との間
に別なインピーダンス素子を挿入すると共にこの中点タ
ップ付きコイルと通信線との間に容量性素子を挿入し、
電圧供給源から結合トランスを介して被試験通信装置に
イミユニティ試験用に電圧を印加するように構成してい
る。
（ｉ）請求項１による発明
本発明にあっては、結合トランスの一次巻線から電圧供
給源によって電圧を供給し、当該結合トランスの二次巻
線に誘導される電圧が被試験通信装置に印加される。こ
の誘導される電圧は、コモンモードチョークコイルによ
って低減される。また、中点が共通電位点に接続された
中点タップ付きコイルと結合トランスの二次巻線との間
にあるインピーダンス素子によっても低減される。その
ため、対向通信装置には影響を与えない。
給源によって電圧を供給し、当該結合トランスの二次巻
線に誘導される電圧が被試験通信装置に印加される。こ
の誘導される電圧は、コモンモードチョークコイルによ
って低減される。また、中点が共通電位点に接続された
中点タップ付きコイルと結合トランスの二次巻線との間
にあるインピーダンス素子によっても低減される。その
ため、対向通信装置には影響を与えない。
従って、イミユニティ試験において、被試験通信装置の
みの機器耐力を正確に測定できるようになる。
みの機器耐力を正確に測定できるようになる。
ｉｉ ）１求 ２による
請求項２記載の発明にあっては、トランスの中点タップ
付きコイルと同一コアに巻かれた別なコイルに接続され
たインピーダンス素子によって、中点タップ付きコイル
による共振が防がれる。
付きコイルと同一コアに巻かれた別なコイルに接続され
たインピーダンス素子によって、中点タップ付きコイル
による共振が防がれる。
従って、イミユニティ試験において、被試験通信装置の
みの機器耐力を更に正確に測定できるようになる。
みの機器耐力を更に正確に測定できるようになる。
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第１図は、本発明の一実施例におけるイミユニティ試験
回路の構成を示す。図において、第１θ図と同一符号は
同じ素子等を示すものであり、ここではそれらの詳細に
ついての説明は省略する。
回路の構成を示す。図において、第１θ図と同一符号は
同じ素子等を示すものであり、ここではそれらの詳細に
ついての説明は省略する。
第１図において、新たにコイル部３０を設け、該コイル
部３０を形成する中点タップ付きコイル３１の中点３３
を接地する。結合トランス２６の二次巻綿２７□とコモ
ンモードチョークコイル１７とのそれぞれの共通接続点
Ａ、 Ｂと両中点タップ付きコイル３１との間に、同一
のインピーダンス２を有するインピーダンス素子３５を
接続している。
部３０を形成する中点タップ付きコイル３１の中点３３
を接地する。結合トランス２６の二次巻綿２７□とコモ
ンモードチョークコイル１７とのそれぞれの共通接続点
Ａ、 Ｂと両中点タップ付きコイル３１との間に、同一
のインピーダンス２を有するインピーダンス素子３５を
接続している。
（ｉｉ）第１実施例の動作
このようにして構成される実施例について、その動作を
以下に説明する。
以下に説明する。
第１図において、被試験通信装置１１と対向通信装置１
３との間で信号伝送をしながら電圧発生装置２５から発
生させたイミユニティ試験用の電圧Ｖｏを、結合トラン
ス２６の一次巻線２７．に供給し、その二次巻線２７．
に誘導される電圧が被試験通信装置１１に印加されるよ
うになっている。
３との間で信号伝送をしながら電圧発生装置２５から発
生させたイミユニティ試験用の電圧Ｖｏを、結合トラン
ス２６の一次巻線２７．に供給し、その二次巻線２７．
に誘導される電圧が被試験通信装置１１に印加されるよ
うになっている。
この回路において、通信線１５の２導体の間には、２Ｚ
＋ｊωＬのインピーダンスが挿入されたこととなる。こ
こで、Ｌはコイル部３０の全体的なインピーダンスであ
る。
＋ｊωＬのインピーダンスが挿入されたこととなる。こ
こで、Ｌはコイル部３０の全体的なインピーダンスであ
る。
この２Ｚ＋ｊωＬのインピーダンスが、被試験通信装置
１１．対向通信装置１３の入出力インピーダンスより十
分大きくすることにより、被試験通信装置１１から対向
通信装置１３への信号伝送・に対する影響が無視できる
。
