JPH022944A - 検査位置変換装置用回路配線板 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、回路配線板の電気的開放および短絡を検査す
る回路配線板検査装置の検査位置を変換する検査位置変
換装置に用いられる検査装置自体で規定される格子上の
点とこの測定装置で真に測定したい格子にあるとは限ら
ない点を電気的に結んでいる検査位置変換装置用回路配
線板（以下変換板と略する）に係る。

〈従来技術〉 従来の変換板につき、第３図を用いて簡単に説明する。

従来の回線配線板の検査装置の検査位置変換装置（以下
変換装置と略する）は、上面に測定装置の格子上の点に
対応する位置に設けられた上面端子（１８）と、下面に
格子点以外の被測定物の測定点に対応する位置に設けら
れた下面端子（１９）と、上面配＊　（１２）もしくは
下面配線（１３）と垂直なスルーホール（１４）よりな
る上面端子（１８）と下面端子（１９）とを配線する変
換板が用いられていた。この変換板（１１）は、その上
面端子（１８）と測定用端子、下面端子（１９）と被測
定物の測定点とを電気的に確実に接続する為、プローブ
、圧電ゴム、異方導電性ゴム、導電性クツション材など
を中間に挟むのが−船釣である。

〈発明が解決しようとする課題〉 上述の変換板は、被測定物の測定点の間隔が狭い場合に
特に有効である。しかし、その様に測定点が狭く密集し
ている場合、どうしても測定点と測定用端子の平面的距
離が離れがちである。従って、この様な場合、配線も密
になり、配線が二層では対応が困難となる。

特に、測定点とその測定用端子の何れもが平面上の同一
位置に他の測定点及び測定端子がある場合には、別の測
定端子と電気的に接触してしまい、それを防止する為に
はその何れもの点でスルーホールを設ける事が出来ない
。第３図において、格子状プローブ（３１Ａ）と測定点
（２２ａ）を、格子状プローブ（３１Ｂ）　　と測定点
（２２ｂ）　　との配線や格子状プローブ（３１Ｃ）　
　と測定点（２２ｅ）　　との配線を行いながら配線す
る事が出来ないことがわかる。

この場合、第三の点にスルーホールを設けるとか、二次
元的な配線にすると解決可能だが、それが多数になると
混線して、配線の設計が容易ではなく、配線密度に限度
があるのを考慮すると、配線不可能な事もある。

また、上面や下面に配線が設けられている場合には、そ
の配線が密集する事になり、測定点以外にも多数の配線
が行われる。しかし、それではどうしても絶縁抵抗が低
下する。この事は、測定で過って電気的短絡が発生する
と判定する可能性が大きくなり、測定精度の低下に結び
つき易い。

本発明は、上記問題点に鑑み、非常に密集した測定点を
持つ被測定物に対しても、それに対応する変換板を堤供
するものである。

く課題を解決するための手段〉 上述の発明が解決しようとする課題に鑑み、変換板を、
上面に測定装置の格子上の点に対応する位置に設けられ
た上面端子と、下面に格子点以外の被測定物の測定点に
対応する位置に設けられた下面端子との配線が上面と下
面での配線以外に中間導通層を設けて、多層配線により
上面端子と下面端子を配線する。

勿論、中間導通層の数は、−層、二層、三層、に限らず
、土層や二土層であっても良く、それは測定点の密集度
合によって選択すると良い。

また、各々の材質は、種々変形実施可能で、絶縁体なら
ポリイミド、ポリアミド、ガラスエポキシなどの他、絶
縁固形材料なら、何でも良い、また、導電物質について
も、銅、銀、アルミニウム、ニッケル、半田等やその合
金に限る事はなく、また、部分によって適応した材料の
特性に従って変形実施するとよい。

〈作用〉 上述の様に上面端子と下面端子の間の配線を多層化する
と、従来困難であった密集した測定点を持つ被測定物の
測定を行う事が可能になる。

また、変換板の設計も従来より容易になる。

また、変換板の配線も従来より広いピッチで配線可能に
なった。第１図において、格子状プローブ（３１Ａ）と
測定点（２２ａ）を、格子状プローブ（３１８）と測定
点（２２ｂ）との配線や格子状プローブ（３１Ｃ）と測
定点Ｃ２２Ｃ）　との配線を行いながら配線する事が容
易に可能な事がわかる。

〈実施例〉 本発明の一実施例を、図面を用いて詳細に説明する。

第１図は、本発明の一実施例を示す一断面図である。本
実施例の変換板（１１）は、板状の回路配線板である。

なお、電気的検査を実施する場合の第２図も参照された
い。

上面には、測定装置の格子状の点に対応する位置に設け
られた上面端子（１８）が設けられている。

また下面には、格子状の点以外の被測定物（２１）の測
定点（２２）に対応する位置に設けられた下面端子（１
９）が設けられている。

更に、上面と下面の他に一以上の中間導通層（１５）が
−層設けられている。その中間導通層（１５）と上面と
はスルーホール（１４）を通して電気的に導通している
。また、下面ともスルーホール（１４）を通して電気的
に導通している。この様にして上面端子（１８）と下面
端子（１９）とは中間導通層（１５）を介して電気的に
導通している。勿論、スルーホール（１４）が設けられ
て無い部分は絶縁体（１６）により構成されている。

この様な変換板（１１）を用いて電気的検査を実施する
場合を第２図を用いて説明する。この場合の変換装置に
おいて、上面の表面に異方導電性ゴムシート（１７）、
また下面の表面にも異方導電性ゴムシート（１７）を組
み込む事で、変換装置として利用している。

この状態で上部より格子状プローブ（３１）を圧すると
、プローブ（３１）のバネの働きにより測定点（２２）
迄確実に電気的接続する。この状態では格子状プローブ
（３１）間の短絡開放を調べる事により、その各々対応
する測定点（２２）間の短絡開放状況を調べる事が出来
る。

なお、この様な変換装置は、電気的接続を確保する為の
構造は異方導電性ゴムシートに限られる事は無く、格子
状プローブとは別の変換装置と被検査物を電気的接続を
確保する為の別なプローブにより構成しても良い。

〈発明の効果〉 本発明により、上面と下面との間の配線が容易になり、
例え測定点が密集した場合であっても変換板により検査
位置を自由に変換する事が可能に成った。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例を示す断面図、第２図は、
同検査時を示す側面図、第３図は、従来の一実施例を示
す断面図である。 １１　　・・・　変換板 １２　　・・・　上面配線 １３　　・・・　下面配線 １４　　・・・　スルーホール １５　　・・・　中間導通層 １６　　・・・　絶縁体 １７　　・・・　異方導電性ゴムシートＩ８　　・・・
　上面端子 １９　　・・・　下面端子 ２１　　・・・　被検査物 ２２（２２ａ、２２ｂ、２２ｃ）　　−測定点３１（３
１Ａ、３１Ｂ、３ＩＣ）　　・・・　格子状プローブ第
１図 第３図 第２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １）上面に測定装置の格子状プローブに対応する位置に
   設けられた格子状の上面端子を含む上面配線を有し、下
   面に前記格子状プローブに対応しない位置に設けられた
   下面端子を含む下面配線を有する検査位置変換装置用回
   路配線板に於いて、上面と下面の間に一以上の中間導通
   層、上面と下面と中間導通層の配線と上面と下面と中間
   導通層相互間もしくは中間導通層間のスルーホールによ
   る配線が対応する上面端子と下面端子間に設けられてい
   る検査位置変換装置用回路配線板。