JPH0229420B2 - Renchukiniokeruigatanaiyumenreberuseigyohoho - Google Patents
RenchukiniokeruigatanaiyumenreberuseigyohohoInfo
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- JPH0229420B2 JPH0229420B2 JP24082886A JP24082886A JPH0229420B2 JP H0229420 B2 JPH0229420 B2 JP H0229420B2 JP 24082886 A JP24082886 A JP 24082886A JP 24082886 A JP24082886 A JP 24082886A JP H0229420 B2 JPH0229420 B2 JP H0229420B2
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Landscapes
- Continuous Casting (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、連鋳機における鋳型内湯面レベル制
御方法の改良に関するものである。
御方法の改良に関するものである。
(従来技術とその問題点)
鋳型内湯面レベルの制御方法としては、第11
図に示すように、鋳型内の湯面レベルを渦流式、
ガンマ線式、電極式等のレベル計を用いて検出
し、設定器によつて予め設定した設定値SVと上
記実測値PVとの偏差eを解消するように、調節
器からの制御信号をサーボアンプに入力し、油圧
ユニツトを介してスライドノズルまたはストツパ
ーノズルを開度検出器により開度を検出しつつ制
御してタンデイツシユから鋳型内への溶湯注入量
を調節する方法、サーボモータを駆動して鋳片引
き抜き速度を制御する方法、両者を組み合わせる
協調制御方法などが採用されているが、制御信号
がレベル計からの実測値と設定値との偏差eに基
づくものであるため、複雑な制御システムの内部
で相互干渉や外乱が加わつていると、制御系が不
安定となり、湯面レベルが変動することになる。
特に、鋳型の断面積が小さく、引き抜き速度が早
い装置では僅かな外乱が加わつただけで、レベル
変動が生じ、鋳片の表面品質に悪影響を与えるこ
とになる。したがつて、急激なレベル変動は避け
なければならない。しかしながら、外乱に対して
安定にすると、追随性が悪くなるため、両者を満
足するように制御するには、現状では、第12図
に示すように、レベル計等の検出器からの実測値
PVと設定値SVとの偏差eに基づき、調節器から
制御出力を出力するにあたり、実プロセスとプロ
セスモデルとを比較し、修正ロジツクにて実プロ
セスと一致するように制御するいわゆるモデル規
範型制御方法や、PID制御系の前段に目標値フイ
ルタを挿入することにより2種のPID要素を場合
により使い分ける2自由度PID制御方法を使用せ
ざるを得ない。ところが、前者は大容量のコンピ
ユータと複雑なプログラムが必要であるにもかか
わらず、応答性がさほど向上しないという問題点
がある。他方、後者は安定性と追随性の両方を満
足するが、実際上連続鋳造におけるレベル制御に
ついて全ての外乱に対する最適パラメータ(α、
β、γ)を選定することは不可能であると言う難
点がある。
図に示すように、鋳型内の湯面レベルを渦流式、
ガンマ線式、電極式等のレベル計を用いて検出
し、設定器によつて予め設定した設定値SVと上
記実測値PVとの偏差eを解消するように、調節
器からの制御信号をサーボアンプに入力し、油圧
ユニツトを介してスライドノズルまたはストツパ
ーノズルを開度検出器により開度を検出しつつ制
御してタンデイツシユから鋳型内への溶湯注入量
を調節する方法、サーボモータを駆動して鋳片引
き抜き速度を制御する方法、両者を組み合わせる
協調制御方法などが採用されているが、制御信号
がレベル計からの実測値と設定値との偏差eに基
づくものであるため、複雑な制御システムの内部
で相互干渉や外乱が加わつていると、制御系が不
