JPH0263133A - 発光ダイオードの輝度可変試験回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 発生する障害の表示に発光ダイオードを用いた表示回路
に関し、 発光ダイオードの試験中においても同一発光ダイオード
により障害検出を可能とする表示を行うことを目的とし
、 一端に直流電圧を供給し、かつ他の一端には他端がアー
スした発光ダイオード駆動手段を接続し、該発光ダイオ
ード駆動手段に障害信号を入力してオンオフ制御をなし
、発光ダイオードを点燈さセものにおいて、発光ダイオ
ードと発光ダイオード駆動手段の接続点に一端を接続し
、かつ他の一端にはオンオフ制御するスイッチを介して
アースに接続される発光輝度可変手段を設け、準点燈状
態と点燈状態を表示するように構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、発生する障害の表示に発光ダイオードを用い
た表示回路に関する。

データの伝送路の監視を行う監視システムでは、親局、
および子局設備の運用状況や障害状況の把握を常に行っ
ており、そのために発光ダイオード（以下ＬＥＤと称す
る）を障害表示用として広（用いている。この場合発光
ダイオードの動作試験中であっても、障害があったとき
にはＬＥＤに表示させて障害を検出し、システムの高信
幀化を図ることが必要である。

〔従来の技術〕

第４図は従来の一実施例の回路を示す図である。

図中４１〜４ｎはＬＥＤであり、Ｄ４１１．０４ｔｒ、
Ｄ４１１１　、Ｄ４□７は保護用ダイオード、またＲ４
２３、Ｒ４１ａは抵抗である。なおＳａ＋＋は発光ダイ
オードの試験用スイッチである。

試験用スイッチ５４１１　は、一端をアースに接続し、
他端はダイオード０４１１のアノードとＤ４、のアノー
ドにそれぞれを接続されている。そしてＤ４□のカソー
ドは、Ｄ４□のカソードとＬＥＤ４１のアノードに接続
し、ＬＥＤ４１のカソードは抵抗Ｒ４，１経由して直流
電圧が供給され、かつＤ４□のアノードには障害信号１
が入力している。なお同様に、Ｄ　４１　ｒ％のカソー
ドは、Ｄ４１のカソードとＬＥＤ４ｎのアノードに接続
されており、ＬＥＤ４ｎのカソードは抵抗Ｒ４１ｎを経
由して直流電圧が供給され、かつＤ４□７のアノードに
は障害信号ｎが入力されている。このように、ＬＥＤ４
１〜ＬＥＤ４ｎは、試験用スイッチ３４１１および障害
信号１〜障害信号ｎに対してＮ個の並列接続の回路を構
成している。

このように接続された回路において、スイッチＳ４□を
閉じると、Ｄ４１１１Ｌ　Ｅ　Ｄ４１、Ｒ４１１を経由
し試験電流Ｉ１１が流る。またＤ４Ｉｆｉ、ＬＥＤ４ｎ
ＳＲ４１ｎを経由しＬＥＤ４ｎの試験電流１１＋ｍが流
る。次に障害信号１〜ｎとして°Ｈ゛　レベルの信号が
入力すると、Ｄ４□〜Ｄ４！ｎはオンになり、Ｄ４□１
にはＬＥＤ４１を経由する電流ＩＩＩが流れ、・・・・
、Ｄ４１には、ＬＥＤ４ｎを経由する電流１！＋ｓが流
れる。

しかしながらスイッチＳ４□のオンの時、即ちＬＥＤ４
１〜ＬＥＤ４ｎの試験中のときに障害信号１〜ｎの入力
したときは、Ｌ　Ｅ　Ｄ４１〜４ｎにはＩＩｌ＋Ｉ２い
　・・・、ＩＩｈ＋ＩｔＩ％の電流が流れずに抵抗Ｒ４
１１〜抵抗Ｒ，、、で決まる一定の電流１．・・・Ｉｌ
ａが流れる。このことは、ＬＥＤ４１〜４ｎは障害信号
１−ｎの入力とスイッチのオンの差を区別しない、即ち
ＬＥＤの試験中に障害信号が入力しても検出することは
出来ない。

第５図は、従来の他の実施例の構成を示す図である０図
中、５１は加算器、５２はＬＥＤ、Ｓｓ＋はＬＥＤの試
験用スイッチ、Ｔｒ、、はトランジスタ、またＲ５Ｉと
Ｒｓｔは抵抗である。

