JPH0228438Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0228438Y2 JPH0228438Y2 JP18447384U JP18447384U JPH0228438Y2 JP H0228438 Y2 JPH0228438 Y2 JP H0228438Y2 JP 18447384 U JP18447384 U JP 18447384U JP 18447384 U JP18447384 U JP 18447384U JP H0228438 Y2 JPH0228438 Y2 JP H0228438Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- binary
- reference signal
- circuit
- outputs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の属する技術分野〕
本考案は、テレビカメラのような撮像装置を用
いて医薬用カプセルのような物体の表面における
汚れや異物等の付着、あるいは変形などの表面欠
陥の有無を検出する装置、特に前記カプセルにお
けるような湾曲した端面に存在する前記表面欠陥
をも確実に検出しうる装置構成に関する。
いて医薬用カプセルのような物体の表面における
汚れや異物等の付着、あるいは変形などの表面欠
陥の有無を検出する装置、特に前記カプセルにお
けるような湾曲した端面に存在する前記表面欠陥
をも確実に検出しうる装置構成に関する。
第４図は従来使用されている、医薬用カプセル
のような物体の表面欠陥検出装置の構成図で、図
において１は画像信号１ａを出力する撮像装置と
してのテレビカメラ、２は基準信号３をしきい値
信号として画像信号１ａを二値信号２ａに変換し
て出力する二値化回路である。第４図において
は、テレビカメラ１が撮像する物体の表面に、汚
れや異物等の付着、あるいは変形などの異常状態
（以後このような状態を表面欠陥ということがあ
る）が存在すると、二値信号２ａに途切れなどの
異常が生じる。４はこのような二値信号２ａにお
ける異常を検出して警報出力等の所定の動作を行
う信号処理装置で、５は上述の各部からなる表面
欠陥検出装置である。
のような物体の表面欠陥検出装置の構成図で、図
において１は画像信号１ａを出力する撮像装置と
してのテレビカメラ、２は基準信号３をしきい値
信号として画像信号１ａを二値信号２ａに変換し
て出力する二値化回路である。第４図において
は、テレビカメラ１が撮像する物体の表面に、汚
れや異物等の付着、あるいは変形などの異常状態
（以後このような状態を表面欠陥ということがあ
る）が存在すると、二値信号２ａに途切れなどの
異常が生じる。４はこのような二値信号２ａにお
ける異常を検出して警報出力等の所定の動作を行
う信号処理装置で、５は上述の各部からなる表面
欠陥検出装置である。
第５図は第６図のような両端に湾曲した底部を
有する円筒状カプセル６に対する欠陥検出装置５
の動作を説明するためのもので、第５図において
縦軸Ｖは第４図における画像信号１ａの電圧レベ
ル、横軸ｔは時間、特性線Ａはテレビカメラ１に
よつて行われる撮像の水平走査がカプセル６の軸
心Ｘ−Ｘに平行に行れた時の該軸心Ｘ−Ｘに対応
する画像信号１ａの波形である。以後上記水平走
査の一回分に対応する画像信号１ａを1Hラスタ
信号ということがある。第５図においてVsは第
４図の二値化回路２に入力される基準信号３の電
圧レベルで、表面欠陥検出装置５では電圧Vsを
しきい値電圧として二値化回路２で画像信号１ａ
の二値化を行うようにしているので、特性線Ａは
点Ｂと点Ｃとの間の部分が二値化され、欠陥検出
装置５では、二値化された特性線Ａの部分に対応
するカプセル６の表面部分の欠陥検出が行われ
る。したがつて第４図の検出装置５には、特性線
Ａの立ち上がり点Ｄと点Ｂとの間に対応するカプ
セル６の部分、および特性線Ａの立ち上がり点Ｅ
と点Ｃとの間に対応するカプセル６の部分、につ
いては欠陥検出ができないという問題があり、こ
のため点Ｂ，Ｄ間および点Ｃ，Ｅ間の特性線Ａに
対して微分検出を行つて欠陥検出をする方法が提
案されたが、この方法には、また、欠陥検出を行
うためのしきい値の設定が困難であるとか、装置
構成が複雑になるなどの問題があるほか、このよ
うな微分検出を行つても表面欠陥の全てを検出す
ることはできないという問題があつた。
有する円筒状カプセル６に対する欠陥検出装置５
の動作を説明するためのもので、第５図において
縦軸Ｖは第４図における画像信号１ａの電圧レベ
ル、横軸ｔは時間、特性線Ａはテレビカメラ１に
よつて行われる撮像の水平走査がカプセル６の軸
心Ｘ−Ｘに平行に行れた時の該軸心Ｘ−Ｘに対応
