JPH022957A

JPH022957A - プリント配線試験用プローズ装置

Info

Publication number: JPH022957A
Application number: JP14635188A
Authority: JP
Inventors: Tsuneo Yamaha; 山羽　常雄
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1988-06-14
Filing date: 1988-06-14
Publication date: 1990-01-08

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明は、プリント配線試験用プローブ装置に関し、
詳細には不規則的な配列の配線パターンが混在するプリ
ント基板に適用して、配線パターンの導通試験を打つプ
ローブ装置に関するものである。

［従来の技術］電子計算機に使用されるプリント基板は大型で、高性能
のＩＣパッケージが多数搭載されるもので、そのプリン
ト配線には、断線、シシートまたは絶縁紙Ｆなどの不良
は絶対に許されない。これに対してプリント配線の形成
が完ｒして部品が未搭載の時点で、導通および絶縁試験
が行われる。第３図（ａ）、（ｂ）および（Ｃ）は、プ
リント配線の導通および絶縁試験に使用される従来のブ
ローμを示すもので、図（ａ）においてブローμ１には
プローブピン１ａが植設され、各プローブピンはスプリ
ング１ｂにより下方に付勢されている。これに対して被
試験プリント基板２は絶縁板３を介在してベース４に載
置されており、ブローμが矢印Ａの方向に押下されると
、プローブピンが配線パターン２ａに弾性接触し、プロ
ーブピンはケーブル５により接続された試験装置６によ
り試験が行われる。

配線パターンは図（ｂ）に示すように、一定間隔に設定
された基準格子線Ｇｘ、Ｇｙを中心として形成され、基
準格子点ｐｇの位置に部品取り付は孔が設けられたもの
で、プローブピンは各基準格子点のすべてに対応してＭ
Ｊされている。これにより、図（Ｃ）に示す通常の配線
パターンＰに対してはプローブピンは基準格子点ｐｇを
テストポイントとして接触する。しかしながら搭載部品
には形状または接続ピンの関係で、上記の基準格子線Ｇ
ｘ、Ｇｙと離れた格子線Ｈｘ、Ｈｙ上に取り付けられる
ものがあり、これに対する配線パターンＰ　のテストポ
イントｐｈに対してはプローブピンは接触しない。電子
計算機に使用される大型の基板においては、〜５００ｍ
ｍの方形で、格子間隔が２．５４ｍｍであり、プローブ
ピンの総数は３万本の多数である。これに対して上記の
いわば不規則な配線パターンは小数であるが、基板ごと
に任意に設計されるもので、種々の不規則なテストポイ
ントに対応するプローブピンを植設したブローμをいち
いち用意することは極めて不能率である。そこで、なん
らかの手段により不規則なテストポイントに接触させる
ことが必要である。このような手段として、この発明の
発明者により特許出願「第６０−２８４２０７号、格子
変換器」が出願されている。

第４図（ａ）、（ｂ）は上記の特許出願にかかる格子変
換器の概要を説明するもので、図（ａ）においてブロー
μＩはプリントノ、（板２に対してガイド棒７ａに沿っ
て下降する。ガイド棒には２枚の孔板７ｂ、７ｃが一定
間隔で固定され、孔板７ｂにはプローブピン１ａに対応
してすべての基準格子点ｐｇの位置に貫通孔を設け、こ
れに対して孔板７ｃは図（ｂ）のように被試験プリント
配線パターンに混在する基準−格子点ｐｇと不規則テス
トポイントｐｈの位置に貫通孔を設けたもので、両者の
貫通孔゛に中継ピン８を貫通させ、その上端をプローブ
ピンで押圧すると、中継ピンの下端がすべてのテストポ
イントに接触するものである。

［解決しようとする課題］上記の中継ピンによるプローブピンの格子変換器におい
ては、異なる配線パターンに対してこれに一致する孔板
７ｃを取り替えて使用するものであるが、中継ピンはあ
る程度の長さを必要とするために変換器、従ってプロー
ブピンが大型となる。

