JPH02280875A - 均質なポリ‐メチルメタクリレート層の製造方法 - Google Patents

均質なポリ‐メチルメタクリレート層の製造方法

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JPH02280875A
JPH02280875A JP2057865A JP5786590A JPH02280875A JP H02280875 A JPH02280875 A JP H02280875A JP 2057865 A JP2057865 A JP 2057865A JP 5786590 A JP5786590 A JP 5786590A JP H02280875 A JPH02280875 A JP H02280875A
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エルウイン、クナペーク
Burkhard Lischke
ブルクハルト、リシユケ
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、厚さの調節可能な均質なポリ・メチルメタク
リレート層を製造する方法に関するものである。
〔従来の技術〕
ポリ・メチルメタクリレート(PMMA)はイオン化可
能の高エネルギー放射線によりリソグラフィー構造化す
るためのフォトレジストとして使用することができる。
そのためには金属性、半導電性又は絶縁性材料からなる
種々異なる基板上に薄いPMMA層を施し、この層中に
電子ビームでか又はX線リソグラフィにより“像“を作
るる。
この像は湿式化学法で現像した後ポジ像であるPMMA
からなる構造に移行する0作られPMMA構造は次の仕
上げ工程用マスクとして使用することができる。その結
果特に他の任意の金属又は他の材料をエツチング、ドー
ピング又は析出することにより基板上にマイクロエレク
トロニクス及び他の微小構造部材用の所望の構造を作る
ことができる。
PMMA層の塗布は通常のフォトレジストの場合と同様
溶液中で、例えば滴下又は遠心分離により行う、これに
使用される溶剤は例えばクロルベンゾール又はメチルイ
ソブチルケトンである。簡単な薄いフォトレジスト層の
製造には問題はないが、公知の溶剤では層厚が20μ曽
以上の均質で平坦な層を製造することは不可能である。
またこの種の厚い層は表面が粗く、更に機械的応力が劣
っており、亀裂を生じ易い0層厚をより厚くするために
は一層高い濃度、従って一層高い粘性のPMMA溶液を
必要とするが、これは公知溶剤では得ることができない
。従来20μ−以上のPMMAIWf厚は数枚の薄いP
MMA箔をシアンアクリレート接着剤で貼り付けること
により得てきた。この方法は法外に経費が嵩むと共に、
費用も時間もかかる。
20μ−以上の任意の構造を、同時に要求される高いア
スペクト比で製造するもう1つの可能性としては、二成
分反応樹脂を使用することが提案されているにすぎない
、しかしこの技術は特に両方の樹脂成分の複雑な混合及
びドーピングにより極めて経費が嵩む。
〔発明が解決しようとする課題〕
従うて本発明の課題は、20μ麟以上の層厚に調節可能
の特に均質な層を製造することのできるPMMA層を製
造する方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
この課題は本発明によれば以下の工程、すなわち、 a) 乳酸エステルに溶解したPMMAの溶液を作り、 b) この溶液を基板上に均質な層状で施し、C) 溶
剤を蒸発させることによりこの層を乾燥し、また d) 場合によっては工程a)、b)及びC)を繰り返
す 各工程を存する冒頭に記載した形式の方法により解決さ
れる。
〔作用効果〕
本発明の他の実施態様は請求項2以下に記載されている
本発明方法を用いた場合、滑らかな表面を有する均質な
PMMAIWは厚さ約40μ曽まで製造可能である0本
発明方法は公知方法によっては従来得ることのできなか
ったこの種の層の品質の他に、使用される溶剤の無難性
によって特色付けられる。
特にクロルベンゾールに比べて乳酸エステルは、健康上
無害でありまた特に生物学的に分解可能であるという利
点を有する。従って本方法は、オーブンシステムで作業
