JPH0228568A - スペクトラムアナライザ - Google Patents
スペクトラムアナライザInfo
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- JPH0228568A JPH0228568A JP6981989A JP6981989A JPH0228568A JP H0228568 A JPH0228568 A JP H0228568A JP 6981989 A JP6981989 A JP 6981989A JP 6981989 A JP6981989 A JP 6981989A JP H0228568 A JPH0228568 A JP H0228568A
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Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は被測定信号の周波数解析を行なうスペクトラ
ムアナライザの改良に関する。
ムアナライザの改良に関する。
従来より、良く知られているようにスペクトラムアナラ
イザは、例えば数10 kHzから数10乃至数100
GHzの比較的に高範囲の高周波の被測定信号の特性
を測定して、明譬表示部に各周波数におけるスペクトラ
ム強度金、横軸を周波数軸として表示する。このように
したスペクトラムアナライザは、例えば第10図に示す
よう、RF部(高周波回路)1、IF部(中間周波回路
)2、検波N J 、 A/ D変換部4、ディジタル
メモリ5、q日表示部6、掃引信号発生部7およびf−
夕処理・制御部8等で構成されている。
イザは、例えば数10 kHzから数10乃至数100
GHzの比較的に高範囲の高周波の被測定信号の特性
を測定して、明譬表示部に各周波数におけるスペクトラ
ム強度金、横軸を周波数軸として表示する。このように
したスペクトラムアナライザは、例えば第10図に示す
よう、RF部(高周波回路)1、IF部(中間周波回路
)2、検波N J 、 A/ D変換部4、ディジタル
メモリ5、q日表示部6、掃引信号発生部7およびf−
夕処理・制御部8等で構成されている。
このような回路構成において、入力端子9から入力され
た高周波の被測定信号&は、ミキサと局部発振器からな
るRF部!へ入力される。このRF部1において、入力
された被測定信号aは掃引信号発生部7から出力される
掃引信号すの信号レベルに応じて見損周波数が変化する
局部発去器の局部発振信号(ローカル信号)と混合され
ることによって、中間周波数信号Cに周波数変換される
。RF部1から出力された中間周波数信号Cは次のバン
ドパスフィルタ(BPF )が内蔵されたIFF2O入
力される。そして、バンドパスフィルタの通過周波数に
一致した周波数成分のみがこのIFF2O通過して、次
の検波部3へ入力され、その大きさに対応した直流の検
波信号dとして出力される。この検波信号dは次のA/
D変換部4で例えばマイクロプロセッサ等にて構成され
たデータ処理・制御部8から出力されるサンプリング信
号eの周期に応、動してガジタルデータに変換されたの
ち、例えばRAM等で形成されたディジタルメモリ5へ
格納される。
た高周波の被測定信号&は、ミキサと局部発振器からな
るRF部!へ入力される。このRF部1において、入力
された被測定信号aは掃引信号発生部7から出力される
掃引信号すの信号レベルに応じて見損周波数が変化する
局部発去器の局部発振信号(ローカル信号)と混合され
ることによって、中間周波数信号Cに周波数変換される
。RF部1から出力された中間周波数信号Cは次のバン
ドパスフィルタ(BPF )が内蔵されたIFF2O入
力される。そして、バンドパスフィルタの通過周波数に
一致した周波数成分のみがこのIFF2O通過して、次
の検波部3へ入力され、その大きさに対応した直流の検
波信号dとして出力される。この検波信号dは次のA/
D変換部4で例えばマイクロプロセッサ等にて構成され
たデータ処理・制御部8から出力されるサンプリング信
号eの周期に応、動してガジタルデータに変換されたの
ち、例えばRAM等で形成されたディジタルメモリ5へ
格納される。
^ジタルメモリ5に格納された検波信号dの前記サンプ
リング周期毎のディジタルデー夕は、やはシデータ処理
・制御部8から出力される一定周期の続出信号fに応動
して、一定の順序で読出されて表示部6へ送出される。
リング周期毎のディジタルデー夕は、やはシデータ処理
・制御部8から出力される一定周期の続出信号fに応動
して、一定の順序で読出されて表示部6へ送出される。
この表示部6は例えば表示画面に一度に表示できる1画
面分の画像メモリを有しておシ、順次入力される各デー
タ値をその画像メモリに記憶させたのち、その1画面分
の画像メモリの画像情報を表示画面に表示する。しかし
て、表示部6の表示画面に第11図に示すようなスペク
トラム分布データが表示される。
面分の画像メモリを有しておシ、順次入力される各デー
タ値をその画像メモリに記憶させたのち、その1画面分
の画像メモリの画像情報を表示画面に表示する。しかし
て、表示部6の表示画面に第11図に示すようなスペク
トラム分布データが表示される。
第11図の各スイクトルは面積をもたない理想的な線状
として示した。しかるに、実際上、IFF2Oバンドパ
スフィルタの帯域幅に応じた幅を有するスイクトルとし
て表示される。
として示した。しかるに、実際上、IFF2Oバンドパ
スフィルタの帯域幅に応じた幅を有するスイクトルとし
て表示される。
前記データ処理・制御部8は、表示部6に第11図に示
されるスペクトラム分布データが表示されるように、掃
引信号発生部7の掃引間隔、掃引速度を制御し、かつ、
A / D変換部4ヘサンプリング信号・を送出し、デ
ィジタルメモリ5へ読出信号fを送出する。また、所望
の周波数値のスペクトラム値が≠解表示部6に表示され
るように、必要な演算処理を実行する。
されるスペクトラム分布データが表示されるように、掃
引信号発生部7の掃引間隔、掃引速度を制御し、かつ、
A / D変換部4ヘサンプリング信号・を送出し、デ
ィジタルメモリ5へ読出信号fを送出する。また、所望
の周波数値のスペクトラム値が≠解表示部6に表示され
るように、必要な演算処理を実行する。
しかしながら、第10図に示すように構成されたスペク
トラムアナライザにおいてもまだ次のような問題があっ
た。すなわち、被測定信号aの性質を調べるには、その
信号に含まれる各周波数のスペクトラム値の分布データ
を正確に把握すると共に、各スペクトラム値の総和、す
なわち入力された被測定信号aの電力値も同時に把握す
る必要がある場合が多々ある。
トラムアナライザにおいてもまだ次のような問題があっ
た。すなわち、被測定信号aの性質を調べるには、その
信号に含まれる各周波数のスペクトラム値の分布データ
を正確に把握すると共に、各スペクトラム値の総和、す
なわち入力された被測定信号aの電力値も同時に把握す
る必要がある場合が多々ある。
