JPH022969A - 配線板の電気的機能試験装置の制御装置 - Google Patents
配線板の電気的機能試験装置の制御装置Info
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- JPH022969A JPH022969A JP63318370A JP31837088A JPH022969A JP H022969 A JPH022969 A JP H022969A JP 63318370 A JP63318370 A JP 63318370A JP 31837088 A JP31837088 A JP 31837088A JP H022969 A JPH022969 A JP H022969A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/07—Non contact-making probes
- G01R1/072—Non contact-making probes containing ionised gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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- G01R31/304—Contactless testing of printed or hybrid circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、配線板、例えばプリント板の電気的機詣試験
装置の制御装置に関する。
装置の制御装置に関する。
〔従来の技術］
ヨーロッパ特許出願公開第１０２５６５号公報によれば
、測定点への接触を、従来普通に用いられていたオーミ
ック接触の代わりに、ガス放電区間を介する非接触のプ
ラズマ接触によって行うようにした配線板の電気的機部
試験装置が公知である。このために、配線板上に取付け
られ得る支持板内に電極を具備した多数のガス放電路が
設けられ、配線板の枠内に配置されたガス放電路は測定
点に対して開口されている。今、２つの選択された測定
点が例えば導体路を介して互いに導電結合されている場
合には、それらに所属するガス放電路は電極に充分高い
電圧を印加することによって点弧し得る直列接続された
２つのガス放電区間を形成する。ガス放電の点弧によっ
て電流輸送が生じ、この電流輸送が試験目的のために評
価される。
、測定点への接触を、従来普通に用いられていたオーミ
ック接触の代わりに、ガス放電区間を介する非接触のプ
ラズマ接触によって行うようにした配線板の電気的機部
試験装置が公知である。このために、配線板上に取付け
られ得る支持板内に電極を具備した多数のガス放電路が
設けられ、配線板の枠内に配置されたガス放電路は測定
点に対して開口されている。今、２つの選択された測定
点が例えば導体路を介して互いに導電結合されている場
合には、それらに所属するガス放電路は電極に充分高い
電圧を印加することによって点弧し得る直列接続された
２つのガス放電区間を形成する。ガス放電の点弧によっ
て電流輸送が生じ、この電流輸送が試験目的のために評
価される。
ガス放電の点弧が起こらない場合または点弧しても僅、
かな電流しか流れない場合には、選択された測定点間で
は導電結合は中断されているかまたは最初から存在して
いなかったと見做すことができる。 ！＋１も、公知の
装置は導電性試験と絶縁性試験とが可能であり、その場
合にオーミック接触を回避することによって非常に高い
信頬性を得ていた。
かな電流しか流れない場合には、選択された測定点間で
は導電結合は中断されているかまたは最初から存在して
いなかったと見做すことができる。 ！＋１も、公知の
装置は導電性試験と絶縁性試験とが可能であり、その場
合にオーミック接触を回避することによって非常に高い
信頬性を得ていた。
ろう付は技術または圧着技術を用いた未実装および実装
プリント板ならびに配線板の自動試験機および試験アダ
プタにおいては、測定点の個数は例えば１０万個にもな
り得る。その場合、測定点の個数と共に、ばね式試験探
針を使用する場合でもガス放電区間を介するイオン接触
を使用する場合でも必要なリード線とスイッチング素子
との個数が増加し、それによって装置技術上の手数がか
なり掛かり、しかもそれに応じてコストが嵩む。
プリント板ならびに配線板の自動試験機および試験アダ
プタにおいては、測定点の個数は例えば１０万個にもな
り得る。その場合、測定点の個数と共に、ばね式試験探
針を使用する場合でもガス放電区間を介するイオン接触
