JPH02278884A - 発光ダイオードの光度可変試験回路 - Google Patents
発光ダイオードの光度可変試験回路Info
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- JPH02278884A JPH02278884A JP1102134A JP10213489A JPH02278884A JP H02278884 A JPH02278884 A JP H02278884A JP 1102134 A JP1102134 A JP 1102134A JP 10213489 A JP10213489 A JP 10213489A JP H02278884 A JPH02278884 A JP H02278884A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
発生する障害表示に発光ダイオードを用いた表示試験回
路に関し、 発光ダイオードの試験を行うときに、発光ダイオードと
発光ダイオード駆動回路の試験を同時に行うことのでき
るようにした発光ダイオード試験回路を提供することを
目的とし、 発光ダイオードと該発光ダイオードを点燈させる駆動用
半導体３端子素子を直列接続し、前記直列接続された回
路の一端を直流電圧にかつ他の一端をアースにそれぞれ
接続した回路において、障害が発生した時、該障害にに
対応した信号を前記駆動用半導体３端子素子のベースに
加え、前記発光ダイオードを点燈状態として発光させる
障害信号出力手段と、一端に直流電圧を加えたスイッチ
をオンオフして試験信号を発生し、該試験信号を前記半
導体３端子素子のベースに加えて前記発光ダイオードを
準点燈状態として発光させる試験信号発生手段と、を設
けて前記駆動用半導体３端子素子を制御し、前記発光ダ
イオードが点燈状態と準点燈状態の再発光状態の表示が
出来るように構成する。
路に関し、 発光ダイオードの試験を行うときに、発光ダイオードと
発光ダイオード駆動回路の試験を同時に行うことのでき
るようにした発光ダイオード試験回路を提供することを
目的とし、 発光ダイオードと該発光ダイオードを点燈させる駆動用
半導体３端子素子を直列接続し、前記直列接続された回
路の一端を直流電圧にかつ他の一端をアースにそれぞれ
接続した回路において、障害が発生した時、該障害にに
対応した信号を前記駆動用半導体３端子素子のベースに
加え、前記発光ダイオードを点燈状態として発光させる
障害信号出力手段と、一端に直流電圧を加えたスイッチ
をオンオフして試験信号を発生し、該試験信号を前記半
導体３端子素子のベースに加えて前記発光ダイオードを
準点燈状態として発光させる試験信号発生手段と、を設
けて前記駆動用半導体３端子素子を制御し、前記発光ダ
イオードが点燈状態と準点燈状態の再発光状態の表示が
出来るように構成する。
本発明は、発生する障害表示に発光ダイオードを用いた
表示試験回路に関する。
表示試験回路に関する。
データの伝送路の監視を行う監視システムでは、親局、
および子局設備の運用状況や障害状況の把握を常に行っ
ており、そのために発光ダイオードを障害表示用として
広く用いている。この場合発光ダイオードの試験中であ
っても、障害があったときにＬＥＤに表示させて障害を
検出し、システムの高信頼化を図ることが必要である。
および子局設備の運用状況や障害状況の把握を常に行っ
ており、そのために発光ダイオードを障害表示用として
広く用いている。この場合発光ダイオードの試験中であ
っても、障害があったときにＬＥＤに表示させて障害を
検出し、システムの高信頼化を図ることが必要である。
第４図は従来例の回路を示す図である０図中、４１は発
光ダイオード（以下ＬＥＤと称す）である。
光ダイオード（以下ＬＥＤと称す）である。