１１．対向通信装置１３の入出力インピーダンスより十
分大きくすることにより、被試験通信装置１１から対向
通信装置１３への信号伝送・に対する影響が無視できる
。
更に、通信線１５と大地との間の縦インピーダンスはほ
ぼＺ／２となり、被試験通信装置１１の通信線端子と大
地との間のインピーダンスに比べてＺ／２を小さくする
ことにより、結合トランス２６の二次巻線２７，２に生
じる電圧を、被試験通信装置１１に効率的に印加するこ
とができる。
ぼＺ／２となり、被試験通信装置１１の通信線端子と大
地との間のインピーダンスに比べてＺ／２を小さくする
ことにより、結合トランス２６の二次巻線２７，２に生
じる電圧を、被試験通信装置１１に効率的に印加するこ
とができる。
−船釣には、インピーダンスＺを有するインピーダンス
素子３５として゛は、通信線１５の例えば−４８（Ｖ）
による直流給電電流がコイル部３０に流入するのを防止
するために容量性素子を入れると共に、この容量性素子
とコイル部３０の中点タップ付きコイル３１との共振を
防ぐために抵抗素子を直列に挿入して形成するものであ
る。
素子３５として゛は、通信線１５の例えば−４８（Ｖ）
による直流給電電流がコイル部３０に流入するのを防止
するために容量性素子を入れると共に、この容量性素子
とコイル部３０の中点タップ付きコイル３１との共振を
防ぐために抵抗素子を直列に挿入して形成するものであ
る。
コモンモードチョークコイル１７は、結合トランス２６
から対向通信装置１３に印加される電圧を減少させ、対
向通信装置ｆｆ１１３での伝送品質劣化および誤動作の
発生をなくすものである。
から対向通信装置１３に印加される電圧を減少させ、対
向通信装置ｆｆ１１３での伝送品質劣化および誤動作の
発生をなくすものである。
また、２つのインピーダンス素子３５のインピーダンス
に差があれば、２本の通信線１５間に電圧が生じるが、
２つのインピーダンス２の差を十分に小さくすることに
って阻止できる。また、コイル部３０の中点タップ付き
コイル３１もバランスのよい巻き方をすることによって
、イミエニティ試験回路部分で発生する通信線１５間の
電圧を小さく抑え、信号伝送に影響を与えないようにす
ることができる。
に差があれば、２本の通信線１５間に電圧が生じるが、
２つのインピーダンス２の差を十分に小さくすることに
って阻止できる。また、コイル部３０の中点タップ付き
コイル３１もバランスのよい巻き方をすることによって
、イミエニティ試験回路部分で発生する通信線１５間の
電圧を小さく抑え、信号伝送に影響を与えないようにす
ることができる。
第２図は、第１図に示す回路において、電圧発生装置２
５から供給した電圧Ｖ、（Ｏ印）に対して、被試験通信
装置１１の通信線端子、共通接続点Ｂおよび対向通信装
置１３の通信線端子のそれぞれと大地との間の縦電圧Ｖ
、（Ｘ印）、Ｖｚ（Δ印）およびＶ２ （口中）の測
定値を示す。
５から供給した電圧Ｖ、（Ｏ印）に対して、被試験通信
装置１１の通信線端子、共通接続点Ｂおよび対向通信装
置１３の通信線端子のそれぞれと大地との間の縦電圧Ｖ
、（Ｘ印）、Ｖｚ（Δ印）およびＶ２ （口中）の測
定値を示す。
第１図における結合トランス２６は、例えばトロイダル
コアに一次巻線を９回、二次巻線を９回巻いたものであ
る。また、インピーダンス素子３５のインピーダンスＺ
は２００（Ω）の抵抗素子と０゜１（μＦ）の容量性素
子とを直列に接続したものであり、この容量性素子は直
流給電電流がインピーダンス素子３５に流れないように
するものであり、このインピーダンスＺの差は０．１％
以下にしている。
コアに一次巻線を９回、二次巻線を９回巻いたものであ
る。また、インピーダンス素子３５のインピーダンスＺ
は２００（Ω）の抵抗素子と０゜１（μＦ）の容量性素
子とを直列に接続したものであり、この容量性素子は直
流給電電流がインピーダンス素子３５に流れないように
するものであり、このインピーダンスＺの差は０．１％
以下にしている。
ところで、これに対して、同一な条件（結合トランス２
６．コモンモードチョークコイル１７等）で、第１０図
に示した従来の回路において、測定した結果が第１１図
である。
６．コモンモードチョークコイル１７等）で、第１０図
に示した従来の回路において、測定した結果が第１１図
である。
