JPH0229314A - Mold die - Google Patents
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- JPH0229314A JPH0229314A JP17801288A JP17801288A JPH0229314A JP H0229314 A JPH0229314 A JP H0229314A JP 17801288 A JP17801288 A JP 17801288A JP 17801288 A JP17801288 A JP 17801288A JP H0229314 A JPH0229314 A JP H0229314A
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の概要〕
半導体製造のモールド工程にて使用されるモールド金型
に関わり、より詳細には樹脂封止タイプ半導体(プラス
チックIC)の製造工程において、ダイス付け、ワイヤ
配線された半導体チップを、熱硬化型樹脂で封止する際
に使用するモールド金型に関し、
モールド樹脂がモールド突き上げピンの周囲に漏れ込み
にくい構造にし、半導体製造設備のダウンタイム及びそ
の復旧メンテナンス工数を削減できるモールド金型を提
供することを目的とし、半導体製造のモールド工程にて
使用されるモールド金型において、モールドランナまた
はチェイス部のモールド樹脂と接触する部分の摺動用ピ
ンの外周に、漏れたモールド樹脂を溜めるリング状の溝
を形成してなる・ことを特徴とするモールド金型を含み
構成する。[Detailed Description of the Invention] [Summary of the Invention] It relates to molds used in the molding process of semiconductor manufacturing, and more specifically, in the manufacturing process of resin-sealed type semiconductors (plastic ICs), dies, wires, etc. Regarding the mold used to seal wired semiconductor chips with thermosetting resin, we have created a structure that prevents the mold resin from leaking around the mold push-up pins, reducing downtime of semiconductor manufacturing equipment and the number of restoration maintenance steps required. The purpose of this project is to provide a mold that can reduce leakage on the outer periphery of the sliding pin in the part of the mold runner or chase part that comes into contact with the mold resin in the mold used in the molding process of semiconductor manufacturing. The present invention includes a molding die characterized by forming a ring-shaped groove for storing molding resin.
本発明は、半導体製造のモールド工程にて使用されるモ
ールド金型に関わり、より詳細には樹脂封止タイプ半導
体(プラスチックIC)の製造工程において、ダイス付
け、ワイヤ配線された半導体チップを、熱硬化型樹脂で
封止する際に使用するモールド金型に関する。The present invention relates to a mold used in the molding process of semiconductor manufacturing, and more specifically, in the manufacturing process of resin-sealed type semiconductors (plastic ICs), diced and wired semiconductor chips are heated. This invention relates to a mold used for sealing with a curable resin.
従来の半導体製造のモールド工程では、ダイス付け、ワ
イヤ配線された半導体チップが、トランスファモールド
法によりプラスチックの熱硬化型樹脂で封止される。こ
の樹脂成形を行う為に、モールディング装置にモールド
金型を取り付けて使用される。In a conventional molding process for semiconductor manufacturing, a diced and wired semiconductor chip is sealed with a thermosetting plastic resin using a transfer molding method. In order to perform this resin molding, a molding die is attached to a molding device.
第3図(a)及びΦ)は従来のモールド金型の上型及び
下型の斜視図である。同図において、モールド金型は、
上型1と下型2とから構成されている。FIGS. 3(a) and Φ) are perspective views of the upper and lower molds of a conventional molding die. In the same figure, the mold is
It is composed of an upper mold 1 and a lower mold 2.
上型1は、同図(a)(裏面側からの斜視図)に示す如
く、そのほぼ中央部の上型センターブロックには樹脂成
形材料を圧入するための図示しないプランジャが挿入さ
れるポット3が設けられている。The upper mold 1 has a pot 3 in which a plunger (not shown) for press-fitting the resin molding material is inserted into the upper mold center block at approximately the center thereof, as shown in Figure (a) (perspective view from the back side). is provided.