また４２はＬＥＤ駆動回路であり、障害信号の入カバソ
ファ用ゲートＧ４いＬＥＤ駆動用のトランジスタＴｒ、
、及び該駆動トランジスタＴｒ、、のベース接続の抵抗
Ｒ４□とトランジスタＴｒ、、のコレクタ接続の抵抗Ｒ
４３よりなっている。ここでのＲ４ｚは、トランジスタ
Ｔｒ４１を駆動するに足りるベース電流が流れるように
十分に小さい抵抗に選び、また抵抗Ｒ４２はトランジス
タＴｒａ＋のコレクタに電流が流れたときＬＥＤ４１を
点燈状態にする値に選ぶ。
ファ用ゲートＧ４いＬＥＤ駆動用のトランジスタＴｒ、
、及び該駆動トランジスタＴｒ、、のベース接続の抵抗
Ｒ４□とトランジスタＴｒ、、のコレクタ接続の抵抗Ｒ
４３よりなっている。ここでのＲ４ｚは、トランジスタ
Ｔｒ４１を駆動するに足りるベース電流が流れるように
十分に小さい抵抗に選び、また抵抗Ｒ４２はトランジス
タＴｒａ＋のコレクタに電流が流れたときＬＥＤ４１を
点燈状態にする値に選ぶ。
なお４３は試験信号発生回路であり、Ｓ４１はＬＥＤ試
験用のスイッチ、Ｒ４１はＬＥＤ４１の光度調整用の抵
抗、Ｄ４１は複数のＬＥＤを並列接続したときの逆電流
防止保護用のダイオードである。ここでの抵抗Ｒ４１は
、試験時のＬＥＤ４１の光度と障害時にＬＥＤ４１が点
燈したときの光度との間に明らかな光度差が認められる
ように選んでおく。
験用のスイッチ、Ｒ４１はＬＥＤ４１の光度調整用の抵
抗、Ｄ４１は複数のＬＥＤを並列接続したときの逆電流
防止保護用のダイオードである。ここでの抵抗Ｒ４１は
、試験時のＬＥＤ４１の光度と障害時にＬＥＤ４１が点
燈したときの光度との間に明らかな光度差が認められる
ように選んでおく。
試験信号発生回路４３は、一端をアースしたスソチＳ４
１と抵抗Ｒ４１とダイオードＤ４１のカソードを直列接
続し、また該ダイオード０４１のアノードにはＬＥＤ４
１のカソードを接続し、更にＬＥＤ４１のアノードには
正極性の直流電圧（＋Ｖ）が供給する回路とする。そし
て試験信号発生回路４３の出力端（Ｄ４１のアノードと
ＬＥＤ４１のカソードの接続点）において並列に抵抗Ｒ
４，を介してトランジスタＴｒ、のコレクタを接続し、
また該トランジスタ’ｒｒａ＋のエミッタをアースに接
続し、さらに該トランジスタＴｒ４．のベースには入力
バッファ用ゲート０４１と抵抗Ｒ４ｔを介し障害信号が
入力するＬＥＤ駆動回路４２を接続する。なお並列接続
の複数の発光ダイオードを試験する時は、ＬＥＤ４１の
試験用のスイッチＳ４１を共用の回路とし、かつ抵抗Ｒ
４１とダイオードＤ４１およびＬＥＤ駆動回路４２を別
に設け、スイッチＳａ＋の出力端に並列接続した回路構
成にする。
１と抵抗Ｒ４１とダイオードＤ４１のカソードを直列接
続し、また該ダイオード０４１のアノードにはＬＥＤ４
１のカソードを接続し、更にＬＥＤ４１のアノードには
正極性の直流電圧（＋Ｖ）が供給する回路とする。そし
て試験信号発生回路４３の出力端（Ｄ４１のアノードと
ＬＥＤ４１のカソードの接続点）において並列に抵抗Ｒ
４，を介してトランジスタＴｒ、のコレクタを接続し、
また該トランジスタ’ｒｒａ＋のエミッタをアースに接
続し、さらに該トランジスタＴｒ４．のベースには入力
バッファ用ゲート０４１と抵抗Ｒ４ｔを介し障害信号が
入力するＬＥＤ駆動回路４２を接続する。なお並列接続
の複数の発光ダイオードを試験する時は、ＬＥＤ４１の
試験用のスイッチＳ４１を共用の回路とし、かつ抵抗Ｒ
４１とダイオードＤ４１およびＬＥＤ駆動回路４２を別
に設け、スイッチＳａ＋の出力端に並列接続した回路構
成にする。
このように接続した回路において、ＬＥＤ試験用スイッ
チ３４１を閉じると、抵抗Ｒ１いダイオードＯａｔを通
ってＬ Ｅ Ｄ４１にＬＥＤ試験電流の電流Ｉ ４１が
流れてＬＥＤ４１を発光させて準点燈状態にする。つぎ
