JPH02290004A - 軟磁性合金膜およびその製造方法 - Google Patents
軟磁性合金膜およびその製造方法Info
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- JPH02290004A JPH02290004A JP1300506A JP30050689A JPH02290004A JP H02290004 A JPH02290004 A JP H02290004A JP 1300506 A JP1300506 A JP 1300506A JP 30050689 A JP30050689 A JP 30050689A JP H02290004 A JPH02290004 A JP H02290004A
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- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
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- H01F10/32—Spin-exchange-coupled multilayers, e.g. nanostructured superlattices
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- Power Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利川分野
本発明は磁気ヘッド等のコア材料として適した、窒素を
含有するFe系の軟磁性合金膜に関するものである。
含有するFe系の軟磁性合金膜に関するものである。
従来の技術
磁気ヘッド等に用いられる代表的な軟磁性合金としては
、Co系の非品質合金やセンダス1〜等がある。しかし
、近年、磁気記録等の高密度化に伴い、コア材料として
用いられる軟磁性合金においては、益々高い飽和磁化が
必要とされている。
、Co系の非品質合金やセンダス1〜等がある。しかし
、近年、磁気記録等の高密度化に伴い、コア材料として
用いられる軟磁性合金においては、益々高い飽和磁化が
必要とされている。
一方、実際に実用的な磁気ヘットを作製する際は、磁気
ギャップ部等6こ接着ガラスδこよる強固な接着を行っ
ておくことが信頼性等の点で重要となる。接着強度の強
い接着ガラスは一般に融点か高いため、高い飽和磁化を
有する軟磁性合金膜aコおいても高温熱処理後に良好な
軟質磁気特性が得られるものが必要となっている。Co
系非品質合金等において高い飽和磁化をもつ軟磁性合金
膜を得ようとすると、合金中のガラス化元素の含有量を
少なくしなければならない。しかし、この場合J1−品
質合金膜の結晶化温度が低下してゆくため、高温熱処理
後の軟質磁気特性は劣化する。
ギャップ部等6こ接着ガラスδこよる強固な接着を行っ
ておくことが信頼性等の点で重要となる。接着強度の強
い接着ガラスは一般に融点か高いため、高い飽和磁化を
有する軟磁性合金膜aコおいても高温熱処理後に良好な
軟質磁気特性が得られるものが必要となっている。Co
系非品質合金等において高い飽和磁化をもつ軟磁性合金
膜を得ようとすると、合金中のガラス化元素の含有量を
少なくしなければならない。しかし、この場合J1−品
質合金膜の結晶化温度が低下してゆくため、高温熱処理
後の軟質磁気特性は劣化する。
発明が解決しようとする課題
以」二述べたように、軟質磁気特性の熱的安定性まで考
慮した場合、VTR等の磁気へノド用軟磁性合金膜にお
いて、実用的な飽和磁化の上限は、Co系非品質合金や
センダス1〜を用いて達成される10kC;auss前
後である。しかし、高密度記録に用いられる磁気ヘッl
・用軟磁性合金膜として、さらに高い飽和磁化を有する
軟磁性合金膜が求められていた。
慮した場合、VTR等の磁気へノド用軟磁性合金膜にお
いて、実用的な飽和磁化の上限は、Co系非品質合金や
センダス1〜を用いて達成される10kC;auss前
後である。しかし、高密度記録に用いられる磁気ヘッl
・用軟磁性合金膜として、さらに高い飽和磁化を有する
軟磁性合金膜が求められていた。
また、Feを主成分とする合金は、CO系合金よりも高
い飽和磁化が期待でき、経済的にも安価である。したが
って、良好な軟質磁気特性と優れた熱安定性を有する軟
磁性膜をFe系合金に求めるごとは有利と考えられてい
る。
い飽和磁化が期待でき、経済的にも安価である。したが
って、良好な軟質磁気特性と優れた熱安定性を有する軟
磁性膜をFe系合金に求めるごとは有利と考えられてい
る。
本発明は、単なる窒化合金としてではなく、窒素による
組成変調構造をFe系の合金膜に適用して、高温熱処』
(後に良好な軟質磁気特性と高い飽和磁化を有する磁気
ヘッド用軟磁性合金膜を提供するごとを目r1勺とする