安定となり、湯面レベルが変動することになる。
特に、鋳型の断面積が小さく、引き抜き速度が早
い装置では僅かな外乱が加わつただけで、レベル
変動が生じ、鋳片の表面品質に悪影響を与えるこ
とになる。したがつて、急激なレベル変動は避け
なければならない。しかしながら、外乱に対して
安定にすると、追随性が悪くなるため、両者を満
足するように制御するには、現状では、第12図
に示すように、レベル計等の検出器からの実測値
PVと設定値SVとの偏差eに基づき、調節器から
制御出力を出力するにあたり、実プロセスとプロ
セスモデルとを比較し、修正ロジツクにて実プロ
セスと一致するように制御するいわゆるモデル規
範型制御方法や、PID制御系の前段に目標値フイ
ルタを挿入することにより2種のPID要素を場合
により使い分ける2自由度PID制御方法を使用せ
ざるを得ない。ところが、前者は大容量のコンピ
ユータと複雑なプログラムが必要であるにもかか
わらず、応答性がさほど向上しないという問題点
がある。他方、後者は安定性と追随性の両方を満
足するが、実際上連続鋳造におけるレベル制御に
ついて全ての外乱に対する最適パラメータ(α、
β、γ)を選定することは不可能であると言う難
点がある。
(発明の課題)
本発明は、従来のモデル規範型制御方法や2自
由度PID制御方法に代わる安定性と追随性の両方
を満足する優れた制御方法を提供することを課題
とする。
由度PID制御方法に代わる安定性と追随性の両方
を満足する優れた制御方法を提供することを課題
とする。
(課題解決のための手段)
本発明は、鋳型内の湯面レベルをレベル計で検
出して実測湯面レベルPVと目標湯面レベルSVと
の偏差eを算出し、該偏差に基づいて演算される
制御出力信号MVによりノズルの開度および/ま
たは鋳片引き抜き速度を調節し、鋳型内湯面レベ
ルを制御するにあたり、 設定値またはプロセス値が突如変化すると、偏
差eは第7図に示す変化となるため、もし制御装
置の追随性が悪いと、第8図aのように一定区間
の積分値は大きくなり、他方、安定性が悪いと、
第8図bのように一定区間の積分値は小さく、振
動的になるが、第9図aに示すように、偏差eが
急変した場合は、偏差が急変した初期によりおお
きな修正制御を行い、偏差eが小さくなり始めた
時に修正動作に制動をかける一方、第9図bに示
すように、偏差eが小さい時はある程度大きくな
るまで修正制御をかけないようにすれば、第10
図に示すような理想的な応答が実現できることに
着目してなされたもので、その要旨とするところ
は、 ある単位時間毎に測定されれる実測湯面レベル
の変化量を検出して積分し、その積分値を非線形
ヒステリシス特性回路に入力し、上記実測湯面レ
ベルの変化量が所定以上の場合に補正出力yを出
力し、該補正出力yにより上記制御出力MVを修
正して上記第8図に示す理想的な応答に基づき、
鋳型湯面レベルを制御し、湯面レベルの急変をな
くして鋳片の表面品質を改善する方法にある。
出して実測湯面レベルPVと目標湯面レベルSVと
の偏差eを算出し、該偏差に基づいて演算される
制御出力信号MVによりノズルの開度および/ま
たは鋳片引き抜き速度を調節し、鋳型内湯面レベ
ルを制御するにあたり、 設定値またはプロセス値が突如変化すると、偏
差eは第7図に示す変化となるため、もし制御装
置の追随性が悪いと、第8図aのように一定区間
の積分値は大きくなり、他方、安定性が悪いと、
第8図bのように一定区間の積分値は小さく、振
動的になるが、第9図aに示すように、偏差eが
急変した場合は、偏差が急変した初期によりおお
きな修正制御を行い、偏差eが小さくなり始めた
時に修正動作に制動をかける一方、第9図bに示
すように、偏差eが小さい時はある程度大きくな
るまで修正制御をかけないようにすれば、第10
図に示すような理想的な応答が実現できることに
着目してなされたもので、その要旨とするところ
は、 ある単位時間毎に測定されれる実測湯面レベル
の変化量を検出して積分し、その積分値を非線形
ヒステリシス特性回路に入力し、上記実測湯面レ
ベルの変化量が所定以上の場合に補正出力yを出
力し、該補正出力yにより上記制御出力MVを修
正して上記第8図に示す理想的な応答に基づき、