に障害信号が人力して入カバソファ用ゲートＧ４１をオ
ンにしてトランジスタＴｒ４１にベース電流を流し、従
って該トランジスタＴｒ４１はオンとなりコレクタ電流
ｔ４ｇを流すようにＬＥＤ４１を発光させてＬＥＤ４１
に１４１＋１４ｇの電流を流す、このときＩａ＋と■４
□の間には、１４１＜１４！の関係を保たせるように抵
抗Ｒ４１を調整する。
チ３４１を閉じると、抵抗Ｒ１いダイオードＯａｔを通
ってＬ Ｅ Ｄ４１にＬＥＤ試験電流の電流Ｉ ４１が
流れてＬＥＤ４１を発光させて準点燈状態にする。つぎ
に障害信号が人力して入カバソファ用ゲートＧ４１をオ
ンにしてトランジスタＴｒ４１にベース電流を流し、従
って該トランジスタＴｒ４１はオンとなりコレクタ電流
ｔ４ｇを流すようにＬＥＤ４１を発光させてＬＥＤ４１
に１４１＋１４ｇの電流を流す、このときＩａ＋と■４
□の間には、１４１＜１４！の関係を保たせるように抵
抗Ｒ４１を調整する。
このようにＬＥＤ４１の電流を設定することにより、Ｌ
ＥＤ４１の試験時には電流１４１にてＬ Ｅ Ｄ４１を
点燈させて“準点燈状態゛を作る。さらに障害信号が加
重される形で印加されるとＬＥＤ４１には１４１＋Ｉ４
！の両電流の和の電流が流れるが、両電流には１４１＜
［４□の関係があるためＬ Ｅ ０４１の試験時の光度
に比較して十分に明るい光度をもって点燈し、゛点燈状
態°を作る。
ＥＤ４１の試験時には電流１４１にてＬ Ｅ Ｄ４１を
点燈させて“準点燈状態゛を作る。さらに障害信号が加
重される形で印加されるとＬＥＤ４１には１４１＋Ｉ４
！の両電流の和の電流が流れるが、両電流には１４１＜
［４□の関係があるためＬ Ｅ ０４１の試験時の光度
に比較して十分に明るい光度をもって点燈し、゛点燈状
態°を作る。
即ち、Ｌ Ｅ Ｄ４１を駆動するＬＥＤ駆動回路４２の
出力端に並列に試験信号発生回路４３を設けた回路構成
をとり、ＬＥＤ４１の障害発生時の°点燈光度。
出力端に並列に試験信号発生回路４３を設けた回路構成
をとり、ＬＥＤ４１の障害発生時の°点燈光度。
と試験中の°準点燈光度゛との間に明らかな光度差が生
ずるようにＬＥＤ４１の点燈電流を設定する。
ずるようにＬＥＤ４１の点燈電流を設定する。
従って上記の回路をもちいて発光ダイオードの試験を行
う場合は、発光ダイオード駆動回路の試験を行っていな
いという問題を生じていた。
う場合は、発光ダイオード駆動回路の試験を行っていな
いという問題を生じていた。
本発明は、発光ダイオードの試験を行うときに、発光ダ
イオードと発光ダイオード駆動回路の試験を同時に行う
ことのできるようにした発光ダイオード試験回路を提供
することを目的とする。
イオードと発光ダイオード駆動回路の試験を同時に行う
ことのできるようにした発光ダイオード試験回路を提供
することを目的とする。
本発明では第１図に示すように、発光ダイオード１と該
発光ダイオード１を点燈させる駆動用半導体３端子素子
２を直列接続し、前記直列接続された回路の一端を直流
電圧にかつ他の一端をアースにそれぞれ接続した回路に
おいて、障害が発生した時、該障害に対応した信号を前
記駆動用半導体３端子素子２のベースに加えて前記発光
ダイオード１を点燈状態として発光させる障害信号出力
手段３と、一端に直流電圧を加えたスイッチ５をオンオ
フして試験信号を発生し、該試験信号を前記半導体３端
子素子２のベースに加えて前記発光ダイオード１を準点
燈状態として発光させる試験信号発生手段４と、を設け
て前記駆動用半導体３端子素子２を制御し、前記発光ダ
イオードｌが点燈状態と準点燈状態の両発光状態の表示
が出来るように構成する。
発光ダイオード１を点燈させる駆動用半導体３端子素子
２を直列接続し、前記直列接続された回路の一端を直流
電圧にかつ他の一端をアースにそれぞれ接続した回路に
おいて、障害が発生した時、該障害に対応した信号を前