。
組成変調構造をFe系の合金膜に適用して、高温熱処』
(後に良好な軟質磁気特性と高い飽和磁化を有する磁気
ヘッド用軟磁性合金膜を提供するごとを目r1勺とする
。
課題を解決するだめの手段
少なくとも合金膜作成時に膜厚方向の組成が変調されて
おり、膜中の平均組成が式 NaTbNC で示され、前記式の組成においてMはF c、Tδ、l
Nb, Ta, Z r, T iよりなる群から一
種類以上選択された金属、Nは窒素であ−9て、a,b
Cは原子%を表し、それぞれ 60≦a≦92.3≦b≦20.3≦c≦25a −t
− b 十c = 1 0 0であることを特徴とする
軟磁性合金膜を用いる。
おり、膜中の平均組成が式 NaTbNC で示され、前記式の組成においてMはF c、Tδ、l
Nb, Ta, Z r, T iよりなる群から一
種類以上選択された金属、Nは窒素であ−9て、a,b
Cは原子%を表し、それぞれ 60≦a≦92.3≦b≦20.3≦c≦25a −t
− b 十c = 1 0 0であることを特徴とする
軟磁性合金膜を用いる。
特に膜厚方向に、少なくとも窒素の組成が変調されてお
り、Fe系の微結晶粒を含有する−1一記の組成よりな
る軟磁性合金膜は良好な軟質磁気特性を示す。
り、Fe系の微結晶粒を含有する−1一記の組成よりな
る軟磁性合金膜は良好な軟質磁気特性を示す。
また膜厚方向の組成変調波長が60nm以下であり、か
つ上記の組成よりなる軟磁性合金膜は特に良好な軟質磁
気特性を示す。
つ上記の組成よりなる軟磁性合金膜は特に良好な軟質磁
気特性を示す。
これらの軟磁性合金膜ば、スパソタ法による軟磁性合金
膜の作成時に、式Ma゛ ゴゎ“ (ただし、MはFe
,TはNb,Ta,Tr,Tiよりなる群から一種類以
」一選択された金属元素であって、a“1 b゜は原子
%を表し、それぞれ75≦a゛≦96、4≦b ≦25
、 a’+b’=100である。)で示される合金をターゲ
ンI・とじて用い、Ar等の不活性スパッタガス中に周
期的に窒素ガスを次式 3(%)≦Pn≦20(%) (ただし、Pnはスパッタ時の全スパソタガス圧に対す
る窒素ガス圧の割合を百分率で表した窒素分圧である。
膜の作成時に、式Ma゛ ゴゎ“ (ただし、MはFe
,TはNb,Ta,Tr,Tiよりなる群から一種類以
」一選択された金属元素であって、a“1 b゜は原子
%を表し、それぞれ75≦a゛≦96、4≦b ≦25
、 a’+b’=100である。)で示される合金をターゲ
ンI・とじて用い、Ar等の不活性スパッタガス中に周
期的に窒素ガスを次式 3(%)≦Pn≦20(%) (ただし、Pnはスパッタ時の全スパソタガス圧に対す
る窒素ガス圧の割合を百分率で表した窒素分圧である。
)で示される割合で混合することにより得られる。
作用
本発明の軟磁性合金膜は、Fe系合金中に少なくともN
b,Ta,Zr,T+より一種類以上選択された金属元
素を含む窒化膜である。上記構成の軟磁性合金膜は、た
とえばスパノク法による合金膜作成後においては、少な
くとも窒素元素が膜厚方向に組成変調された明確な組成
変調構造、即ち窒素含有量が多い窒化層と窒素含有量が
少ない非窒化層よりなる積層構造を有しており、その一
層当たりの層厚はスパッタ時の窒素ガス(N2)の混合
周期を変化させることにより制御されている。これらの
合金膜は、作成時においては上述の明確な組成変調構造
を示すが、高温熱処理により一般に明確な組成変調構造
から不明確な組成変調構造へと移行し、Fe系の微結晶
粒を含有するようになる。
b,Ta,Zr,T+より一種類以上選択された金属元
素を含む窒化膜である。上記構成の軟磁性合金膜は、た
とえばスパノク法による合金膜作成後においては、少な
くとも窒素元素が膜厚方向に組成変調された明確な組成
変調構造、即ち窒素含有量が多い窒化層と窒素含有量が
少ない非窒化層よりなる積層構造を有しており、その一
層当たりの層厚はスパッタ時の窒素ガス(N2)の混合
周期を変化させることにより制御されている。これらの
合金膜は、作成時においては上述の明確な組成変調構造
を示すが、高温熱処理により一般に明確な組成変調構造
から不明確な組成変調構造へと移行し、Fe系の微結晶
粒を含有するようになる。
本発明の軟磁性合金膜は熱処理により合金膜の構造が変
化した後、優れた軟質磁気特性と飽和磁化の増加を示す
。これに対して、一様に窒化された単層の窒化合金膜は
、良好な軟質磁気特性を示し難く、熱処理によっても磁
気特性はあまり改善されない。したがって、スパッタ法
による合金膜作成時に、少なくとも窒素元素が組成変調
されていることが、優れた軟磁性合金膜を得るために必
要な条件である。ただし、窒素元素が組成変調されるこ
とにより合金膜中の他の構成元素も相対的に組成変調さ
れる。
化した後、優れた軟質磁気特性と飽和磁化の増加を示す
。これに対して、一様に窒化された単層の窒化合金膜は
、良好な軟質磁気特性を示し難く、熱処理によっても磁
気特性はあまり改善されない。したがって、スパッタ法
による合金膜作成時に、少なくとも窒素元素が組成変調
されていることが、優れた軟磁性合金膜を得るために必
要な条件である。ただし、窒素元素が組成変調されるこ
とにより合金膜中の他の構成元素も相対的に組成変調さ
れる。
また、本発明の軟磁性合金膜の場合、Fe元素のように
窒素元素との親和性が弱いものと、NbTa,Zrおよ
びTi元索のように窒素元素との親和性が強いものとが
合金膜中に共存している。
窒素元素との親和性が弱いものと、NbTa,Zrおよ
びTi元索のように窒素元素との親和性が強いものとが
合金膜中に共存している。
つまり、合金膜中では選択的にNb元素等が窒素元素と
化学的に強く結合しており、このことが良好な軟質磁気
特性を得る上で重要であると考えられる。したがって、
本発明の軟磁性合金膜においては、Nb,Ta,Zr,
Tiより一種類以上選択された金属元素を少なくとも3
原子%以上含有ずることが必要であり、逆に飽和磁化を
高くするためには20原子%以下とすることが望ましい
。
化学的に強く結合しており、このことが良好な軟質磁気
特性を得る上で重要であると考えられる。したがって、
本発明の軟磁性合金膜においては、Nb,Ta,Zr,
Tiより一種類以上選択された金属元素を少なくとも3
原子%以上含有ずることが必要であり、逆に飽和磁化を
高くするためには20原子%以下とすることが望ましい
。
本発明の軟磁性合金膜の組成式において高い飽和磁化を
有するものを得るには、膜中の平均組成でMの含有量a
をa≧60(原子%)、Tの含有量bをb≦20(原子
%)、Nの含有量CをC≦25(原子%)とする必要が
あり、逆に良好な軟質磁気特性を得るには、a≦92(
原子%)、b≧3(原子%)、3≦c≦20(原子%)
とする必要がある。以上の組成限定範囲に包含されたも
のが請求項(1)記載の発明である。
有するものを得るには、膜中の平均組成でMの含有量a
をa≧60(原子%)、Tの含有量bをb≦20(原子
%)、Nの含有量CをC≦25(原子%)とする必要が
あり、逆に良好な軟質磁気特性を得るには、a≦92(
原子%)、b≧3(原子%)、3≦c≦20(原子%)
とする必要がある。以上の組成限定範囲に包含されたも
のが請求項(1)記載の発明である。
一方、これらの平均組成で示される軟磁性合金膜をスパ
ッタ法により得るためには、請求項(4)に?されるタ
ーゲットが必要となる。これはスパッタ時に窒素が周期
的に混合されるためであり、窒素元素以外の構成元素の
含有量は軟磁性膜中よりもターゲット中の方が多くなる
。この際に混合される窒素ガスの割合は、スパック時の
全スパンクガス圧に対する窒素ガス圧の割合を百分率で
表した窒素分圧Pnを用いて表される。本発明の軟磁性
合金膜を得るためには、アルゴンガス等の不活性スパッ
タガス中に3(%)≦Pn≦20(%)で示される割合
で窒素ガス(N2)を混合する必要がある。
ッタ法により得るためには、請求項(4)に?されるタ
ーゲットが必要となる。これはスパッタ時に窒素が周期
的に混合されるためであり、窒素元素以外の構成元素の
含有量は軟磁性膜中よりもターゲット中の方が多くなる
。この際に混合される窒素ガスの割合は、スパック時の
全スパンクガス圧に対する窒素ガス圧の割合を百分率で
表した窒素分圧Pnを用いて表される。本発明の軟磁性
合金膜を得るためには、アルゴンガス等の不活性スパッ
タガス中に3(%)≦Pn≦20(%)で示される割合
で窒素ガス(N2)を混合する必要がある。
以上のようにして得られた軟磁性合金膜は、高温熱処理
後に良好な軟質磁気特性と高飽和磁化を有し、しかも軟
質磁気特性の熱的安定性にも優れたものである。
後に良好な軟質磁気特性と高飽和磁化を有し、しかも軟
質磁気特性の熱的安定性にも優れたものである。
実施例
実施例1
本発明の第1の実施例を説明する。
Fe..Nb.■(原子%)なる組成のターゲットを用
い、スパック時のアルゴンガス(Ar)中に窒素ガス(
N2)を周期的に混合しつつ、スパッタによる成膜を行
った。このようにしてセラミック製の基板上に一層当た
り10nmの窒化層と1層当たり10nmの非窒化層が
膜厚方向に周期的に積層された多層膜、即ち組成変調膜
を形成した。
い、スパック時のアルゴンガス(Ar)中に窒素ガス(
N2)を周期的に混合しつつ、スパッタによる成膜を行
った。このようにしてセラミック製の基板上に一層当た
り10nmの窒化層と1層当たり10nmの非窒化層が
膜厚方向に周期的に積層された多層膜、即ち組成変調膜
を形成した。
この組成変訓膜が本発明の実施例1における軟磁性合金
膜である。また比較のため、同じターゲッ1・を用いて
、スパッタ時に窒素ガスを用いずにアルゴンガスだけで
非窒化膜を作成した。同じく比較のため、同じターゲッ
トを用いて、スパッタ時に窒素ガスとアルゴンガスを混
合した状態のままで単層窒化膜を作成した。この場合、
各種合金膜の膜厚は1〜1。5μmである。以上のよう
にして作成された各種の試料構造を有する合金膜に対し
て磁界中熱処理を行った。
膜である。また比較のため、同じターゲッ1・を用いて
、スパッタ時に窒素ガスを用いずにアルゴンガスだけで
非窒化膜を作成した。同じく比較のため、同じターゲッ
トを用いて、スパッタ時に窒素ガスとアルゴンガスを混
合した状態のままで単層窒化膜を作成した。この場合、
各種合金膜の膜厚は1〜1。5μmである。以上のよう
にして作成された各種の試料構造を有する合金膜に対し
て磁界中熱処理を行った。
第1図は、本発明の実施例1における軟磁性合金膜にお
いて、スパッタ時に混合した窒素ガスの分圧即ち窒素分
圧(P n)と得られた組成変調膜の保磁力(He)と
の関係を示す。ここでスパッタ時の窒素分圧(Pn)は
スパッタ時の全ガス圧に対する窒素ガスの分圧を百分率
で示したものである。
いて、スパッタ時に混合した窒素ガスの分圧即ち窒素分
圧(P n)と得られた組成変調膜の保磁力(He)と
の関係を示す。ここでスパッタ時の窒素分圧(Pn)は
スパッタ時の全ガス圧に対する窒素ガスの分圧を百分率
で示したものである。
ただし、窒素分圧がO%で示されているものυJ、前述
の非窒化膜のことである。第1図中の未処理とはスバン
タ後に熱処理を施していない状態の合金膜、即ぢいわゆ
るアスプリペアド(as−ρrepared)状態の合
金膜を示す。また第1図中の回転磁界中熱処理および固
定磁界中熱処理とは、スバノタによる成膜後に500゜
C、1時間のク111処理を回転磁界中および固定磁界
中で施した合金膜を示す。第1図に示す実施例1の軟磁
性合金膜、即ち組成変調膜は5≦Pn≦20 (%)の
範囲で、500゜C、1時間の高温熱処理後において、
回転磁界中および固定磁界中の両方で良好な軟質磁気1
h性を有している。これに対して、比較のため作製した
非窒化膜(Pn一〇%)は、未処理および熱処理後とも
に1.0(Oe)以上の高い保磁力を示し2、良好な1
次質研気肋,性を示さない。1二た図中には示されてい
ないが、比1咬のため作成した単層窒化膜ζこおいても
良好な軟質磁気1r性は4Mら机なかった。
の非窒化膜のことである。第1図中の未処理とはスバン
タ後に熱処理を施していない状態の合金膜、即ぢいわゆ
るアスプリペアド(as−ρrepared)状態の合
金膜を示す。また第1図中の回転磁界中熱処理および固
定磁界中熱処理とは、スバノタによる成膜後に500゜
C、1時間のク111処理を回転磁界中および固定磁界
中で施した合金膜を示す。第1図に示す実施例1の軟磁
性合金膜、即ち組成変調膜は5≦Pn≦20 (%)の
範囲で、500゜C、1時間の高温熱処理後において、
回転磁界中および固定磁界中の両方で良好な軟質磁気1
h性を有している。これに対して、比較のため作製した
非窒化膜(Pn一〇%)は、未処理および熱処理後とも
に1.0(Oe)以上の高い保磁力を示し2、良好な1
次質研気肋,性を示さない。1二た図中には示されてい
ないが、比1咬のため作成した単層窒化膜ζこおいても
良好な軟質磁気1r性は4Mら机なかった。
第2図は第1図に示した本発明の軟磁性合金膜におりる
飽和磁化(4πMs)の窒素分圧(1)n)依存性を示
す。ごこてPn=○(%)の合金膜は非窒化膜を表し、
Pn>Q (%)の窒素を含む合金膜はffJl成変調
膜を表す。熱処理を施していない未処理の組成変調膜は
8〜1 ]. k G a u. s s程度の飽和磁
化しか示さないが、図中で熱処理後として示されている
500゜C、1時間の熱処理後における組成変調膜は1
5kGauss程度の高い飽和磁化を示す。
飽和磁化(4πMs)の窒素分圧(1)n)依存性を示
す。ごこてPn=○(%)の合金膜は非窒化膜を表し、
Pn>Q (%)の窒素を含む合金膜はffJl成変調
膜を表す。熱処理を施していない未処理の組成変調膜は
8〜1 ]. k G a u. s s程度の飽和磁
化しか示さないが、図中で熱処理後として示されている
500゜C、1時間の熱処理後における組成変調膜は1
5kGauss程度の高い飽和磁化を示す。
ここで、絹成変調膜におげる糾成変調波長とは、一層当
たりの窒化層の厚のと−層当たりの非窒化層の厚みを加
えたものとして与えられる。第1図および第2図で示さ
れている糾成変31iJ膜は、10n IT+の窒化膜
と].. O n rnの非窒化層とを積層した多層I
模であり、組成変調波長は2 0 n rnである。
たりの窒化層の厚のと−層当たりの非窒化層の厚みを加
えたものとして与えられる。第1図および第2図で示さ
れている糾成変31iJ膜は、10n IT+の窒化膜
と].. O n rnの非窒化層とを積層した多層I
模であり、組成変調波長は2 0 n rnである。
また第1図および第2図GこおけるP n = 1.
0 (%)の合金膜平均3、11成はラリ′フォード後
方散乱による分析により、FC77Nb+。N’ +
3であった。
0 (%)の合金膜平均3、11成はラリ′フォード後
方散乱による分析により、FC77Nb+。N’ +
3であった。
これらの組成変調膜におJlる熱処理前後の保磁力およ
び飽和磁化の変化は、膜中の構造変化と深くか力骨)っ
ている。第3図および第4図は、実施例1のKJI成変
調膜(Pr+=15%)の膜表面から膜厚方向へかげて
、オージェ分光分析を川いて測定したFe元素、Nb元
素および窒素(N)元素含有量に関するデブスブ1つフ
ァイルである。第(3図は未処理、即ちil S P
I’ e p;) r ed状態の糺成変調膜のもの
であり、第4図は500゜C、1時間の熱処理を施した
ものである。第3図よ第4レ]を比較すると、実施例■
の組成変調膜は、窒素元素などのように未処理状態では
明確な組成変調構造を有しているが、熱処理後において
はこれが不明確なものとなる。木発明の軟磁性合金I1
ジは第4図のよ・うに&l]成変調構造が不明6′f「
になった後に高い飽和磁化と良好な軟質磁気特性を示す
ものである。しかし、単層窒化膜は熱処llTl!Ti
″lI後で良好な軟質磁気特性を示さないことを考え合
わl゛ると、少な《ともスバソクによる組成変調欣の作
成時に膜!ゾ方向のS111成が変調されていることが
不可欠である。また、熱処理前後の+14造変化は、N
bが選IJi?的に窒素元素と結合しやすいために生し
ると考えられろ。したがって、本発明の軟磁性合金膜す
なわち組成変調膜中においては、平均組成で少なくとも
Nb元素、もしくはTa,Zr,Ti等の元素を合計3
%以」−、窒素元素を3%以−ヒ含有ずることが必要で
ある。
び飽和磁化の変化は、膜中の構造変化と深くか力骨)っ
ている。第3図および第4図は、実施例1のKJI成変
調膜(Pr+=15%)の膜表面から膜厚方向へかげて
、オージェ分光分析を川いて測定したFe元素、Nb元
素および窒素(N)元素含有量に関するデブスブ1つフ
ァイルである。第(3図は未処理、即ちil S P
I’ e p;) r ed状態の糺成変調膜のもの
であり、第4図は500゜C、1時間の熱処理を施した
ものである。第3図よ第4レ]を比較すると、実施例■
の組成変調膜は、窒素元素などのように未処理状態では
明確な組成変調構造を有しているが、熱処理後において
はこれが不明確なものとなる。木発明の軟磁性合金I1
ジは第4図のよ・うに&l]成変調構造が不明6′f「
になった後に高い飽和磁化と良好な軟質磁気特性を示す
ものである。しかし、単層窒化膜は熱処llTl!Ti
″lI後で良好な軟質磁気特性を示さないことを考え合
わl゛ると、少な《ともスバソクによる組成変調欣の作
成時に膜!ゾ方向のS111成が変調されていることが
不可欠である。また、熱処理前後の+14造変化は、N
bが選IJi?的に窒素元素と結合しやすいために生し
ると考えられろ。したがって、本発明の軟磁性合金膜す
なわち組成変調膜中においては、平均組成で少なくとも
Nb元素、もしくはTa,Zr,Ti等の元素を合計3
%以」−、窒素元素を3%以−ヒ含有ずることが必要で
ある。
以上述べたように、本発明の実施例1における軟磁性合
金膜、即ちFc系の窒化紐成変調I模は、1 5(kG
a u s s)もの高い飽和磁化と1.(Oc)以下
の低い保磁力で表される良好な軟質磁気特性を有してお
り、500゜C、1時間の高温熱処理後に良好な1リ:
質磁気特性が得られるものである。
金膜、即ちFc系の窒化紐成変調I模は、1 5(kG
a u s s)もの高い飽和磁化と1.(Oc)以下
の低い保磁力で表される良好な軟質磁気特性を有してお
り、500゜C、1時間の高温熱処理後に良好な1リ:
質磁気特性が得られるものである。
また、実施例1の軟磁性合金膜においては、変調周期2
09m,窒素分圧Pn−15(%)の軟磁性合金膜が5
X].0”という飽和俳歪定数を有していることが薙認
された。この値は回しFe系軟磁性合金てあるFc−S
i−B系非品質合金等の30X106程度と比較すると
非常に低い値である。したがって、低磁歪という観点か
らも実施例1の軟磁性合金膜は磁気う冫1一用として適
していろ。
09m,窒素分圧Pn−15(%)の軟磁性合金膜が5
X].0”という飽和俳歪定数を有していることが薙認
された。この値は回しFe系軟磁性合金てあるFc−S
i−B系非品質合金等の30X106程度と比較すると
非常に低い値である。したがって、低磁歪という観点か
らも実施例1の軟磁性合金膜は磁気う冫1一用として適
していろ。
実施例2
本発明の第2の実施例を以下に説明する。
本発明の実施例2における軟磁性合金膜として、実施例
1で述べたのと同じFclll]Nb12をクーゲソト
として用い、スバンタ時の窒素分圧と組成変調波長が異
なる組成変調膜を作成して高温熱処理を施した。この実
施例2におりる試料と、比較例として作成した組成変調
膜における試料の保磁力を第1表にまとめて示す。
1で述べたのと同じFclll]Nb12をクーゲソト
として用い、スバンタ時の窒素分圧と組成変調波長が異
なる組成変調膜を作成して高温熱処理を施した。この実
施例2におりる試料と、比較例として作成した組成変調
膜における試料の保磁力を第1表にまとめて示す。
第1表
表に示すように、本発明の実施例2における組成変調膜
1〜3は、低い保磁力で代表される良好な軟質磁気特性
を存ずるものである。この場合、l5 本発明の実施例2における組成変調膜と比較例として示
した組成変調膜4〜6との比較により、軟質磁気特性に
優れた組成変調膜の組成変調波長は少なくとも600n
m以下が望ましい。
1〜3は、低い保磁力で代表される良好な軟質磁気特性
を存ずるものである。この場合、l5 本発明の実施例2における組成変調膜と比較例として示
した組成変調膜4〜6との比較により、軟質磁気特性に
優れた組成変調膜の組成変調波長は少なくとも600n
m以下が望ましい。
以」−述べたように本発明の実施例2における軟磁性合
金膜、即ちFe系の窒化紺成変調膜は、組成変調波長が
少なくとも60nm以下で特に良好な軟質磁気特性を示
す。
金膜、即ちFe系の窒化紺成変調膜は、組成変調波長が
少なくとも60nm以下で特に良好な軟質磁気特性を示
す。
実施例3
本発明の第3の実施例を説明する。
Fes+Zr+,(原子%)なる組成のターゲットを用
い、スパッタ時のアルゴンガス中に窒素ガスを周期的に
混合しつつ、スパッタによる成膜を行った。このように
してセラミック製の基板上に一層当たり10nmの窒化
層と一層当たり10nmの非窒化層が膜厚方向に周期的
に積層された多層膜、即ち組成変調膜を形成した後、固
定磁界中で600゜C、1時間の高温熱処理を行って実
施例3の軟磁性合金膜を作成した。
い、スパッタ時のアルゴンガス中に窒素ガスを周期的に
混合しつつ、スパッタによる成膜を行った。このように
してセラミック製の基板上に一層当たり10nmの窒化
層と一層当たり10nmの非窒化層が膜厚方向に周期的
に積層された多層膜、即ち組成変調膜を形成した後、固
定磁界中で600゜C、1時間の高温熱処理を行って実
施例3の軟磁性合金膜を作成した。
第5図は実施例3の軟磁性合金膜において、スパッタ時
に混合した窒素ガス分圧(Pn)に対して、磁化困難軸
方向に測定した保磁ノJ(Hc)および初透磁率(μi
)を示したものである。ただし、窒素分圧が0%で示さ
れる合金膜は比較のために作成した非窒化膜のことであ
る。第5図c,二示す実施例1の軟磁性合金膜すなわち
組成変調膜はPnが3%付近以上、少なくとも20%以
下の範囲で低い保磁力および高い透磁率を有しており、
良好な軟質磁気特性が得られている。またこの軟磁性合
金膜においてPn−10(%)の飽和磁化は13.2
kGa u s sと高く、飽和磁歪定数がIXIO”
程度と低い値となる。したがって実施例3の軟磁性合金
膜は磁気ヘッド用等とし7て適したものである。
に混合した窒素ガス分圧(Pn)に対して、磁化困難軸
方向に測定した保磁ノJ(Hc)および初透磁率(μi
)を示したものである。ただし、窒素分圧が0%で示さ
れる合金膜は比較のために作成した非窒化膜のことであ
る。第5図c,二示す実施例1の軟磁性合金膜すなわち
組成変調膜はPnが3%付近以上、少なくとも20%以
下の範囲で低い保磁力および高い透磁率を有しており、
良好な軟質磁気特性が得られている。またこの軟磁性合
金膜においてPn−10(%)の飽和磁化は13.2
kGa u s sと高く、飽和磁歪定数がIXIO”
程度と低い値となる。したがって実施例3の軟磁性合金
膜は磁気ヘッド用等とし7て適したものである。
実施例4
本発明の第4の実施例を説明する。
本発明の実施例4として、本発明の製造方法を用いて、
本発明の軟磁性合金膜、即ちFc系の組成変調膜を、第
2表に示す組成により作成し、それぞれ最適な熱処理を
施した。
本発明の軟磁性合金膜、即ちFc系の組成変調膜を、第
2表に示す組成により作成し、それぞれ最適な熱処理を
施した。
第2表
表で示されるように、本発明の実施例4における窒化組
成変調膜7〜12は、すべて高い飽和磁化と低い保磁力
を示し、軟磁性合金膜として優れたものである。
成変調膜7〜12は、すべて高い飽和磁化と低い保磁力
を示し、軟磁性合金膜として優れたものである。
実施例4において各種軟磁性合金膜の膜中平均組成ば、
Feと、Nb,Ta,Zr,T i等の金属元素とNが
必須になっている。
Feと、Nb,Ta,Zr,T i等の金属元素とNが
必須になっている。
以上実施例4に示したように、本発明の軟磁性合金膜、
即ちFe系窒化組成変調膜は幅広い組成範囲で良好な磁
気特性を得ることができる。
即ちFe系窒化組成変調膜は幅広い組成範囲で良好な磁
気特性を得ることができる。
実施例5
本発明の第5の実施例を説明する。
F e IlsN b 12、F eo7T a Ml
、F O n ,Z r + 5およびF e e+T
t lqの4種類のクーゲッ1・を用いて、スバック
時のアルゴンガス中に窒素ガスを窒素分圧Pn=10
(%)の割合で周期的に混合しつつ、スパッタによる成
膜を行った。このようにしてセラミック製の基板上に一
層当たり1. O n. mの窒化層と一層当たり10
nmの非窒化層が膜厚方向に周期的に積層された組成変
調膜を形成した。
、F O n ,Z r + 5およびF e e+T
t lqの4種類のクーゲッ1・を用いて、スバック
時のアルゴンガス中に窒素ガスを窒素分圧Pn=10
(%)の割合で周期的に混合しつつ、スパッタによる成
膜を行った。このようにしてセラミック製の基板上に一
層当たり1. O n. mの窒化層と一層当たり10
nmの非窒化層が膜厚方向に周期的に積層された組成変
調膜を形成した。
得られた組成変調膜に回転磁界中で30分間の熱処理を
低温から高温まで加えて行った。第6図はこの際の熱処
理温度Tannと熱処理後の合金膜の保磁力H cの関
係を示す。第6図より各組成変調膜は450〜650゜
Cの熱処理後に低い保磁ノjを示す軟磁性合金膜となる
。
低温から高温まで加えて行った。第6図はこの際の熱処
理温度Tannと熱処理後の合金膜の保磁力H cの関
係を示す。第6図より各組成変調膜は450〜650゜
Cの熱処理後に低い保磁ノjを示す軟磁性合金膜となる
。
第7図はこれらFe−(Nb,Ta,Zr,Ti)合金
をターゲッl一に用いて作成した各種軟磁性合金膜の熱
処理後の飽和磁化をターゲット中のFeの含有量に対し
て示したものであるが、FC含有量が低下するにつれて
飽和磁化が低下することがわかる。この場合ターゲット
中のFe含有量が75原子%以上であれば、従来用いら
れている飽和磁化1.0kCauss程度の軟磁性合金
膜よりも高い飽和磁化を有する軟磁性合金膜が得られる
と考えられる。
をターゲッl一に用いて作成した各種軟磁性合金膜の熱
処理後の飽和磁化をターゲット中のFeの含有量に対し
て示したものであるが、FC含有量が低下するにつれて
飽和磁化が低下することがわかる。この場合ターゲット
中のFe含有量が75原子%以上であれば、従来用いら
れている飽和磁化1.0kCauss程度の軟磁性合金
膜よりも高い飽和磁化を有する軟磁性合金膜が得られる
と考えられる。
以上のように、本発明の軟磁性合金膜の製造方法を用い
て作製した本発明の軟磁性合金膜は、幅広い組成範囲で
良好な軟質磁気特性と高い飽和磁化を得ることができる
のである。
て作製した本発明の軟磁性合金膜は、幅広い組成範囲で
良好な軟質磁気特性と高い飽和磁化を得ることができる
のである。
発明の効果
本発明による軟磁性合金膜は、高い飽和磁化と低い保磁
力で表される良好な軟質磁気特性を兼ね備えたものであ
り、しかもその良好な磁気待性は高温熱処理後に得られ
るものである。また本発明の軟磁性合金膜の製造方法は
、このような良好な磁気特性を有する軟磁性合金膜を作
成するものである。
力で表される良好な軟質磁気特性を兼ね備えたものであ
り、しかもその良好な磁気待性は高温熱処理後に得られ
るものである。また本発明の軟磁性合金膜の製造方法は
、このような良好な磁気特性を有する軟磁性合金膜を作
成するものである。
したがって、本発明の軟磁性合金膜およびその製造方法
は、磁気ヘッド用軟磁性合金膜等のような産業」二の利
用価値が極めて高いものである。
は、磁気ヘッド用軟磁性合金膜等のような産業」二の利
用価値が極めて高いものである。
第1回は本発明の軟磁性合金膜と比較例の軟磁性合金膜
における保磁力の窒素分圧依存性を示すグラフ、第2図
は本発明の軟磁性合金膜と比較例の軟磁性合金膜におけ
る飽和磁化の窒素分圧依存性を示すグラフ、第3図およ
び第4図は本発明の軟磁性合金膜の熱処理前後における
各元素含有量のデプスプロファイルを示す図、第5図,
第6図および第7図は本発明の軟磁性合金膜の諸磁気特
性を示すグラフである。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第1図 窒素 分 圧 Pn (%) 弔 図 IO 〃 窒 素 分 圧 Pn (″/.) 第 図 第 図 スノでツタ−vf閑(分ノ
における保磁力の窒素分圧依存性を示すグラフ、第2図
は本発明の軟磁性合金膜と比較例の軟磁性合金膜におけ
る飽和磁化の窒素分圧依存性を示すグラフ、第3図およ
び第4図は本発明の軟磁性合金膜の熱処理前後における
各元素含有量のデプスプロファイルを示す図、第5図,
第6図および第7図は本発明の軟磁性合金膜の諸磁気特
性を示すグラフである。 代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第1図 窒素 分 圧 Pn (%) 弔 図 IO 〃 窒 素 分 圧 Pn (″/.) 第 図 第 図 スノでツタ−vf閑(分ノ
Claims (4)
- (1)少なくとも合金膜作成時に膜厚方向の組成が変調
されており、膜中の平均組成が式 M_aT_bN_c で示され、前記式の組成において、MはFe、TはNb
,Ta,Zr,Tiよりなる群から一種類以上選択され
た金属、Nは窒素であって、a,b,cは原子%を表し
、それぞれ 60≦a≦92,3≦b≦20,3≦c≦25かつa+
b+c=100であることを特徴とする軟磁性合金膜。 - (2)膜厚方向に少なくとも窒素の組成が変調されてお
り、Fe系の微結晶粒を含有することを特徴とする請求
項(1)記載の軟磁性合金膜。 - (3)膜厚方向の組成変調波長が60nm以下であるこ
とを特徴とする請求項(1)または(2)のいずれかに
記載の軟磁性合金膜。 - (4)スパッタ法による合金膜の形成時に、式M_a’
T_b’ (ただし、MはFe、TはNb,Ta,Zr,Tiより
なる群から一種類以上選択された金属であって、a’,
b’は原子%を表し、それぞれ75≦a’≦96,4≦
b’≦25、a’+b’=100である。)で示される
合金をターゲットとして用い、Ar等の不活性スパッタ
ガス中に周期的に窒素ガスを次式 3(%)≦Pn≦20(%) (ただし、Pnはスパッタ時の全スパッタガス圧に対す
る窒素ガス圧の割合を百分率で表した窒素分圧である。 )で示される割合で混合することにより、請求項(1)
,(2)または(3)のいずれかに記載の軟磁性合金膜
を形成する軟磁性合金膜の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1300506A JPH02290004A (ja) | 1989-02-03 | 1989-11-17 | 軟磁性合金膜およびその製造方法 |
| EP19900312482 EP0430504A3 (en) | 1989-11-17 | 1990-11-15 | Soft magnetic alloy films |
| US07/870,092 US5262248A (en) | 1989-11-17 | 1992-04-16 | Soft magnetic alloy films |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-25008 | 1989-02-03 | ||
| JP2500889 | 1989-02-03 | ||
| JP1300506A JPH02290004A (ja) | 1989-02-03 | 1989-11-17 | 軟磁性合金膜およびその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02290004A true JPH02290004A (ja) | 1990-11-29 |
Family
ID=26362612
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1300506A Pending JPH02290004A (ja) | 1989-02-03 | 1989-11-17 | 軟磁性合金膜およびその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02290004A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02275605A (ja) * | 1989-01-26 | 1990-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 軟磁性薄膜 |
| JPH031513A (ja) * | 1989-02-08 | 1991-01-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 軟磁性薄膜の製造方法 |
| JPH0546911A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘツドとその製造方法 |
| US6033536A (en) * | 1995-03-10 | 2000-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetron sputtering method and sputtering target |
-
1989
- 1989-11-17 JP JP1300506A patent/JPH02290004A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02275605A (ja) * | 1989-01-26 | 1990-11-09 | Fuji Photo Film Co Ltd | 軟磁性薄膜 |
| JPH031513A (ja) * | 1989-02-08 | 1991-01-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | 軟磁性薄膜の製造方法 |
| JPH0546911A (ja) * | 1991-08-13 | 1993-02-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気ヘツドとその製造方法 |
| US6033536A (en) * | 1995-03-10 | 2000-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetron sputtering method and sputtering target |
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