試験用スイッチＳＳ＋の一端はマイナス直流電源に接続
されており、他の一端は障害信号とともに並列に加算器
５１に接続し、加算器５１の出力はＲ５１を介して、Ｔ
”ｒｓｔのベースに入力している。そして’ｒｒｓ＋の
エミッタはマイナス直流電源に接続されており、また該
トランジスタのコレクタはＬＥＤ５１のアノードに接続
し、またＬＨ，Ｄ５１のカソードはＲｓｔを経由してア
ースに接続されている。

このように接続された回路において、スイッチＳＳ＋を
閉じると、加算器５１はオンとなってＴ’ｒｓｔをオン
とし、ＬＥＤ５２にはＬＥＤ試験電流の電流１１が流れ
て発光ダイオードの試験状態となる。

次に障害信号が入力すると加算器５１はオンとなり、電
流■２がＬＥＤ５２に流れる。

しかしながらＳＳ＋のオンと障害信号が同時に入力した
ときは、ＬＥＤ５２に１＋＋Ｉｚの電流が流れずに抵抗
Ｒ５ｔで決まる一定の電流１．が流れるために、ＬＥＤ
４１は障害信号の入力とＳＳ＋のオンの差を区別しない
、即ちＬＥＤの試験中に障害信号が入力しても検出する
ことは出来ない。

〔発明が解決しようとする課題〕 従って、発光ダイオードの試験中において障害信号を入
力した時には、発光ダイオードに流れる電流は常に試験
中に流れる電流と同一となり、障害の発生した時にＬＥ
Ｄにその光度の差を表示しない。

本発明は、発光ダイオードの試験中においても同一発光
ダイオードにより障害検出を可能とする表示を行う事を
目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の原理構成を示す図である。

図中、ｌは発光ダイオード駆動手段であり、障害信号を
入力しオンオフ制御を行うもの、Ｓ、はオンオフ動作を
繰り返す試験用スイッチであり、また２は発光ダイオー
ドであり、直流電圧が供給されており、発光ダイオード
駆動手段およびスイッチＳ、がオンオフされる度に消煙
と点燈を繰り返すもの、なおＲＩは発光輝度可変手段で
あり、発光ダイオード２と発光ダイオード駆動手段１の
接続点に一端を接続し、かつ他の一端をオンオフ制御す
るスイッチＳ、を経由してアースに接続するように構成
する。

〔作　用〕

本発明では第１図に示すよう如く、ＬＥＤの試験を行う
ときにはスイッチＳ、をオンにしてＬＥＤ２に準点燈を
表示させ、更にＬＥＤの試験中の時に障害信号が入力す
るときはＬＥＤに点燈を表示するようにする。

従ってＬＥＤの点燈状態を準点燈と点燈を表示すること
により、ＬＥＤの試験中であっても障害の検出が可とな
る。

〔実　施　例〕

第２図は本発明の一実施例の回路を示す図である。図中
、２１はＬＥＤ駆動手段であり、保護用ダイオードＤ。

、抵抗Ｒｔｔ、抵抗ＲＺ３、およびトランジスタＴｒ、
、から構成されている。また２２はＬＥＤ、なおＳ□は
発光ダイオードの試験用スイッチ、ＲＺＩは抵抗、Ｉ）
ｔ＋は保護用ダイオードである。

試験用スイッチｓｉ＋の一端はアースに接続され、他の
端子はＲｔ、を介してＤ□のカソードに接続し、Ｄ□の
アノードはＬＥＤ２２のカソードを接続し、ＬＥＤ２２
のアノードには直流電圧が供給されている。またＤ！＋
のアノードとＬＥＤ２２のカソードの接続点は、ＬＥＤ
駆動手段のＲｏを介してＴｒ、。

のコレクタに接続され、該Ｔｒｚ＋のエミッタをアース
している。なおＴｒ□のベースには、Ｄｔ□、Ｒｏを介
して障害信号が入力されている。

なお発光ダイオードを並列に多数接続して試験するとき
には、発光ダイオードの試験用スイッチＳＺ＋を共用と
し、ＲＺＩとＤ！ＩおよびＬＥＤ駆動手段２１をそれぞ
れ別に設けて、試験用スイッチＳｔＩの出力端に接続し
た構成とする。

このように接続された回路において、スイッチＳ！ｌを
閉じると、Ｒ２いＩ）ｚ＋を通ってＬＥＤ２２にＬＥＤ
試験電流である電流■１が流れて発光ダイオードは発光
する。次に障害信号としてのＨ′　レベルの信号が入力
するとり、をオンとし、Ｔｒ、。