記駆動用半導体３端子素子２のベースに加えて前記発光
ダイオード１を点燈状態として発光させる障害信号出力
手段３と、一端に直流電圧を加えたスイッチ５をオンオ
フして試験信号を発生し、該試験信号を前記半導体３端
子素子２のベースに加えて前記発光ダイオード１を準点
燈状態として発光させる試験信号発生手段４と、を設け
て前記駆動用半導体３端子素子２を制御し、前記発光ダ
イオードｌが点燈状態と準点燈状態の両発光状態の表示
が出来るように構成する。
本発明では第１図に示すよう如く、障害が発生の時には
障害信号出力手段３からの障害信号を駆動用半導体３端
子素子２のベースに加えて制御し、また発光ダイオード
１の試験をする時にはスイッチ５をオンオフして試験信
号を試験信号出力手段４から発生し、該試験信号を前記
駆動用半導体３端子素子２のベースに加えて制御するよ
うにする。
障害信号出力手段３からの障害信号を駆動用半導体３端
子素子２のベースに加えて制御し、また発光ダイオード
１の試験をする時にはスイッチ５をオンオフして試験信
号を試験信号出力手段４から発生し、該試験信号を前記
駆動用半導体３端子素子２のベースに加えて制御するよ
うにする。
従って、前記駆動用半導体３端子素子２の制御により、
前記発光ダイオード１を点燈状態と準点燈状態の両発光
状態の表示が可能となる。
前記発光ダイオード１を点燈状態と準点燈状態の両発光
状態の表示が可能となる。
第２図は本発明の一実施例の回路を示す図である。図中
、２１は発光ダイオード（以下ＬＥＤと称する）である
。また２２は駆動用半導体３端子素子及び障害信号出力
手段としてのＬＥＤ駆動回路であり、例えば半導体３端
子素子であるトランジスタＴｒ、、、該トランジスタＴ
ｒ、、のベース駆動の抵抗Ｒ２い トランジスタＴｒ、
、のコレクタ接続の抵抗Ｒ２□、障害信号の入カバソフ
ァ用ゲート９□及び逆電流防止用のダイオードＤ！Ｉよ
りなっている。ここでの抵抗Ｒ１Ｉおよび抵抗Ｒ０は、
第４図の従来例と同様に、抵抗Ｒ１１については障害信
号が入力した時においてトランジスタ’ｒｒｘ＋を駆動
するに足りるベース電流が流れるように十分に小さい抵
抗に選び、また抵抗Ｒ０についてはトランジスタＴ’ｒ
ｔ＋のコレクタに流れる電流がＬＥＤ２１の発光を点燈
状態となるように選ぶ。
、２１は発光ダイオード（以下ＬＥＤと称する）である
。また２２は駆動用半導体３端子素子及び障害信号出力
手段としてのＬＥＤ駆動回路であり、例えば半導体３端
子素子であるトランジスタＴｒ、、、該トランジスタＴ
ｒ、、のベース駆動の抵抗Ｒ２い トランジスタＴｒ、
、のコレクタ接続の抵抗Ｒ２□、障害信号の入カバソフ
ァ用ゲート９□及び逆電流防止用のダイオードＤ！Ｉよ
りなっている。ここでの抵抗Ｒ１Ｉおよび抵抗Ｒ０は、
第４図の従来例と同様に、抵抗Ｒ１１については障害信
号が入力した時においてトランジスタ’ｒｒｘ＋を駆動
するに足りるベース電流が流れるように十分に小さい抵
抗に選び、また抵抗Ｒ０についてはトランジスタＴ’ｒ
ｔ＋のコレクタに流れる電流がＬＥＤ２１の発光を点燈
状態となるように選ぶ。
また２３は、スイッチＳ２いダイオードＤ０、抵抗Ｒ１
３よりなる試験信号発生回路であり、ＳＺ＋はＬＥＤ試
験用のスイッチ、Ｒ１３はＬＥＤ２１の光度調整用の抵
抗、Ｄ、は複数のＬＥＤの並列試験を行えるようにした
逆電流防止保護用のダイオードである。ここでの抵抗Ｒ
０は第４図と同様に、ＬＥＤ２１の試験時における光度
と障害信号が入力してＬＥＤ２１が完全な点燈となった
ときの光度に明らかな光度差が認められるような値に選
んでお（。
３よりなる試験信号発生回路であり、ＳＺ＋はＬＥＤ試
験用のスイッチ、Ｒ１３はＬＥＤ２１の光度調整用の抵
抗、Ｄ、は複数のＬＥＤの並列試験を行えるようにした
