JPH02293646A - クリーニング装置付濁度測定プローブ - Google Patents

クリーニング装置付濁度測定プローブ

Info

Publication number
JPH02293646A
JPH02293646A JP1115798A JP11579889A JPH02293646A JP H02293646 A JPH02293646 A JP H02293646A JP 1115798 A JP1115798 A JP 1115798A JP 11579889 A JP11579889 A JP 11579889A JP H02293646 A JPH02293646 A JP H02293646A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
piston
light
pressure
wiper
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1115798A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Ikeda
光二 池田
Kunihiro Kitano
北野 邦尋
Shigenobu Tanaka
田中 重信
Yuji Yokota
祐司 横田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Agency of Industrial Science and Technology filed Critical Agency of Industrial Science and Technology
Priority to JP1115798A priority Critical patent/JPH02293646A/ja
Publication of JPH02293646A publication Critical patent/JPH02293646A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507—Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
    • G01N2021/152—Scraping; Brushing; Moving band
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507—Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample
    • G01N2021/8528—Immerged light conductor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、光学的手段によって濁度や微生物の菌体濃
度を測定する濁度測定プローブに関し,更に詳細には、
測定面の汚れまたは付着した生物膜を清浄できるクリー
ニング装置を備えた濁度測定プローブに関するものであ
る. (従来の技術及び発明が解決しようとする課題)従来、
濁度や微生物菌体濃度を測定するには、光学的手段によ
る濁度計が利用されてきた。ところが、この種の濁度計
は装置が大がかりとなり、取扱いが難しく、適用できる
濃度範囲が限られるなどの問題点があった。
かかる問題点を解決すべく、本発明者らは,従来の濁度
計を改良した測定装置およびその測定装置を用いた測定
方法を先に提案した(特願昭63−9324号明細書)
.この提案は、光ファイバ、超高輝度発光ダイオードお
よびフォトトランジスタで構成された透過光測定型の測
定プローブを用いるもので、小型でかつ簡易型でありな
がら広い濃度範囲に適用でき、上記の如き従来の濁度計
の欠点を解決するものであった. しかしながら、上記測定プローブを付着性の濁質を含有
する系に適用した場合には,長時間使用することにより
測定面が汚れたり、また測定出力が乱れるというような
問題がある. 一般に従来の濁度計においては、その測定面が汚れたり
生物膜などが付着したりした場合,水流ジェットを使用
することにより、あるいは測定部を取り出して洗浄する
ことにより測定面のクリーニングを行っていた.ところ
が、このようなクリーニング方法では、クリーニング装
置が大がかりとなる、測定中にクリーニングが簡単に行
えない,測定系に与える影響が大きいなどの問題点があ
り,その解決が強く望まれていた。
本発明は,上記の如き従来技術の欠点を解消し、簡易で
小型かつ応用性の広いクリーニング装置付濁度測定プロ
ーブを提供することを目的とする.(課題を解決するた
めの手段及び作用)そこで,本発明者は、濁度測定プロ
ーブを外に取り出さずにかつ小型であるという利点を失
わずに、汚れた測定面を清浄できる装置を種々検討した
結果、液圧方式により遠隔操作で作用できる小型のピス
トンを往復させることにより,該ピストンと連動するワ
イパーで測定面の汚れをふき取るように工夫すれば前述
の問題点が解消でき,更に,ピストンの復元力を補うた
めに作動部分の密閉性を満足することと合せてゴムなど
の弾性材料を用いて作用部分の周囲を覆うことが有効で
あることを見い出し、本発明を完成するに至った.即ち
、本発明によれば、一端に測定面となる対向配置された
発光面と受光面を有し,他端が発光系及び受光系に接続