鋳型湯面レベルを制御し、湯面レベルの急変をな
くして鋳片の表面品質を改善する方法にある。
なお、上記制御方法は、通常、ある単位時間毎
に測定される実測湯面レベルの変化量として、今
回と前回の実測湯面レベルの差PVn−PVn−1を
用いる。この変化量は、実測湯面レベルPVと目
標湯面レベルSVとの偏差eが急変する場合に特
に有効であるが、目標湯面レベルがあまり変化し
ない定値制御においては、上記PVn自体の変化、
即ちPVn−SVを定期的にサンプリングして積分
し、その積分値を非線形ヒステリシス特性回路に
入力し、上記変化量が所定以上の場合に補正出力
yを出力し、該補正出力yにより上記制御出力
MVを修正するようにして制御付加回路構成を簡
略化してもよい。
に測定される実測湯面レベルの変化量として、今
回と前回の実測湯面レベルの差PVn−PVn−1を
用いる。この変化量は、実測湯面レベルPVと目
標湯面レベルSVとの偏差eが急変する場合に特
に有効であるが、目標湯面レベルがあまり変化し
ない定値制御においては、上記PVn自体の変化、
即ちPVn−SVを定期的にサンプリングして積分
し、その積分値を非線形ヒステリシス特性回路に
入力し、上記変化量が所定以上の場合に補正出力
yを出力し、該補正出力yにより上記制御出力
MVを修正するようにして制御付加回路構成を簡
略化してもよい。
本発の制御方法は通常のPID制御方法における
制御出力MVに対する補助的な出力yとして利用
するのが望ましく、どのような補正出力yを演算
出力すべきかは、制御出力MVに対する外乱影響
を考慮して決定すべきである。通常外乱として
は、 (1) 油圧サーボ弁の不感帯や追随誤差 (2) 油圧シリンダの漏れによる誤動作 (3) 油圧配管への空気の混入による不感帯や誤動
作 (4) 開度検出機構の機械的ガタ (5) 電気的ノイズ (6) スライドバルブ部の溶損やアルミ等の介在物
付着によるバルブ部の径の変化等を挙げること
ができる。したがつて、かかる外乱影響を考慮
して非線形ヒステリシス回路特性を決定し、理
想的応答が得られるように補正出力を演算する
ことになる。
制御出力MVに対する補助的な出力yとして利用
するのが望ましく、どのような補正出力yを演算
出力すべきかは、制御出力MVに対する外乱影響
を考慮して決定すべきである。通常外乱として
は、 (1) 油圧サーボ弁の不感帯や追随誤差 (2) 油圧シリンダの漏れによる誤動作 (3) 油圧配管への空気の混入による不感帯や誤動
作 (4) 開度検出機構の機械的ガタ (5) 電気的ノイズ (6) スライドバルブ部の溶損やアルミ等の介在物
付着によるバルブ部の径の変化等を挙げること
ができる。したがつて、かかる外乱影響を考慮
して非線形ヒステリシス回路特性を決定し、理
想的応答が得られるように補正出力を演算する
ことになる。
以下、具体例に基づき、本発明の制御方法を詳
しく説明することとする。
しく説明することとする。
(実施例)
第1図は本発明方法を実施する制御ブロツク図
で、第2図はその付加回路構成の詳細を示すブロ
ツク図、第3図は第2図のスイツチ機構の動作説
明図、第4図a〜dは第2図の付加回路によつて
補正出力を出力するに至るグラフである。
で、第2図はその付加回路構成の詳細を示すブロ
ツク図、第3図は第2図のスイツチ機構の動作説
明図、第4図a〜dは第2図の付加回路によつて
補正出力を出力するに至るグラフである。
図面において、かかる制御回路は通常のPID制
御を行うように構成されており、鋳型内の湯面レ
ベルをレベル計等の検出器1で検出して実測湯面
レベルPVと目標湯面レベルSVとの偏差eを算出
し、該偏差に基づいて調整計2で演算される制御
出力信号MVによりプロセス制御装置3を介して
ノズルの開度および/または鋳片引き抜き速度を
調節するにあたり、 上記検出器1からの実測湯面レベル信号PVを
付加回路4にも入力して、上記制御出力MVを付
加回路4から出力される補正出力yにより必要に
応じて補正し、理想的応答出力により鋳型内湯面
レベルを制御するようになつている。
御を行うように構成されており、鋳型内の湯面レ
ベルをレベル計等の検出器1で検出して実測湯面