逆電流防止保護用のダイオードである。ここでの抵抗Ｒ
０は第４図と同様に、ＬＥＤ２１の試験時における光度
と障害信号が入力してＬＥＤ２１が完全な点燈となった
ときの光度に明らかな光度差が認められるような値に選
んでお（。
そして試験信号発生回路２３は、一端を直流電圧に接続
したスイッチＳＫＩとダイオードＤ０のカソードと抵抗
Ｒ０を直列接続した構成とし、かつ抵抗Ｒ０の出力端を
ＬＥＤ駆動回路２２に接続している。
したスイッチＳＫＩとダイオードＤ０のカソードと抵抗
Ｒ０を直列接続した構成とし、かつ抵抗Ｒ０の出力端を
ＬＥＤ駆動回路２２に接続している。
なおＬＥＤ駆動回路２２の一端には、アノードに＋Ｅ極
性の直流電圧（＋Ｖ）を印加したＬＥＤ２１のカソード
が接続されている。そして該ＬＥＤ２１のカソードは、
抵抗Ｒ１ｚを介しトランジスタＴ’ｒ！＋のコレクタに
接続し、また該トランジスタＴｒ、。
性の直流電圧（＋Ｖ）を印加したＬＥＤ２１のカソード
が接続されている。そして該ＬＥＤ２１のカソードは、
抵抗Ｒ１ｚを介しトランジスタＴ’ｒ！＋のコレクタに
接続し、また該トランジスタＴｒ、。
のエミッタをアースに接続し、更に該トランジスタＴｒ
□のベースには障害信号の入カバソファ用ゲートＧｚ□
ダイオードＤ！Ｉ及び抵抗Ｒｔ、を介し障害信号が入力
する回路構成にしている。なおダイオードＤｚｌと抵抗
Ｒ１Ｉの接続点には前記試験信号発生回路２３の出力が
接続されてい゛る。なお並列接続の複数のＬＥＤ２１を
試験する時は、試験用のスイッチＳ！ｌを共用の回路と
し、抵抗Ｒ０とダイオードＤ！！およびＬＥＤ駆動回路
２２を別に設けてスイッチｓｇ＋の出力端に並列接続し
た構成にする。
□のベースには障害信号の入カバソファ用ゲートＧｚ□
ダイオードＤ！Ｉ及び抵抗Ｒｔ、を介し障害信号が入力
する回路構成にしている。なおダイオードＤｚｌと抵抗
Ｒ１Ｉの接続点には前記試験信号発生回路２３の出力が
接続されてい゛る。なお並列接続の複数のＬＥＤ２１を
試験する時は、試験用のスイッチＳ！ｌを共用の回路と
し、抵抗Ｒ０とダイオードＤ！！およびＬＥＤ駆動回路
２２を別に設けてスイッチｓｇ＋の出力端に並列接続し
た構成にする。
このように接続した回路において、ＬＥＤ試験用スイッ
チＳＺ＋を閉じると、直流電圧Ｖ！はダイオードＤ！！
、抵抗Ｒ０を通ってＬＥＤ駆動回路２２にＬＥＤ試験信
号を出力してＲｌｌを駆動してトランジスタＴｒ、、に
ＬＥＤ２１の“準点燈状態°に対応するＬＥＤ試験電流
の電流■ｇ＋を流してＬＥＤ２１を発光させる。つぎに
障害信号が入力して、入力バッファ用ゲートＧ□、ダイ
オードＤｏ１１抵抗Ｒ２，を経由してトランジスタＴｒ
、、にベース電流を流し、かつＬＥＤ試験用スイッチＳ
Ｚ＋が開かれていると、トランジスタＴｒ、、はオンと
なリコレクタ電流１２１を流すようにしてＬＥＤ２１を
発光させＬＥＤ２１に電流■ｚｔを流す。そしてこのｒ
ｚ＋とＩｔ□の間において、ｔｚ＋＜ｉ２□の関係が得
られるようにＲｚｚ／ Ｒｔ＋の比を十分に大きな値（
例えば約３０〜２００倍）に設定する事により、ＬＥＤ
２１の試験時には電流■ｚ＋にてＬＥＤ２１は点燈させ
て。
チＳＺ＋を閉じると、直流電圧Ｖ！はダイオードＤ！！
、抵抗Ｒ０を通ってＬＥＤ駆動回路２２にＬＥＤ試験信
号を出力してＲｌｌを駆動してトランジスタＴｒ、、に
ＬＥＤ２１の“準点燈状態°に対応するＬＥＤ試験電流
の電流■ｇ＋を流してＬＥＤ２１を発光させる。つぎに
障害信号が入力して、入力バッファ用ゲートＧ□、ダイ
オードＤｏ１１抵抗Ｒ２，を経由してトランジスタＴｒ
、、にベース電流を流し、かつＬＥＤ試験用スイッチＳ
Ｚ＋が開かれていると、トランジスタＴｒ、、はオンと
なリコレクタ電流１２１を流すようにしてＬＥＤ２１を
発光させＬＥＤ２１に電流■ｚｔを流す。そしてこのｒ
