JPH02292721A - 磁気デイスク - Google Patents
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- JPH02292721A JPH02292721A JP1113134A JP11313489A JPH02292721A JP H02292721 A JPH02292721 A JP H02292721A JP 1113134 A JP1113134 A JP 1113134A JP 11313489 A JP11313489 A JP 11313489A JP H02292721 A JPH02292721 A JP H02292721A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/74—Record carriers characterised by the form, e.g. sheet shaped to wrap around a drum
- G11B5/82—Disk carriers
- G11B5/825—Disk carriers flexible discs
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/72—Protective coatings, e.g. anti-static or antifriction
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/73—Base layers, i.e. all non-magnetic layers lying under a lowermost magnetic recording layer, e.g. including any non-magnetic layer in between a first magnetic recording layer and either an underlying substrate or a soft magnetic underlayer
- G11B5/739—Magnetic recording media substrates
- G11B5/73923—Organic polymer substrates
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S428/00—Stock material or miscellaneous articles
- Y10S428/90—Magnetic feature
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、可撓性の基体を有する磁気ディスクに関する
。
。
く従来の技術〉
可撓性の基体を有する磁気ディスクは、通常、フロッピ
ーディスクと呼ばれ、各種コンピュータ、ワードプロセ
ッサ等に広《用いられている。
ーディスクと呼ばれ、各種コンピュータ、ワードプロセ
ッサ等に広《用いられている。
フロッピーディスクは、板状あるいは長尺の非磁性基体
フィルムの少な《とも一方の面に磁性層を塗布し、乾燥
、硬化およびカレンダ処理を施した後、ディスク状に打
ち抜いて製造され、さらに、内面にクリーニング用のラ
イチを有するジャケットあるいはカートリッジにiIy
容される。
フィルムの少な《とも一方の面に磁性層を塗布し、乾燥
、硬化およびカレンダ処理を施した後、ディスク状に打
ち抜いて製造され、さらに、内面にクリーニング用のラ
イチを有するジャケットあるいはカートリッジにiIy
容される。
また、このような塗布型の磁性層の他、Co−Cr等の
合金をスバッタ法等の薄膜形成法により成膜して得られ
る磁性層も提案されている。
合金をスバッタ法等の薄膜形成法により成膜して得られ
る磁性層も提案されている。
フロッピーディスク製造では上記のように打ち抜き工程
を経るため、ディスクにパリやクラックが生じ、ディス
ク回転時に走行不良が発生することがある。
を経るため、ディスクにパリやクラックが生じ、ディス
ク回転時に走行不良が発生することがある。
また、磁性層の形成に気相成膜法を用いた場合、成膜時
に基体が加熱されるため、基体に波打ち、うねり等の変
形が生じることがあり,こ・の場合にも走行不良が生じ
る。
に基体が加熱されるため、基体に波打ち、うねり等の変
形が生じることがあり,こ・の場合にも走行不良が生じ
る。
ところで、特開昭61−240490号公報では、ディ
スクの周縁部をプラスチックフィルムで被覆することが
提案されている。
スクの周縁部をプラスチックフィルムで被覆することが
提案されている。
この提案による磁気ディスクの構造を、第11図および
第12図に示す。 この提案では、磁性層としての金属
薄膜103を両面に施したディスク状の高分子フィルム
102から構成される磁気配録媒体l00の周縁部が、
一対のリング状のブラスヂックフィルム104、105
で被覆されているものである。
第12図に示す。 この提案では、磁性層としての金属
薄膜103を両面に施したディスク状の高分子フィルム
102から構成される磁気配録媒体l00の周縁部が、
一対のリング状のブラスヂックフィルム104、105
で被覆されているものである。
この提案によれば、金属薄膜103の鋭利な周縁部が、
ジャケットのライナに引っ掛かることがなくなるという
ものである。
ジャケットのライナに引っ掛かることがなくなるという
ものである。
一方、本発明者らは、少なくとも打ち抜きパリおよび/
またはクラックの生じる面に、一定幅の合成樹脂膜を固
着した磁気フロッピーディスクおよびその製造方法を提
案している(実願昭62−183770号および特願昭
62−304435号)。
またはクラックの生じる面に、一定幅の合成樹脂膜を固
着した磁気フロッピーディスクおよびその製造方法を提
案している(実願昭62−183770号および特願昭
62−304435号)。
これらの提案によれば、ディスク周辺部のパリやクラッ
ク等の影響を避けることができ、また、内部に分散され
た無磯充填剤粉末の作用により合成樹脂膜に潤滑効果や
帯電防止効果、あるいは剛性が付与されて、ディスク回
転の円滑化あるいは磁性層の気相成膜時に生じるうねり
の矯正が実現する。
ク等の影響を避けることができ、また、内部に分散され
た無磯充填剤粉末の作用により合成樹脂膜に潤滑効果や
帯電防止効果、あるいは剛性が付与されて、ディスク回
転の円滑化あるいは磁性層の気相成膜時に生じるうねり
の矯正が実現する。
く発明が解決しようとする課題〉
磁気ディスクは、記録密度が高《なるほどディスク基体
の平面性も良好である必要があり、基体の平面性が悪い
と出力変動を生じてしまう。
の平面性も良好である必要があり、基体の平面性が悪い
と出力変動を生じてしまう。
例えば、Co−Cr系合金のスバッタ膜を班性層として
有する垂直記録型の磁気ディスクなどでは極めて高密度
の記録がなされるため、ディスクの平面性確保が重要で
ある。
有する垂直記録型の磁気ディスクなどでは極めて高密度
の記録がなされるため、ディスクの平面性確保が重要で
ある。
しかし、このものは、磁性層の他、通常、磁性層と基体
との間の軟磁性膜、磁性層上の固体保護層なども気相成
膜されるため、ディスクの変形が生じ易い。
との間の軟磁性膜、磁性層上の固体保護層なども気相成
膜されるため、ディスクの変形が生じ易い。
上記した各提案のようにプラスチックフィルムを用いた
場合、このようなディスクの変形を防いで再生出力変動
を防止することができるが、必要以上に厚いフィルムを
用いた場合、ディスク全体の剛性が高くなりすぎて磁気
ヘッドとの接触不良が生じ、結果として再生出力変動を
生じてしまう。
場合、このようなディスクの変形を防いで再生出力変動
を防止することができるが、必要以上に厚いフィルムを
用いた場合、ディスク全体の剛性が高くなりすぎて磁気
ヘッドとの接触不良が生じ、結果として再生出力変動を
生じてしまう。
本発明は、このような事情からなされたものであり、走
行安定性が高《、再生出力の変動が小さい磁気ディスク
を提供することを目的とする。
行安定性が高《、再生出力の変動が小さい磁気ディスク
を提供することを目的とする。
く課題を解決するための手段〉
このような目的は、下記(1)〜(9)の本発明により
達成される。
達成される。
(1)可撓性の基体の少なくとも一方の主面上に磁性層
を有する磁気ディスクにおいて、両主面の外周部にリン
グ状プラスチックフィルムが固着されており、このリン
グ状プラスチックフィルムの厚さをt+(+zm)とし
、前記基体の厚さをT(μm)としたとき、T−20≦
t1≦T+40かつtl≧10であることを特徴とする