また、下型2は、同図(b)に示す如く、多数のチェイ
ス・ブロック4.・・・が配置されており、中央の下型
センターブロックにはカル部5が形成され、このカル部
5から溶融樹脂が通るランナ6が各チェイス・ブロック
4.・・・に連通されている。The lower die 2 also includes a large number of chase blocks 4. as shown in FIG. A cull portion 5 is formed in the central lower center block, and a runner 6 through which molten resin passes from this cull portion 5 is provided for each chase block 4. It is connected to...
第4図は第3図(1))のチェイス・ブロック部分の斜
視図、第5図は第4図のチェイス・ブロックのA−A線
拡大断面図である。これらの図において、チェイス・ブ
ロック4は、ブロック本体7と、キャビティインサート
8と、リターンスプリング9と、リターンプレート10
と、エジェクタープレート11と、エジェクタビン12
と、取り付はボス13等とから構成されている。ブロッ
ク本体7は、はぼ細長い矩形体に形成されており、上部
に形成された溝78内にキャビティインサート8が嵌合
されている。このキャビティインサート8は、上部にキ
ャビティ8aとゲート8bとが形成されており、ブロッ
ク本体7の中央に形成されたランナ7bに連通されてい
る。ブロック本体7の下部には溝70が形成されており
、この溝7c内に図示しないボルト等で一体化されたリ
ターンプレート10とエジェクタープレー1−11とが
配置され、ボルト14でブロック本体7に固定された取
り付はボス13により、所定区間上下動するよう案内さ
れている。また、エジェクタビン12は丸型の形状に形
成され、その一端側に拡径状に形成された頭部12aが
リターンプレート10とエジェクタープレート11とに
固定されており、他端側はブロック本体7の溝70から
キャビティインサート8のキャビティ8aまでを共通に
穿孔したビン孔15に挿通されている。ブロック本体7
とリターンブレー)10との間には、リターンスプリン
グ9が配設されており、キャビティ8aの底面からエジ
ェクタビン12の先端部が突出しないよう付勢されてい
る。4 is a perspective view of the chase block portion of FIG. 3(1)), and FIG. 5 is an enlarged sectional view taken along line A--A of the chase block of FIG. 4. In these figures, the chase block 4 includes a block body 7, a cavity insert 8, a return spring 9, and a return plate 10.
, ejector plate 11, and ejector bin 12
The mounting consists of a boss 13 and the like. The block body 7 is formed into a substantially elongated rectangular body, and the cavity insert 8 is fitted into a groove 78 formed in the upper part. This cavity insert 8 has a cavity 8a and a gate 8b formed in its upper part, and communicates with a runner 7b formed in the center of the block body 7. A groove 70 is formed in the lower part of the block body 7, and a return plate 10 and an ejector plate 1-11, which are integrated with bolts (not shown), are arranged in the groove 7c, and are attached to the block body 7 with bolts 14. The fixed attachment is guided by a boss 13 to move up and down a predetermined distance. Further, the ejector bin 12 is formed in a round shape, and a head 12a formed with an enlarged diameter at one end is fixed to the return plate 10 and the ejector plate 11, and the other end is a block body 7. The groove 70 of the cavity insert 8 and the cavity 8a of the cavity insert 8 are inserted into a common bottle hole 15. Block body 7
A return spring 9 is disposed between the ejector pin 12 and the return brake 10, and is biased so that the tip of the ejector bin 12 does not protrude from the bottom of the cavity 8a.
上記構成のモールド金型では、モールドプレスに取り付
けた上型1と下型2の間に、ダイス付、ワイヤ配線完了
後の状態のリードフレームをセットし、クランプする。In the mold having the above configuration, a lead frame with a die and after wire wiring is set between the upper mold 1 and the lower mold 2 attached to the mold press, and is clamped.
そして、ポット3より余熱された樹脂を投入し、ポット
3の上部よりプランジャにて加圧し、溶融した樹脂がカ
ル部5、ランナ6を通り、チェイス・ブロック4のラン
ナ7b。Then, the preheated resin is charged from the pot 3, and pressure is applied from the upper part of the pot 3 with a plunger, and the molten resin passes through the cull part 5 and the runner 6, and then reaches the runner 7b of the chase block 4.