し得ることから簡単に行うことができる。
乳酸エチルエステルを使用すると特別な利点が得られる
。乳酸エチルエステルはPMMA用の最高の溶剤である
。これによりPMMAを5重量%まで含む均質な溶液を
製造することができる。しかし通常PMMA含有量約1
重量%までの溶液を使用する。更に溶液の濃度は1作業
過程で得ることのできる層厚を決定する。PMMA層を
遠心分離により基板上に製造する場合、層厚を調節する
もう1つの可能性は、重合度の異なるPMMA材料を選
択するか又は回転数をコントロールすることによって得
られる。溶液がより濃くなるか又はより粘性になるほど
、これにより得られる層厚は大きくなる。特に高濃度の
溶液の製造は加熱により支持及び促進することができる
基板上へのPMMA層の製造に影響を及ぼすもう1つの
要素は基板の表面状態である。基板の高すぎるか又は低
すぎる表面エネルギーはP MMA層の拡散、すなわち
基板上でのPMMA溶液の流れにマイナスの影響を及ぼ
す可能性がある。従って場合によってはPMMA層を施
す前に基板を適当な表面活性化物質で前処理してもよい
、特に珪素及びガラス基板の場合、更に付加的に行うべ
き処置が必要となる場合がある。すなわち−層厚いPM
MA層の場合これが基板から剥離するという接着上の問
題が生じる可能性がある。この場合の処置は基板表面を
接着助剤、例えば洗浄剤で前処理することができる。特
にこの目的で有利なのはグリシレチン酸又はそのグルコ
シドであり、これはエタノール又は水中に0.01重量
%含まれる溶液として使用するのがを利である。ステロ
イドに類似する物質であるグリシレチン酸で前処理する
ことにより、20μm以上の厚さのPMMA層は任意に
形成された表面を有する基板全体に極めて強固に接着さ
れる。基板を構造化する他の処理工程、特に現像、例え
ば電気的処理工程で、決して層が分離することはない。
更に薄いPMMA層(数百nm)を電子ビームで照射し
た場合、乳酸−エチルエステル溶液から作られたPMM
A層は余すことなく現像されるが、クロルベンゾール溶
液から作られたPMMA層はとくに電子ビームで過度に
露光した場合現像工程によって除去し得ない残分を有し
、その結果以後の処理工程が困難になることが判明した
。これは、PMMA中に僅かではあれクロルベンゾール
が残存することによって電子ビームの照射時にクロル遊
離基が生じ、これが酸素の存在下に現像工程で溶解し得
ない過酸化物の架橋生成物を形成するという事実によっ
て説明することができる。過酸化物架橋生成物は、例え
ばX線リソグラフィ用の申し分のないマスクを製造でき
なくするのに著しく関与する。
〔実施例〕
以下に本発明方法を一実施例及びそれに付随する4つの
図面に基づき詳述する。これらの図面は電気デバイスの
略示断面図であり、その製造時における種々の工程段階
を示すもので、このため特にPMMA層を使用する。
まず乳酸−エチルエステル中にポリ・メチルメタクリレ
ート1重量%を含む溶液を製造する。この溶液に乳酸−
エチルエステル中のPMMA¥A粒を撹拌導入する。P
MMAの重合度に応じて均質な溶液を製造するために溶
液を加熱することが必要である。数分後PMMAは完全
に溶解する。
第1図に示すように、半導電性の基板1、例えば珪素又
は酸化アルミニウムセラミックに金属の薄層例えば1μ
−の銅層2を施す、この基板上又はti4illi上に
、グリシレチン酸0.01重量%を含む水溶液を数滴遠
心塗布して、接着剤層を製造する。
この上に予め用意したPMMA溶液を遠心塗布する。こ
の溶液の粘度に応じて回転数を調節することにより、均
一な厚さの−様な層3を例えば20μmの層厚で製造す
る。数分後室温で溶剤は十分に蒸発され、また層3は十
分に乾燥されることから、層は更にPMMA溶液を遠心
塗布することによって問題なく補強することができる。
層3の2枚の部分層は移行部分を認識することのできな
い1つの全体層を形成する0部分層は互いに接着するこ
とに関しても問題は生じない、最後に全体で40μ−の
厚さの層3が得られる。これを約1時間室温で乾燥し、
最後にX線リソグラフィで構造化する。このため層3を
(図示されていない)接触マスクを介してX線4で露光