両図を比較することにより、本実施例および従来例とも
に、被試験通信装置１１にかかる電圧Ｖ１は電圧発生装
置２５から供給した電圧■。とほぼ等しい電圧が効率的
に印加されていることが分かる。
に、被試験通信装置１１にかかる電圧Ｖ１は電圧発生装
置２５から供給した電圧■。とほぼ等しい電圧が効率的
に印加されていることが分かる。
第２図に示す本実施例での特性では、第１図の共通接続
点Ｂにかかる電圧■２が１０ （ｋＨｚ）で、電圧■１
より４０ （ｄＢ）程度小さくなる。更に、１ （ＭＨ
ｚ）〜１０（ＭＨｚ）での高周波では共通接続点Ｂの電
圧■２が大きくなるが、コモンモートチツータコイル１
７を使用して対向通信装置１３に印加される電圧■、を
低減し、総合すると低周波から高周波まで対向通信装置
１３にかかる電圧Ｖ、は被試験通信装置１１にかかる電
圧■、に比べて４０ （ｄＢ）〜５０（ｄＢ）程度低く
なっている。
点Ｂにかかる電圧■２が１０ （ｋＨｚ）で、電圧■１
より４０ （ｄＢ）程度小さくなる。更に、１ （ＭＨ
ｚ）〜１０（ＭＨｚ）での高周波では共通接続点Ｂの電
圧■２が大きくなるが、コモンモートチツータコイル１
７を使用して対向通信装置１３に印加される電圧■、を
低減し、総合すると低周波から高周波まで対向通信装置
１３にかかる電圧Ｖ、は被試験通信装置１１にかかる電
圧■、に比べて４０ （ｄＢ）〜５０（ｄＢ）程度低く
なっている。
一方、第１１図に示す従来の回路では、第１０図の共通
接続点Ｂにかかる電圧ｖ２は、電圧発生装置２５から供
給した電圧Ｖ、とほぼ等しく、被試験通信装置１１に印
加される電圧Ｖ、と同等の電圧がコモンモードチョーク
コイル１７に印加される。この電圧に対して、コモンモ
ードチョークコイル１７の効果は数百ｋＨｚ以下では殆
どなく、被試験通信装置１１にかかる電圧■、とほぼ同
等の電圧ｖ３が対向通信装置１３に印加される。このた
め、従来の回路では、対向通信装置１３の機器耐力が小
さい場合には、符号誤り、誤動作などが起こる可能性が
あった。
接続点Ｂにかかる電圧ｖ２は、電圧発生装置２５から供
給した電圧Ｖ、とほぼ等しく、被試験通信装置１１に印
加される電圧Ｖ、と同等の電圧がコモンモードチョーク
コイル１７に印加される。この電圧に対して、コモンモ
ードチョークコイル１７の効果は数百ｋＨｚ以下では殆
どなく、被試験通信装置１１にかかる電圧■、とほぼ同
等の電圧ｖ３が対向通信装置１３に印加される。このた
め、従来の回路では、対向通信装置１３の機器耐力が小
さい場合には、符号誤り、誤動作などが起こる可能性が
あった。
第３図は第１図に示した本実施例の回路において、回路
の平衡度λを求めるための測定回路である。また、第４
図はその測定した結果を示す。
の平衡度λを求めるための測定回路である。また、第４
図はその測定した結果を示す。
第３図に示す回路において、被試験通信装置１１側にお
いて通信線１５の導体との間に発生する電圧（横電圧）
Ｖａと通信線１５と大地との間に発生する電圧（縦電圧
）ｖｂを測定すると、平衡度λは、 λ＝２０１！、ｏｇ （Ｖｂ／Ｖａ）（ｄＢ）によっ
て表される。
いて通信線１５の導体との間に発生する電圧（横電圧）
Ｖａと通信線１５と大地との間に発生する電圧（縦電圧
）ｖｂを測定すると、平衡度λは、 λ＝２０１！、ｏｇ （Ｖｂ／Ｖａ）（ｄＢ）によっ
て表される。
第４図より、本実施例における平衡度λ（ｄＢ）は５（
ｋＨｚ）〜１０（ＭＨｚ）で最低でも６０（ｄＢ）以上
あり、実際の信号伝送に使用している通信線に比べて十
分によい特性を示している。このことは、被試験通信装
置１１につながる通信線１５と大地との間に印加される
電圧により、結合トランス２６部分で発生する横電圧に
ついては、実際の通信線で発生するものに比べて十分に
小さく、試験は縦電圧により被試験通信装置１１で発生
する符号誤り、誤動作を切り分けて正確に測定できるこ
とが分かる。
ｋＨｚ）〜１０（ＭＨｚ）で最低でも６０（ｄＢ）以上
あり、実際の信号伝送に使用している通信線に比べて十
分によい特性を示している。このことは、被試験通信装
置１１につながる通信線１５と大地との間に印加される
電圧により、結合トランス２６部分で発生する横電圧に
ついては、実際の通信線で発生するものに比べて十分に
小さく、試験は縦電圧により被試験通信装置１１で発生