ゲート8bを通り、キャビティ8aへ加圧注入され、冷
却後封止が完了する。It passes through the gate 8b and is injected into the cavity 8a under pressure, and after cooling, sealing is completed.
次に、成形品ICを取り出すには、モールドプレスのエ
ジェクタバーが、リターンプレート10をリターンスプ
リング9の付勢力に抗して押し上げることで、エジェク
タビン12の先端部がギャビテイ8a内に突出し、成形
品ICが突き上げられる。そして、モールドプレスが下
がり、型開きするとリターンスプリング9の付勢力によ
りエジェクタビン12が元の位置に押し下げられる。Next, in order to take out the molded product IC, the ejector bar of the mold press pushes up the return plate 10 against the biasing force of the return spring 9, so that the tip of the ejector bin 12 protrudes into the gap 8a and molds the IC. The product IC is pushed up. Then, when the mold press is lowered and the mold is opened, the ejector bin 12 is pushed down to its original position by the biasing force of the return spring 9.
従来のモールド金型においては、チェイスブロック4の
モールド突き上げ用のエジェクタビン12は、単に丸型
の形状に形成されていた。しかし、この丸型の形状のエ
ジェクタビン12では、高温、高圧の成形環境の下では
、第6図に示す如く、成形樹脂を圧入するとき、エジェ
クタビン12とキャビティインサート8のビン孔15と
の間にモールド樹脂が入り込み、ビン孔15の周壁に樹
脂の薄膜16が形成され、エジェクタビン12の摺動不
良が頻繁に発生したり、ビン孔15やエジェクタビン1
2の摩耗劣化が生じていた。また、ランナ4部のモール
ド突き上げピンも同様であった。従って、モールド金型
を使用して行う作業が度々停止し、そのダウンタイム及
び保全工数が大きな問題となっていた。In the conventional mold, the ejector bin 12 for pushing up the mold of the chase block 4 was simply formed into a round shape. However, in this round-shaped ejector bin 12, under a high-temperature, high-pressure molding environment, when press-fitting the molding resin, the ejector bin 12 and the bin hole 15 of the cavity insert 8 are The mold resin enters between the holes, and a thin resin film 16 is formed on the peripheral wall of the bottle hole 15, causing frequent sliding failures of the ejector bottle 12 and damage to the bottle hole 15 and the ejector bottle 1.
No. 2 wear and tear deterioration occurred. Moreover, the mold push-up pin of the 4th part of the runner was also the same. Therefore, work performed using the mold frequently stops, resulting in downtime and maintenance man-hours, which has become a major problem.
上記モールド封止工程においては、高温(160〜20
0°C)、高圧(40〜80kg/c慣りの作業環境に
晒される為、この条件下においても、初期のモールド作
業が遂行できることが要求される。すなわち、高温、高
圧の下においても金型の精度、摺動性等の動作、あるい
は製品の表面仕上がり、製品寸法、美観等の外観性を満
足させる必要がある。In the mold sealing process, high temperatures (160 to 20
0°C) and high pressure (40 to 80 kg/c), it is necessary to be able to perform initial molding operations even under these conditions. It is necessary to satisfy the accuracy of the mold, the operation such as sliding properties, and the appearance such as the surface finish, product dimensions, and aesthetics of the product.
そこで、本発明は、モールド樹脂がモールド突き上げピ
ンの周囲に漏れ込みにくい構造にし、半導体製造設備の
ダウンタイム及びその復旧メンテナンス工数を削減でき
るモールド金型を提供することを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a mold having a structure that prevents mold resin from leaking around a mold push-up pin, and which can reduce downtime of semiconductor manufacturing equipment and the number of restoration maintenance steps.