磁気ディスク。
を有する磁気ディスクにおいて、両主面の外周部にリン
グ状プラスチックフィルムが固着されており、このリン
グ状プラスチックフィルムの厚さをt+(+zm)とし
、前記基体の厚さをT(μm)としたとき、T−20≦
t1≦T+40かつtl≧10であることを特徴とする
磁気ディスク。
(2)可撓性の基体の少なくとも一方の主面上に磁性層
を有する磁気ディスクにおいて、一方の主面の外周部に
リング状プラスチックフィルムが固着されており、この
リング状プラスチックフィルムの厚さを1.(μm)と
し、前記基体の厚さをT(μm)としたとき、2T−4
0≦t2≦2T+80 かつt2≧20 であることを特徴とする磁気ディスク。
を有する磁気ディスクにおいて、一方の主面の外周部に
リング状プラスチックフィルムが固着されており、この
リング状プラスチックフィルムの厚さを1.(μm)と
し、前記基体の厚さをT(μm)としたとき、2T−4
0≦t2≦2T+80 かつt2≧20 であることを特徴とする磁気ディスク。
(3)前記基体の厚さが15〜110μmである上記(
1)または(2)に記載の磁気ディスク。
1)または(2)に記載の磁気ディスク。
(4)前記固着が接着剤層により行なわれ、この接着剤
層の厚さが10〜75μmである上記(1)ないし(3
)のいずれかに記載の磁気ディスク。
層の厚さが10〜75μmである上記(1)ないし(3
)のいずれかに記載の磁気ディスク。
(5)前記リング状プラスチックフィルムが無機充填剤
粉末を含有している上記(1)ないし(4)のいずれか
に記載の磁気ディスク。
粉末を含有している上記(1)ないし(4)のいずれか
に記載の磁気ディスク。
(6)前記磁性層が気相成膜法により形成された垂直磁
化膜である上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の
磁気ディスク。
化膜である上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の
磁気ディスク。
(7)前記基体と前記磁性層との間に、気相成膜法によ
り形成された軟磁性膜を有する上記(6)に記載の磁気
ディスク。
り形成された軟磁性膜を有する上記(6)に記載の磁気
ディスク。
(8)金属ないし半金属から選択された1種以上の元素
と酸素とを少なくとも含有し、気相成膜法により形成さ
れた固体保護膜を前記磁性層上に有する上記(6)また
は(7)に記載の磁気ディスク。
と酸素とを少なくとも含有し、気相成膜法により形成さ
れた固体保護膜を前記磁性層上に有する上記(6)また
は(7)に記載の磁気ディスク。
(9)有機化合物を含有する潤滑膜を前記固体保護層上
に有する上記(6)ないし(8)のいずれかに記載の磁
気ディスク。
に有する上記(6)ないし(8)のいずれかに記載の磁
気ディスク。
く作用〉
本発明の磁気ディスクは、少なくとも一方の主面の外周
部に所定の厚さのリング状プラスチックフィルムが固着
されているため、磁性層成膜の際に生じる歪、うねり等
のディスクの変形が補正され、良好な平面性を有する。
部に所定の厚さのリング状プラスチックフィルムが固着
されているため、磁性層成膜の際に生じる歪、うねり等
のディスクの変形が補正され、良好な平面性を有する。
しかも、ディスクに与える剛性が適当であるため、磁
気ヘッド摺接時にディスクが適度に変形し、ヘッドとの
接触が良好である。
気ヘッド摺接時にディスクが適度に変形し、ヘッドとの
接触が良好である。
このため、本発明の磁気ディスクは、全トラックに亙っ
て再生出力変動が極めて少な《、エラーの発生が極小で
ある。
て再生出力変動が極めて少な《、エラーの発生が極小で
ある。
く具体的構成〉
以下、本発明の具体的構成について詳細に説明する。
第1図、第2図および第3図に、本発明の磁気ディスク
の好適実施例の部分端面図を示す。
の好適実施例の部分端面図を示す。
第1図、第2図および第3図に示される磁気ディスク1
は、ディスク本体11の両主面外周部に、リング状プラ
スチックフィルム12が接着剤層13により貼着されて
構成されている。
は、ディスク本体11の両主面外周部に、リング状プラ
スチックフィルム12が接着剤層13により貼着されて
構成されている。
ディスク本体11は、可撓性基体の少なくとも一方の主
面上に磁性層が設けられて構成される。
面上に磁性層が設けられて構成される。
第1図および第3図に示される例では、リング状プラス
チックフィルムl2はディスク本体11の外周縁を越え
て半径方向に突出しており、突出した部分は、互いに接
着されてはいない。
チックフィルムl2はディスク本体11の外周縁を越え
て半径方向に突出しており、突出した部分は、互いに接
着されてはいない。
また、第2図に示される例では、ディスク本体1lの外
周縁を越えて半径方向に突出しているリング状プラスチ
ックフィルムl2が、互いに接着剤N13により貼着さ
れている。
周縁を越えて半径方向に突出しているリング状プラスチ
ックフィルムl2が、互いに接着剤N13により貼着さ
れている。
なお、これらの他、少な《とも一方のリング状プラスチ
ックフィルムに断面L字状のものを用い,これをディス
ク本体11の主面外周部および外周壁に接着する態様も
本発明に含まれる。
ックフィルムに断面L字状のものを用い,これをディス
ク本体11の主面外周部および外周壁に接着する態様も
本発明に含まれる。
これらのいずれの態様であっても、本発明の効果は実現
し、また、ディスク本体11の一方の主面だけにリング
状プラスチックフィルムl2を有する場合であっても、
リング状プラスチックフィルムl2が後述する厚さを有
していれば本発明の効果は実現する。
し、また、ディスク本体11の一方の主面だけにリング
状プラスチックフィルムl2を有する場合であっても、
リング状プラスチックフィルムl2が後述する厚さを有
していれば本発明の効果は実現する。
なお、一方の主面にだけリング状プラスチックフィルム
12が形成される場合、リング状プラスチックフィルム
l2は、基体の打ち抜き時にパリおよび/またはクラッ
クが生じる面に固着されることが好ましい。
12が形成される場合、リング状プラスチックフィルム
l2は、基体の打ち抜き時にパリおよび/またはクラッ
クが生じる面に固着されることが好ましい。
第1図、第2図および第3図に示されるように、ディス
クの両主面にリング状プラスチックフィルムを有する場
合、リング状プラスチックフィルムの厚さを1+ (
μm)とし、前記基体の厚さをT(μm)としたとき、
本発明ではT−20≦tl≦T+40かつt1≧lOと
される。
クの両主面にリング状プラスチックフィルムを有する場
合、リング状プラスチックフィルムの厚さを1+ (
μm)とし、前記基体の厚さをT(μm)としたとき、
本発明ではT−20≦tl≦T+40かつt1≧lOと
される。
この場合、両主面に接着される2枚のリング状プラスチ
ックフィルムの厚さのそれぞれが上記範囲の厚さを有す
る必要がある。 なお、2枚のリング状プラスチックフ
ィルムは、ほぼ等しい厚さとすることが好ましい。
ックフィルムの厚さのそれぞれが上記範囲の厚さを有す
る必要がある。 なお、2枚のリング状プラスチックフ
ィルムは、ほぼ等しい厚さとすることが好ましい。
また、ディスクの一方の主面にだけリング状プラスチッ
クフィルムを有する場合、リング状プラスチックフィル
ムの厚さをt2 (μm)としたとき、 2T−40 ≦ t 2 ≦ 2T+80かつt2≧
20 とされる。
クフィルムを有する場合、リング状プラスチックフィル
ムの厚さをt2 (μm)としたとき、 2T−40 ≦ t 2 ≦ 2T+80かつt2≧
20 とされる。
tlおよびt2が上記範囲未満であると、ディスクの形
状補正効果が不十分である。
状補正効果が不十分である。
t1およびt2が上記範囲を超えると、ディスク全体の
剛性が高くなりすぎて適当なヘッドタッチが得られず、
再生出力変動を招《。
剛性が高くなりすぎて適当なヘッドタッチが得られず、
再生出力変動を招《。
リング状プラスチックフィルム12のディスク半径方向
の幅は0.5〜4mmであることが好ましい。 この幅
が上記範囲未満であるとディスク形状の補正効果が不十
分である他、取扱が難しくなったり、貼看力が不十分と
なり、上記範囲を超えると、十分な記録面をとることが
できずトラック数が減少してしまったり、ジャケットへ
の収納性が低下する。
の幅は0.5〜4mmであることが好ましい。 この幅
が上記範囲未満であるとディスク形状の補正効果が不十
分である他、取扱が難しくなったり、貼看力が不十分と
なり、上記範囲を超えると、十分な記録面をとることが