する符号誤り、誤動作を切り分けて正確に測定できるこ
とが分かる。
また、第５図は、第１図に示した回路において、共通接
続点Ａと共通接続点Ｂとの間のインピーダンスＺＡＩを
示す。このインピーダンスＺＡＩは、周波数１ （ｋＨ
ｚ） 〜１ （ＭＨｚ）で４００（Ω）以上の大きな値
となる。そのため、伝送信号電流はインピーダンス素子
３５および中点タップ付きコイル３１に殆ど流れない、
これにより、イミユニティ試験にあっても、伝送信号に
与える影響は小さいことが分かる。
続点Ａと共通接続点Ｂとの間のインピーダンスＺＡＩを
示す。このインピーダンスＺＡＩは、周波数１ （ｋＨ
ｚ） 〜１ （ＭＨｚ）で４００（Ω）以上の大きな値
となる。そのため、伝送信号電流はインピーダンス素子
３５および中点タップ付きコイル３１に殆ど流れない、
これにより、イミユニティ試験にあっても、伝送信号に
与える影響は小さいことが分かる。
ところで、第５図からも分かるように、約１．５（ｋＨ
ｚ）で共振が起こる。このような共振の影響を防ぐため
、第１実施例の回路にあっては、通信線１５と中点タッ
プ付きコイル３１との間に挿入するインピーダンス素子
３５において、容量性素子と直列に抵抗器を挿入する必
要がある。しかし、この共振防止用抵抗器としては、高
精度大電力用のものが必要である。そのような欠点を解
消したイミユニティ試験回路を次に述べる。
ｚ）で共振が起こる。このような共振の影響を防ぐため
、第１実施例の回路にあっては、通信線１５と中点タッ
プ付きコイル３１との間に挿入するインピーダンス素子
３５において、容量性素子と直列に抵抗器を挿入する必
要がある。しかし、この共振防止用抵抗器としては、高
精度大電力用のものが必要である。そのような欠点を解
消したイミユニティ試験回路を次に述べる。
１１、’Ｍ２ａガ
第６図に、本発明の別実施例を示す。図において、第１
図の回路と異なるところは、コイル部３０に代えて中点
タップ付きトランス４０を設けたことである。この中点
タップ付きトランス４０を形成する２つの中点タップ付
きコイル４１と通信線１５との間には給電電流が流れ込
むのを防止するために２つのコンデンサ４５を間挿し、
また、中点タップ付きコイル４１の中点４３は抵抗器４
７を介して接地されている。中点タップ付きコイル４１
と同一のコアに別なコイル４９を巻き、インピーダンス
素子としての抵抗器５１にて終端しており、中点タップ
付きコイル４１とコンデンサ４５との直列共振を防止し
ている。
図の回路と異なるところは、コイル部３０に代えて中点
タップ付きトランス４０を設けたことである。この中点
タップ付きトランス４０を形成する２つの中点タップ付
きコイル４１と通信線１５との間には給電電流が流れ込
むのを防止するために２つのコンデンサ４５を間挿し、
また、中点タップ付きコイル４１の中点４３は抵抗器４
７を介して接地されている。中点タップ付きコイル４１
と同一のコアに別なコイル４９を巻き、インピーダンス
素子としての抵抗器５１にて終端しており、中点タップ
付きコイル４１とコンデンサ４５との直列共振を防止し
ている。
この第２実施例の回路にあっては、共振防止用のコイル
４９の終端用抵抗器５１は低電力用でよく、共通接続点
Ａ、Ｂと大地との間のインピーダンスＺ□は、中点タッ
プ付きコイル４１と大地間に挿入する抵抗器４７で自由
に設定できる利点がある。
４９の終端用抵抗器５１は低電力用でよく、共通接続点
Ａ、Ｂと大地との間のインピーダンスＺ□は、中点タッ
プ付きコイル４１と大地間に挿入する抵抗器４７で自由
に設定できる利点がある。
第７図は、第６図に示す回路における共通接続点Ａと共
通接続点Ｂとの間のインピーダンス２□を示す。これよ
り、共通接続点Ａ、Ｂ間のインピーダンスＺＡＩは、共
振が起こる１、５（ｋＨｚ）付近においては、第１実施
例の回路における場合よりも更に大きい。また、インピ
ーダンスＺＡＩは、１ （ｋＨｚ）〜１ （ＭＨｚ）に
おいてＨｋΩ）以上であり、中点タップ付きコイル４１
とコンデンサ４５との゛共振もよく抑えられ、該インピ
ーダンスＺＡＩＩはほぼ一定となる。
通接続点Ｂとの間のインピーダンス２□を示す。これよ
り、共通接続点Ａ、Ｂ間のインピーダンスＺＡＩは、共
振が起こる１、５（ｋＨｚ）付近においては、第１実施
例の回路における場合よりも更に大きい。また、インピ