を使用する場合でも必要なリード線とスイッチング素子
との個数が増加し、それによって装置技術上の手数がか
なり掛かり、しかもそれに応じてコストが嵩む。
接続部の個数を減らすために、各ガス放電路が少なくと
も２つの非絶縁電極を具備し、その一方の電極が格子の
役目を負うようにした装置は既に提案されている（ヨー
ロッパ特許出願公開第０２１８０５８号公報）６両電極
を制御するだけで、プリント板に到るガス放電の点弧お
よび（または）Ｐ！焼が生ぜしめられる。それに対して
、一方の電極からプリント板に到るガス放電の点弧およ
び（または）燃焼は他方の電極つまり格子１ｉ８ｉによ
って阻止することができる。その際、ガス放電路の第１
の電極を第１の電極給電線を介して列状に互いに接続し
、またガス放電路の第２の電極つまり格子電極を第２の
電極給電線を介して互いに接続すると、第１の電極給電
線の一群と第２の電極給電線の一群とは特に４５°で有
利に敷設することができる。
も２つの非絶縁電極を具備し、その一方の電極が格子の
役目を負うようにした装置は既に提案されている（ヨー
ロッパ特許出願公開第０２１８０５８号公報）６両電極
を制御するだけで、プリント板に到るガス放電の点弧お
よび（または）Ｐ！焼が生ぜしめられる。それに対して
、一方の電極からプリント板に到るガス放電の点弧およ
び（または）燃焼は他方の電極つまり格子１ｉ８ｉによ
って阻止することができる。その際、ガス放電路の第１
の電極を第１の電極給電線を介して列状に互いに接続し
、またガス放電路の第２の電極つまり格子電極を第２の
電極給電線を介して互いに接続すると、第１の電極給電
線の一群と第２の電極給電線の一群とは特に４５°で有
利に敷設することができる。
かかる公知の装置においては、両試験点に所属する上部
電極給電線間には２つの直列接続されたガス放電を点弧
するのに充分である電圧が印加される。さらに、下部電
極給電線には、電圧を与えられた上部電極給電線から試
験点に到る点弧を所望の測定点だけで可能にし他の全て
の測定点では阻止するような電圧が印加され、その場合
−つのガス放電路の両電極間では放電は起きてはならな
い。
電極給電線間には２つの直列接続されたガス放電を点弧
するのに充分である電圧が印加される。さらに、下部電
極給電線には、電圧を与えられた上部電極給電線から試
験点に到る点弧を所望の測定点だけで可能にし他の全て
の測定点では阻止するような電圧が印加され、その場合
−つのガス放電路の両電極間では放電は起きてはならな
い。
本発明は、この種の２電極装置において出来る限り簡単
な電極形態を可能にしかつ簡単な小形化のための方法を
開拓することを課題とする。さらに本発明の課題は、電
極およびそれに所属する給電線は導電線から構成し、ま
た公知の装置とは反対に、選択された測定点に所属する
電極間で放電が起こるようにすることにある。
な電極形態を可能にしかつ簡単な小形化のための方法を
開拓することを課題とする。さらに本発明の課題は、電
極およびそれに所属する給電線は導電線から構成し、ま
た公知の装置とは反対に、選択された測定点に所属する
電極間で放電が起こるようにすることにある。
このような課題を解決するために、本発明は、配線板上
に取付可能な支持板を備え、その支持板内には電極を具
備した多数のガス放電路が設けられ、前記配線板のそれ
ぞれ少なくとも２つの選定された測定点（試験点）がそ
れらに所属するガス放電路およびその電極を介してプラ
ズマによって電気的に接触可能であり、各ガス放電路は
少なくとも２つの電極を備えかつ一致原理に基づいてそ
れらの電極を介して所属の電極給電線を選択可能であり
、ガス放電路の第１の電極は列状に第１の電極給電線を
介して互いに結合され、ガス放電路の第２の電極は列状
に第２の電極給電線を介して互いに結合されているよう
な配線板の電気的機能試験装置の制御装置において、第
１の選択されたガス放電路の第１の電極給電線および第
２の電極給電線には、前記第１の選択されたガス放電路
の第１の１極給電線と第２の電極給電線との間にガス放
電を点弧させるのに充分である電圧が印加され、さらに
第２の選択されたガス放電路の第１の１！極給電線およ
び第２の電極給電線には、前記第２の選択されたガス放
電路の第１の電極給電線と第２の電極給電線との間にガ
ス放電を点弧させるのに充分である電圧が印加され、ガ
ス放電路間の導電結合を試験するためにガス放電間には
、導電結合がなされている場合には第１の制御ガス放電
からその導電結合を介して第２の制御ガス放電へ流れる
電流を生ぜしめる電位差が印加されるようになっている
ことを特徴とする。
に取付可能な支持板を備え、その支持板内には電極を具