されたプローブ本体から基本的に構成され、検査対象の
濁度を光学的に測定する濁度測定プローブにおいて、前
記プローブ本体の他端側に配された圧力発生手段と、前
記謂定面を清浄するためのワイパーが一端に装着された
ピストンと、内側に前記ピストンの一部を移動自在に収
容するシリンダーと,前記プローブ本体内に配され、前
記圧力発生手段で発生した圧力を前記ピストンに伝達す
る圧力伝達手段と,前記ピストンと前記シリンダーの作
動部分の周囲を覆うように各端部が前記ピストン及び前
記シリンダーにそれぞれ固定された弾性チューブとから
なり,清浄時に前記ワイパーが前記発光面と前記受光面
との間に入り込み、両面に付着した汚れ等を除去するク
リーニング装置を設けたことを特徴とする調度測定プロ
ーブが提供される。
このように、本発明の濁度測定プローブは、測定面の汚
れを除去することができるワイパーを,遠隔操作を可能
とする液圧の力と作動部に対する密閉機能を合せもつ弾
性チューブの復元力とによって往復動可能となっている
小型ピストンに連動させた構造のクリーニング装置を採
用し、汚れがうにしたものである. 以下、この発明を図面を参照して詳細に説明する. 第1図は、この発明に係る濁度測定ブローブであって,
ピストンが後退した状態を示している.この濁度測定プ
ローブの本体1は、保護管付光源用光ファイバ2と保護
管付受光用光ファイバ3を備えて構成されている。光源
用光ファイバ2は、その一端が光源(発光ダイオード等
)に接続され、他端の端面が発光面4をなしている.一
方、受光用光ファイバ3は、その一端が受光系(フォト
トランジスタ等)に接続され,他端の端面が受光面5を
なしている.発光面4と受光面5は所定間隔をもって対
向して配されている。プローブ本体1内には、光源用光
ファイバ2と受光用光ファイバ3の他に、圧力伝達パイ
プ7が更に配されており、該圧力伝達バイプ7の一端は
圧力発生器6と連結し、他端はシリンダー8と連結して
いる。圧力発生器6は本例手段を用いても構わない。シ
リンダー8の内側にはピストン9が移動自在に配されて
おり,該ピストン9の先端(シリンダー8側端部と反対
側)にはワイパー10が付設されている。シリンダー8
とピストン9にはゴムチューブ等の弾性チューブ1lを
かぶせ、バンド12aで該チューブ1lの一端部をシリ
ンダー8lこ固定し、バンド12bで該チューブ11の
他端部をピストン9に固定し、これら動作部分を密閉構
造としている. 次に動作について説明する.当該プローブの測定面をク
リーニングする場合、先ず,圧力発生器6で液圧を発生
させる.この液圧はブローブ本体1内に配された圧力伝
達バイブ7を介してシリンダー8に付与され、これによ
りピストン9が作動し,ピストン9の先端に付設された
ワイパーIOの先端が発光面4と受光面5との間隙に入
り込み、両者と接触し、汚れを除去する(第2図).圧
力発生器6による液圧の発生を止めるとチューブl1の
弾性力によりピストン9及びそれに付設されたワイパー
11が元の位置に復元し,測定可能な状態となる。
(実施例) 第1図に示した構成からなるfll!I定プローブを次
のようにして作製した。シリンダー8の外径はl2一、
内径は7mとし、ピストン9の行程長は8nI1とした
。ワイパー10にはゴム片を使用し、シール用の弾性チ
ューブ11にはゴムチューブを使用し、また圧力伝達用
の液体としては水を使用した。発光面4と受光面5との
間隙は4mとした。
上記構成を有する測定プローブを使用して、グルコース
、ペプトン,リン酸一カリウムを基質とする合成排水に
よって活性汚泥の回分培養を行い菌体増殖を連続的にモ
ニターした.活性汚泥としては、下゛水処理用汚泥を使
用し、培養温度25℃,p}17.0で培養を行った.
前記基質の各成分濃度が1000ppmになるように合
成排水を添加した後、増殖した菌体の濃度の変化を測定
した. 培養開始から約50時間後に、濁度測定装置の出力が乱
れ始めた.しばらくしてもこの状態が回復出力が安定し
た.その後90時間経過したところで再度測定出力が乱
れ始めたので、ワイパー10を再度作動させてクリーニ
ング操作を行ったところ測定出力が安定した. これらの測定結果から判断して、少なくとも20時間毎
にワイパー10を5回作動させてみたところ、測定出力
の乱れはなく長期間の連続測定が可能となり、安定した
出力を得ることができた.この発明は、当然のことなが
ら、上記実施例に限定されるものではなく,種々の構成
および構造を有することができ、また前記微生物菌体の
懸濁液の他、付着性濁質を含む種々の形態の懸濁液など
に適用することができる. (発明の効果) 以上詳細に説明したように,本発明の濁度測定プローブ
は前記した構成のクリーニング装置を備えているので,
微生物菌体などの付着性の濁質を測定した場合でも,プ
ローブを取りつけたままで度よく安定して行えるという
利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るクリーニング装置付濁度測定プロ
ーブのピストン作動前の状態を示す断面図,第2図は第
1図のプローブにおいてピストンが作動しワイパーが測
定面に接触している状態を示す断面図である. l:プローブ本体 2:光源用光ファイバ 3:受光用光ファイバ 4:発光面 5:受光面 9:ピストン 10:ワイパー 11:チューブ 特許出願人工業技術院長飯塚幸三