上記課題は、半導体製造のモールド工程にて使用される
モールド金型において、モールドランナまたはチェイス
部のモールド樹脂と接触する部分の摺動用ピンの外周に
、漏れたモールド樹脂を溜めるリング状の溝を形成して
なることを特徴とするモールド金型によって解決される
。The above problem was solved by forming a ring-shaped groove to collect leaked mold resin on the outer periphery of the sliding pin in the part of the mold runner or chase part that comes into contact with the mold resin in a mold used in the molding process of semiconductor manufacturing. The problem is solved by a molding die characterized by forming.
本発明では、摺動用ピンの外周にリング状の溝を形成し
たことにより、漏れたモールド樹脂が溝内に溜まり、樹
脂のリングが摺動用ピンの外周に形成される。この樹脂
のリングがその後の樹脂の漏れを防止する。In the present invention, by forming a ring-shaped groove on the outer periphery of the sliding pin, leaked mold resin collects in the groove, and a resin ring is formed on the outer periphery of the sliding pin. This resin ring prevents subsequent resin leakage.
以下、本発明を図示の一実施例により具体的に説明する
。Hereinafter, the present invention will be specifically explained with reference to an illustrated embodiment.
第1図は本発明実施例のモールド金型のチェイス・ブロ
ック部分の断面図、第2図は第1図のエジェクタピン部
分の拡大図である。なお、従来例に対応する部分は同一
の符号を記す。FIG. 1 is a sectional view of a chase block portion of a mold according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged view of the ejector pin portion of FIG. 1. Note that parts corresponding to the conventional example are denoted by the same reference numerals.
これらの図において、エジェクタピン21は、従来例と
同様にほぼ丸型の形状で、ブロック本体7とキャビティ
インサート8とを共通に穿孔しキャビティ8aにおいて
開口したビン孔15に挿通されている。そして、エジェ
クタビン21の端部側には、その外周に断面形状が半円
形でリング状の2条の溝21a、 21aが形成されて
いる。このような溝21aの幅(d)と深さ(1)は、
エジェクタピン21の外径をDとしたとき、
t・(1/100〜1/200) D
d=(1/20〜1/40)D
程度に形成することが好ましい。In these figures, the ejector pin 21 has a substantially round shape similar to the conventional example, and is inserted into a bottle hole 15 that is bored in both the block body 7 and the cavity insert 8 and opened in the cavity 8a. At the end of the ejector bin 21, two ring-shaped grooves 21a, 21a having a semicircular cross section are formed on the outer periphery. The width (d) and depth (1) of such groove 21a are:
When the outer diameter of the ejector pin 21 is D, it is preferable to form it to approximately t.(1/100 to 1/200)D d=(1/20 to 1/40)D.
上記構成のモールド金型では、エジェクタビン21の外
周にリング状の2条の溝21a、 21aを形成したこ
とにより、ビン孔15とエジェクタピン21との隙間に
漏れたモールド樹脂は溝21a、21a内に溜まり、樹
脂のリングがエジェクタピン21の外周に形成される。In the mold having the above configuration, the two ring-shaped grooves 21a, 21a are formed on the outer periphery of the ejector pin 21, so that the mold resin leaking into the gap between the bottle hole 15 and the ejector pin 21 is absorbed into the grooves 21a, 21a. A ring of resin is formed around the outer periphery of the ejector pin 21.
この樹脂のリングがその後の樹脂の漏れを防止する。従
って、従来例の欠点であった樹脂漏れによるエジェクタ
ピン21の摺動不良、及びビン孔15やエジェクタビン
12の摩耗劣化がなくなり部品寿命が向上した。すなわ
ち、従来1型当たり、月に1回程度エジェクタビン21
の清掃が必要であったのに対して、半年から1年に1回
程度に延長でき、半導体製造設備のダウンタイムが減少
した。また、樹脂漏れが原因となる摩耗がな(なりエジ
ェクタビン21の寿命が従来より3〜5倍程度延ばすこ
とができた。This resin ring prevents subsequent resin leakage. Therefore, the sliding failure of the ejector pin 21 due to resin leakage, which was a drawback of the conventional example, and the abrasion deterioration of the bottle hole 15 and the ejector bottle 12 are eliminated, and the life of the parts is improved. In other words, the ejector bin 21 is used approximately once a month for each conventional model.