この入力された被測定信号aがIFF2Oバンドパスフ
ィルタの帯域幅以上に広がるスペクトラム成分?含む湯
今に、その電力値を第10図に示したような従来のスペ
クトラムアナライザを用いて測定するには、一つの掃引
信号すが掃引開始から掃引終了するまでの期間にA/D
変換部4にて各サンプリング信号eの周期毎に得られる
データ値を例えばf−タ・制御部8で積算すればよい。
ィルタの帯域幅以上に広がるスペクトラム成分?含む湯
今に、その電力値を第10図に示したような従来のスペ
クトラムアナライザを用いて測定するには、一つの掃引
信号すが掃引開始から掃引終了するまでの期間にA/D
変換部4にて各サンプリング信号eの周期毎に得られる
データ値を例えばf−タ・制御部8で積算すればよい。
そして、入力された被測定信号1の電力値を正確に積算
するためには、被測定信号aに含まれる全周波数に亘・
る各スペクトラム値が正確に測定されることが前提とな
る。しかし、一般に入力被測雑信号に含まれるスペクト
ラム成分の広がりを予め予測することは難しい。また、
上述したように測定されるスペクトラムが有するIFF
2Oバンドパスフィルタの帯域幅に応じた誤差分全補正
して積算する場合に複雑な補正計算が必要となる。従っ
て、上述のような積算手法でその電力値を正確に測定す
ることは不可能に近い。
するためには、被測定信号aに含まれる全周波数に亘・
る各スペクトラム値が正確に測定されることが前提とな
る。しかし、一般に入力被測雑信号に含まれるスペクト
ラム成分の広がりを予め予測することは難しい。また、
上述したように測定されるスペクトラムが有するIFF
2Oバンドパスフィルタの帯域幅に応じた誤差分全補正
して積算する場合に複雑な補正計算が必要となる。従っ
て、上述のような積算手法でその電力値を正確に測定す
ることは不可能に近い。
また、このようなスペクトラムアナライザにおいては、
f−夕処理・制御部8にて選択設定された特定の周波数
掃引範囲の信号成分しかボ表示部6に表示されない。実
際には、この周波数掃引範囲を外れた周波数領域に高レ
ベルのスペクトラム値(周波数成分)が存在する場合も
ある・しかるに、操作者はその高レベルの周波数成分の
存在に気付かない場合が多々発生する。また、RF部1
において、飽和が発生しているのに気付かず、誤差の多
い測定を行なう懸念がある。また、過大入力によりRF
部1を破損する懸念もある。特に、雑音性の信号やRF
パルス信号のようにス(クトラムが広帯域に分布するよ
うな信号を測定する場合、個々のスペクトラム値に比べ
、全電力値やノクルスピーク電力ははるかに大きくなる
ので上述した問題が生じやすい。
f−夕処理・制御部8にて選択設定された特定の周波数
掃引範囲の信号成分しかボ表示部6に表示されない。実
際には、この周波数掃引範囲を外れた周波数領域に高レ
ベルのスペクトラム値(周波数成分)が存在する場合も
ある・しかるに、操作者はその高レベルの周波数成分の
存在に気付かない場合が多々発生する。また、RF部1
において、飽和が発生しているのに気付かず、誤差の多
い測定を行なう懸念がある。また、過大入力によりRF
部1を破損する懸念もある。特に、雑音性の信号やRF
パルス信号のようにス(クトラムが広帯域に分布するよ
うな信号を測定する場合、個々のスペクトラム値に比べ
、全電力値やノクルスピーク電力ははるかに大きくなる
ので上述した問題が生じやすい。
さらに、連続波(CW)信号のように全スペクトラムが
IFF2Oバンドパスフィルタの通過帯域内に入り、r
L埋的には電力値を測定可能な場合においても、RF部
1およびIF’F2O3雑な信号回路を経過するために
大きな誤差全件うのが普通である。このため、連続波信
号に対しても正確な電力値の測定全行なうためには、予
め電力値が正確に卸られている信号を基準信号として入
力して、スペクトラムアナライザの指示値を使用周波数
において校正しておく必要があった。しかしながら、こ
の校正作業は非常に手間のかかる作業であり、測定作業
能率が大幅に低下する。また、現実の問題として、測定
しようとする周波数で電力値が正確に知られている信号
[−常時準備しておくことは不可能に近く、不十分な測
定精度で電力値の測定を実施せざるを得ない問題がある
。
IFF2Oバンドパスフィルタの通過帯域内に入り、r
L埋的には電力値を測定可能な場合においても、RF部
1およびIF’F2O3雑な信号回路を経過するために
大きな誤差全件うのが普通である。このため、連続波信
号に対しても正確な電力値の測定全行なうためには、予
め電力値が正確に卸られている信号を基準信号として入
力して、スペクトラムアナライザの指示値を使用周波数
において校正しておく必要があった。しかしながら、こ
の校正作業は非常に手間のかかる作業であり、測定作業
能率が大幅に低下する。また、現実の問題として、測定
しようとする周波数で電力値が正確に知られている信号
[−常時準備しておくことは不可能に近く、不十分な測
定精度で電力値の測定を実施せざるを得ない問題がある
。
従って、本発明の目的とするところは、通常のスペクト
ラム分布データと共に、それの電力値を容易に且つ正確
に表示することができるスペクトラムアナライザを提供
することにある。
ラム分布データと共に、それの電力値を容易に且つ正確
に表示することができるスペクトラムアナライザを提供
することにある。
上記目的を達成するために、本発明の一態様によるスペ
クトラムアナライザにおいては、実質的に入力信号を第
1の通路および第2の通路祇に導く手段と、上記第1の
通路に導かれた入力信号に対応するス(クトラムデータ
を生成する手段と、上記第2の通路に導かれた入力信号
に対応する電力値を検出する手段と、上記ス(クトラム
f−タを上記電力値と一緒に表示する手段とを具備する
。
クトラムアナライザにおいては、実質的に入力信号を第
1の通路および第2の通路祇に導く手段と、上記第1の
通路に導かれた入力信号に対応するス(クトラムデータ
を生成する手段と、上記第2の通路に導かれた入力信号
に対応する電力値を検出する手段と、上記ス(クトラム
f−タを上記電力値と一緒に表示する手段とを具備する
。
また、本発明の別の態様によるスペクトラムアナライザ
は、入力端子から入力された被測定信号金掃引信号発生
部からの掃引信号にて周波数掃引される局部発掘信号と
混合して周波数変換するRF部と、このRF部の出力信
号の所定周波数成分を取出すIF部と、このIF部の出
力信号を検波する検波部と、この検波部の検波信号を一
定周期でディジタル値に変換するA/D変換部と、この
A/D変換部にて変換された各ディジタル値を各周波数
におけるスペクトラム値として表示する表示部と、前記
入力端子とRF部との間に介挿された信号分岐または切
換回路と、この信号分岐回路によ多分岐された被測定信
号の電力値を検出して前記スペクトラム値と一緒に表示
するために表示部へ送出する電力検出器とを備えたもの
である。
は、入力端子から入力された被測定信号金掃引信号発生
部からの掃引信号にて周波数掃引される局部発掘信号と
混合して周波数変換するRF部と、このRF部の出力信