ーダンスＺＡＩは、１ （ｋＨｚ）〜１ （ＭＨｚ）に
おいてＨｋΩ）以上であり、中点タップ付きコイル４１
とコンデンサ４５との゛共振もよく抑えられ、該インピ
ーダンスＺＡＩＩはほぼ一定となる。
更に、第８図は、共通接続点Ａ、 Ｂと０点（中点４３
）との間のインピーダンスＺＡＩ−Ｃで非常に小さい値
となり、はぼ抵抗器４７の値となる。従って、このイン
ピーダンスＺ□、を抵抗器４７によって自由に設定でき
る。ところで、このインピーダンスＺＡＩイは、共通接
続点ＡとＢとを短絡したものと仮定し、そこと０点との
間でみたインピーダンスである。
）との間のインピーダンスＺＡＩ−Ｃで非常に小さい値
となり、はぼ抵抗器４７の値となる。従って、このイン
ピーダンスＺ□、を抵抗器４７によって自由に設定でき
る。ところで、このインピーダンスＺＡＩイは、共通接
続点ＡとＢとを短絡したものと仮定し、そこと０点との
間でみたインピーダンスである。
この第２実施例の回路では、共振防止用のコイル４９の
終端用抵抗器５１は低電力用でよいので、共振防止用に
高精度大電力用の抵抗器を用いる必要はない。
終端用抵抗器５１は低電力用でよいので、共振防止用に
高精度大電力用の抵抗器を用いる必要はない。
ｍ追しζ修
上述したように、被試験通信装置１１とこれと対向して
通信を行なう対向通信装置１３との間に、通信線１５の
導体数と同数の二次巻線２７３を挿入する。また、その
結合トランス２６の二次巻線２７ｔの対向通信装置１３
側に対ごとに同一インピーダンス値を有するインピーダ
ンス素子３５を接続し、これを中点タップ付きコイル３
１の両端に接続し、この中点３３を接地すると共に、該
インピーダンス素子３５と対向通信装置１３との間にコ
モンモードチョークコイル１７を挿入することを最も主
要な特徴としている。
通信を行なう対向通信装置１３との間に、通信線１５の
導体数と同数の二次巻線２７３を挿入する。また、その
結合トランス２６の二次巻線２７ｔの対向通信装置１３
側に対ごとに同一インピーダンス値を有するインピーダ
ンス素子３５を接続し、これを中点タップ付きコイル３
１の両端に接続し、この中点３３を接地すると共に、該
インピーダンス素子３５と対向通信装置１３との間にコ
モンモードチョークコイル１７を挿入することを最も主
要な特徴としている。
また、中点タップ付きコイル４゛１と同一コアに別なコ
イル４９が巻かれた中点タップ付きトランス４０を設け
、この別なコイル４９に抵抗器５１で終端することを特
徴としている。
イル４９が巻かれた中点タップ付きトランス４０を設け
、この別なコイル４９に抵抗器５１で終端することを特
徴としている。
従来回路では、被試験通信装置１１と対向通信装置１３
との間には通信線１５の導体数と同数の二次巻線２７□
を間挿し、これと対向通信装置１３側にコモンモードチ
ロ−タコイル１７を挿入するのみである。
との間には通信線１５の導体数と同数の二次巻線２７□
を間挿し、これと対向通信装置１３側にコモンモードチ
ロ−タコイル１７を挿入するのみである。
本発明実施例では、結合トランス２６の二次巻線２７□
とコモンモードチョークコイル１７との間に全て同一の
インピーダンス値のインピーダンス素子３５を接続し、
これを一対毎に中点３３付の中点タップ付きコイル３１
（コイル部３０）の両端に接続している。この中点タッ
プ付きコイル３１の中点３３を接地することにより、対
向通信装置１３に印加される電圧を低減し、対向通信装
置１３で符号誤り、誤動作が発生しないレベルにしてい
る。
とコモンモードチョークコイル１７との間に全て同一の
インピーダンス値のインピーダンス素子３５を接続し、
これを一対毎に中点３３付の中点タップ付きコイル３１
（コイル部３０）の両端に接続している。この中点タッ
プ付きコイル３１の中点３３を接地することにより、対
向通信装置１３に印加される電圧を低減し、対向通信装
置１３で符号誤り、誤動作が発生しないレベルにしてい
る。
また、第２実施例では、特に、中点タップ付きトランス
４０のコイル４９および抵抗器４９によって共振が防止
されるようになっている。
４０のコイル４９および抵抗器４９によって共振が防止
されるようになっている。
ＩＶ、 ！１（７）ｉｉＪ４１樵
なお、本発明は上述した実施例に限られることはなく、
各種の変形態様があることは当業者であれば容易に推考