レベルPVと目標湯面レベルSVとの偏差eを算出
し、該偏差に基づいて調整計2で演算される制御
出力信号MVによりプロセス制御装置3を介して
ノズルの開度および/または鋳片引き抜き速度を
調節するにあたり、 上記検出器1からの実測湯面レベル信号PVを
付加回路4にも入力して、上記制御出力MVを付
加回路4から出力される補正出力yにより必要に
応じて補正し、理想的応答出力により鋳型内湯面
レベルを制御するようになつている。
詳しくは、上記付加回路4は第3図aに示す動
作を行うスイツチ機構41を介して実測湯面レベ
ル信号PVを記憶保持する保持回路42,43を
並列接続し、いずれか一方の保持回路42,43
に上記実測湯面レベル信号PVが入力され(図示
の状態では、保持回路42に入力されている。)、
ある単位時間毎の最終値を保持するようになつて
いる。したがつて、スイツチが入つていない方の
保持回路43は前回の最終値PVn−1を保持して
いる。他方、上記実測湯面レベル信号PVは第4
図aに示すように、刻々変化しつつ差検出回路4
4に入力されているので、該差検出回路44から
は、前回の最終値PVn−1と刻々変化する上記実
測湯面レベル信号PVnとのある単位時間毎に測
定される実測湯面レベルの変化量PVn−PVn−1
が出力され(第4図b参照)、積分器45にて積
分され、該積分値(第4図c参照)を第3図bに
示す動作を行うスイツチ機構46を介して非線形
ヒステリシス特性回路47に入力し、上記実測湯
面レベルの変化量が所定以上の場合に補正出力y
(第4図d参照)を出力し、該補正出力yにより
上記制御出力MVを修正するようになつている。
作を行うスイツチ機構41を介して実測湯面レベ
ル信号PVを記憶保持する保持回路42,43を
並列接続し、いずれか一方の保持回路42,43
に上記実測湯面レベル信号PVが入力され(図示
の状態では、保持回路42に入力されている。)、
ある単位時間毎の最終値を保持するようになつて
いる。したがつて、スイツチが入つていない方の
保持回路43は前回の最終値PVn−1を保持して
いる。他方、上記実測湯面レベル信号PVは第4
図aに示すように、刻々変化しつつ差検出回路4
4に入力されているので、該差検出回路44から
は、前回の最終値PVn−1と刻々変化する上記実
測湯面レベル信号PVnとのある単位時間毎に測
定される実測湯面レベルの変化量PVn−PVn−1
が出力され(第4図b参照)、積分器45にて積
分され、該積分値(第4図c参照)を第3図bに
示す動作を行うスイツチ機構46を介して非線形
ヒステリシス特性回路47に入力し、上記実測湯
面レベルの変化量が所定以上の場合に補正出力y
(第4図d参照)を出力し、該補正出力yにより
上記制御出力MVを修正するようになつている。
上記付加回路4は目標湯面レベルSVがあまり
変化しない定値制御では、第5図に示すように、
変形される。すなわち、鋳型内の湯面レベルをレ
ベル計等の検出器1で検出して実測湯面レベル
PVと目標湯面レベルSVとの偏差eを算出し、該
偏差に基づいて調整計2で演算される制御出力信
号MVによりプロセス制御装置3を介してノズル
の開度および/または鋳片引き抜き速度を調節す
るにあたり、上記制御出力信号MVを修正する付
加回路5は、偏差信号eを第6図aに示す動作を
行うスイツチ機構51を介して積分器52に入力
し、該積分値を非線形ヒステリシス特性回路53
に入力し、上記第6図aに示す動作を行うスイツ
チ機構51と同様の動作を行うスイツチ機構54
を介して補正出力y′を出力するようにする一方、
第6図bに示す動作を行うスイツチ機構55を積
分器52と並列接続して一定時間毎にサンプリン
グされる上記偏差eの変化量が所定以上の場合に
該補正出力y′により上記制御出力MVを修正する
ようにしてもよい。
変化しない定値制御では、第5図に示すように、
変形される。すなわち、鋳型内の湯面レベルをレ
ベル計等の検出器1で検出して実測湯面レベル
PVと目標湯面レベルSVとの偏差eを算出し、該
偏差に基づいて調整計2で演算される制御出力信
号MVによりプロセス制御装置3を介してノズル
の開度および/または鋳片引き抜き速度を調節す
るにあたり、上記制御出力信号MVを修正する付