する。その際マスクによって層3の特定の範囲をX線4
から遮蔽する。
第2図に示すように、J!13の露光された遮蔽されて
いない範囲でPMMA−t−X線により、以下に記載す
る湿式化学的現像処理でこれが溶出されるように化学的
に変化させる。遮蔽された範囲は銅層2上にウェブ5と
して残存する。溶出された溝部6は急斜面を有する。更
に溝部6中に露出した銅層2を銅を電気的に析出させる
ことによって補強し、溝部6をウェブ5の上縁まで銅で
満たす。
第3図は銅で満たされた溝部6に相当する鋼構造7を、
ウェブ5をエツチングにより溶解した後の状態で示すも
のである0次のエツチング工程で全表面を異方性エツチ
ングすることにより、溝部8中に露出されている元の銅
層2が除去されるまで銅を取り除く。
第4図はこの段階の構造部材を示すものである。
基板上には鋼構造7のみが残り、これはX線リソグラフ
ィで露光により作られたパターンのポジ像に該当するも
のである。この種の電気めっき的に作られた鋼構造は従
来経費の嵩むフォトレジスト技術によってのみ製造でき
たものである。これに対して本発明による方法ではPM
MA層の製造は著しく簡略化されている。このようにし
て作られたPMMA層は明らかに一層均質であることか
ら、リソグラフィ工程によって40as+までの厚さの
一層精密なPMMA層が作られ、これはまた最終的に一
層精密な構成部材の構造物、例えば電気めっき的に作ら
れた金属構造の製造をも可能とする。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図及び第4図は電気デバイスのそ
の都度の製造過程を示す略示図である。 1・・・基板 2・・・銅層 3・・・均質層 4・・・X線 5・・・ウェブ 6・・・溝部 7・・・鋼構造 8・・・溝部 IG 4

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)厚さの調節可能な均質なポリ・メチルメタクリレー
    ト層(3)を製造する方法において、以下の方法工程、
    すなわち a)乳酸エステルに溶解したポリ・メチルメタクリレー
    ト(PMMA)の溶液を作り、 b)この溶液を基板(1、2)上に均質な層(3)状で
    施し、 c)溶剤を蒸発させることによりこの層(3)を乾燥し
    、また d)場合によっては工程a)、b)及びc)を繰り返す 各工程を有する均質なポリ・メチルメタクリレート層の
    製造方法。 2)乳酸エチルエステルを使用することを特徴とする請
    求項1記載の方法。 3)基板(1、2)上のポリ・メチルメタクリレート層
    (3)の厚さを、乳酸エステル溶液中のポリ・メチルメ
    タクリレート濃度を調節することにより制御することを
    特徴とする請求項1又は2記載の方法。 4)ポリ・メチルメタクリレート層(3)を遠心分離に
    より塗布し、層厚を遠心分離中の回転数を制御すること
    により調節することを特徴とする請求項1ないし3の1
    つに記載の方法。 5)基板(1、2)の表面を、層を施す以前に前処理す
    ることを特徴とする請求項1ないし4の1つに記載の方
    法。 6)ポリ・メチルメタクリレート溶液が、基板表面の性
    質との関連において選択される他の成分を含むことを特
    徴とする請求項1ないし5の1つに記載の方法。 7)ポリ・メチルメタクリレート溶液を加熱下に作るこ
    とを特徴とする請求項1ないし6の1つに記載の方法。 8)基板をPMMA層の塗布以前にグリシレチン酸又は
    そのグルコシドで前処理することを特徴とする請求項1
    ないし7の1つに記載の方法。
JP2057865A 1989-03-08 1990-03-07 均質なポリ‐メチルメタクリレート層の製造方法 Pending JPH02280875A (ja)

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EP0388614A2 (de) 1990-09-26
EP0388614A3 (de) 1991-07-03
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