号の所定周波数成分を取出すIF部と、このIF部の出
力信号を検波する検波部と、この検波部の検波信号を一
定周期でディジタル値に変換するA/D変換部と、この
A/D変換部にて変換された各ディジタル値を各周波数
におけるスペクトラム値として表示する表示部と、前記
入力端子とRF部との間に介挿された信号分岐または切
換回路と、この信号分岐回路によ多分岐された被測定信
号の電力値を検出して前記スペクトラム値と一緒に表示
するために表示部へ送出する電力検出器とを備えたもの
である。
上記のような一態様によるスペクトラムアナライザによ
れば、被測定信号をスペクト2ムラムデータの生成部と
電力値の検出部とに分配することによシ、測定時間を増
加させることなく、容易に且つ正確にスペクトラムデー
タと一緒にそれの電力値を表示することができる。
れば、被測定信号をスペクト2ムラムデータの生成部と
電力値の検出部とに分配することによシ、測定時間を増
加させることなく、容易に且つ正確にスペクトラムデー
タと一緒にそれの電力値を表示することができる。
また、上記のように構成された別の態様によるスペクト
ラムアナライザによれば、入力端子から入力された被測
定信号は信号分岐または切換回路を介してRF部へ入力
されるとともに電力検出器へ入力される。RF部へ入力
された被測定信号線、このRF部、次のIF部、検波部
およびA/D変換部にて各周波数に対応するスペクトラ
ム値に分解されてW表示部に表示される。
ラムアナライザによれば、入力端子から入力された被測
定信号は信号分岐または切換回路を介してRF部へ入力
されるとともに電力検出器へ入力される。RF部へ入力
された被測定信号線、このRF部、次のIF部、検波部
およびA/D変換部にて各周波数に対応するスペクトラ
ム値に分解されてW表示部に表示される。
一方、電力検出器へ入力された被測定信号は、この電力
検出器でもってその電力値が平均値またはピーク値とし
て検出される。そして、検出された全電力値は前記〒表
示部に前記各スペクトラム値とともに表示される。
検出器でもってその電力値が平均値またはピーク値とし
て検出される。そして、検出された全電力値は前記〒表
示部に前記各スペクトラム値とともに表示される。
よって、被測定信号の各周波数における各スペクトラム
値と全電力値が害表示部に同時に表示される。
値と全電力値が害表示部に同時に表示される。
先ず、本発明の概要について説明すると、本発明は第1
図に示すように、入力端子INから入力された被測定信
号全掃引信号発生部100からの掃引信号によりて処理
し、被測定信号のスペクトラムに対応した信号を出力す
る信号処理部101と、前記対応した信号を第1のディ
ジタルのデータに変換する第1のA / D変換部10
2と、前記第1のディジタルデータを記憶する第1のメ
モリ103と、前記第1のディジタルデータを表示する
表示部104とを備えたスペクトラムアナライザに適用
される。
図に示すように、入力端子INから入力された被測定信
号全掃引信号発生部100からの掃引信号によりて処理
し、被測定信号のスペクトラムに対応した信号を出力す
る信号処理部101と、前記対応した信号を第1のディ
ジタルのデータに変換する第1のA / D変換部10
2と、前記第1のディジタルデータを記憶する第1のメ
モリ103と、前記第1のディジタルデータを表示する
表示部104とを備えたスペクトラムアナライザに適用
される。
本発明によると前記入力端子INと前記信号処理部10
1との間に介挿された信号分動回路(または信号切換回
路)105と、前記被測定信号のパワーセンサするパワ
ーセンサ106 ト、前記パワーセンサ106の出力を
第2のディジタルデータに変換する第2のA/D変換部
107と、該第2のA/D変換部107の出力を記憶す
る第2のメモIJ 10 Bとを備え、前記表示部に前
記第2のディジタルデータと前記第1のディジタルデー
タとを前記表示部104の同一画面上に一緒に表示する
ことを特徴とする特有の構成を有したスペクトラムアナ
ライザが提供される。
1との間に介挿された信号分動回路(または信号切換回
路)105と、前記被測定信号のパワーセンサするパワ
ーセンサ106 ト、前記パワーセンサ106の出力を
第2のディジタルデータに変換する第2のA/D変換部
107と、該第2のA/D変換部107の出力を記憶す
る第2のメモIJ 10 Bとを備え、前記表示部に前
記第2のディジタルデータと前記第1のディジタルデー
タとを前記表示部104の同一画面上に一緒に表示する
ことを特徴とする特有の構成を有したスペクトラムアナ
ライザが提供される。
また、本発明によると上記特有な構成に加えて前記第1
のメモI) l o s中に記憶されている前記第1の
ディジタルデータと前記第2゛のメそり108中に記憶
されている前記第2のディジタルデータとの差を補正デ
ータとして検出する補正データ検出部109と、前記補
正データ検出部109によって検出された第1および第
27′イジタルデータ間の差である補正データを記憶す
る第3のメモリ110と、前記第1および第2のディジ
タルデータ間の差である補正データに基づいて第1のメ
モリ中に記憶されているMlのfイジタルデータ全補正
して前記表示部104に表示する補正部111とを備え
たスペクトラムアナライザが提供される。
のメモI) l o s中に記憶されている前記第1の
ディジタルデータと前記第2゛のメそり108中に記憶
されている前記第2のディジタルデータとの差を補正デ
ータとして検出する補正データ検出部109と、前記補
正データ検出部109によって検出された第1および第
27′イジタルデータ間の差である補正データを記憶す
る第3のメモリ110と、前記第1および第2のディジ
タルデータ間の差である補正データに基づいて第1のメ
モリ中に記憶されているMlのfイジタルデータ全補正
して前記表示部104に表示する補正部111とを備え
たスペクトラムアナライザが提供される。
第1図において、補正データ検出部109、第3のメモ
リ110および補正部111とは@O図のそれと同様な
データ処理・制御部112内に構築される。
リ110および補正部111とは@O図のそれと同様な
データ処理・制御部112内に構築される。
さらに、本発明によると、上記特有な構成に加えて、前
記第1のA/D変換部102と前記第2のA/D変換部
107とは共用の1つのA/D変換部102で構成され
、前記信号処理部からの信号と前記ノ9ワーセンサ10
6からの信号と全切換えて前記1つのA/D変換部10
2に供給する切換部113とを備え、前記掃引信号の掃
引期間とリセット期間とに同期して前記切換部113を
制御するスペクトラムアナライザが提供される。この態
様では、前記第1のメモリ103と第2のメモリ108
とは同一メモリ内の別々のメモリエリアと解すべきであ
る。
記第1のA/D変換部102と前記第2のA/D変換部
107とは共用の1つのA/D変換部102で構成され
、前記信号処理部からの信号と前記ノ9ワーセンサ10