Whereas cleaning was previously required, this can now be extended from once every six months to once a year, reducing downtime for semiconductor manufacturing equipment. Furthermore, there is no wear caused by resin leakage, and the life of the ejector bin 21 can be extended by about 3 to 5 times compared to the conventional one.
なお、上記実施例においては、チェイス・ブロック部分
のエジェクタピン21を例に説明したが、他の樹脂と接
する箇所、例えばランナエジェクタ、カルエジェクタ部
分の摺動用ピン類等についても同様に適用可能である。In the above embodiment, the ejector pin 21 of the chase block part was explained as an example, but it can be similarly applied to other parts that come into contact with resin, such as sliding pins of the runner ejector and cal ejector part. be.
また、摺動用ピンの溝の形状、本数等も漏れたモールド
樹脂を溜めるようリング状に形成されればよく、さらに
使用される摺動用ピンの本数も実施例に限定されない。Further, the shape, number, etc. of the grooves of the sliding pins may be formed into a ring shape so as to collect leaked mold resin, and the number of sliding pins used is not limited to the embodiments.
以上説明したように本発明によれば、摺動用ピンの外周
にリング状の溝を形成したことにより、漏れたモールド
樹脂が溝内に溜まり、この樹脂のリングがその後の樹脂
の漏れを防止する。従って半導体製造設備のダウンタイ
ム及びその復旧メンテナンス工数を削減できる。As explained above, according to the present invention, by forming a ring-shaped groove on the outer periphery of the sliding pin, leaked mold resin collects in the groove, and this resin ring prevents subsequent resin leakage. . Therefore, it is possible to reduce downtime of semiconductor manufacturing equipment and the number of man-hours required for restoration and maintenance thereof.
第1図は本発明実施例のチェイス・ブロック部分の断面
図、
第2図は第1図のエジェクタビン部分の拡大図、第3図
は従来のモールド金型の斜視図で、その(a)は上型の
図、(b)は下型の図、第4図は第3図のチェイス・ブ
ロック部分の斜視図、
第5図は第4図のチェイス・ブロックのA−A線拡大断
面図、
第6図は従来の樹脂漏れ状態を示す図である。
21はエジェクタビン、
21aは溝
を示す。Fig. 1 is a sectional view of the chase block portion of the embodiment of the present invention, Fig. 2 is an enlarged view of the ejector bin portion of Fig. 1, and Fig. 3 is a perspective view of a conventional mold. is a view of the upper die, (b) is a view of the lower die, Fig. 4 is a perspective view of the chase block part in Fig. 3, and Fig. 5 is an enlarged sectional view taken along line A-A of the chase block in Fig. 4. , FIG. 6 is a diagram showing a conventional resin leakage state. 21 is an ejector bin, and 21a is a groove.
Claims (1)
において、 モールドランナまたはチェイス部のモールド樹脂と接触
する部分の摺動用ピン(21)の外周に、漏れたモール
ド樹脂を溜めるリング状の溝(21a)を形成してなる
ことを特徴とするモールド金型。[Claims] In a mold used in the molding process of semiconductor manufacturing, leaked mold resin is collected on the outer periphery of a sliding pin (21) in a part of a mold runner or chase part that comes into contact with the mold resin. A molding die characterized by forming a ring-shaped groove (21a).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17801288A JPH074837B2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Mold die |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17801288A JPH074837B2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Mold die |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0229314A true JPH0229314A (en) | 1990-01-31 |
| JPH074837B2 JPH074837B2 (en) | 1995-01-25 |
Family
ID=16041018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17801288A Expired - Lifetime JPH074837B2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Mold die |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH074837B2 (en) |
Cited By (5)
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-
1988
- 1988-07-19 JP JP17801288A patent/JPH074837B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH074837B2 (en) | 1995-01-25 |
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