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一端に測定面となる対向配置された発光面と受光
    面を有し、他端が発光系及び受光系に接続されたプロー
    ブ本体から基本的に構成され、検査対象の濁度を光学的
    に測定する濁度測定プローブにおいて、 前記プローブ本体の他端側に配された圧力発生手段と、 前記測定面を清浄するためのワイパーが一端に装着され
    たピストンと、 内側に前記ピストンの一部を移動自在に収容するシリン
    ダーと、 前記プローブ本体内に配され、前記圧力発生手段で発生
    した圧力を前記ピストンに伝達する圧力伝達手段と、 前記ピストンと前記シリンダーの作動部分の周囲を覆う
    ように各端部が前記ピストン及び前記シリンダーにそれ
    ぞれ固定された弾性チューブとからなり、 清浄時に前記ワイパーが前記発光面と前記受光面との間
    に入り込み、両面に付着した汚れ等を除去するクリーニ
    ング装置を設けたことを特徴とする濁度測定プローブ。
JP1115798A 1989-05-08 1989-05-08 クリーニング装置付濁度測定プローブ Pending JPH02293646A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1115798A JPH02293646A (ja) 1989-05-08 1989-05-08 クリーニング装置付濁度測定プローブ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1115798A JPH02293646A (ja) 1989-05-08 1989-05-08 クリーニング装置付濁度測定プローブ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02293646A true JPH02293646A (ja) 1990-12-04

Family

ID=14671344

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1115798A Pending JPH02293646A (ja) 1989-05-08 1989-05-08 クリーニング装置付濁度測定プローブ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02293646A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014222187A (ja) * 2013-05-14 2014-11-27 Jfeスチール株式会社 浸漬型濁度計の汚濁防止方法および浸漬型濁度計
EP4306938A4 (en) * 2021-03-08 2024-12-25 Sensing Solutions S.L. COMPONENT FOR INSERTING OPTICAL PROBES AND OPTICAL PROBE

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60224043A (ja) * 1984-04-20 1985-11-08 Seikosha Co Ltd 光センサヘツド

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60224043A (ja) * 1984-04-20 1985-11-08 Seikosha Co Ltd 光センサヘツド

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014222187A (ja) * 2013-05-14 2014-11-27 Jfeスチール株式会社 浸漬型濁度計の汚濁防止方法および浸漬型濁度計
EP4306938A4 (en) * 2021-03-08 2024-12-25 Sensing Solutions S.L. COMPONENT FOR INSERTING OPTICAL PROBES AND OPTICAL PROBE

Similar Documents

Publication Publication Date Title
AU584150B2 (en) Procedure to measure the level of a liquid by means of elastic waves, and device to carry out such procedure
CA2127221A1 (en) Method for the ultrasonic inspection of pipe and tubing and a transducer assembly for use therewith
TW328140B (en) The semiconductor apparatus and its manufacturing method
DE3854708D1 (de) Gerät zur Dichtemessung eines Fluids.
MY132050A (en) Method of cleaning fouling materials from a radiation module
ES2077942T3 (es) Tubo flexible con sensor para la supervision de un medio.
AU6268296A (en) Cleaning articles, substrates therefor, and method of substrate manufacture
DE69322959D1 (de) Sensor für optische prüfung
ES2111747T3 (es) Dispositivo y metodo para medir concentraciones de particulas solidas en liquidos.
ATE292603T1 (de) Reinigungsvorrichtung für anlage zur behandlung von flüssigkeiten
CN101713726A (zh) 用于氨氮污水降解监测的级联光纤光栅传感器封装体及制作方法
CN108387248A (zh) 一种带气膜冷却的光纤传感器
US4214050A (en) Prevention of electrode fouling
JPS5649932A (en) Pressure-detecting device
MX9602401A (es) Sistema para limpiar cintas para la formacion de imagenes electrostatograficas.
DE69026605D1 (de) Verfahren zur Dehalogenierung von Organoverbindungen
JPS6042635A (ja) 生化学分析装置におけるノズル洗浄装置
JPS5651207A (en) Cleaning of selective permeable membrane
ATE159761T1 (de) Stabiles, flüssiges alpha-amylase-reagenz
CN222550209U (zh) 一种水处理在线检测装置
JP4042286B2 (ja) マイクロ波式汚泥濃度計の検出面洗浄方法及び洗浄装置
JPH10253531A5 (ja)
SU675171A2 (ru) Скребок дл очистки бурильных труб
CA2214266A1 (en) Detergent composition comprising a polymeric polycarboxylic compound, a chelant, and an amylase enzyme
ATE84610T1 (de) Reinigungsrohr.