できるであろう。
各種の変形態様があることは当業者であれば容易に推考
できるであろう。
上述したように、本発明によれば、イミユニティ試験に
おいて、試験用に供給した電圧を効率よく被試験通信装
置に印加することができ、また、対向通信装置に印加さ
れる電圧を抑えることで被試験通信装置の符号誤り、誤
動作特性を正確に測定できることができる。
おいて、試験用に供給した電圧を効率よく被試験通信装
置に印加することができ、また、対向通信装置に印加さ
れる電圧を抑えることで被試験通信装置の符号誤り、誤
動作特性を正確に測定できることができる。
第１図は本発明の一実施例によるイミユニティ試験回路
の構成ブロック図、 第２図は第１図に示す回路における印加電圧の特性図、 第３図は第１図に示す回路における平衡度λの測定回路
を示す回路図、 第４図は第３図に示す回路における測定結果を示す説明
図、 第５図は第１図に示す回路における共通接続点ＡとＢと
の間のインピーダンスＺＡＩの特性図、第６図は本発明
の別実施例によるイミユニティ試験回路の構成ブロック
図、 第７図は第６図に示す回路における共通接続点ＡとＢの
間のインピーダンスＺＡｌの特性図、第８図は第６図に
示す回路における共通接続点Ａ。 Ｂと０点との間のインピーダンスＺＡ、イの特性図、第
９図は従来例を示す回路図、 第１Ｏ図は別な従来例を示す回路図、 第１１図は第１Ｏ図に示す従来例回路における電圧の印
加の測定結果を示す特性図である。 図において、 ＩＩは被試験通信装置、 １３は対向通信装置、 １５は通信線、 １７はコモンモードチョークコイル、 ２０は電圧注入コイル、 ２１は中点タップ付きコイル、 ２５は電圧発生装置、 ２６は結合トランス、 ３０はコイル部、 ３１は中点タップ付きコイル、 ３５はインピーダンス素子、 ４０は中点タップ付きトランス、 ４１は中点タップ付きコイル、 ４７は抵抗器、 ４９はコイル、 ５１は抵抗器である。
の構成ブロック図、 第２図は第１図に示す回路における印加電圧の特性図、 第３図は第１図に示す回路における平衡度λの測定回路
を示す回路図、 第４図は第３図に示す回路における測定結果を示す説明
図、 第５図は第１図に示す回路における共通接続点ＡとＢと
の間のインピーダンスＺＡＩの特性図、第６図は本発明
の別実施例によるイミユニティ試験回路の構成ブロック
図、 第７図は第６図に示す回路における共通接続点ＡとＢの
間のインピーダンスＺＡｌの特性図、第８図は第６図に
示す回路における共通接続点Ａ。 Ｂと０点との間のインピーダンスＺＡ、イの特性図、第
９図は従来例を示す回路図、 第１Ｏ図は別な従来例を示す回路図、 第１１図は第１Ｏ図に示す従来例回路における電圧の印
加の測定結果を示す特性図である。 図において、 ＩＩは被試験通信装置、 １３は対向通信装置、 １５は通信線、 １７はコモンモードチョークコイル、 ２０は電圧注入コイル、 ２１は中点タップ付きコイル、 ２５は電圧発生装置、 ２６は結合トランス、 ３０はコイル部、 ３１は中点タップ付きコイル、 ３５はインピーダンス素子、 ４０は中点タップ付きトランス、 ４１は中点タップ付きコイル、 ４７は抵抗器、 ４９はコイル、 ５１は抵抗器である。
Claims (2)
- （１）互いに通信を行なうような関係にあって共通電位
点を基準として動作する少なくとも一対の通信装置につ
き、所望の試験を行なうべき一方の通信装置を被試験通
信装置、他方の通信装置を対向通信装置とするイミュニ
ティ試験回路において、前記一対の通信装置の間に介在
する通信線の２導体のそれぞれに挿入されたコモンモー
ドチョークコイルと、前記コモンモードチョークコイル
と前記被試験通信装置との間で前記通信線の２導体のそ
れぞれに挿入された結合トランスの二次巻線と、 前記結合トランスの一次巻線から電圧を供給する電圧供
給源と、 中点が前記共通電位点に接続された中点タップ付きコイ
ルと、 前記コモンモードチョークコイルと前記結合トランスの
二次巻線とのそれぞれの共通接続点と、前記中点タップ
付きコイルの両端との間に挿入された２つのインピーダ
ンス素子と、 を具え、前記電圧供給源から前記結合トランスを介して
前記被試験通信装置にイミュニティ試験用に電圧を印加
するように構成したことを特徴とするイミュニティ試験