6からの信号と全切換えて前記1つのA/D変換部10
2に供給する切換部113とを備え、前記掃引信号の掃
引期間とリセット期間とに同期して前記切換部113を
制御するスペクトラムアナライザが提供される。この態
様では、前記第1のメモリ103と第2のメモリ108
とは同一メモリ内の別々のメモリエリアと解すべきであ
る。
105と信号処理部101との間に設けられた入力し浚
ルを可変するための可変減衰器114とを備え、前記第
2のディジタルデータを基にして該減衰器の減衰値を所
望の値に制御するスペクトラムアナライザが提供される
。これによシ、過剰入力レベルを適正なレベルに抑制す
ることができる。
ルを可変するための可変減衰器114とを備え、前記第
2のディジタルデータを基にして該減衰器の減衰値を所
望の値に制御するスペクトラムアナライザが提供される
。これによシ、過剰入力レベルを適正なレベルに抑制す
ることができる。
次に1以上のような概要に基く本発明の幾つかの実施例
を図面を用いて説明する。
を図面を用いて説明する。
第2図は第1実施例のスペクトラムアナライザの概略構
成を示すブロック図である。第10図に示す従来のスペ
クト2ムアナライデと同一部分には同一符号が付されて
いる。この実施例においては、入力端子9と、ミキサ1
aと局部発振器1bとからなるRFF1aの間に信号分
岐回路11が介挿されている。この信号分岐回路11の
一方の出力端子に前記RF部1が接続され、他方の出力
端子に電力検出器12が接続されている。そして、この
信号分岐回路11は例えば抵抗分割型分配器で構成され
ており、入力端子9から入力された被測定信号aを前記
抵抗の分圧比で予め定まる電力分配比(例えば1:1)
でもって、RFF1aよび電力検出器12へ分配する。
成を示すブロック図である。第10図に示す従来のスペ
クト2ムアナライデと同一部分には同一符号が付されて
いる。この実施例においては、入力端子9と、ミキサ1
aと局部発振器1bとからなるRFF1aの間に信号分
岐回路11が介挿されている。この信号分岐回路11の
一方の出力端子に前記RF部1が接続され、他方の出力
端子に電力検出器12が接続されている。そして、この
信号分岐回路11は例えば抵抗分割型分配器で構成され
ており、入力端子9から入力された被測定信号aを前記
抵抗の分圧比で予め定まる電力分配比(例えば1:1)
でもって、RFF1aよび電力検出器12へ分配する。
前記電力検出器12は、熱電対素子やダイオード素子お
よび平均化回路等を使用した通常の高周波電力検出器あ
るいは広帯域アモルファスノヤワーセンサテクニックを
利用した電力検出器で構成され、直流から高周波までの
広い周波数を含んだ信号の電力値を正確に検出できる。
よび平均化回路等を使用した通常の高周波電力検出器あ
るいは広帯域アモルファスノヤワーセンサテクニックを
利用した電力検出器で構成され、直流から高周波までの
広い周波数を含んだ信号の電力値を正確に検出できる。
後者の電力検出器としては本願と同一出願人による国際
特許出願PCT/JP8710 O812の電力測定器
全使用することができる。電力検出器12から出力され
る直流の電力値信号gは切換回路13を介してA/D変
換部4へ入力される。この切換回路13には検波部3か
らの検波信号dも入力される。そして、データ処理・制
御部8′から送出される切換信号りにて、A/D変換部
へ入力される信号を検波信号d又は電力値信号gに切換
える。
特許出願PCT/JP8710 O812の電力測定器
全使用することができる。電力検出器12から出力され
る直流の電力値信号gは切換回路13を介してA/D変
換部4へ入力される。この切換回路13には検波部3か
らの検波信号dも入力される。そして、データ処理・制
御部8′から送出される切換信号りにて、A/D変換部
へ入力される信号を検波信号d又は電力値信号gに切換
える。
ディジタルメモリ5′は第1図の第1および第2のメモ
リ103,108に相当する第1および第2のメモリエ
リアを有しているものとする。
リ103,108に相当する第1および第2のメモリエ
リアを有しているものとする。
その他、RFF1aIF部2、検波部3、A/D変換部
4、篇表示部6、掃引信号発生部7の構成は第10図と
同じである。f−夕処理・制御部8′は後述するように
各部に対する制御が第10図の場合と異なる。
4、篇表示部6、掃引信号発生部7の構成は第10図と
同じである。f−夕処理・制御部8′は後述するように
各部に対する制御が第10図の場合と異なる。
第1図のそれと同様の可変減衰器114はデータ処理・
制御部8によって制御される。
制御部8によって制御される。
次に、上記のように構成されたスペクトラムアナライザ
の動作を第3図に示す掃引信号発生部7から出力される
一般的な掃引信号すのタイムチャート全周いて説明する
。すなわち、時刻1.にてRFF1a局部発振器1bか
ら出力される局部発振信号lの周波数を掃引するための
掃引信号すが測定最低周波数に対応する最低値から増加
を開始し、掃引期間A経過した時刻tlにて測定最大周
波数に対応する最大値に達すると、信号レベルが低下し
て、リセット期間B経過した時刻t1から元の測定最低
周波数に対応する最低値から次の掃引期間Aに対する掃
引を開始する。
の動作を第3図に示す掃引信号発生部7から出力される
一般的な掃引信号すのタイムチャート全周いて説明する
。すなわち、時刻1.にてRFF1a局部発振器1bか
ら出力される局部発振信号lの周波数を掃引するための
掃引信号すが測定最低周波数に対応する最低値から増加
を開始し、掃引期間A経過した時刻tlにて測定最大周
波数に対応する最大値に達すると、信号レベルが低下し
て、リセット期間B経過した時刻t1から元の測定最低
周波数に対応する最低値から次の掃引期間Aに対する掃
引を開始する。
そして、前記データ処理・制御部8′は、掃引期間A内
において前記切換回路13へ検波信号dをA/D変換部
4へ入力させる切換信号h2送出し、逆にリセット期間
B内において前記切換回路13へ電力値信号gtA/D
変換部4へ入力させる切換信号りを送出する。
において前記切換回路13へ検波信号dをA/D変換部
4へ入力させる切換信号h2送出し、逆にリセット期間
B内において前記切換回路13へ電力値信号gtA/D
変換部4へ入力させる切換信号りを送出する。
しかして、掃引期間A内において、入力端子9から入力
された高周波の被測定信号aはRFF1aミキサ1aへ
入力され、前記掃引信号すによって周波数掃引される局
部発振信号lと混合されることによって、中間周波数信
号Cに周波数変換される。RFF1aら出力された中間
周波数信号Cは次のIF回路2内において、バンドパス
フィルタ(BPF )の通過周波数に一致した周波数成
分のみが取出されて、次の検波部3へ入力される。そし
て、その大きさに対応した直流の検波信号dに変換され
、切換回路13を介してA/D変換部4へ入力される。
された高周波の被測定信号aはRFF1aミキサ1aへ
入力され、前記掃引信号すによって周波数掃引される局