できずトラック数が減少してしまったり、ジャケットへ
の収納性が低下する。
リング状プラスチックフィルム12の直径は、第1図、
第2図および第3図に示されるようにディスク本体l1
の直径を超えてもよく、同直径またはそれ以下であって
もよい。 ただし、リング状プラスチックフィルム12
とディスク本体11との接着部分の幅は、0.8mm以
上であることが好ましい。 この幅が上記範囲未満であ
るとディスク形状の補正効果が不十分となる他、十分な
貼着力が得られな《なる。
第2図および第3図に示されるようにディスク本体l1
の直径を超えてもよく、同直径またはそれ以下であって
もよい。 ただし、リング状プラスチックフィルム12
とディスク本体11との接着部分の幅は、0.8mm以
上であることが好ましい。 この幅が上記範囲未満であ
るとディスク形状の補正効果が不十分となる他、十分な
貼着力が得られな《なる。
リング状プラスチックフィルムの材質に特に制限はなく
、ポリエチレン、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレ
ート(PET).ポリ塩化ビニル等から適当なものを選
択すればよいが、低コストであることからPETを用い
ることが好ましい。 また、ヤング率が高く、形状補正
効果が高いことから、ポリイミドも好適に用いることが
できる。
、ポリエチレン、ポリイミド、ポリエチレンテレフタレ
ート(PET).ポリ塩化ビニル等から適当なものを選
択すればよいが、低コストであることからPETを用い
ることが好ましい。 また、ヤング率が高く、形状補正
効果が高いことから、ポリイミドも好適に用いることが
できる。
なお、リング状プラスチックフィルムのヤ冫グ率は、好
まし《は3 0 0 kgf/mm2以上、特に3 5
0 〜9 5 0 kgf/mm”である。
まし《は3 0 0 kgf/mm2以上、特に3 5
0 〜9 5 0 kgf/mm”である。
リング状プラスチックフィルムl2には、無機充填剤の
粉末が含有されていてもよい。
粉末が含有されていてもよい。
用いる無機充填剤としては、カーボン、グラファイトお
よび酸化チタンの少な《とも1種であることが好ましい
。 これらの無機充填剤粉末は、潤滑、帯電防止、剛性
向上、着色等の効果をリング状プラスチックフィルムに
付与する。
よび酸化チタンの少な《とも1種であることが好ましい
。 これらの無機充填剤粉末は、潤滑、帯電防止、剛性
向上、着色等の効果をリング状プラスチックフィルムに
付与する。
このような効果を実現するためには、リング状プラスチ
ックフィルム12中の無機充填剤粉末の含有率が5〜3
0wt%であることが好ましい。
ックフィルム12中の無機充填剤粉末の含有率が5〜3
0wt%であることが好ましい。
リング状プラスチックフィルム12とディスク本体11
とを貼着する接着剤の種類に特に制限はなく,アクリル
酸エステル等の粘着型接着剤、アクリル樹脂、不飽和ポ
リエステル等の放射線硬化型接着剤などから選択すれば
よい。
とを貼着する接着剤の種類に特に制限はなく,アクリル
酸エステル等の粘着型接着剤、アクリル樹脂、不飽和ポ
リエステル等の放射線硬化型接着剤などから選択すれば
よい。
接着剤層13の厚さは接着剤の種類によっても異なるが
、lO〜75μm、特に20〜60μmであることが好
ましい。 厚さがこの範囲未満であると接着性が不十分
であり、この範囲を超えるとリング状プラスチックフィ
ルム接着部の厚さが大きくなりすぎて、ジャケットある
いはカートリッジ内でのディスクの円滑な回転が困難と
なる。
、lO〜75μm、特に20〜60μmであることが好
ましい。 厚さがこの範囲未満であると接着性が不十分
であり、この範囲を超えるとリング状プラスチックフィ
ルム接着部の厚さが大きくなりすぎて、ジャケットある
いはカートリッジ内でのディスクの円滑な回転が困難と
なる。
なお、リング状プラスチックフィルムと接着剤層との合
計厚さは150μmを超えないことが好ましく、また、
これにディスク本体の厚さを加えた全厚は、350μm
を超えないことが好ましい。
計厚さは150μmを超えないことが好ましく、また、
これにディスク本体の厚さを加えた全厚は、350μm
を超えないことが好ましい。
接着剤層13は、リング状プラスチックフィルムl2を
強固に接着するために、第1図、第2図および第3図に
示されるように少な《ともリング状プラスチックフィル
ム12とディスク本体l1との間の全域に存在すること
が好ましい。 また、接着剤層への塵の吸着を防いでド
ロップアウトを防止するために、第1図、第2図および
第3図に示されるように、接着された状態でリング状プ
ラスチックフィルムl2の外周縁より外側に存在しない
ことが好ましい。
強固に接着するために、第1図、第2図および第3図に
示されるように少な《ともリング状プラスチックフィル
ム12とディスク本体l1との間の全域に存在すること
が好ましい。 また、接着剤層への塵の吸着を防いでド
ロップアウトを防止するために、第1図、第2図および
第3図に示されるように、接着された状態でリング状プ
ラスチックフィルムl2の外周縁より外側に存在しない
ことが好ましい。
第1図および第2図に示されるように接着剤層を部分的
に形成するためには、例えばスクリーン印刷法を用いる
が、第3図に示されるような接着剤層はこのような方法
を用いる必要がなく、低コストにて形成することができ
る。
に形成するためには、例えばスクリーン印刷法を用いる
が、第3図に示されるような接着剤層はこのような方法
を用いる必要がなく、低コストにて形成することができ
る。
なお、リング状プラスチックフィルムl2は、通常、デ
ィスク本体l1の最上層に接着される。
ィスク本体l1の最上層に接着される。
リング状プラスチックフィルム12の製造方法に特に制
限はなく,例えば、プラスチックフィルムのシートに接
着剤層を形成しておき、これをリング状に打ち抜くなど
の方法により製造することができる。
限はなく,例えば、プラスチックフィルムのシートに接
着剤層を形成しておき、これをリング状に打ち抜くなど
の方法により製造することができる。
リング状プラスチックフィルム12の製造方法の1例を
、第5図に示す。
、第5図に示す。
第5図において、上型20は底面に同心円状のカッター
21、22を有し、下型23は上面にクッシ式ンシ一ト
24を有する。
21、22を有し、下型23は上面にクッシ式ンシ一ト
24を有する。
上型20と下型23との間には長尺シ一ト状の積層体2
5が送゛り込まれる。 この積層体25は、プラスチッ
クフィルム121の裏面に接着剤層l3を塗布し、さら
に易剥離紙26で裏打ちしたものである。 積暦体25
は、上型20および下型23により押圧されてリング状
に打ち抜かれ、リング状の積層体が得られる。
5が送゛り込まれる。 この積層体25は、プラスチッ
クフィルム121の裏面に接着剤層l3を塗布し、さら
に易剥離紙26で裏打ちしたものである。 積暦体25
は、上型20および下型23により押圧されてリング状
に打ち抜かれ、リング状の積層体が得られる。
このようにして得られるリング状プラスチックフィルム
12とディスク本体l1との接着は、下記の方法で行な
うことが好ましい。
12とディスク本体l1との接着は、下記の方法で行な
うことが好ましい。
第6図に、リング状プラスチックフィルム12とディス
ク本体1lとの接着に用いる装置の1例を示す。
ク本体1lとの接着に用いる装置の1例を示す。
同図において、台座30の上面は平坦であり、この上面
には、円形開口32を有するガイド部材3lが配設され
ている。 円形開口32はリング状プラスチックフィル
ムをガイドするために設けられ、リング状プラスチック
フィルム12の直径よりもわずかに大きい直径を有する
. 台座30とガイド部材31とは一体的に構成されて
いてもよ《、分離可能に構成されていてもよい. 台座30はリング状プラスチックフィルム12が位置す
る部位に複数の小孔33を有し、これら小孔33は真空
ボンブに接続されている。
には、円形開口32を有するガイド部材3lが配設され
ている。 円形開口32はリング状プラスチックフィル
ムをガイドするために設けられ、リング状プラスチック
フィルム12の直径よりもわずかに大きい直径を有する
. 台座30とガイド部材31とは一体的に構成されて
いてもよ《、分離可能に構成されていてもよい. 台座30はリング状プラスチックフィルム12が位置す
る部位に複数の小孔33を有し、これら小孔33は真空
ボンブに接続されている。
上型34は上下動可能に構成され、ディスク本体11の
中心軸がガイド部材31の円形開口32の中心軸と一致
するように、円形突起35によりディスク本体11を保
持する。