する画像信号１ａの波形である。以後上記水平走
査の一回分に対応する画像信号１ａを1Hラスタ
信号ということがある。第５図においてVsは第
４図の二値化回路２に入力される基準信号３の電
圧レベルで、表面欠陥検出装置５では電圧Vsを
しきい値電圧として二値化回路２で画像信号１ａ
の二値化を行うようにしているので、特性線Ａは
点Ｂと点Ｃとの間の部分が二値化され、欠陥検出
装置５では、二値化された特性線Ａの部分に対応
するカプセル６の表面部分の欠陥検出が行われ
る。したがつて第４図の検出装置５には、特性線
Ａの立ち上がり点Ｄと点Ｂとの間に対応するカプ
セル６の部分、および特性線Ａの立ち上がり点Ｅ
と点Ｃとの間に対応するカプセル６の部分、につ
いては欠陥検出ができないという問題があり、こ
のため点Ｂ，Ｄ間および点Ｃ，Ｅ間の特性線Ａに
対して微分検出を行つて欠陥検出をする方法が提
案されたが、この方法には、また、欠陥検出を行
うためのしきい値の設定が困難であるとか、装置
構成が複雑になるなどの問題があるほか、このよ
うな微分検出を行つても表面欠陥の全てを検出す
ることはできないという問題があつた。
本考案は上述したような従来の表面欠陥検出装
置における問題を解消して、平坦な表面は勿論の
こと前記カプセルにおけるような湾曲した端面に
存在する表面欠陥をも確実に検出しうる表面欠陥
検出装置を提供することを目的とする。
置における問題を解消して、平坦な表面は勿論の
こと前記カプセルにおけるような湾曲した端面に
存在する表面欠陥をも確実に検出しうる表面欠陥
検出装置を提供することを目的とする。
本考案は、上記目的を達成するために、画像信
号を出力する撮像装置と、画像信号を基準信号に
もとづいて二値化し第１二値信号を出力する第１
二値化回路と、第１二値信号について信号処理を
行う信号処理回路と、からなる物体の表面欠陥検
出装置において、さらに、画像信号を所定閾値で
二値化して第１二値信号を出力する第２二値化回
路と、第２二値信号によつて駆動され、該第２二
値化信号が加えられている期間に定電圧信号の積
分を行ない、その積分出力を前記基準信号として
発生する基準信号発生回路と、を設けたもので、
このように構成することによつて基準信号が画像
信号とほぼ同様な時間的変化をするようにして、
もつて平坦な表面は勿論のこと、前述のカプセル
におけるような湾曲した端面に存在する表面欠陥
をも確実に検出しうる表面欠陥検出装置が得られ
るようにしたものである。
号を出力する撮像装置と、画像信号を基準信号に
もとづいて二値化し第１二値信号を出力する第１
二値化回路と、第１二値信号について信号処理を
行う信号処理回路と、からなる物体の表面欠陥検
出装置において、さらに、画像信号を所定閾値で
二値化して第１二値信号を出力する第２二値化回
路と、第２二値信号によつて駆動され、該第２二
値化信号が加えられている期間に定電圧信号の積
分を行ない、その積分出力を前記基準信号として
発生する基準信号発生回路と、を設けたもので、
このように構成することによつて基準信号が画像
信号とほぼ同様な時間的変化をするようにして、
もつて平坦な表面は勿論のこと、前述のカプセル
におけるような湾曲した端面に存在する表面欠陥
をも確実に検出しうる表面欠陥検出装置が得られ
るようにしたものである。
第１図は本考案の一実施例の構成図で、第２図
は第１図における各部の波形説明図である。第１
図および第２図において、７は画像信号１ａと図
示していない回路によつて発生させられた定電圧
V1とが入力され、電圧V1をしきい値として画像
信号１ａが二値化された第２二値信号７ａを出力
する第２二値化回路、８は第２二値信号７ａによ
つて駆動され基準信号３を発生す基準信号発生回
路である。基準信号発生回路８は第３図に示した
よう構成されている。すなわち第３図において、
８１は第２二値信号７ａが入力される入力端子、
８２は図示していない回路によつて発生させられ
た定電圧Vsが入力される入力端子、８３は以下
に説明するようにして基準信号３が出力される出
力端子、８４は二値信号７ａが端子８１を介して
入力され、該信号７ａがＬレベルであるとオン状
態になつて出力端子８３をアースに短絡し、信号
７ａがＨレベルになるとオフ状態になるアナログ
スイツチである。８５は可変抵抗器、８６はコン
デンサである。
は第１図における各部の波形説明図である。第１
図および第２図において、７は画像信号１ａと図
示していない回路によつて発生させられた定電圧
V1とが入力され、電圧V1をしきい値として画像
信号１ａが二値化された第２二値信号７ａを出力
する第２二値化回路、８は第２二値信号７ａによ
つて駆動され基準信号３を発生す基準信号発生回
路である。基準信号発生回路８は第３図に示した
よう構成されている。すなわち第３図において、