部発振信号lと混合されることによって、中間周波数信
号Cに周波数変換される。RFF1aら出力された中間
周波数信号Cは次のIF回路2内において、バンドパス
フィルタ(BPF )の通過周波数に一致した周波数成
分のみが取出されて、次の検波部3へ入力される。そし
て、その大きさに対応した直流の検波信号dに変換され
、切換回路13を介してA/D変換部4へ入力される。
検波信号dはA/D変換部4でデータ処理・制御部8′
から出力されるサンプリング信号6の周期に応動じてデ
ィジタルデータに変換されたのチ、肴ジタルメモリ5′
の第1のメモリエリアに格納される。
から出力されるサンプリング信号6の周期に応動じてデ
ィジタルデータに変換されたのチ、肴ジタルメモリ5′
の第1のメモリエリアに格納される。
ディジタルメモリ5′の第1のメモリエリアに格納され
た検波信号dの前記サンプリング周期毎のτジタルデー
タは、やはりデータ処理・制御部8′から出力される一
定周期の読出信号fに応動して、一定の順序で読出され
てm表示部6へ送出される。しかして、第4図に示すよ
うに各周波数におけるスペクトラム値すなわちスペクト
ラム分布データDIが慣セ表示部6に表示される。なお
、このスペクトラム分布データは次のリセット期間Bが
終了する!で保持される。
た検波信号dの前記サンプリング周期毎のτジタルデー
タは、やはりデータ処理・制御部8′から出力される一
定周期の読出信号fに応動して、一定の順序で読出され
てm表示部6へ送出される。しかして、第4図に示すよ
うに各周波数におけるスペクトラム値すなわちスペクト
ラム分布データDIが慣セ表示部6に表示される。なお
、このスペクトラム分布データは次のリセット期間Bが
終了する!で保持される。
また、リセット期間B内において、電力検出器12から
出力される電力値信号gは切換回路13を介してA/D
変換部4でデジタル値に変換される。この肴ジタル値は
次のをジグルメそり5′における電力値の専用領域であ
る第2のメモリエリアに格納されたのち、該シジタルメ
モリ5′から読出されて第4図に示すように数値文字デ
ータ形式で平均電力値PノとしてCRT表示部6の前記
スペクトラム分布データの空き領域に表示される。この
電力値の数値文字データは次の掃引期間Aの終了まで保
持される。
出力される電力値信号gは切換回路13を介してA/D
変換部4でデジタル値に変換される。この肴ジタル値は
次のをジグルメそり5′における電力値の専用領域であ
る第2のメモリエリアに格納されたのち、該シジタルメ
モリ5′から読出されて第4図に示すように数値文字デ
ータ形式で平均電力値PノとしてCRT表示部6の前記
スペクトラム分布データの空き領域に表示される。この
電力値の数値文字データは次の掃引期間Aの終了まで保
持される。
しかして、雪表示部6にはスペクトラム分布データと電
力値とが第4図に示すように同一画面として表示される
。このように、信号分岐回路11および電力検出器12
を設けることによって、被測定信号aの各周波数におけ
る各スペクトラム値と電力値とを同時に得ることが可能
となった。
力値とが第4図に示すように同一画面として表示される
。このように、信号分岐回路11および電力検出器12
を設けることによって、被測定信号aの各周波数におけ
る各スペクトラム値と電力値とを同時に得ることが可能
となった。
また、前述したように、信号分岐回路11や電力検出器
12は簡単な構成で、かつ低価格で構成でキ、シかも広
い周波数特性を持たせることが可能である。よって、第
10図に示した従来のスペクトラムアナライザに比較し
て製造費が大幅に上昇することはない。
12は簡単な構成で、かつ低価格で構成でキ、シかも広
い周波数特性を持たせることが可能である。よって、第
10図に示した従来のスペクトラムアナライザに比較し
て製造費が大幅に上昇することはない。
また、各スペクトラム値を加算して電力値を算出する場
合に比較して、その測定精度を大幅に向上できる。
合に比較して、その測定精度を大幅に向上できる。
さらに、第2図のWJ1実施例においては、掃引信号す
のリセット期間Bi利用して、電力値を測定するようK
しているので、電力値の測定を実施することによって、
スペクトラム分布データのみ全得る従来のスペクトラム
アナライザに比較して、全体の測定時間が延長されるこ
とはない。すなわち、従来の測定時間内で電力値も測定
される。
のリセット期間Bi利用して、電力値を測定するようK
しているので、電力値の測定を実施することによって、
スペクトラム分布データのみ全得る従来のスペクトラム
アナライザに比較して、全体の測定時間が延長されるこ
とはない。すなわち、従来の測定時間内で電力値も測定
される。
第5図は本発明の第2実施例に係わるスペクトラム箋ア
ナライプを示すブロック図である。第2図に示す第1実
施例と同一部分には同一符号が付しである。
ナライプを示すブロック図である。第2図に示す第1実
施例と同一部分には同一符号が付しである。
この第2実施例においては、入力端子9とRFF1aの
間に介挿される信号切換回路としてRF(高周波)スイ
ッチ回路11hf使用している。
間に介挿される信号切換回路としてRF(高周波)スイ
ッチ回路11hf使用している。
そして、このRFスイッチ回路11&により、入力端子
9から入力され被測定信号aをFR部1へ送出するか、
又は電力検出器12へ送出するかをデータ処理・制御部
8′からの切換信号りによって切換えられる。そして、
この切換タイミングは前記切換回路13の切換タイミン
グに同期している。
9から入力され被測定信号aをFR部1へ送出するか、
又は電力検出器12へ送出するかをデータ処理・制御部
8′からの切換信号りによって切換えられる。そして、
この切換タイミングは前記切換回路13の切換タイミン
グに同期している。
すなわち、第3図の掃引信号すが掃引期間Aにおいては
、データ処理・制御部8′は、切換信号りによって、R
Fスイッチ回路11*fRF部1側に切換えるとともに
切換回路13を検波信号d側に切換える。また、リセッ
ト期間Bにおいては、RFスイッチ回路11hf電力検
出器12側に切換えるとともに切換回路13を電力値信
号g側に切換える。
、データ処理・制御部8′は、切換信号りによって、R
Fスイッチ回路11*fRF部1側に切換えるとともに
切換回路13を検波信号d側に切換える。また、リセッ
ト期間Bにおいては、RFスイッチ回路11hf電力検
出器12側に切換えるとともに切換回路13を電力値信
号g側に切換える。
そして、掃引期間A中に各スペクトラム値の測定を行な
い、リセット期間B中に電力値を測定する。よって、こ
の第2実施例においても、被測定信号aのスペクトラム
分布データと電力値とを測定でき、m表示部6に同一画
面として表示させることが可能となる。その結果、第1
実施例とほぼ同様の効果を得ることができる。
い、リセット期間B中に電力値を測定する。よって、こ
の第2実施例においても、被測定信号aのスペクトラム
分布データと電力値とを測定でき、m表示部6に同一画
面として表示させることが可能となる。その結果、第1