また前記のように大型基板に対するプローブピンの数は
３万個の多数であるので、孔板、中継ピンの工作、組み
立て費用が大きく効率的でない。

この発明は、以北の事情に鑑みてなされたもので、規則
的および不規則的に混在する配線パターンに対応した部
品を交換して、配線パターンに接触して導通するととも
に、従来の配線試験ブローμのプローブピンに接続でき
、または試験装置のケーブル線に直接接続できるプリン
ト配線試験用プローブ装置を提供することを目的とする
ものである。

［課題を解決するための手段］この発明は、プリント配線試験用のプローブ装置であっ
て、被試験プリント配線パターンに対応した一定の格子
間隔をなして、ギャップにより互いに絶縁され、上記の
格子間隔の基準格子点のすべてにプローブピンを植設し
てなるブローμに対して、そのプローブピンが当接して
導通し、またはプリント配線試験装置のケーブルの各芯
線に直接接続される金属板を配列した中継板と、中継板
の下面に接触して着脱自由に設けられ、中継板の押圧に
より配線パターンに接触して、金属板と配線パターンと
を導通する接触板とにより構成される。

■−記の接触板は、金属板の範囲内において、配線パタ
ーンのテストポイントに対応した位置に貫通孔を自″し
、これに導電性のボールまたは短ピンなどの導電体を嵌
入した絶縁性の導電体配列板を、設け、その両面または
片面に、垂直方向に導電性を有し而方向に絶縁性を有す
る異方性導電ゴム板を密着して導電体を保持したもので
ある。

［作用コ以りの構成によるこの発明のプリント配線試験用プロー
ブ装置においては、中継板に配列された金属板が、対応
する各プローブピンに当接するか、または各金属板はプ
ローブピンに関係な（、プリント配線試験装置のケーブ
ル芯線に直接接続される。導通試験においては、中継板
の押圧により、中継板に接触している接触板がド降して
配線パターンに接触して、結局、金属板すなわちプロー
ブピンまたはケーブル芯線と、配線パターンとが導通さ
れる。接触板は着脱自由とされている。

以−１−の中継板と接触板との接触においては、異方性
ゴムの組直方向の導電性により、中継板に配列された金
属板と、これに対応した接触板の導電体が導通ずる。し
かし、異方性導電ゴムは而方向には絶縁性があるので、
金属仮相が間、および導電体相！ｊ：間は導通しない。

次に、中継板の押圧により接触板が下降して配線パター
ンに接触するときは、導電体は配線パターンのテストポ
イントに対応した位置に配列され、従って導電体の中心
とテストポイントが垂直方向にあるので、上記と同様に
異方性導電ゴムの垂直方向の導電性により導電体と配線
パターンが導通し、配線パターン同士は導通しない。以
−ににおいて、配線パターンのテストポイントにはある
程度の凹凸があるが、導電ゴムの弾性により導電ゴムと
テストポイントとは良好に接触する。ただし、その接触
状態を勘案し、また配列板に導電体が安定に保持される
場合には導電ゴムは接触板の片面（下側）のみとするこ
とができる。

以１−により各金属板とこれに対応するテストポイント
は導通され、各金属板間および配線パターン間に対する
絶縁性が保持されている。また、導−Ｕ体の位置は金属
板の範囲に任、αに配置できるので、不規則な配線パタ
ーンに対応した導電体配列板の接触板を製作して、中継
板に交換して取り付けることにより、任、αの配線パタ
ーンに対応することができる。なお、異方性導電性ゴム
の作用は、基本的には導電体を配列板に保持するととも
に、凹凸のあるテストポイントに良好に接触するために
必要なものであるが、その場合に上記の重置方向に対す
る導通と面方向に対する絶縁作用が認求され、異方性導
電ゴムはこれに適するものである。

［実施例コ第１図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）はこの発明
によるプリント配線試験用プローブ装置の１実施例にお
ける構造図で、図（ａ）は垂直断面、図（ｂ）、（ｃ）
は−？ＪＳ甲而、面（ｄ）は一部垂直断面を示す。図（
ａ）において、プローバ１には配線パターンの基準格子
点のすべてに対応してプローブピン１ａが植設され、こ
れに接触して中継板９が適当な固定具により固定される
。中継板には各プローブピンに対応して基準格子点の位
置に貫通ピン９ａが貫通し、そのｔ端はプローブピンに
それぞれ当接する。

中継板の下面には図（ｂ）のように正方形の金属板９ｂ
が基準格子線Ｇｘ、Ｇｙに沿って狭いギャップをなして
配列され、それぞれ貫通ピンに接続される。貫通ピンに
対する金属板の相対位置は図の場合はピンが金属板の１
隅の近傍とされているが、必ずしもこの位置でなくても
差し支えない。次に、中継板に接触板１０を着脱自由と
して接触させる。

接触板は導電体配列板１０ａとン４方性導電ゴムＩＯｃ
よりなる。導電体配列板には、導電体として金属ボール
ｌＯｂを使用し、図（Ｃ）のように被試験プリント配線
パターン２ａの基を格子点１）ｇｌおよび不規則なテス
トポイントｐｈに対応する位置に、金属ボールｔａｂの
直径に等しい貫通孔を設け、これに金属ボールを嵌入す
る。さらに、接触板の両面に異方性導電ゴムＩＯｃを接
養し、ボールにゴムを密着させて保持する。図（ｄ）は
、図（ａ）に対するプローブピンと配線パターンの導通
を説明する一部断面図で、プローブピン１ａはプローバ
１の押圧により対応した貫通ピン９ａに当接し、これ↓
こ接続された金属板９ｂまでは導通することは前記した
。次に金属板は１・、側の異方性導電ゴムＩＯｃに接触
し、その而に対してＩ＋ｔ’ｆ方向の導電性により金属
ボールＩＯｂ　、！：導通し、さらに金属ボールに接触
したド側の導電性ゴムに導通する。ここで、プローバの
押圧により接触擬態０がド降して、下側ノ導電コムが相
手の配線パターン２ａのテストポイントに弾性接触して
金属ボールと配線パターンが導通する。この場合、テス
トポイントの凹凸は導電ゴムの弾性により吸収されて、
すべてのテス。

トポインドに導電ゴムは良好に接触する。

以上において、導電ゴムの異方性により面方向には絶縁
性があるので、これに接触した金属板、金属ボールおよ
び配線パターンはいずれも隣接部分と絶縁されている。

図中の点線Ｃは導通の経路を示すものである。

以にの接触板ＩＯの製作においては、導電体配列板の貫
通孔に金属ボールを嵌入するものであるが、たとえ３万
個の多数のボールであっても、嵌入作業は至極容易であ
る。なお、異方性導電ゴム板は市販されている通常のも
のを使用し、その接着作業もまた容易である。また、図
の−Ｌ下を入れ換た構成等では必ずしも接着を要しない
。これを、配線パターンに応じて選択して接触板に密着
させるものである。以上の実施例においては、金属板の
形状を正方形としたが、必ずしも正方形の必要はなく、
正方形とした場合のギャップ上にテストポイントを設け
る必要のあるときは、これに対応した形状の金属板とす
ることが可能である。また、金属ボールの代わりに金属
の短ピン、または導電性を有する金属以外のボール、短
ピンなどの導電体を用いることも可能である。

第２図は、この発明によるプリント配線試験用プローブ
装置の他の実施例の一部断面を示すものである。図にお
いて、中継板９の貫通ピン９ａには、プリント配線試験
装置よりのケーブル５の芯線５−１．５−２・・・・・
・が接続される。ただしこの接続は、第１図（ａ）にお
けるプローバ１に対してプローブピン１ａを除去して行
ってもよい。なお、ケーブル芯線に１σ接接続するとき
は、従来の押圧機構に゛より直接、中継板を押圧するも
のである。