中心軸がガイド部材31の円形開口32の中心軸と一致
するように、円形突起35によりディスク本体11を保
持する。
この装置で接着作業を行なう場合、まず、上型34にデ
ィスク本体11を仮止めする。 また、第5図に示すよ
うにして得られたリング状の積層体を、易剥離紙26が
上になるようにガイド部材31の円形間口32の内壁に
沿ってはめる。
ィスク本体11を仮止めする。 また、第5図に示すよ
うにして得られたリング状の積層体を、易剥離紙26が
上になるようにガイド部材31の円形間口32の内壁に
沿ってはめる。
次に、真空ボンブを作動させることにより小孔33がら
空気を吸引し、リング状の積層体を台座30上に保持し
た後、易剥離紙26を剥離すれば、皺もなく所定位置に
リング状プラスチックフィルム12を位置させることが
できる。
空気を吸引し、リング状の積層体を台座30上に保持し
た後、易剥離紙26を剥離すれば、皺もなく所定位置に
リング状プラスチックフィルム12を位置させることが
できる。
次いで上型34を降下させれば、リング状ブラスチック
フィルムl2とディスク本体11とは中心軸が一致した
状態で接着される。
フィルムl2とディスク本体11とは中心軸が一致した
状態で接着される。
また、磁気ディスクの両主面にリング状プラスチックフ
ィルムl2を接着する場合、上記のの工程の後にディス
ク本体の上下を反転して上型に取り付け、再び上記工程
を繰り返せばよい。
ィルムl2を接着する場合、上記のの工程の後にディス
ク本体の上下を反転して上型に取り付け、再び上記工程
を繰り返せばよい。
第7図に、ディスク本体1lとリング状プラスチックフ
ィルム12がほぼ同直径である場合に用いる製造装置の
部分断面図を示す。
ィルム12がほぼ同直径である場合に用いる製造装置の
部分断面図を示す。
第7図に示す装置では、第6図に示す装置において円形
開口32の直径をディスク本体11の直径よりも少しだ
け大きく設定し、同時にリング状プラスチックフィルム
は、ディスク本体11とほぼ同程度の直径を有するもの
とする。
開口32の直径をディスク本体11の直径よりも少しだ
け大きく設定し、同時にリング状プラスチックフィルム
は、ディスク本体11とほぼ同程度の直径を有するもの
とする。
作業手順は、第6図に示す装置においてディスク本体1
1の片面にリング状プラスチックフィルムl2を貼着す
る場合と同様であり、ディスク本体11のパリおよび/
またはクラックがある面にリング状プラスチックフィル
ム12を貼着する。
1の片面にリング状プラスチックフィルムl2を貼着す
る場合と同様であり、ディスク本体11のパリおよび/
またはクラックがある面にリング状プラスチックフィル
ム12を貼着する。
リング状プラスチックフィルム12が貼着されるディス
ク本体11は、基体の少なくとも一方の主面上に磁性層
が設けられて構成される。
ク本体11は、基体の少なくとも一方の主面上に磁性層
が設けられて構成される。
以下、この磁性層が気相成膜法により形成されたCo−
Cr系合金の垂直磁化膜である場合について説明する。
Cr系合金の垂直磁化膜である場合について説明する。
第4図に、ディスク本体l1の好適例の部分断面図を示
す。
す。
ディスク本体11は両面記録型の磁気ディスクであり、
基体2の両主面上に、軟磁性膜3、磁性層4、固体保護
層5および潤滑膜6を、この順で有する。
基体2の両主面上に、軟磁性膜3、磁性層4、固体保護
層5および潤滑膜6を、この順で有する。
このような両面記録型の磁気ディスクでは、軟磁性膜3
、磁性層4、固体保護層5等の成膜時に発生する基体2
のソリが打ち消しあうが、これらを一方の面にだけ有す
る片面記録型の磁気ディスクでは、他方の面にバックコ
ート層を設けることにより基体2のソリを防止すること
ができる。 この場合のバックコート層としては、AI
2、Ti等の金属、あるいはS i O z、Sta
N4 .AI2z Os .後述する固体保護層構成材
質等の無機酸化物、窒化物ないしこれらの混合物などの
スパッタ膜が好適であり、さらには塗布型のバックコー
ト層も用いることができる。
、磁性層4、固体保護層5等の成膜時に発生する基体2
のソリが打ち消しあうが、これらを一方の面にだけ有す
る片面記録型の磁気ディスクでは、他方の面にバックコ
ート層を設けることにより基体2のソリを防止すること
ができる。 この場合のバックコート層としては、AI
2、Ti等の金属、あるいはS i O z、Sta
N4 .AI2z Os .後述する固体保護層構成材
質等の無機酸化物、窒化物ないしこれらの混合物などの
スパッタ膜が好適であり、さらには塗布型のバックコー
ト層も用いることができる。
基体2の材質に特に制限はなく、ポリイミド、ポリエチ
レンテレフタレート(PET)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPS)ボリアミド、ポリエチレンナフタレ−
1・(PEN).ポリエーテルエーテルヶトン(PEE
K)などの高分子物質から目的に合わせて選択すればよ
いが、Co−Cr系合金の垂直磁化膜は気相成膜法によ
り形成されるため、耐熱性、寸法安定性、表面粗度等が
良好である必要があるので、上記材質のうちポリイミド
を用いることが好ましい。
レンテレフタレート(PET)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPS)ボリアミド、ポリエチレンナフタレ−
1・(PEN).ポリエーテルエーテルヶトン(PEE
K)などの高分子物質から目的に合わせて選択すればよ
いが、Co−Cr系合金の垂直磁化膜は気相成膜法によ
り形成されるため、耐熱性、寸法安定性、表面粗度等が
良好である必要があるので、上記材質のうちポリイミド
を用いることが好ましい。
なお、Co−Cr系合金から構成される磁性層は、磁気
特性向上のために熱処理が施されることが好ましいので
、この場合の基体2構成材質には150℃程度以上、特
に200〜300℃での10秒間〜10分間程度の加熱
に耐えられるものを選択することが好ましい。
特性向上のために熱処理が施されることが好ましいので
、この場合の基体2構成材質には150℃程度以上、特
に200〜300℃での10秒間〜10分間程度の加熱
に耐えられるものを選択することが好ましい。
通常、この加熱は、磁性層およびその下地膜である軟磁
性膜成膜時に、スパツタターゲットからの輻射により行
われる。
性膜成膜時に、スパツタターゲットからの輻射により行
われる。
また、基体の線膨張係数は、後述する軟磁性膜、磁性層
等の基体上に成膜される金属と同等であることが好まし
《、例えば20〜60℃にて5X 1 0−’〜1 5
X l O−’deg−’程度であることが好ましい。
等の基体上に成膜される金属と同等であることが好まし
《、例えば20〜60℃にて5X 1 0−’〜1 5
X l O−’deg−’程度であることが好ましい。
基体2のヤング率は、300〜1000kgf/mm”
であることが好ましい。 ヤング率をこの範囲とするこ
とにより、耐久性が向上すると共にヘッドタッチが良好
となる。 ヤング率が上記範囲未満であると、ヘッドタ
ッチは良好であるが耐久性が低下する。 また,ヤング
率が上記範囲を超えると、耐久性は向上するがヘッドタ
ッチが悪化する。
であることが好ましい。 ヤング率をこの範囲とするこ
とにより、耐久性が向上すると共にヘッドタッチが良好
となる。 ヤング率が上記範囲未満であると、ヘッドタ
ッチは良好であるが耐久性が低下する。 また,ヤング
率が上記範囲を超えると、耐久性は向上するがヘッドタ
ッチが悪化する。
基体2の表面粗さ(Rmax)は、0.02μm以下で
あることが好ましい。 R maxがこの範囲であると
、ヘッドと媒体間で生じるスベーシングロスが減少し、
記録密度を高くすることができる。 R maxが上記
範囲を超えると、十分な記録密度を得ることが困難であ
る。
あることが好ましい。 R maxがこの範囲であると
、ヘッドと媒体間で生じるスベーシングロスが減少し、
記録密度を高くすることができる。 R maxが上記
範囲を超えると、十分な記録密度を得ることが困難であ
る。
上記のようなR maxは、基体2の両面で実現してい
ることが好ましいが、少な《とも磁性層設層面で実現し
ていれば上記の効果は得られる。
ることが好ましいが、少な《とも磁性層設層面で実現し
ていれば上記の効果は得られる。
なお、基体2中には、必要に応じ摩擦係数低減のために
フィラーが含有されていてもよい。
フィラーが含有されていてもよい。
基体2の直径は用途に応じて適当な値を選択すればよく
、通常、50〜130mm程度である。 また、基体2
の厚さは通常、7〜80μm程度,特に20〜50μm