加回路5は、偏差信号eを第6図aに示す動作を
行うスイツチ機構51を介して積分器52に入力
し、該積分値を非線形ヒステリシス特性回路53
に入力し、上記第6図aに示す動作を行うスイツ
チ機構51と同様の動作を行うスイツチ機構54
を介して補正出力y′を出力するようにする一方、
第6図bに示す動作を行うスイツチ機構55を積
分器52と並列接続して一定時間毎にサンプリン
グされる上記偏差eの変化量が所定以上の場合に
該補正出力y′により上記制御出力MVを修正する
ようにしてもよい。
(発明の作用効果)
以上の説明で明らかなように、本発明によれ
ば、鋳型内の湯面レベルをレベル計で検出して実
測湯面レベルPVと目標湯面レベルSVとの偏差e
を算出し、該偏差に基づいて演算される制御出力
信号MVによりノズルの開度および/または鋳片
引き抜き速度を調節し、鋳型内湯面レベルを制御
するにあたり、 ある単位時間毎に測定される実測湯面レベルの
変化量を検出してその積分値を非線形ヒステリシ
ス特性回路に入力し、上記実測湯面レベルの変化
量が所定以上の場合に補正出力yを出力し、該補
正出力yにより上記制御出力MVを修正するの
で、偏差eの急変に対しては速やかにかつ非振動
的に応答する一方、偏差eのゆるやかな変化に対
してはゆつくりとした制御を行うことができ、外
乱に対する安定性と追随性を両立させることがで
き、湯面レベルの安定した制御、即ちハンチング
の少ない制御が可能となる結果、鋳片品質を向上
させることができる。
ば、鋳型内の湯面レベルをレベル計で検出して実
測湯面レベルPVと目標湯面レベルSVとの偏差e
を算出し、該偏差に基づいて演算される制御出力
信号MVによりノズルの開度および/または鋳片
引き抜き速度を調節し、鋳型内湯面レベルを制御
するにあたり、 ある単位時間毎に測定される実測湯面レベルの
変化量を検出してその積分値を非線形ヒステリシ
ス特性回路に入力し、上記実測湯面レベルの変化
量が所定以上の場合に補正出力yを出力し、該補
正出力yにより上記制御出力MVを修正するの
で、偏差eの急変に対しては速やかにかつ非振動
的に応答する一方、偏差eのゆるやかな変化に対
してはゆつくりとした制御を行うことができ、外
乱に対する安定性と追随性を両立させることがで
き、湯面レベルの安定した制御、即ちハンチング
の少ない制御が可能となる結果、鋳片品質を向上
させることができる。
第1図は本発明方法を実施する制御ブロツク図
で、第2図はその付加回路構成の詳細を示すブロ
ツク図、第3図は第2図のスイツチ機構の動作説
明図、第4図a〜dは第2図の付加回路によつて
補正出力を出力するに至るグラフである。第5図
は本発明方法を実施する第2実施例の制御ブロツ
ク図、第6図a〜dは第5図の制御装置の作動状
態説明グラフ、第7図は実測湯面レベルと設定湯
面レベルとの偏差の変化を示すグラフ、第8図
a,bは追随性が悪い場合aおよび安定性が悪い
場合bの応答の変化を夫々示すグラフ、第9図
a,bは本発明による偏差の変化に対する応答状
態を夫々示すグラフで、aは大きな修正制御動作
をかける場合で、bは偏差がある程度大きくなる
まで修正制御動作をかけない場合を示す。第10
図は偏差に対する理想的応答を示すグラフ、第1
1図は従来の湯面レベル制御方法を示すブロツク
図、第12図はモデル規範型制御方法を示すブロ
ツク図である。 1……レベル検出器、2……調整器、3……プ
ロセス制御装置、4,5……付加回路。
で、第2図はその付加回路構成の詳細を示すブロ
ツク図、第3図は第2図のスイツチ機構の動作説
明図、第4図a〜dは第2図の付加回路によつて
補正出力を出力するに至るグラフである。第5図
は本発明方法を実施する第2実施例の制御ブロツ
ク図、第6図a〜dは第5図の制御装置の作動状
態説明グラフ、第7図は実測湯面レベルと設定湯
面レベルとの偏差の変化を示すグラフ、第8図
a,bは追随性が悪い場合aおよび安定性が悪い
場合bの応答の変化を夫々示すグラフ、第9図
a,bは本発明による偏差の変化に対する応答状
態を夫々示すグラフで、aは大きな修正制御動作
をかける場合で、bは偏差がある程度大きくなる
まで修正制御動作をかけない場合を示す。第10