次に、第２図においては、導電体として導電性の短ピン
ｌ０ｂ−を用いたものである。類ビンの場合は組み立て
の容易性がやや損なわれるが、導電ゴムとの接触面積が
大きくなって接触抵抗はむしろ低下し、導通試験に対す
る効果を減するものではない。

［発明の効果コ以にの説明により明らかなように、この発明によるプリ
ント配線試験用プローブ装置においては、正方形または
変形の金属板の範囲内で、不規則な配列のテストポイン
トが混１トする任意の配線パターンに対して、対応した
位置に配列された導電体を介在させて、金属板が対応す
る配線パターンのすべてのテストポイントに導通する。

導電体を保持する異方性導電ゴムは、その導電方向特性
により、隣接する金属板、導電体、配線パターン間を絶
縁して作用に支障しない。また、この装置は金属板を従
来のプローブピンに接触させて使用することができるが
、プリント配線試験装置のケーブル芯線と直接接続して
使用することもできる。後者の場合は、従来のプローバ
における多数のプローブピンは不必要でそのメリットが
大きく、この発明のプローブ装置は、いわば新しい形式
のプローバということができる。接触板の製作において
は、導電体の配列作業は容易であり、また接触板の着脱
交換は従来の中継ピンの組み立て作業に比較して遥かに
容易で迅速に行うことができ、さらにこの発明のプロー
ブ装置の厚さ寸法は前記した従来の中継ピン方式に比較
して短くでき、機構全体がコンパクトになるなどの長所
が多く、プリント配線試験装置に寄与する効果には大き
いものがある。

４、図面のｆｆ１ｉｌ’−な説明第１図（ａＬ（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）は、この発明
によるプリント配線試験用プローブ装置の１実施例の構
造図で、図（ａ）は垂直断面図、図（ｂ）、（Ｃ）は一
部平面図、図（ｃ）は図（ａ）に対する一部垂直断面図
、第２図はこの発明によるプリント配線試験プローブ装
置の他の実施例の一部垂直断面図、第３図（ａ）、（ｂ
）および（Ｃ）は、プリント配線試験プローバの構造と
被試験プリント配線パターンの基準格子点と不規則テス
トポイントの説明図、第４図（ａ）および（ｂ）は特許
出願にかかるプローブピンに対する格子変換器の構造と
作用の説明図である。

■・・・ブローμ、 ■ｂ・・・スプリング、２ａ・・・配線パターン、４・・・ベース、６・・・試験装置、７ｂ、７ｃ・・・孔板、９・・・中継板、９ｂ・・・金属板、１０ａ・・・導電体配列板、夏ｏｂ’・・・導電性短ピン、ｌａ・・・プローブピン、２・・・プリント基板、３・・・絶縁板、５・・・ケーブル、７ａ・・・ガイド捧、８・・・中継ピン、９ａ・・・貫通ピン、１０・・・接触板、璽Ｏｂ・・・金属ボール、１０ｃ・・・異方性導電ゴム。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）、被試験プリント配線パターンに対応した一定の
格子間隔をなして、ギャップにより互いに絶縁され、上
記格子間隔の基準格子点のすべてにプローブピンを植設
してなるプローバに対して、該プローブピンが当接して
導通し、またはプリント配線試験装置のケーブルの各芯
線に直接接続される金属板を配列した中継板と、該中継
板の下面に接触して着脱自由として設けられ、該中継板
の押圧により上記配線パターンに接触して、上記金属板
と上記配線パターンとを導通する接触板とにより構成さ
れたことを特徴とする、プリント配線試験用プローブ装
置。
（２）、上記金属板の範囲内において、上記配線パター
ンのテストポイントに対応した位置に貫通孔を有し、該
貫通孔に導電性のボールまたは短ピンなどの導電体を嵌
入した絶縁性の導電性体配列板を設け、該導電体配列板
の両面または片面に、上記導電体を保持し、かつ垂直方
向に導電性を有し面方向に絶縁性を有する異方性導電ゴ
ム板を密着してなる上記接触板とする、請求項１記載の
プリント配線試験用プローブ装置。