実施例とほぼ同様の効果を得ることができる。
さらに、信号分岐回路としてRFスイッチ回路11hf
使用することによって、前述した抵抗分割型分配器や方
向性結合器を使用した他の信号分岐回路に比較して、被
測定信号の損失が少なく、信号分岐回路を挿入したこと
に起因して生じるスにクトラムアナライザ全体の感度低
下を防止できる。
使用することによって、前述した抵抗分割型分配器や方
向性結合器を使用した他の信号分岐回路に比較して、被
測定信号の損失が少なく、信号分岐回路を挿入したこと
に起因して生じるスにクトラムアナライザ全体の感度低
下を防止できる。
第6図は本発明の第3実施例に係わるスイクトラムアナ
ライザを示すブロック図である。第2図の実施例と同一
部分には同一符号が付しである。
ライザを示すブロック図である。第2図の実施例と同一
部分には同一符号が付しである。
この第3冥施例においては、第2図における切換回路1
3を除去し、検波部3から出力される検波信号d全直接
A/D変換部4へ入力させている。
3を除去し、検波部3から出力される検波信号d全直接
A/D変換部4へ入力させている。
また、電力検出器12から出力される電力値信号ge別
のA/D変換部4aへ入力している。そして、各A/D
変換部4.4aにて得られた乃ジタルf−夕を前記へジ
タルメモリ5′の第1および第2のメモリエリアへ書込
むようにしている。なお、A/D変換部4.4亀へは同
一サンブリング信号eが入力しているが、必ずしも一致
させる必要にないO こΩような構成であっても、被測定信号aのスペクトル
分布データと電力値とを求めることが可能であるので、
第2図の実施例とほぼ同様の効果を得ることが可能であ
る。
のA/D変換部4aへ入力している。そして、各A/D
変換部4.4aにて得られた乃ジタルf−夕を前記へジ
タルメモリ5′の第1および第2のメモリエリアへ書込
むようにしている。なお、A/D変換部4.4亀へは同
一サンブリング信号eが入力しているが、必ずしも一致
させる必要にないO こΩような構成であっても、被測定信号aのスペクトル
分布データと電力値とを求めることが可能であるので、
第2図の実施例とほぼ同様の効果を得ることが可能であ
る。
さらに、この第3実施例においては、検波信号dと電力
値信号gとをそれぞれ専用のA/D変換部4.41を用
いてディジタルデータ値へ変換することによって、第3
図における掃引期間Aにおいても、電力値を測定するこ
とが可能となる。したがって、スペクトラム測定のため
の掃引期間Aが長い場合においても入力した被測定信号
1の電力値をリアルタイムでm表示部6の表示画面上で
監視できる。このよう罠、リセット期間Bのみならず掃
引期間Aにおいても、すなわち常時被測定信号aの電力
値を監視できるので、過大電力が入力すると直ちにアラ
ーム出力を発生して警告表示や警報音を発生することが
できる。また、第2図と同様にRF部1の前に挿入した
入力減衰器114全自動gIl整して正しい表示値が得
られるように電力値信号gを利用することも可能である
。すなわち、このスペクトラム・アナライプを過大信号
入力に起因する損傷から保護できる。
値信号gとをそれぞれ専用のA/D変換部4.41を用
いてディジタルデータ値へ変換することによって、第3
図における掃引期間Aにおいても、電力値を測定するこ
とが可能となる。したがって、スペクトラム測定のため
の掃引期間Aが長い場合においても入力した被測定信号
1の電力値をリアルタイムでm表示部6の表示画面上で
監視できる。このよう罠、リセット期間Bのみならず掃
引期間Aにおいても、すなわち常時被測定信号aの電力
値を監視できるので、過大電力が入力すると直ちにアラ
ーム出力を発生して警告表示や警報音を発生することが
できる。また、第2図と同様にRF部1の前に挿入した
入力減衰器114全自動gIl整して正しい表示値が得
られるように電力値信号gを利用することも可能である
。すなわち、このスペクトラム・アナライプを過大信号
入力に起因する損傷から保護できる。
さらに、第2図、第5図および第6図の各実施例におい
て、操作部opの特定の操作(校正指令CALIB )
に応じて、予め検波信号dおよび電力値信号gの関係が
正確に求められている校正用信号を用いて、被測定信号
aにて得られて妻表示部6に表示された各データ値が正
しい値になるように1データ処理・制御部8′でもって
、この各f −タ値を校正することが可能である。なお
、この場合、前記校正用信号として連続波(CW)信号
を使用する場合は、その電力値が予め既知でなくてもよ
い。
て、操作部opの特定の操作(校正指令CALIB )
に応じて、予め検波信号dおよび電力値信号gの関係が
正確に求められている校正用信号を用いて、被測定信号
aにて得られて妻表示部6に表示された各データ値が正
しい値になるように1データ処理・制御部8′でもって
、この各f −タ値を校正することが可能である。なお
、この場合、前記校正用信号として連続波(CW)信号
を使用する場合は、その電力値が予め既知でなくてもよ
い。
また、この場合、データ処理・制御部8′は第1図に示
した補正データ検出部109、第3のメモIJ I J
Oおよび補正部111を用いて校正(補正)を行なう
ことができる。
した補正データ検出部109、第3のメモIJ I J
Oおよび補正部111を用いて校正(補正)を行なう
ことができる。
以上の説明でに、電力検出器12として平均値電力全検
出する構成を用いることを前提としてきた。しかるに、
特にパルスflll波のスペクトラム測定において、ピ
ーク電力を検出する必要があるときには、第7図に示す
ように、電力検出器12として、前記信号分岐回路11
または信号切換回路JJ&からの入力信号を検波す・る
ダイオード素子Jffiaと、このダイオード素子12
1の検波出力のピーク償金保持するピークホールド回路
J、?bとを備えてやればよい、このピークホールド回
路Jjbはデータ処理・制御部8/から測定周期毎にリ
セット信号が供給される。なお、第7図の電力検出器1
2は上述し九平均電力値を検出するために上記ダイオー
ド素子JJaからの検波出力を平均化する平均化回路1
2eが備えられている。また、電力検出器12には平均
化回路12cと上記ピークホールド回路Jjbの出力を
使用目的4’C応じて切換えるためのスイッチJ、?d
も備えられている。
出する構成を用いることを前提としてきた。しかるに、
特にパルスflll波のスペクトラム測定において、ピ
ーク電力を検出する必要があるときには、第7図に示す
ように、電力検出器12として、前記信号分岐回路11
または信号切換回路JJ&からの入力信号を検波す・る
ダイオード素子Jffiaと、このダイオード素子12
1の検波出力のピーク償金保持するピークホールド回路
J、?bとを備えてやればよい、このピークホールド回
路Jjbはデータ処理・制御部8/から測定周期毎にリ
セット信号が供給される。なお、第7図の電力検出器1
2は上述し九平均電力値を検出するために上記ダイオー