にベース電流が流れて、Ｔｒ２．はオンとなってコレク
タ電流■２が流れて発光する。この結果、ＬＥＤ２２に
はＩｌ＋Ｉｇの電流が流れる。このときＩＩと■２の間
に、ＩＩ＜Ｉｔの関係を保たせるようにする。

このようにすることにより、ＬＥＤの試験時には電流■
１にてＬＥＤは点燈し、準点燈状態が得られる。更に障
害信号が加重される形で印加されるとＬＥＤ２１にはＩ
、＋１．の電流が流れるが、両電流にはＩＩ＜１ｇの関
係があるためＬＥＤの試験時の光度に比較して十分に明
るい光度をもつ点燈状態となる。従ってＬＥＤの試験中
に障害が発生したとしても、準点燈状態と点燈状態に光
度の差をつけて区別した確認ができる。なおこの場合の
抵抗Ｒ１，は光度の調整用抵抗であり、準点燈状態の光
度を設定するものである。

第３図は、本発明の他の実施例の構成を示す図である。

図中、３１はＬＥＤ駆動手段であって保護ダイオードＤ
３Ｚから構成されており、該保護ダイオードＤ３ｔのア
ノードは外部から入力する障害信号をオンオフするスイ
ッチＳ。に接続されている。

また３２はＬＥＤであり、５ｅｌｌは発光ダイオードの
試験用スイッチ、′Ｒ１１とＲ３２は抵抗、Ｄ３＋は保
護用ダイオードである。

試験用スイッチＳ３Ｉの一端はアースに接続されており
、他端はＲｆｆｌを介してＤ３１のアノードに接続し、
Ｄ３１のカソードはＬＥＤ３２のアノードに接続し、Ｌ
ＥＤ３２のカソードにはＲ３□を介して直流電圧が供給
されている。また、Ｉ）１１のカソードとＬＥＤ３２の
アノードの接続点からＬＥＤ駆動手段のり。を介してＳ
ＳＺの一端に接続され、またＳ。

の他端は障害信号が入力したときにはアースされてり、
Ｉのアノードをアースする。

このように接続された回路において、スイッチＳ３１を
閉じると、即ちＬＥＤの試験を行うときには、ＬＥＤ駆
動手段３１を介してＬＥＤ３２にＬＥＤ試験電流の電流
Ｉ、が流れて発光ダイオードの試験状態となる。次にＳ
３ｇがオンにした時に障害信号が入力すると、０３ｇに
電流■、が流れる。この結果ＬＥＤ２２にはＩＩ＋１！
の電流が流れる。この■、と■８の間に、ｔ＋＜■ｚの
関係を保たせるようにする。

このようにして電流！鵬によりＬＥＤの準点燈状態を作
り、更に障害信号が加重される形で印加されるとＬＥＤ
２１は完全点燈状態が得られる。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、発光ダイオードの
点燈試験回路に発光輝度可変手段としての抵抗を設ける
ことにより、準点燈、完全点燈の二つの点燈状態をつく
り、発光ダイオードの試験中であっても障害の検出が可
能となり、データ転送監視表示システムの偉績性の向上
に貢献する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の原理構成を示す図、 第２図は本発明の一実施例の回路を示す図、第３図は本
発明の他の実施例の回路を示す図、第４図は従来の一実
施例の回路を示す図、第５図は従来の他の実施例の回路
を示す図、を示す。 図において、 １は発光ダイオード駆動手段、 ２は発光ダイオード、 ＳＩは発光ダイオードの試験用スイッチ、Ｒ１は発光輝
度可変手段としての抵抗、である。 μ明り厘理蹟賎°ｌ氷Ｔ口 第１図 第３図 本発明４−更特例の回路１４ｍ 第２図 従来の一突λ西の匣Ｖを９木Ｔ図 第４図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 一端に直流電圧を供給し、かつ他の一端には他端がアー
   スした発光ダイオード駆動手段（１）を接続し、該発光
   ダイオード駆動手段（１）に障害信号を入力してオンオ
   フ制御をなし、発光ダイオード（２）を点燈させるもの
   において、 発光ダイオード（２）と発光ダイオード駆動手段（１）
   の接続点に一端を接続し、かつ他の一端にはオンオフ制
   御するスイッチ（Ｓ＿１）を介してアースに接続される
   発光輝度可変手段（Ｒ＿１）を設け、準点燈状態と点燈
   状態を表示することを特徴とする発光ダイオードの輝度
   可変試験回路。