程度である。
、通常、50〜130mm程度である。 また、基体2
の厚さは通常、7〜80μm程度,特に20〜50μm
程度である。
基体2上には、軟磁性膜3が設けられる。
軟磁性膜3は、再生出力の向上のために設けられる。
軟磁性膜3の構成材質は、Fe−Ni系合金であること
が好ましい。
が好ましい。
Fe−Ni系合金としては、Fe−Ni合金(パーマロ
イ).Fe−Ni−Mo合金、Fe−Ni−Cr合金、
Fe−Ni−Nb合金、Fe−N i−Mn−Cu合金
、Fe−Ni−Mo−Nb合金、Fe−N i−Mo−
Cu合金、Fe−N i−S i−Aj2合金等を好ま
しく用いることができる。
イ).Fe−Ni−Mo合金、Fe−Ni−Cr合金、
Fe−Ni−Nb合金、Fe−N i−Mn−Cu合金
、Fe−Ni−Mo−Nb合金、Fe−N i−Mo−
Cu合金、Fe−N i−S i−Aj2合金等を好ま
しく用いることができる。
また、Fe−Ni系合金の他、Fe−Co−■系合金も
好まし《用いることができる。
好まし《用いることができる。
なお、これら合金には、必要に応じ、Ti、An、Si
.Mn.Cu.Ta.C、0、N、Ar%Ca.Cr等
が含有されていてもよい。
.Mn.Cu.Ta.C、0、N、Ar%Ca.Cr等
が含有されていてもよい。
軟磁性膜3の面内方向の保磁力は、6〜200eである
ことが好ましい。 保磁力がこの範囲内であると、高い
再生出力が得られると共にモジュレーションが20%以
下に低下する。
ことが好ましい。 保磁力がこの範囲内であると、高い
再生出力が得られると共にモジュレーションが20%以
下に低下する。
保磁力が上記範囲未満となると再生出力は向上するがモ
ジュレーシジンが太き《なり、上記範囲を超えるとモジ
ュレーションは小さ《なるが再生出力が低下してしまう
。
ジュレーシジンが太き《なり、上記範囲を超えるとモジ
ュレーションは小さ《なるが再生出力が低下してしまう
。
軟磁性膜3の膜厚は0.3〜0.5μmであることが好
ましい。 膜厚がこの範囲未満であると生産性は向上す
るが十分な再生出力が得られず、この範囲を超えると再
生出力は高くなるが、成膜に時間を要し生産性が低下す
る。
ましい。 膜厚がこの範囲未満であると生産性は向上す
るが十分な再生出力が得られず、この範囲を超えると再
生出力は高くなるが、成膜に時間を要し生産性が低下す
る。
なお、軟磁性膜3は、スパッタ法により成膜されること
が好ましい。
が好ましい。
磁性層4は、気相成膜法により形成された垂直磁化膜で
ある。
ある。
このような垂直磁化膜としては、Co−Cr系合金の気
相成長膜が好ましい。
相成長膜が好ましい。
Co−Cr系合金としては、Co−Cr合金、Co−C
r−B合金、C o − C r − M n合金、C
o − C r − M n − B合金、Co−C
r−Ta合金、Co−Cr−S i−AQ合金等が好ま
しい。
r−B合金、C o − C r − M n合金、C
o − C r − M n − B合金、Co−C
r−Ta合金、Co−Cr−S i−AQ合金等が好ま
しい。
なお、Co−Cr系合金中のCr含有率は、16〜23
at%程度であることが好ましい。
at%程度であることが好ましい。
また、Co−Cr系合金の他、Co−V系合金も好まし
く用いることができる。
く用いることができる。
なお、これら合金には、必要に応じ、0、N.St.A
I2、Mn,Ar等が含有されていてもよい。
I2、Mn,Ar等が含有されていてもよい。
磁性層4の垂直方向保磁力は4000e以上であること
が好ましい。 垂直方向保磁力がこの範囲未満であると
、再生出力が不十分である。 なお、垂直方向保磁力の
上限は特にないが、通常15000e程度まで容易に製
造することができる。
が好ましい。 垂直方向保磁力がこの範囲未満であると
、再生出力が不十分である。 なお、垂直方向保磁力の
上限は特にないが、通常15000e程度まで容易に製
造することができる。
磁性層4の厚さは0.05〜0.2μmであることが好
ましい。 厚さがこの範囲未満であると再生出力が低下
し、S/Nが低下する。
ましい。 厚さがこの範囲未満であると再生出力が低下
し、S/Nが低下する。
また、この範囲を超えると記録密度が低下し、例えば記
録密度(Da。)が1 0 0 KFRPIに達しない
。
録密度(Da。)が1 0 0 KFRPIに達しない
。
磁性層は、気相成膜法により形成されるが、特にスバッ
タ法により成膜されることが好ましい。
タ法により成膜されることが好ましい。
固体保護N5は、金属または半金属から選択される1種
以上の元素と、0とを含有し、通常、非品質状態にある
。
以上の元素と、0とを含有し、通常、非品質状態にある
。
固体保護層5表面は、水との接触角が好ましくは80’
以下、より好ましくは60゜以下、さらに好ましくは4
01以下とされる。
以下、より好ましくは60゜以下、さらに好ましくは4
01以下とされる。
水との接触角をこのような範囲とすることにより、有磯
潤滑膜6の成膜を均一に行なうことができる。 特に、
有機潤滑膜を構成する有機化合物が液状である場合や、
極性基、親水性基,親水性部分などを有する場合、この
ような効果はより顕著となる。 なお、固体保護層5の
水との接触角は、通常8゜程度以上である。
潤滑膜6の成膜を均一に行なうことができる。 特に、
有機潤滑膜を構成する有機化合物が液状である場合や、
極性基、親水性基,親水性部分などを有する場合、この
ような効果はより顕著となる。 なお、固体保護層5の
水との接触角は、通常8゜程度以上である。
水との接触角は、例えば、固体保護層表面に純水を滴下
して30秒後に測定すればよい。 測定雰囲気は、18
〜23℃、40〜60%RH程度である。
して30秒後に測定すればよい。 測定雰囲気は、18
〜23℃、40〜60%RH程度である。
固体保護暦5に含有される金属または半金属としては、
Yを含む希土類元素(Y、ランタンイド元素およびアク
チノイド元素を意味し、以下、Rと略称する。),Si
.Aβ、Ti、ZnおよびBが好ましく、これらのうち
RおよびSLを必須とするかSiおよびAI2を必須と
して固体保護層5に含有させることが好ましい。
Yを含む希土類元素(Y、ランタンイド元素およびアク
チノイド元素を意味し、以下、Rと略称する。),Si
.Aβ、Ti、ZnおよびBが好ましく、これらのうち
RおよびSLを必須とするかSiおよびAI2を必須と
して固体保護層5に含有させることが好ましい。
また、これらの元素の他、Fe.Mg、Ca.Sr.B
a,Ar,Mn等が全体のlat%以下程度含有されて
いてもよい。
a,Ar,Mn等が全体のlat%以下程度含有されて
いてもよい。
さらに詳述すると、固体保護層5の組成は、下記の組成
■または組成IIの範囲から選択することが好ましい。
■または組成IIの範囲から選択することが好ましい。
!LtL[金属または半金属としてStおよびAβを必
須とし、さらに0およびNを含有するもの] SiおよびAJ2は、通常、酸化物および窒化物の形で
含有される, 固体保護層5中の上記化合物は、その組成において化学
量論的な組成比を外れていてよい。
須とし、さらに0およびNを含有するもの] SiおよびAJ2は、通常、酸化物および窒化物の形で
含有される, 固体保護層5中の上記化合物は、その組成において化学
量論的な組成比を外れていてよい。
これらの元素と酸素および窒素とを含有することにより
、耐食性が向上する。
、耐食性が向上する。
組成Iにおける固体保護層5中の各元素の含有率は、下
記の範囲であることが好ましい。
記の範囲であることが好ましい。
S L : 2 0〜8 0at%、
より好まし《は40〜70at%。
Ana1 〜30at%、
より好ましくは2〜10at%。
0:2〜30at%、
より好ましくは2〜20at%。
N:5〜45at%、
より好ましくは15〜35at%。
このような組成の固体保護層には、さらにRが含有され
ることが好ましい。
ることが好ましい。
Rとしては、Yおよびランタノイド元素が好ましい。
Rの含有率は,保護層中に含有されるR以外の金属また
は半金属元素と、OおよびNとの合計を100at%と
じたとき、好ましくは1〜10at%、より好ましくは
2〜8at%である。
は半金属元素と、OおよびNとの合計を100at%と
じたとき、好ましくは1〜10at%、より好ましくは
2〜8at%である。
このような含有率にてRを含有することにより、耐久性
、耐候性および耐食性がさらに向上し、特に耐久性は極
めて高いものとなる。
、耐候性および耐食性がさらに向上し、特に耐久性は極
めて高いものとなる。
この組成におけるRとしては.Y.La、Ce.Pr.
Nd,SmおよびEuからなる群から選ばれた元素の1
種以上であることが好ましく、特にYを必須とすること
が好ましい. R中のYの比率は、50%以上であるこ
とが好ましい。
Nd,SmおよびEuからなる群から選ばれた元素の1
種以上であることが好ましく、特にYを必須とすること
が好ましい. R中のYの比率は、50%以上であるこ
とが好ましい。
このとき耐久性、耐候性、耐食性等の面でより良好な結
果が得られる。
果が得られる。
また、固体保護層5をスパッタ法により形成する際に、
用いるターゲットにこれらの元素を含有させることによ
り緻密なターゲットが得られ、その結果、ターゲットの
冷却効率が向上し、スバッタ時の輻射熱が抑えられる。
用いるターゲットにこれらの元素を含有させることによ
り緻密なターゲットが得られ、その結果、ターゲットの
冷却効率が向上し、スバッタ時の輻射熱が抑えられる。
Rは、固体保護層5中にて元素単体あるいは化合物いず
れの形で含有されてもよい。 化合物として含有される
場合は、通常、酸化物の形で含有されることが好ましい
。
れの形で含有されてもよい。 化合物として含有される
場合は、通常、酸化物の形で含有されることが好ましい
。
!LIL[金属または半金属としてRおよびSiを必須
とし、さらにOおよびNを含有するもの] この組成におけるRとしては、少なくともLaおよびC
eのうち一種以上が含まれることが好ましい。
とし、さらにOおよびNを含有するもの] この組成におけるRとしては、少なくともLaおよびC
eのうち一種以上が含まれることが好ましい。
LaおよびCeは、通常、酸化物として含有される。
これらの酸化物の化学量論組成はそれぞれLa2’sお
よびC e O 2であるが、これらから偏奇したもの
であってもよい。
これらの酸化物の化学量論組成はそれぞれLa2’sお
よびC e O 2であるが、これらから偏奇したもの
であってもよい。
CeおよびLaのはいずれが一方であってもよく、両者
が含有されてもよいが,両者が含有される場合、そのm
比は任意である。
が含有されてもよいが,両者が含有される場合、そのm
比は任意である。
また、Laおよび/またはCeの他、Yを含む他の希土
類元素、例えばY.Er等が含有されていてもよいが、
R中のLaおよび/またはCeの比率は50%以上であ
ることが好ましい。
類元素、例えばY.Er等が含有されていてもよいが、
R中のLaおよび/またはCeの比率は50%以上であ
ることが好ましい。
固体保護層5中には、希土類元素の酸化物に加え、SL
が含有される。
が含有される。
SLは、通常、酸化物および窒化物として含有されるが
、化学債論組成から偏奇していてもよい。
、化学債論組成から偏奇していてもよい。
組成I■における固体保護層5中の各元素の含有率は、
下記の範囲であることが好ましい。
下記の範囲であることが好ましい。
S i : 1 0〜8 0at%、
より好ましくは20〜60at%。
0:10〜80at%、
より好ましくは15〜60at%。
N:2〜60at%、
より好まし《は3〜50aL%。
そして、Rの含有率は、保護層中に含有されるR以外の
金属または半金属元素と、0およびNとの合計を100
at%としたとき、好ましくは1〜10at%、より好
ましくは2〜8at%である。
金属または半金属元素と、0およびNとの合計を100
at%としたとき、好ましくは1〜10at%、より好
ましくは2〜8at%である。
このような含有率にてRを含有することにより、耐久性
、耐候性および耐食性が向上し,特に耐久性は極めて高
いものとなる。
、耐候性および耐食性が向上し,特に耐久性は極めて高
いものとなる。
なお、これらの組成の他、Aβ2J等から構成される固
体保護層も用いることができる。
体保護層も用いることができる。
固体保護暦5中の各元素の含有率は、オージエ、ESC
A.SIMS等によって測定すればよい。
A.SIMS等によって測定すればよい。
このような組成を有する固体保護層5の設暦は気相成膜
法により行なうことが好ましく、特にスパッタ法を用い
ることが好ましい。
法により行なうことが好ましく、特にスパッタ法を用い
ることが好ましい。
スパッタ法としては、上記組成の焼結体をターゲットと
して用いてもよく、また、2種以上のターゲットを用い
る多元スパッタを用いてもよい。 さらに、反応性スパ
ッタを用いることもできる。
して用いてもよく、また、2種以上のターゲットを用い
る多元スパッタを用いてもよい。 さらに、反応性スパ
ッタを用いることもできる。
なお、希土類元素としてLaおよび/またはCeを含有
させる場合、スパッタターゲットの少なくとも一部とし
て、発火合金であるアウェルメタル、ヒューバーメタル
、ミッシュメタル、ウエルスバッハメタル等の酸化物を
用いることもできる。
させる場合、スパッタターゲットの少なくとも一部とし
て、発火合金であるアウェルメタル、ヒューバーメタル
、ミッシュメタル、ウエルスバッハメタル等の酸化物を
用いることもできる。
また、固体保護層5の設層には、その他の気相成膜法、
例えばCVD法、蒸着法、イオンブレーティング法等を
適宜用いることも可能である。
例えばCVD法、蒸着法、イオンブレーティング法等を
適宜用いることも可能である。
固体保護層5は、十分な耐久性を確保するためにビッカ
ース硬度が7 0 0 kgf/mm2以上であること
が好ましいが、上記したような組成を選択すれば7 0
0 kgf/mm”以上のビッカース硬度が容易に得
られ、特にRを含有する場合、1 0 0 0 kgf
/mm”以上のビッカース硬度を得ることもできる。
ース硬度が7 0 0 kgf/mm2以上であること
が好ましいが、上記したような組成を選択すれば7 0
0 kgf/mm”以上のビッカース硬度が容易に得
られ、特にRを含有する場合、1 0 0 0 kgf
/mm”以上のビッカース硬度を得ることもできる。
固体保護ff5の厚さは、30〜200人、特に30〜
100人とすることが好ましい。 厚さが上記範囲未満
であると保護効果が不十分であり、上記範囲を超えると
スベーシングロスが増加して記録密度を向上させること
ができない。
100人とすることが好ましい。 厚さが上記範囲未満
であると保護効果が不十分であり、上記範囲を超えると
スベーシングロスが増加して記録密度を向上させること
ができない。
このような固体保護店上には、潤滑膜6が設けられるこ
とが好ましい。
とが好ましい。
潤滑膜は有機化合物を含有することが好ましく、特に極
性基ないし親水性基,あるいは親水性部分を有する有機
化合物を含有することが好ましい。
性基ないし親水性基,あるいは親水性部分を有する有機
化合物を含有することが好ましい。
用いる有機化合物に特に制限はなく、また、液体であっ
ても固体であってもよ《、フッ素系有機化合物、例えば
欧州特許公開第0 1 65650号およびその対応日
本出願である特開昭61−472T号公報、欧州特許公
開第0165649号およびその対応日本出願である特
開昭61−155345号公報等に記載されているよう
なパーフルオロボリエーテル、あるいは公知の各種脂肪
酸、各種エステル、各種アルコール等から適当なものを
選択すればよい。
ても固体であってもよ《、フッ素系有機化合物、例えば
欧州特許公開第0 1 65650号およびその対応日
本出願である特開昭61−472T号公報、欧州特許公
開第0165649号およびその対応日本出願である特
開昭61−155345号公報等に記載されているよう
なパーフルオロボリエーテル、あるいは公知の各種脂肪
酸、各種エステル、各種アルコール等から適当なものを
選択すればよい。
潤滑膜の成膜方法に特に制限はな《、塗布法等を用いれ
ばよい。
ばよい。
潤滑膜の表面は、水との接触角が70゜以上、特に90
゜以上であることが好ましい。
゜以上であることが好ましい。
このような接触角を有することにより.磁気ヘッドと磁
気ディスクとの吸着が防止され、高い走行安定性が得ら
れる。
気ディスクとの吸着が防止され、高い走行安定性が得ら
れる。
潤滑膜6の膜厚は5〜50人、特に10〜40人である
ことが好ましい。 膜厚がこの範囲未満であると潤滑効
果が不十分であり、この範囲を超えるとかえって摩擦を
増加させてしまう。
ことが好ましい。 膜厚がこの範囲未満であると潤滑効
果が不十分であり、この範囲を超えるとかえって摩擦を
増加させてしまう。
なお、リング状プラスチックフィルムを貼着した後に潤
滑膜を成膜してもよく、潤滑膜を成膜した後に貼着され
る部分の潤滑膜を拭き取ってからリング状プラスチック
フィルムを貼着してもよい。
滑膜を成膜してもよく、潤滑膜を成膜した後に貼着され
る部分の潤滑膜を拭き取ってからリング状プラスチック
フィルムを貼着してもよい。
本発明の磁気ディスクの記録再生に用いられる垂直記録
型磁気ヘッドに特に制限はないが、上記構成を有する磁
気ディスクは薄膜型垂直磁気ヘッドと組合せて使用した
場合に、特にヘッド摩耗防止効果を発揮する。 薄膜型
磁気ヘッドとしては、Aε20s−Tic等のセラミク
ス製基体上にCo−Nb−Zr系アモルファス等の金属
製磁極を形成し、さらにAρ203等の無機保護膜を被
覆したものを用いることが好ましい。
型磁気ヘッドに特に制限はないが、上記構成を有する磁
気ディスクは薄膜型垂直磁気ヘッドと組合せて使用した
場合に、特にヘッド摩耗防止効果を発揮する。 薄膜型
磁気ヘッドとしては、Aε20s−Tic等のセラミク
ス製基体上にCo−Nb−Zr系アモルファス等の金属
製磁極を形成し、さらにAρ203等の無機保護膜を被
覆したものを用いることが好ましい。
く実施例〉
以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明をさらに詳
細に説明する。
細に説明する。
[実施例l]
第4図に示す構成のディスク本体を作製した。 各部の
構成の詳細を以下に示す。
構成の詳細を以下に示す。
[基体]
ヤング率9 0 0 kgf/mm” 表面粗さ(R
max ) O. O l 5 μmのポリイミドを用
いた。
max ) O. O l 5 μmのポリイミドを用
いた。
なお、基体の線膨張係数は、約IXIOde( ’であ
った。
った。
基体の直径および厚さを、下記表1に示す。
[軟磁性膜]
2%02を含む2X10−’PaのAr雰囲気中で、D
Cマグネトロンスパッタ法により80at%Ni−Fe
合金を厚さ0.45gmに成膜して形成した。
Cマグネトロンスパッタ法により80at%Ni−Fe
合金を厚さ0.45gmに成膜して形成した。
軟磁性膜の線膨張係数は、約IXIO−’deg” ’
であった。 また、その面内方向の保磁力は、9 0
eであった。
であった。 また、その面内方向の保磁力は、9 0
eであった。
[磁性層]
DCマグネトロンスパック法により20at%Cr−G
o合金を厚さ0.184zmに成膜して形成した。 成
膜時の雰囲気は、軟磁性膜形成の際と同様とした。
o合金を厚さ0.184zmに成膜して形成した。 成
膜時の雰囲気は、軟磁性膜形成の際と同様とした。
磁性層の線膨張係数は、約IXIO
deg− ’であった。 また、その垂直方向の保磁力
は、7200eであった。
は、7200eであった。
なお、軟磁性膜および磁性層設層時に、ターゲットから
の輻射熱により基体およびこれらの膜は加熱された。
の輻射熱により基体およびこれらの膜は加熱された。
?固体保護層]
2%0■を含むIXIO−’PaのAr雰囲気中で、R
Fマグネトロンスパツタ法により、51Si−3Aff
i−150−31N−3Y (ただし、数字は原子比
を表わす。)の組成を有する固体保護層を厚さ0.01
μmに形成した。 なお、スパッタに用いたターゲット
は、固体保護層に対応する組成を有する焼結体を用いた
。
Fマグネトロンスパツタ法により、51Si−3Aff
i−150−31N−3Y (ただし、数字は原子比
を表わす。)の組成を有する固体保護層を厚さ0.01
μmに形成した。 なお、スパッタに用いたターゲット
は、固体保護層に対応する組成を有する焼結体を用いた
。
固体保護層のビッカース硬度は、950kgf/mm″
であった。 なお、ビツカース硬度は、磁気ディスクサ
ンプルの固体保護層と同条件で2μmの厚さに形成した
膜で測定した。
であった。 なお、ビツカース硬度は、磁気ディスクサ
ンプルの固体保護層と同条件で2μmの厚さに形成した
膜で測定した。
[潤滑膜]
下記式で表わされる分子量2000の化合物の0.1w
t%溶液を用いて、スビンコート法により厚さ20人に
成膜して形成した。
t%溶液を用いて、スビンコート法により厚さ20人に
成膜して形成した。
この潤滑膜表面の水との接触角(水を滴下して30秒後
)は、100”であった。
)は、100”であった。
(式)
110cH2−CF2−0{−C2F.−0}−{−C
F.−0チー叩.−CH2−011n
m このディスク本体の両主面外周部の潤滑膜を拭き取った
後、第6図に示す装置を用いてリング状プラスチックフ
ィルムを両主面外周部に貼着し、第3図に示すような磁
気ディスクサンプルを得た。
F.−0チー叩.−CH2−011n
m このディスク本体の両主面外周部の潤滑膜を拭き取った
後、第6図に示す装置を用いてリング状プラスチックフ
ィルムを両主面外周部に貼着し、第3図に示すような磁
気ディスクサンプルを得た。
接着剤層およびリング状プラスチックフィルムの詳細を
、以下に示す。
、以下に示す。
[接着剤H]
接着剤としてアクリル酸エステルを用い、塗布法により
成膜した。
成膜した。
接着剤層の厚さを表1に示す。
[リング状プラスチックフィルム]
上記接着剤店を有するヤング率500
kgf/mm”のPETフィルムを、第5図に示す装置
を用いてリング状に打ち抜いて作製した。
を用いてリング状に打ち抜いて作製した。
リング状プラスチックフィルムの厚さ、外径および半径
方向の幅を、表1に示す。
方向の幅を、表1に示す。
なお、比較のために、リング状プラスチックフィルムを
有しない磁気ディスクサンプルも作製した。
有しない磁気ディスクサンプルも作製した。
得られた各磁気ディスクを,垂直磁気記録用のフロッピ
ーディスクドライブに実装し、KODE社製TIA31
00にてエラーレートを測定した。
ーディスクドライブに実装し、KODE社製TIA31
00にてエラーレートを測定した。
磁気ヘッドには、磁極厚0.2μm.磁極幅50μmの
主磁極励磁型単磁極薄膜ヘッドを用い、負荷は10g、
摺動速度は2 m / sとした。 薄膜ヘッドは、A
fla 03 −T i C基体上にCo−Nb−Zr
アモルファス磁極およびA it x O s保護膜を
スバッタ法により形成したものを用いた。
主磁極励磁型単磁極薄膜ヘッドを用い、負荷は10g、
摺動速度は2 m / sとした。 薄膜ヘッドは、A
fla 03 −T i C基体上にCo−Nb−Zr
アモルファス磁極およびA it x O s保護膜を
スバッタ法により形成したものを用いた。
なお、磁気ディスクの片面のトラック数は、最外周のト
ラック0から最内周のトラック139までの140本で
あり、エラーレートの測定は第70トラックにて行なっ
た。
ラック0から最内周のトラック139までの140本で
あり、エラーレートの測定は第70トラックにて行なっ
た。
表1に示す評価基準は、以下のとおりである。
0:10−”未満
○:l〇一目以上10−a未満
△:10−8以上10−’未満
X:lO弓以上
結果を表1に示す。
また、表1に示すサンプルNo.1、3および5の第7
0トラックの再生出力変動を測定した。 第8図、第9
図および第lO図に、それぞれサンプルNo.1.No
.3およびNo.5の再生出力のエンベローブを示すオ
シロスコープ写真のトレース図を示す。
0トラックの再生出力変動を測定した。 第8図、第9
図および第lO図に、それぞれサンプルNo.1.No
.3およびNo.5の再生出力のエンベローブを示すオ
シロスコープ写真のトレース図を示す。
これらの図から、本発明のサンプルNo.3では再生出
力変動が小さいことが明らかである。 これに対し、比
較サンプルでは再生出力の変動が太き《、これによりエ
ラーレートが増大したと考えられる。
力変動が小さいことが明らかである。 これに対し、比
較サンプルでは再生出力の変動が太き《、これによりエ
ラーレートが増大したと考えられる。
なお、これらのサンプルにつき、第0トラックおよび第
139トラックの再生出力変動を測定したところ、本発
明のサンプルNo.3では第9図と同様に出力変動が小
さいものであったが、サンプルNo.lおよび5では、
第8図および第10図と同様に出力変動が生じていた。