８１は第２二値信号７ａが入力される入力端子、
８２は図示していない回路によつて発生させられ
た定電圧Vsが入力される入力端子、８３は以下
に説明するようにして基準信号３が出力される出
力端子、８４は二値信号７ａが端子８１を介して
入力され、該信号７ａがＬレベルであるとオン状
態になつて出力端子８３をアースに短絡し、信号
７ａがＨレベルになるとオフ状態になるアナログ
スイツチである。８５は可変抵抗器、８６はコン
デンサである。
第１図においては二値化回路７と基準信号発生
回路８とが上記のように構成されているので、二
値化回路７に入力される画像信号１ａのレベルが
定電圧V1より低い間は二値信号７ａはＬレベル
にあり、この結果アナログスイツチ８４がオン状
態となつて基準信号３は０ボルトになつている
が、画像信号１ａのレベルが定電圧V1を超える
と二値信号７ａはＨレベルになるのでアナログス
イツチ８４はオフ状態となり、この結果基準信号
３の電圧は抵抗器８５の抵抗値とコンデンサ８６
の静電容量とで決定される時定数に従つて上昇す
る。この電圧上昇は信号７ａがＨレベル状態にな
つている間継続するので信号３の電圧は定電圧
Vsに漸近する。第１図における９は、画像信号
１ａと基準信号３とが入力され、両信号の差を演
算してこの差電圧が内蔵された定電圧V2よりも
大きくなるとＨレベルとなる第１二値信号９ａを
出力する第１二値化回路で、この場合信号処理回
路４は二値信号９ａに対して信号処理を行うよう
に構成されている。
回路８とが上記のように構成されているので、二
値化回路７に入力される画像信号１ａのレベルが
定電圧V1より低い間は二値信号７ａはＬレベル
にあり、この結果アナログスイツチ８４がオン状
態となつて基準信号３は０ボルトになつている
が、画像信号１ａのレベルが定電圧V1を超える
と二値信号７ａはＨレベルになるのでアナログス
イツチ８４はオフ状態となり、この結果基準信号
３の電圧は抵抗器８５の抵抗値とコンデンサ８６
の静電容量とで決定される時定数に従つて上昇す
る。この電圧上昇は信号７ａがＨレベル状態にな
つている間継続するので信号３の電圧は定電圧
Vsに漸近する。第１図における９は、画像信号
１ａと基準信号３とが入力され、両信号の差を演
算してこの差電圧が内蔵された定電圧V2よりも
大きくなるとＨレベルとなる第１二値信号９ａを
出力する第１二値化回路で、この場合信号処理回
路４は二値信号９ａに対して信号処理を行うよう
に構成されている。
第１図においては二値化回路９が上記のように
構成されているので、二値化回路７，９に画像信
号１ａが入力されると第２図のＦ点の時刻に二値
信号９ａはＨレベルとなり、このＨレベルは第２
図のＧ点の時刻にＬレベルに復帰する。故に第１
図に示した欠陥検出装置によれば、第２図の点Ｆ
から点Ｇまでの間の特性線Ａに対応したカプセル
の部分に対する表面欠陥の検出が行われるわけ
で、前述したように従来の欠陥検出装置では第２
図ＡのＢ点よりも左側の特性線Ａに対応するカプ
セル部分、すなわち第６図に示したカプセル６の
左端の湾曲した端面の部分に対して欠陥検出がで
きなかつたのに対し、第１図の装置ではこのよう
なカプセル部分に対しても欠陥検出ができること
が明らかである。なお第１図の装置によれば、第
２図Ａから明らかなように、点Ｇと点Ｃとの間の
特性線Ａに対応するカプセル部分だけ従来装置に
比べて欠陥検出範囲が減少しているが、第１図の
装置においてはこの検出範囲の減少は無視できる
大きさになるように要部が構成されている。
構成されているので、二値化回路７，９に画像信
号１ａが入力されると第２図のＦ点の時刻に二値
信号９ａはＨレベルとなり、このＨレベルは第２
図のＧ点の時刻にＬレベルに復帰する。故に第１
図に示した欠陥検出装置によれば、第２図の点Ｆ
から点Ｇまでの間の特性線Ａに対応したカプセル
の部分に対する表面欠陥の検出が行われるわけ
で、前述したように従来の欠陥検出装置では第２
図ＡのＢ点よりも左側の特性線Ａに対応するカプ
セル部分、すなわち第６図に示したカプセル６の
左端の湾曲した端面の部分に対して欠陥検出がで
きなかつたのに対し、第１図の装置ではこのよう
なカプセル部分に対しても欠陥検出ができること
が明らかである。なお第１図の装置によれば、第
２図Ａから明らかなように、点Ｇと点Ｃとの間の
特性線Ａに対応するカプセル部分だけ従来装置に
比べて欠陥検出範囲が減少しているが、第１図の
装置においてはこの検出範囲の減少は無視できる
大きさになるように要部が構成されている。
上述したように、本考案においては、画像信号
を出力する撮像装置と、画像信号を基準信号にも
とづいて二値化し第１二値信号を出力する第１二
値化回路と、第１二値信号について信号処理を行
う信号処理回路と、からなる物体の表面欠陥検出