図は偏差に対する理想的応答を示すグラフ、第1
1図は従来の湯面レベル制御方法を示すブロツク
図、第12図はモデル規範型制御方法を示すブロ
ツク図である。 1……レベル検出器、2……調整器、3……プ
ロセス制御装置、4,5……付加回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 鋳型内の湯面レベルをレベル計で検出して実
測湯面レベルPVと目標湯面レベルSVとの偏差e
を算出し、該偏差に基づいて演算される制御出力
信号MVによりノズルの開度および/または鋳片
引き抜き速度を調節し、鋳型内湯面レベルを制御
する方法において、 ある単位時間毎に測定される実測湯面レベルの
変化量を検出してその積分値を非線形ヒステリシ
ス特性回路に入力し、上記実測湯面レベルの変化
量が所定以上の場合に補正力yを出力し、該補正
力yにより上記制御出力MVを修正することを特
徴とする鋳型内湯面レベル制御方法。 2 鋳型内の湯面レベル変化量として、今回と前
回の実測湯面レベルの差(PVn−PVn−1)を用
いる前記第1項記載の鋳型内湯面レベル制御方
法。 3 鋳型内の湯面レベル変化量として、実測湯面
レベルの目標湯面レベルとの差(PVn−SV)を
用いる前記第1項記載の鋳型内湯面レベル制御方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24082886A JPH0229420B2 (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Renchukiniokeruigatanaiyumenreberuseigyohoho |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24082886A JPH0229420B2 (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Renchukiniokeruigatanaiyumenreberuseigyohoho |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6397347A JPS6397347A (ja) | 1988-04-28 |
| JPH0229420B2 true JPH0229420B2 (ja) | 1990-06-29 |
Family
ID=17065298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24082886A Expired - Lifetime JPH0229420B2 (ja) | 1986-10-09 | 1986-10-09 | Renchukiniokeruigatanaiyumenreberuseigyohoho |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0229420B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07115140B2 (ja) * | 1988-11-22 | 1995-12-13 | 新日本製鐵株式会社 | 連続鋳造プロセス制御装置 |
| JP2857884B2 (ja) * | 1989-02-07 | 1999-02-17 | 住友重機械工業株式会社 | 鋳型内溶鋼レベル制御装置 |
| JP6156016B2 (ja) * | 2013-09-24 | 2017-07-05 | 新日鐵住金株式会社 | 連続鋳造機の湯面レベル制御装置、連続鋳造機の湯面レベル制御方法およびコンピュータプログラム |
-
1986
- 1986-10-09 JP JP24082886A patent/JPH0229420B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6397347A (ja) | 1988-04-28 |
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