ｚ＋とＩｔ□の間において、ｔｚ＋＜ｉ２□の関係が得
られるようにＲｚｚ／ Ｒｔ＋の比を十分に大きな値（
例えば約３０〜２００倍）に設定する事により、ＬＥＤ
２１の試験時には電流■ｚ＋にてＬＥＤ２１は点燈させ
て。
準点燈状態゛を作る。更に障害信号が加重される形で印
加されるとＬＥＤＪＩにはＩ□＋Ｉｚｔの両電流の和の
電流が流れるが、両電流にはＩｔ＋＜１２１の関係があ
るためＬＥＤ２１の試験時の光度に比較して十分に明る
い光度をもつ゛点燈状態゛をつくる。
加されるとＬＥＤＪＩにはＩ□＋Ｉｚｔの両電流の和の
電流が流れるが、両電流にはＩｔ＋＜１２１の関係があ
るためＬＥＤ２１の試験時の光度に比較して十分に明る
い光度をもつ゛点燈状態゛をつくる。
即ち、ＬＥＤ２１を駆動するトランジスタＴｒ、。
のベースに並列に、試験信号発生回路２３からのＬＥＤ
試験信号と入力バッファ用ゲートＧｆｆｉいダイオード
Ｉ）ｚ＋を通った障害信号とがそれぞれ加えられ、両信
号によりトランジスタＴ’ｒｚ＋のコレクタに流れる電
流に大小関係を作り、ＬＥＤ２ｉの障害発生時での゛点
燈光度゛と試験中の゛準点燈光度゛との間に光度差が生
ずるようにＬＥＤ２１の点燈電流の設定している。
試験信号と入力バッファ用ゲートＧｆｆｉいダイオード
Ｉ）ｚ＋を通った障害信号とがそれぞれ加えられ、両信
号によりトランジスタＴ’ｒｚ＋のコレクタに流れる電
流に大小関係を作り、ＬＥＤ２ｉの障害発生時での゛点
燈光度゛と試験中の゛準点燈光度゛との間に光度差が生
ずるようにＬＥＤ２１の点燈電流の設定している。
第３図は、本発明による他の実施例を示す図である０図
中、３１はランプであり、また３２はランプ駆動回路で
あり、ＬＥＤ駆動用のダーリントン接続のトランジスタ
Ｔｒ３．とＴ’ｒ３ｘ、Ｔｒｏｔのベース駆動の抵抗Ｒ
１いＴｒ、、のコレクタ接続の抵抗Ｒ３□及び障害信号
の入カバソファ用ゲー）Ｇｚい逆電流防止用のダイオー
ドＤ□よりなっており、ダーリントン接続のトランジス
タＴｒ、１とＴｒｓ、ｔの回路以外は前記第２図のＬＥ
Ｄ駆動回路２２と同様の動作をする。また試験信号発生
回路３３は、スイッチＳ３１、ダイオードＤ。、抵抗Ｒ
３！よりなり、前記第２図の試験信号発生回路２３と同
様の動作をする。なおこの回路は前記したダーリントン
接続のトランジスタＴｒ、、とＴｒ３．を用いて、ラン
プ３１の大電流駆動の可能にしているものである。
中、３１はランプであり、また３２はランプ駆動回路で
あり、ＬＥＤ駆動用のダーリントン接続のトランジスタ
Ｔｒ３．とＴ’ｒ３ｘ、Ｔｒｏｔのベース駆動の抵抗Ｒ
１いＴｒ、、のコレクタ接続の抵抗Ｒ３□及び障害信号
の入カバソファ用ゲー）Ｇｚい逆電流防止用のダイオー
ドＤ□よりなっており、ダーリントン接続のトランジス
タＴｒ、１とＴｒｓ、ｔの回路以外は前記第２図のＬＥ
Ｄ駆動回路２２と同様の動作をする。また試験信号発生
回路３３は、スイッチＳ３１、ダイオードＤ。、抵抗Ｒ
３！よりなり、前記第２図の試験信号発生回路２３と同
様の動作をする。なおこの回路は前記したダーリントン
接続のトランジスタＴｒ、、とＴｒ３．を用いて、ラン
プ３１の大電流駆動の可能にしているものである。
以上説明したように本発明によれば、発光ダイオードの
試験を行うときに、発光ダイオードと発光ダイオード駆
動回路の主要回路の試験を同時にできる。
試験を行うときに、発光ダイオードと発光ダイオード駆
動回路の主要回路の試験を同時にできる。
従ってデータ転送監視表示システムの信頼性の向上に貢
献することが可能となる。
献することが可能となる。
第１図は本発明の原理構成を示す図、
第２図は本発明の一実施例の回路を示す図、第３図は本
発明の他の実施例の回路を示す図、第４図は従来例の回