回路。 - （２）互いに通信を行なうような関係にあって共通電位
点を基準として動作する少なくとも一対の通信装置につ
き、所望の試験を行なうべき一方の通信装置を被試験通
信装置、他方の通信装置を対向通信装置とするイミュニ
ティ試験回路において、前記一対の通信装置の間に介在
する通信線の２導体のそれぞれに挿入されたコモンモー
ドチョークコイルと、前記コモンモードチョークコイル
と前記被試験通信装置との間で前記通信線の２導体のそ
れぞれに挿入された結合トランスの二次巻線と、 前記結合トランスの一次巻線から電圧を供給する電圧供
給源と、 中点タップ付きコイルおよびそれと同一コアに巻いた別
なコイルを有し、該別なコイルにインピーダンス素子を
接続したトランスと、 前記中点タップ付きコイルの中点と前記共通電位点との
間に挿入した別なインピーダンス素子と、前記中点タッ
プ付きコイルと前記通信線との間に挿入した２つの容量
性素子と、を具え、前記電圧供給源から前記結合トラン
スを介して前記被試験通信装置にイミュニティ試験用に
電圧を印加するように構成したことを特徴とするイミュ
ニティ試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17837788A JP2675583B2 (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | イミュニティ試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17837788A JP2675583B2 (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | イミュニティ試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0227848A true JPH0227848A (ja) | 1990-01-30 |
| JP2675583B2 JP2675583B2 (ja) | 1997-11-12 |
Family
ID=16047427
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17837788A Expired - Fee Related JP2675583B2 (ja) | 1988-07-18 | 1988-07-18 | イミュニティ試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2675583B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005311405A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 平衡伝送装置 |
| JP2010175250A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Meidensha Corp | 伝送線ノイズ試験用トリガ生成装置 |
-
1988
- 1988-07-18 JP JP17837788A patent/JP2675583B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005311405A (ja) * | 2004-04-16 | 2005-11-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 平衡伝送装置 |
| US7949056B2 (en) | 2004-04-16 | 2011-05-24 | Panasonic Corporation | Balanced transmitting apparatus |
| JP2010175250A (ja) * | 2009-01-27 | 2010-08-12 | Meidensha Corp | 伝送線ノイズ試験用トリガ生成装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2675583B2 (ja) | 1997-11-12 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |