JPH02295217A - パルス計測回路 - Google Patents
パルス計測回路Info
- Publication number
- JPH02295217A JPH02295217A JP1117144A JP11714489A JPH02295217A JP H02295217 A JPH02295217 A JP H02295217A JP 1117144 A JP1117144 A JP 1117144A JP 11714489 A JP11714489 A JP 11714489A JP H02295217 A JPH02295217 A JP H02295217A
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- Japan
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- cycle
- period
- pulse train
- pulse
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- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明はパルス計測回路に関し、
周期の変動するパルス列よりノイズを除去して計測する
ことを目的とし、 周期が変動するパルス列の周期またはパルス数を計測す
るパルス計測回路において、各パルスの所定エッジを検
出してエッジ検出信号を出力するエッジ検出回路と、各
エッジ検出信号間の周期を計測する計測カウンタと、該
計測カウンタの出力する計測データを少なくとも１周期
間保持するとともに、保持した該計測データと該計測カ
ウンタから出力される現周期の計測データとに基づき次
の周期を予測する予測回路と、前記予測された周期に応
じて所定幅のマスキング信号を発生し該エッジ検出信号
間の所定期間該パルス列の入力を禁止するマスキング手
段とを設け、該計測データに基づき次の周期を予測して
前記パルス列の入力を禁止し、得られたエッジ検出信号
に基づき該パルス列の周期またはパルス数を計測するよ
うに構成する。
ことを目的とし、 周期が変動するパルス列の周期またはパルス数を計測す
るパルス計測回路において、各パルスの所定エッジを検
出してエッジ検出信号を出力するエッジ検出回路と、各
エッジ検出信号間の周期を計測する計測カウンタと、該
計測カウンタの出力する計測データを少なくとも１周期
間保持するとともに、保持した該計測データと該計測カ
ウンタから出力される現周期の計測データとに基づき次
の周期を予測する予測回路と、前記予測された周期に応
じて所定幅のマスキング信号を発生し該エッジ検出信号
間の所定期間該パルス列の入力を禁止するマスキング手
段とを設け、該計測データに基づき次の周期を予測して
前記パルス列の入力を禁止し、得られたエッジ検出信号
に基づき該パルス列の周期またはパルス数を計測するよ
うに構成する。
本発明は、ノイズを除去してパルス列の周期またはパル
ス数を計測するパルス計測回路の改．良に関する。
ス数を計測するパルス計測回路の改．良に関する。
回転体の回転数制御とか、回転体が他に及ぼす影響を解
析するような場合、回転体の回転数がリアルタイムに計
測される。
析するような場合、回転体の回転数がリアルタイムに計
測される。
このため、一定角度の回転で所定数のパルスを発生する
センサを回転体に取りつけ、回転に伴い発生するパルス
列の周期または単位時間当たりのパルス数を計測して回
転数を求めている。
センサを回転体に取りつけ、回転に伴い発生するパルス
列の周期または単位時間当たりのパルス数を計測して回
転数を求めている。
しかし、このように環境の悪い場所に配置されるセンサ
から出力されるパルス列にはノイズが混入することが多
く、従来よりノイズの除去が課題となっているが、特に
始動から停止まで周期が変動するパルス列から完全にノ
イズを除去することは困難であった。
から出力されるパルス列にはノイズが混入することが多
く、従来よりノイズの除去が課題となっているが、特に
始動から停止まで周期が変動するパルス列から完全にノ
イズを除去することは困難であった。
このため、周期が変動するパルス列よりノイズを除去し
て周期またはパルス数を計測する簡易なパルス計測回路
が求められている。
て周期またはパルス数を計測する簡易なパルス計測回路
が求められている。
第４図は従来のパルス周期計測回路例（その１）を表す
図、第５図は従来のパルス周期計測回路例（その２）を
表す図、第６図は第５図の動作タイムチャート図である
。
図、第５図は従来のパルス周期計測回路例（その２）を
表す図、第６図は第５図の動作タイムチャート図である
。
第４図はフィルタでノイズを除去する例を示したもので
、次のような動作で周期を計測する。
、次のような動作で周期を計測する。
即ち、計測対象のパルス列３０がフィルタ回路１を介し
てエッジ検出回路２に入力されると、エッジ検出回路２
は各パルスの前縁（エッジ）を検出して所定幅のエッジ
検出信．号３２を出力し、計測カウンタ３によりこのエ
ッジ検出信号３２の立ち下がりから立ち下がりまでの期
間、計測クロック３３を計数する。
てエッジ検出回路２に入力されると、エッジ検出回路２
は各パルスの前縁（エッジ）を検出して所定幅のエッジ
検出信．号３２を出力し、計測カウンタ３によりこのエ
ッジ検出信号３２の立ち下がりから立ち下がりまでの期
間、計測クロック３３を計数する。
この計測データ３５は、エッジ検出信号３２ごとに読取
りレジスタ４で読取られ出力されて時間に換算されると
ともに、計測カウンタ３がクリアされて次の周期が計測
される。
りレジスタ４で読取られ出力されて時間に換算されると
ともに、計測カウンタ３がクリアされて次の周期が計測
される。
図中、フィルタ回路１は、コンデンサおよび抵抗による
積分回路か、または所定幅以下のパルスを除去して出力
するカウンタ等で構成されるもので、パルス列３０より
ノイズを除去するために挿入されたものである。
積分回路か、または所定幅以下のパルスを除去して出力
するカウンタ等で構成されるもので、パルス列３０より
ノイズを除去するために挿入されたものである。
このフィルタ回路１でノイズが除去されないときはノイ
ズによるエッジ検出信号が出力され、正規より小さい値
の計測データ３５が出力されることになる。
ズによるエッジ検出信号が出力され、正規より小さい値
の計測データ３５が出力されることになる。
第５図はフィルタ回路１の他にマスキング信号発生回路
５を備えたもので、第６図に示すように、エッジ検出信
号３２を基準としてパルス周期Ｔｏ以内のパルス幅Ｔｍ
を持つマスキング信号３４を作り出し、このマスキング
信号３４によりパルス列３０の入力を禁止する。
５を備えたもので、第６図に示すように、エッジ検出信
号３２を基準としてパルス周期Ｔｏ以内のパルス幅Ｔｍ
を持つマスキング信号３４を作り出し、このマスキング
信号３４によりパルス列３０の入力を禁止する。
従って、マスキング信号３４でマスクされている期間Ｔ
ｍでは、パルス列３０に混入したノイズは除去される。
ｍでは、パルス列３０に混入したノイズは除去される。
なお、パルス数を計測する場合は、第４図では計測カウ
ンタ３の代わりにパルス数を計数するカウンタを使用し
、第５図の場合はエッジ検出信号３２を計数するカウン
タを別に設ける。
ンタ３の代わりにパルス数を計数するカウンタを使用し
、第５図の場合はエッジ検出信号３２を計数するカウン
タを別に設ける。
回転体等に取りつけたセンサより出力されるパルス列は
、回転速度に伴い、パルス幅，パルス周期が大幅に変動
する。
、回転速度に伴い、パルス幅，パルス周期が大幅に変動
する。
このため、上記フィルタ回路でノイズを除去する方法で
は、高速時に発生する狭いパルスに影響を与えないよう
に定数を決定すると、除去できるノイズに制限を、生じ
、また逆にノイズを完全に除去しようとすると回転数に
制限を与える。
は、高速時に発生する狭いパルスに影響を与えないよう
に定数を決定すると、除去できるノイズに制限を、生じ
、また逆にノイズを完全に除去しようとすると回転数に
制限を与える。
また、パルス間をマスキングする方法は、一定周期のパ
ルス列を計測する場合は有効であるが、始動から停止ま
で大幅に回転数が変化する回転体の計測では、最高速度
に対する周期しかマスキング期間が設定できないため、
低速では殆ど無効となる。
ルス列を計測する場合は有効であるが、始動から停止ま
で大幅に回転数が変化する回転体の計測では、最高速度
に対する周期しかマスキング期間が設定できないため、
低速では殆ど無効となる。
本発明は上記課題に鑑み、変動するパルス周期よりノイ
ズを除去して計測するパルス計測回路を提供することを
目的とする。
ズを除去して計測するパルス計測回路を提供することを
目的とする。
上記目的を達成するため、本発明のパルス計測回路は、
第１図本発明の原理図に示すように、各パルスの所定エ
ッジを検出してエッジ検出信号を出力するエッジ検出回
路（２）と、各エッジ検出信号間の周期を計測する計測
カウンタ（３）と、 該計測カウンタ（３）の出力する計測データを少なくと
も１周期間保持するとともに、保持した該計測データと
該計測カウンタから出力される現周期の計測データとに
基づき次の周期を予測する予測回路（７）と、 前記予測された周期に応じて所定幅のマスキング信号を
発生し該エッジ検出信号間の所定期間該パルス列の入力
を禁止するマスキング手段（２０）と備える。
第１図本発明の原理図に示すように、各パルスの所定エ
ッジを検出してエッジ検出信号を出力するエッジ検出回
路（２）と、各エッジ検出信号間の周期を計測する計測
カウンタ（３）と、 該計測カウンタ（３）の出力する計測データを少なくと
も１周期間保持するとともに、保持した該計測データと
該計測カウンタから出力される現周期の計測データとに
基づき次の周期を予測する予測回路（７）と、 前記予測された周期に応じて所定幅のマスキング信号を
発生し該エッジ検出信号間の所定期間該パルス列の入力
を禁止するマスキング手段（２０）と備える。
各エッジ検出信号間の時間を計測カウンタ３で計測する
。
。
予測回路７は、周期ごとに出力される計測データを少な
くとも１周期間保持し、現周期の計測データが出力され
たとき、保持した前周期の計測データと現計測データと
に基づいて次の周期を予測する。
くとも１周期間保持し、現周期の計測データが出力され
たとき、保持した前周期の計測データと現計測データと
に基づいて次の周期を予測する。
マスキング手段２０はこの予測された周期に基づきマス
キング信号を発生し、エッジ検出信号とエッジ検出信号
との間の所定期間計測対象のパルス列の入力を禁止する
。
キング信号を発生し、エッジ検出信号とエッジ検出信号
との間の所定期間計測対象のパルス列の入力を禁止する
。
予測周期は、例えば回転体の回転数の変化は短時間内で
直線的と考えると、前回の計測データと今回の計測デー
タとの差を今回の計測データに加算することにより求め
られる。
直線的と考えると、前回の計測データと今回の計測デー
タとの差を今回の計測データに加算することにより求め
られる。
以上により、周期の変化に追従してマスキング信号を発
生することができ、ノイズの除去が容易となる。
生することができ、ノイズの除去が容易となる。
なお、パルス周期を計数するときは、計測カウンタ３の
値が使用され、またパルス数を計測する場合は、エッジ
検出信号を計数するカウンタが別に付加される。
値が使用され、またパルス数を計測する場合は、エッジ
検出信号を計数するカウンタが別に付加される。
〔実施例］
本発明の実施例を図を用いて詳細に説明する。
第２図は実施例のパルス周期計測回路ブロック図、第３
図は動作タイムチャート図である。
図は動作タイムチャート図である。
なお、以下の説明では予測法として直線的に周期が変動
するものとし、前回計測した計測データを（Ｔ１）、今
回計測した計測データを（Ｔ２）、予測周期を（Ｔ３）
としている。
するものとし、前回計測した計測データを（Ｔ１）、今
回計測した計測データを（Ｔ２）、予測周期を（Ｔ３）
としている。
第２図において、
２はエッジ検出回路で、計測対象のパルス列の各パルス
の立ち上がりを検出して、それぞれ所定幅のエッジ検出
信号３２を出力するもの、３は計測カウンタで、エッジ
検出信号３２の立ち下がりから立ち下がりまでの間、計
測クロック３３を計数するもの、 ４は読取りレジスタで、エッジ検出信号３２の立ち下が
りで計測カウンタ３の値を格納しバス１００に出力する
もの、 ７は予測回路で、バス１００上に出力されている計測デ
ータ３５をエッジ検出信号３２の立ち下がりで格納する
レジスタ１０、減算回路９、加算回路８より構成され、
前回計測された計測データ（Ｔ１）と今回計測された計
測データ（Ｔ２）とに基づき次の周期（Ｔ３）を予測し
て出力するもの、 ６はマスキング信号発生回路で、エッジ検出信号３２の
立ち上がりを検出してマスキング信号３４を出力すると
ともに、予測周期（Ｔ３）に基づく所定時間経過後にマ
スキング信号３４の出力を停止するもの、 １１は禁止ゲートで、マスキング信号３４が出力されて
いる期間、パルス列３０の入力を禁止するものであり全
図を通じて同一符号は同一対象物を表す。
の立ち上がりを検出して、それぞれ所定幅のエッジ検出
信号３２を出力するもの、３は計測カウンタで、エッジ
検出信号３２の立ち下がりから立ち下がりまでの間、計
測クロック３３を計数するもの、 ４は読取りレジスタで、エッジ検出信号３２の立ち下が
りで計測カウンタ３の値を格納しバス１００に出力する
もの、 ７は予測回路で、バス１００上に出力されている計測デ
ータ３５をエッジ検出信号３２の立ち下がりで格納する
レジスタ１０、減算回路９、加算回路８より構成され、
前回計測された計測データ（Ｔ１）と今回計測された計
測データ（Ｔ２）とに基づき次の周期（Ｔ３）を予測し
て出力するもの、 ６はマスキング信号発生回路で、エッジ検出信号３２の
立ち上がりを検出してマスキング信号３４を出力すると
ともに、予測周期（Ｔ３）に基づく所定時間経過後にマ
スキング信号３４の出力を停止するもの、 １１は禁止ゲートで、マスキング信号３４が出力されて
いる期間、パルス列３０の入力を禁止するものであり全
図を通じて同一符号は同一対象物を表す。
以上構成のパルス周期計測回路において以下に示す動作
が行われる。
が行われる。
ここで、読取りレジスタ４およびレジスタ１０は同一タ
イミングで格納制御されるが、第３図に示すように、タ
イミング的にはレジスタ１０にバス１００上の計測デー
タ、即ち前回の計測データ（Ｔ１）が格納された後、読
取りレジスタ４、即ちバス１００上に現計測データ（Ｔ
２）が出力されることになる。
イミングで格納制御されるが、第３図に示すように、タ
イミング的にはレジスタ１０にバス１００上の計測デー
タ、即ち前回の計測データ（Ｔ１）が格納された後、読
取りレジスタ４、即ちバス１００上に現計測データ（Ｔ
２）が出力されることになる。
この後、直ちに減算回路９で
ΔＴ＝ （Ｔ２） − （ＴＩ）
が演算され、加算回路８で
Ｔ３＝ΔＴ＋（Ｔ２）
が演算されてマスキング信号発生回路６に出力される。
この演算はエッジ検出信号３２の立ち下がり以降で行わ
れるため、計測カウンタ３ではすでに次の周期Ｔ３の計
測は開始されており、このためマスキング信号発生回路
６は、エッジ信号検出信号３２の立ち上がり時点ｔ１で
マスキング信号３４を出力し、予測周期（Ｔ３）が出力
されたとき、例えば予測周期（Ｔ３）の７０バーセント
の値を図示省略したカウンタにセットし、計測クロック
３３で減算してカウンタ値がＯになった時刻ｔ２でマス
キング信号３４の出力を停止する。
れるため、計測カウンタ３ではすでに次の周期Ｔ３の計
測は開始されており、このためマスキング信号発生回路
６は、エッジ信号検出信号３２の立ち上がり時点ｔ１で
マスキング信号３４を出力し、予測周期（Ｔ３）が出力
されたとき、例えば予測周期（Ｔ３）の７０バーセント
の値を図示省略したカウンタにセットし、計測クロック
３３で減算してカウンタ値がＯになった時刻ｔ２でマス
キング信号３４の出力を停止する。
以上により、パルス列３０の周期の変動に応じた幅のマ
スキング信号３４を発生させることができ、フィルタ回
路１では除去できないノイズを除去することができる。
スキング信号３４を発生させることができ、フィルタ回
路１では除去できないノイズを除去することができる。
以上の実施例では変動が直線とする一次予測法を用いた
が、この予測法に限るものではないことは以上の説明よ
り明らかである。
が、この予測法に限るものではないことは以上の説明よ
り明らかである。
なお、パルス数の計数を目的とする場合は、第２図にエ
ッジ検出信号３２を入力とするカウンタを設ければよい
。
ッジ検出信号３２を入力とするカウンタを設ければよい
。
本発明は次のパルス周期を予測して入力パルス列の入力
を禁止してパルス列の周期またはパルス数を計数するパ
ルス計測回路を提供するもので、入力パルス列の周期に
追従してマスキングできるため、ノイズの除去が容易と
なる効果がある。
を禁止してパルス列の周期またはパルス数を計数するパ
ルス計測回路を提供するもので、入力パルス列の周期に
追従してマスキングできるため、ノイズの除去が容易と
なる効果がある。
第１図は本発明の原理図、第２図は実施例のパルス周期
計測回路ブロック図、第３図は動作タイムチャート図、
第４図は従来のパルス周期計測回路例（その１）を表す
図、第５図は従来のパルス周期計測回路例（その２）を
表す図、第６図は第５図の動作タイムチャート図である
。 図中、１はフィルタ回路、２はエッジ検出回路、３は計
測カウンタ、４は読取りレジスタ、５，６はマスキング
信号発生回路、７は予測回路、８は加算回路、９は減算
回路、１０はレジスタ、１１は禁止ゲートである。 第１図 実施例のパルス周期計測回路ブロック図第２図 気頃乍タイムチャート図 第３図 従来のパルス周期計測回路例（その１）を表す図従来の
パルス周期計測回路例（その２）を表す図第５図 第５図の動作タイムチャート図 第６図
計測回路ブロック図、第３図は動作タイムチャート図、
第４図は従来のパルス周期計測回路例（その１）を表す