ド素子JJaからの検波出力を平均化する平均化回路1
2eが備えられている。また、電力検出器12には平均
化回路12cと上記ピークホールド回路Jjbの出力を
使用目的4’C応じて切換えるためのスイッチJ、?d
も備えられている。
第8図はノヤルス変調波のスペクトル分布データD2と
ピーク電力(P2)の表示例を示す。
ピーク電力(P2)の表示例を示す。
第9図は第4冥施例として光スイクトラムアナライブに
適用したプロ、り構成を示す。第9図において、第2図
と同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
適用したプロ、り構成を示す。第9図において、第2図
と同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
すなわち、光信号入力端9′に入射された被測定光信号
a′は例えばハーフミラ−でなる光信号分岐部11′で
二分岐でれる。このうち、一方の光信号はRF部1′の
ハーフミラ−1m’に入射する。このハーフミラ−J
a’には、掃引信号発生部7からの電気的な掃引信号に
応動する発光ダイオード等の電気−光変換器11(から
の光学的局部発掘信号が入射される。従って、このハー
フミラ−J a’は電気的ミキサーと等価なミキサー作
用をなして、光学的な中間周波数信号を出力する。この
光学的な中間周波数信号はフォトダイオード等の光電変
換器1cで電気的な中間周波数信号に変換される。従っ
て、これ以降は第2図と同様に処理される。
a′は例えばハーフミラ−でなる光信号分岐部11′で
二分岐でれる。このうち、一方の光信号はRF部1′の
ハーフミラ−1m’に入射する。このハーフミラ−J
a’には、掃引信号発生部7からの電気的な掃引信号に
応動する発光ダイオード等の電気−光変換器11(から
の光学的局部発掘信号が入射される。従って、このハー
フミラ−J a’は電気的ミキサーと等価なミキサー作
用をなして、光学的な中間周波数信号を出力する。この
光学的な中間周波数信号はフォトダイオード等の光電変
換器1cで電気的な中間周波数信号に変換される。従っ
て、これ以降は第2図と同様に処理される。
また、光信号分岐部11′からの他方の光信号はフォト
ダイオード等の受光素子を含む光パワーセンサJ 2’
で光電変換されると同時に、その光パワーが検出される
。従って、これ以降は第2図の電力値信号gを光パワー
値信号gと読み替えて同様に処理される。
ダイオード等の受光素子を含む光パワーセンサJ 2’
で光電変換されると同時に、その光パワーが検出される
。従って、これ以降は第2図の電力値信号gを光パワー
値信号gと読み替えて同様に処理される。
従って、この第4実施例によれば、第4図およびWJ8
図と同様に光スペクトラム分布データならびに光パワー
値が同一画面に表示される。
図と同様に光スペクトラム分布データならびに光パワー
値が同一画面に表示される。
光スペクトラムアナライザへの適用は上記第5図乃至第
7図についても、第9図の実施例に準じて同様になすこ
とができる。
7図についても、第9図の実施例に準じて同様になすこ
とができる。
なお、第9図の1dijデータ処理・制御部8′によっ
て制御されるプロ・グラマプル光減衰器である。
て制御されるプロ・グラマプル光減衰器である。
この光減衰器1dは第1図の可変減衰器114と同様に
過剰入力レベルを適正レベルに抑制する。
過剰入力レベルを適正レベルに抑制する。
以上説明したようにこの発明によれば、被測定信号を信
号分岐部金倉して信号処理部と電力検出部とに分配する
ようにしているので1通常のスペクトラム分布データと
共に、それの電力値全容易に且つ正確に表示でき、電気
信号および光信号を含む広り範囲に応用できるスペクト
ラムアナライザを提供することができる。
号分岐部金倉して信号処理部と電力検出部とに分配する
ようにしているので1通常のスペクトラム分布データと
共に、それの電力値全容易に且つ正確に表示でき、電気
信号および光信号を含む広り範囲に応用できるスペクト
ラムアナライザを提供することができる。
第1図は本発明によるスペクトラムアナライザの概要を
示すブロック図、 第2図は本発明の第1実施例に係わるス4クトラムアナ
ライザを示すブロック図、 第3図は同実施例の動作を示すタイムチャート、第4図
は同実施例の表示画面を例示する図、第5図および第6
図はそれぞれ本発明の第2および第3実施例に係わるス
ペクトラムアナライザを示すブロック図、 第7図は各実施例に用いる電力検出器の具体例を示す図
、 第8図は第7図の電力検出器を用いたときの表示画面を
例示する図、 第9図は本発明の第4実施例に係る光スペクトラムアナ
ライザを示すブロック図、 第10図は従来のス4クトラムアナライザを示すブロッ
ク図、 第11図は表示部に表示された一般的なスペクトラム分
布データを示す図である。 1・・・RF部、2・・・IF部、3・・・検波部、4
.4m・・・A / D変換部、5・・・ディジタルメ
モリ、6・・・表示部、7,100・・・掃引信号発生
部、8,112・・・データ処理・制御部、9・・・入
力端子、11,105・・・信号分岐回路(または信号
切換回路)、l1m・・・RFスイッチ回路(信号切換
回路)、12・・・電力検出器、12′・・・光パワー
センサ、106・・・・ぐワーセンサ、13・・・切換
回路、a・・・被測定信号、b・・・掃引信号、d・・
・検波信号、g・・・電力値信号。
示すブロック図、 第2図は本発明の第1実施例に係わるス4クトラムアナ
ライザを示すブロック図、 第3図は同実施例の動作を示すタイムチャート、第4図
は同実施例の表示画面を例示する図、第5図および第6
図はそれぞれ本発明の第2および第3実施例に係わるス
ペクトラムアナライザを示すブロック図、 第7図は各実施例に用いる電力検出器の具体例を示す図
、 第8図は第7図の電力検出器を用いたときの表示画面を
例示する図、 第9図は本発明の第4実施例に係る光スペクトラムアナ
ライザを示すブロック図、 第10図は従来のス4クトラムアナライザを示すブロッ
ク図、 第11図は表示部に表示された一般的なスペクトラム分
布データを示す図である。 1・・・RF部、2・・・IF部、3・・・検波部、4
.4m・・・A / D変換部、5・・・ディジタルメ
モリ、6・・・表示部、7,100・・・掃引信号発生
部、8,112・・・データ処理・制御部、9・・・入
力端子、11,105・・・信号分岐回路(または信号
切換回路)、l1m・・・RFスイッチ回路(信号切換
回路)、12・・・電力検出器、12′・・・光パワー
センサ、106・・・・ぐワーセンサ、13・・・切換
回路、a・・・被測定信号、b・・・掃引信号、d・・
・検波信号、g・・・電力値信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、実質的に入力信号を第1の通路および第2の通路に
導く手段と、 上記第1の通路に導かれた入力信号に対応するスペクト
ラムデータを生成する手段と、 上記第2の通路に導かれた入力信号に対応する電力値を
検出する手段と、 上記スペクトラムデータを上記電力値と一緒に表示する
手段とを具備するスペクトラムアナライザ。 2、上記スペクトラムデータと上記電力値間の差信号に
従って上記スペクトラムデータを補正する手段をさらに
具備する請求項1記載のスペクトラムアナライザ。 3、上記第1の通路に導かれる入力信号を上記電力値に
従って減衰する手段をさらに具備する請求項1記載のス
ペクトラムアナライザ。 4、入力端子から入力された被測定信号を掃引信号によ
って処理し、被測定信号のスペクトラムに対応した信号
を出力する信号処理部と、 前記対応した信号を第1のディジタルのデータに変換す
る第1のA/D変換部と、 前記第1のディジタルデータを記憶する第1のメモリと
、 前記入力端子と前記信号処理部との間に介挿された信号
分岐または切換回路と、 前記信号分岐または切換回路からの前記被測定信号のパ
ワーを検出するパワーセンサと、前記パワーセンサの出
力を第2のディジタルデータに変換する第2のA/D変
換部と、 該第2のA/D変換部の出力を記憶する第2のメモリと
、 前記第2のディジタルデータを前記第1のディジタルデ
ータと一緒に表示する表示部とを備えたスペクトラムア
ナライザ。 5、前記第1のメモリ中に記憶されている前記第1のデ
ィジタルデータと前記第2のメモリ中に記憶されている
前記第2のディジタルデータとの差を検出する検出手段
と、前記検出手段によって検出されたディジタルデータ
の差を記憶する第3のメモリと、前記ディジタルデータ
の差に基づいて第1のメモリ中に記憶されている第1の
ディジタルデータを補正して前記表示部に表示する補正
手段とをさらに備えた請求項4記載のスペクトラムアナ
ライザ。 6、前記第1のA/D変換部と前記第2のA/D変換部
とは共用の1つのA/D変換部で構成され、前記信号処
理部からの信号と前記パワーセンサからの信号とを切換
えて前記1つのA/D変換部に供給する切換手段と、前
記掃引信号の掃引期間とリセット期間とに同期して前記
切換手段を制御する制御手段とをさらに備えた請求項4
記載のスペクトラムアナライザ。 7、前記入力端子と信号処理部との間に設けられた入力
レベルを可変するための可変減衰器と、前記第2のディ
ジタルデータを基にして該減衰器を所望の値に制御する
制御部とをさらに備えたことを特徴とする請求項4記載
のスペクトラムアナライザ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/332,959 US4975633A (en) | 1988-04-11 | 1989-04-03 | Spectrum analyzer having means for displaying spectrum data together with power value thereof |
| EP89106051A EP0338333B1 (en) | 1988-04-11 | 1989-04-06 | Spectrum analyzer having means for displaying spectrum data together with power value thereof |
| DE68919111T DE68919111T2 (de) | 1988-04-11 | 1989-04-06 | Spektrumanalysator mit Wiedergabe der Spektrumdarstellung und Leistung. |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-88734 | 1988-04-11 | ||
| JP8873488 | 1988-04-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0228568A true JPH0228568A (ja) | 1990-01-30 |
| JPH083505B2 JPH083505B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=13951152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1069819A Expired - Fee Related JPH083505B2 (ja) | 1988-04-11 | 1989-03-22 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH083505B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3971561B1 (en) | 2019-05-14 | 2025-03-19 | Furuno Electric Co., Ltd. | Calibration information setting device, measurement device, calibration information setting method, measurement method, calibration information setting program, and measurement program |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5585228A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-27 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Musical sound analyzer |
| JPS629000A (ja) * | 1972-06-21 | 1987-01-16 | コンテイナ−ライズド.オ−トモ−ビルス.リミテツド | ジヤツキ装置と乗物支持枠との組合せ |
-
1989
- 1989-03-22 JP JP1069819A patent/JPH083505B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS629000A (ja) * | 1972-06-21 | 1987-01-16 | コンテイナ−ライズド.オ−トモ−ビルス.リミテツド | ジヤツキ装置と乗物支持枠との組合せ |
| JPS5585228A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-27 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Musical sound analyzer |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH083505B2 (ja) | 1996-01-17 |
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