139トラックの再生出力変動を測定したところ、本発
明のサンプルNo.3では第9図と同様に出力変動が小
さいものであったが、サンプルNo.lおよび5では、
第8図および第10図と同様に出力変動が生じていた。
[実施例2]
上記のリング状プラスチックフィルムをディスク本体の
一方の主面にだけ接着した磁気ディスクサンプルを作製
し、上記と同様な測定を行なった。
一方の主面にだけ接着した磁気ディスクサンプルを作製
し、上記と同様な測定を行なった。
これらのサンプルの各部の寸法を、表2に示す。
結果を表2に示す。
以上の実施例から、本発明の効果が明らかである。
く発明の効果〉
本発明によれば、走行性が良好で、全トラックに亙って
再生出力変動およびエラーレートが極めて小さい磁気デ
ィスクが得られる。
再生出力変動およびエラーレートが極めて小さい磁気デ
ィスクが得られる。
第1図、第2図および第3図は、本発明の磁気ディスク
の好適実施例を示す部分端面図である。 第4図は、ディスク本体の好適例を示す部分断面図であ
る。 第5図は、リング状プラスチックフィルムの製造に用い
る装置の1例を示す部分断面図である。 第6図および第7図は、リング状プラスチックフィルム
をディスク本体に接着する際に用いる装置の部分断面図
である。 第8図、第9図および第10図は、磁気ディスクの再生
出力を示すオシロスコープ写真のトレース図である。 第11図は、従来の磁気ディスクの構造を示す平面図で
ある。 第12図は、第11図のXll−Xll線断面図である
。 符号の説明 1・・・磁気ディスク 2・・・基体 3・・・軟磁性膜 4・・・磁性層 5・・・固体保護層 6・・・潤滑膜 1l・・・ディスク本体 12・・・リング状プラスチックフィルム13・・・接
着剤層 20・・・上型 21、22・・・カッター 23・・・下型 24・・・クッションシ一ト 25・・・積層体 26・・・易剥離紙 30・・・台座 31・・・ガイド部材 32・・・円形開口 33・・・小孔 34・・・上型 35円形突起 100・・・磁気記録媒体 102・・・高分子フィルム 103・・・金属薄膜 104、105・・・プラスチックフィルムF I G
, 4 FIG,3 FIG,5 ↓ FIG,7 η FIG,11 F I G. 12 FIG.8 L一一一一 10m髪C 晴間 L一−ユ」 10msec 時間 10msec 晴間 千糸売ネ…正書(自発) 平成元価月7日
の好適実施例を示す部分端面図である。 第4図は、ディスク本体の好適例を示す部分断面図であ
る。 第5図は、リング状プラスチックフィルムの製造に用い
る装置の1例を示す部分断面図である。 第6図および第7図は、リング状プラスチックフィルム
をディスク本体に接着する際に用いる装置の部分断面図
である。 第8図、第9図および第10図は、磁気ディスクの再生
出力を示すオシロスコープ写真のトレース図である。 第11図は、従来の磁気ディスクの構造を示す平面図で
ある。 第12図は、第11図のXll−Xll線断面図である
。 符号の説明 1・・・磁気ディスク 2・・・基体 3・・・軟磁性膜 4・・・磁性層 5・・・固体保護層 6・・・潤滑膜 1l・・・ディスク本体 12・・・リング状プラスチックフィルム13・・・接
着剤層 20・・・上型 21、22・・・カッター 23・・・下型 24・・・クッションシ一ト 25・・・積層体 26・・・易剥離紙 30・・・台座 31・・・ガイド部材 32・・・円形開口 33・・・小孔 34・・・上型 35円形突起 100・・・磁気記録媒体 102・・・高分子フィルム 103・・・金属薄膜 104、105・・・プラスチックフィルムF I G
, 4 FIG,3 FIG,5 ↓ FIG,7 η FIG,11 F I G. 12 FIG.8 L一一一一 10m髪C 晴間 L一−ユ」 10msec 時間 10msec 晴間 千糸売ネ…正書(自発) 平成元価月7日
Claims (9)
- (1)可撓性の基体の少なくとも一方の主面上に磁性層
を有する磁気ディスクにおいて、 両主面の外周部にリング状プラスチックフィルムが固着
されており、このリング状プラスチックフィルムの厚さ
をt_1(μm)とし、前記基体の厚さをT(μm)と
したとき、 T−20≦t_1≦T+40かつt_1≧10であるこ
とを特徴とする磁気ディスク。 - (2)可撓性の基体の少なくとも一方の主面上に磁性層
を有する磁気ディスクにおいて、 一方の主面の外周部にリング状プラスチックフィルムが
固着されており、このリング状プラスチックフィルムの
厚さをt_2(μm)とし、前記基体の厚さをT(μm
)としたとき、 2T−40≦t_2≦2T+80 かつt_2≧20 であることを特徴とする磁気ディスク。 - (3)前記基体の厚さが15〜110μmである請求項
1または2に記載の磁気ディスク。 - (4)前記固着が接着剤層により行なわれ、この接着剤
層の厚さが10〜75μmである請求項1ないし3のい
ずれかに記載の磁気ディスク。 - (5)前記リング状プラスチックフィルムが無機充填剤
粉末を含有している請求項1ないし4のいずれかに記載
の磁気ディスク。 - (6)前記磁性層が気相成膜法により形成された垂直磁
化膜である請求項1ないし5のいずれかに記載の磁気デ
ィスク。 - (7)前記基体と前記磁性層との間に、気相成膜法によ
り形成された軟磁性膜を有する請求項6に記載の磁気デ
ィスク。 - (8)金属ないし半金属から選択された1種以上の元素
と酸素とを少なくとも含有し、気相成膜法により形成さ
れた固体保護膜を前記磁性層上に有する請求項6または
7に記載の磁気ディスク。 - (9)有機化合物を含有する潤滑膜を前記固体保護層上
に有する請求項6ないし8のいずれかに記載の磁気ディ
スク。
Priority Applications (2)
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|---|---|---|---|
| JP1113134A JPH02292721A (ja) | 1989-05-02 | 1989-05-02 | 磁気デイスク |
| US07/359,321 US5061537A (en) | 1989-05-02 | 1989-05-31 | Magnetic disk comprising a flexible substrate and a plastic film each having a specified Young's modulus and which meet specified thickness relationships |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1113134A JPH02292721A (ja) | 1989-05-02 | 1989-05-02 | 磁気デイスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02292721A true JPH02292721A (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=14604412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1113134A Pending JPH02292721A (ja) | 1989-05-02 | 1989-05-02 | 磁気デイスク |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5061537A (ja) |
| JP (1) | JPH02292721A (ja) |
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-
1989
- 1989-05-02 JP JP1113134A patent/JPH02292721A/ja active Pending
- 1989-05-31 US US07/359,321 patent/US5061537A/en not_active Expired - Fee Related
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