図、第５図は従来のパルス周期計測回路例（その２）を
表す図、第６図は第５図の動作タイムチャート図である
。 図中、１はフィルタ回路、２はエッジ検出回路、３は計
測カウンタ、４は読取りレジスタ、５，６はマスキング
信号発生回路、７は予測回路、８は加算回路、９は減算
回路、１０はレジスタ、１１は禁止ゲートである。 第１図 実施例のパルス周期計測回路ブロック図第２図 気頃乍タイムチャート図 第３図 従来のパルス周期計測回路例（その１）を表す図従来の
パルス周期計測回路例（その２）を表す図第５図 第５図の動作タイムチャート図 第６図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 周期が変動するパルス列の周期またはパルス数を計測す
るパルス計測回路において、 各パルスの所定エッジを検出してエッジ検出信号を出力
するエッジ検出回路（２）と、 各エッジ検出信号間の周期を計測する計測カウンタ（３
）と、 該計測カウンタ（３）の出力する計測データを少なくと
も１周期間保持するとともに、保持した該計測データと
該計測カウンタから出力される現周期の計測データとに
基づき次の周期を予測する予測回路（７）と、 前記予測された周期に応じて所定幅のマスキング信号を
発生し該エッジ検出信号間の所定期間該パルス列の入力
を禁止するマスキング手段（２０）とを設け、該計測デ
ータに基づき次の周期を予測して前記パルス列の入力を
禁止し、得られたエッジ検出信号に基づき該パルス列の
周期またはパルス数を計測することを特徴とするパルス
計測回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1117144A JPH02295217A (ja) | 1989-05-09 | 1989-05-09 | パルス計測回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1117144A JPH02295217A (ja) | 1989-05-09 | 1989-05-09 | パルス計測回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02295217A true JPH02295217A (ja) | 1990-12-06 |
Family
ID=14704550
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1117144A Pending JPH02295217A (ja) | 1989-05-09 | 1989-05-09 | パルス計測回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02295217A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100302330B1 (ko) * | 1999-09-08 | 2001-11-07 | 서평원 | 카운터의 프레임 펄스 공급 장치 |
| JP2018028449A (ja) * | 2016-08-16 | 2018-02-22 | 横河電機株式会社 | 周波数カウンタおよびフィールド機器 |
| EP3754865A4 (en) * | 2018-03-05 | 2021-03-17 | Mitsubishi Electric Corporation | COMMUNICATION DEVICE AND BLOCK PREDICTION METHOD |
-
1989
- 1989-05-09 JP JP1117144A patent/JPH02295217A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100302330B1 (ko) * | 1999-09-08 | 2001-11-07 | 서평원 | 카운터의 프레임 펄스 공급 장치 |
| JP2018028449A (ja) * | 2016-08-16 | 2018-02-22 | 横河電機株式会社 | 周波数カウンタおよびフィールド機器 |
| EP3754865A4 (en) * | 2018-03-05 | 2021-03-17 | Mitsubishi Electric Corporation | COMMUNICATION DEVICE AND BLOCK PREDICTION METHOD |
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