装置において、さらに、画像信号を所定閾値で二
値化して第２二値信号を出力する第２二値化回路
と、第１二値信号によつて駆動され、該第２二値
信号が加えられている期間に定電圧信号の積分を
行い、その積分出力を前記基準信号として発生す
る基準信号発生回路と、を設けたので、このよう
に構成することによつて基準信号が画像信号とほ
ぼ同様な時間的変化をするようにして、もつて平
坦な表面は請論のこと、前述のカプセルにおける
ような湾曲した端面に存在する表面欠陥をも確実
に検出しうる表面欠陥検出装置が得られる効果が
ある。
を出力する撮像装置と、画像信号を基準信号にも
とづいて二値化し第１二値信号を出力する第１二
値化回路と、第１二値信号について信号処理を行
う信号処理回路と、からなる物体の表面欠陥検出
装置において、さらに、画像信号を所定閾値で二
値化して第２二値信号を出力する第２二値化回路
と、第１二値信号によつて駆動され、該第２二値
信号が加えられている期間に定電圧信号の積分を
行い、その積分出力を前記基準信号として発生す
る基準信号発生回路と、を設けたので、このよう
に構成することによつて基準信号が画像信号とほ
ぼ同様な時間的変化をするようにして、もつて平
坦な表面は請論のこと、前述のカプセルにおける
ような湾曲した端面に存在する表面欠陥をも確実
に検出しうる表面欠陥検出装置が得られる効果が
ある。
第１図は本考案の一実施例の構成図、第２図は
第１図における各部の波形説明図で、同図Ａ、同
図Ｂ、同図Ｃはそれぞれ異なる説明図である。第
３図は第２図における基準信号発生回路の構成
図、第４図は従来の表面欠陥検出装置の構成図、
第５図は第４図の装置の動作説明図、第６図は欠
陥検出対象物体としてのカプセルの平面図であ
る。 １……撮像装置としてのテレビカメラ、１ａ…
…画像信号、３……基準信号、４……信号処理回
路、７……第２二値化回路、７ａ……第２二値信
号、８……基準信号発生回路、９……第１二値化
回路、９ａ……第２二値信号。
第１図における各部の波形説明図で、同図Ａ、同
図Ｂ、同図Ｃはそれぞれ異なる説明図である。第
３図は第２図における基準信号発生回路の構成
図、第４図は従来の表面欠陥検出装置の構成図、
第５図は第４図の装置の動作説明図、第６図は欠
陥検出対象物体としてのカプセルの平面図であ
る。 １……撮像装置としてのテレビカメラ、１ａ…
…画像信号、３……基準信号、４……信号処理回
路、７……第２二値化回路、７ａ……第２二値信
号、８……基準信号発生回路、９……第１二値化
回路、９ａ……第２二値信号。
Claims (1)
- 画像信号を出力する撮像装置と、前記画像信号
を基準信号にもとづいて二値化し第１二値信号を
出力する第１二値化回路と、前記第１二値信号に
ついて信号処理を行う信号処理回路と、からなる
物体の表面欠陥検出装置において、前記画像信号
を所定閾値で二値化して第２二値信号を出力する
第２二値化回路と、前記第２二値信号によつて駆
動され、該第２二値信号が加えられている期間に
定電圧信号の積分を行ない、その積分出力を前記
基準信号として発生する基準信号発生回路と、を
設けたことを特徴とする表面欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18447384U JPH0228438Y2 (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18447384U JPH0228438Y2 (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6199044U JPS6199044U (ja) | 1986-06-25 |
| JPH0228438Y2 true JPH0228438Y2 (ja) | 1990-07-31 |
Family
ID=30741962
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18447384U Expired JPH0228438Y2 (ja) | 1984-12-05 | 1984-12-05 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0228438Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-12-05 JP JP18447384U patent/JPH0228438Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6199044U (ja) | 1986-06-25 |
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