路を示す図、 を示す。 図において、 １は発光ダイオード、 ２は駆動用半導体３端子素子、 ３は障害信号出力手段、 ４は試験信号発生手段、 である。 滞恥ｇ１１の原理ａ庚９求ｔａｔ ｆ４１図 不完θ、ｊｆｓ−プ錘例４回路を木ｆ■第２図 第 図 第 図
発明の他の実施例の回路を示す図、第４図は従来例の回
路を示す図、 を示す。 図において、 １は発光ダイオード、 ２は駆動用半導体３端子素子、 ３は障害信号出力手段、 ４は試験信号発生手段、 である。 滞恥ｇ１１の原理ａ庚９求ｔａｔ ｆ４１図 不完θ、ｊｆｓ−プ錘例４回路を木ｆ■第２図 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 発光ダイオード（１）と該発光ダイオード（１）を点燈
させる駆動用半導体３端子素子（２）を直列接続し、前
記直列接続された回路の一端を直流電圧にかつ他の一端
をアースにそれぞれ接続した回路において、 障害が発生した時、該障害に対応した信号を前記駆動用
半導体３端子素子（２）のベースに加え、前記発光ダイ
オード（１）を点燈状態として発光させる障害信号出力
手段（３）と、 一端に直流電圧を加えたスイッチ（５）をオンオフして
試験信号を発生し、該試験信号を前記半導体３端子素子
（２）のベースに加えて前記発光ダイオード（１）を準
点燈状態として発光させる試験信号発生手段（４）と、 を設けて前記駆動用半導体３端子素子（２）を制御し、
前記発光ダイオード（１）が点燈状態と準点燈状態の両
発光状態の表示が出来るようにした事を特徴とした発光
ダイオードの光度可変試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1102134A JPH02278884A (ja) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | 発光ダイオードの光度可変試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1102134A JPH02278884A (ja) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | 発光ダイオードの光度可変試験回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02278884A true JPH02278884A (ja) | 1990-11-15 |
Family
ID=14319297
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1102134A Pending JPH02278884A (ja) | 1989-04-20 | 1989-04-20 | 発光ダイオードの光度可変試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02278884A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05121784A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-05-18 | Fujitsu Ltd | ランプテスト機能付き表示器 |
-
1989
- 1989-04-20 JP JP1102134A patent/JPH02278884A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05121784A (ja) * | 1991-10-29 | 1993-05-18 | Fujitsu Ltd | ランプテスト機能付き表示器 |
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