備した多数のガス放電路が設けられ、前記配線板のそれ
ぞれ少なくとも２つの選定された測定点（試験点）がそ
れらに所属するガス放電路およびその電極を介してプラ
ズマによって電気的に接触可能であり、各ガス放電路は
少なくとも２つの電極を備えかつ一致原理に基づいてそ
れらの電極を介して所属の電極給電線を選択可能であり
、ガス放電路の第１の電極は列状に第１の電極給電線を
介して互いに結合され、ガス放電路の第２の電極は列状
に第２の電極給電線を介して互いに結合されているよう
な配線板の電気的機能試験装置の制御装置において、第
１の選択されたガス放電路の第１の電極給電線および第
２の電極給電線には、前記第１の選択されたガス放電路
の第１の１極給電線と第２の電極給電線との間にガス放
電を点弧させるのに充分である電圧が印加され、さらに
第２の選択されたガス放電路の第１の１！極給電線およ
び第２の電極給電線には、前記第２の選択されたガス放
電路の第１の電極給電線と第２の電極給電線との間にガ
ス放電を点弧させるのに充分である電圧が印加され、ガ
ス放電路間の導電結合を試験するためにガス放電間には
、導電結合がなされている場合には第１の制御ガス放電
からその導電結合を介して第２の制御ガス放電へ流れる
電流を生ぜしめる電位差が印加されるようになっている
ことを特徴とする。
本発明の有利な構成は請求項２以下に記載されている。
本発明によれば、一つの測定点を制御するためにその測
定点に所属する両電極間では制御ガス放電が点弧される
。二つの測定点間で導電結合を試験したい場合には、対
応する両制御ガス放電には互いに異なった電位が印加さ
れる。それによって、導電結合が存在している場合には
一方のガス放電からその導電結合を介して第２のガス放
電へ流れる？を流が生ぜしめられ、この電流を試験目的
のために評価することができる。
定点に所属する両電極間では制御ガス放電が点弧される
。二つの測定点間で導電結合を試験したい場合には、対
応する両制御ガス放電には互いに異なった電位が印加さ
れる。それによって、導電結合が存在している場合には
一方のガス放電からその導電結合を介して第２のガス放
電へ流れる？を流が生ぜしめられ、この電流を試験目的
のために評価することができる。
本発明に基づく制御装置によれば、電極形態の構成は大
きな選択自由度を有する。
きな選択自由度を有する。
次に、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第１図は、測定点（試験点）への接触を非接触のプラズ
マ接触によって行うようにした配線板、特にプリント板
の電気的機能試験装置のための制御装置の動作態様を示
す概略図である。この図にはプリント板１の一部分が示
されており、その上面では導体路２の端部が測定点３．
４を形成している。プリント板１の上面には、絶縁材料
、例えばガラスから成り袋穴の形態の多数のガス放電路
を設けられた支持板５が取付けられている０図には一１
１定点３に所属するガス放電路６と測定点４に所属する
ガス放電路７だけが図示されている。ガス放電路６内に
はｉｉ電極、９が配置さ机、電極８は電極９よりも深い
所に位置している。ガス放電路７内には電極１０，１１
が配置され、この場合も同じ＜Ｗ極１０は電極１１より
も深く電極８と同じ高さの所に位置している。電極８．
９間の点線１２および電極１０．１１間の点線１３はそ
れぞれガス放電を表している。０１、Ｏｔは電ｉ９．１
１に接続された上部給電線を示し、Ｕ、、Ｕ。
マ接触によって行うようにした配線板、特にプリント板
の電気的機能試験装置のための制御装置の動作態様を示
す概略図である。この図にはプリント板１の一部分が示
されており、その上面では導体路２の端部が測定点３．
４を形成している。プリント板１の上面には、絶縁材料
、例えばガラスから成り袋穴の形態の多数のガス放電路
を設けられた支持板５が取付けられている０図には一１
１定点３に所属するガス放電路６と測定点４に所属する
ガス放電路７だけが図示されている。ガス放電路６内に
はｉｉ電極、９が配置さ机、電極８は電極９よりも深い
所に位置している。ガス放電路７内には電極１０，１１
が配置され、この場合も同じ＜Ｗ極１０は電極１１より
も深く電極８と同じ高さの所に位置している。電極８．
９間の点線１２および電極１０．１１間の点線１３はそ
れぞれガス放電を表している。０１、Ｏｔは電ｉ９．１
１に接続された上部給電線を示し、Ｕ、、Ｕ。
は電Ｆｉ８．１０に接続された下部給電線を示している
。Ｕ２１、Ｕ２！はガス放電路内に制御ガス放電を起こ
させる同一または異なった制御電圧を表す。
。Ｕ２１、Ｕ２！はガス放電路内に制御ガス放電を起こ
させる同一または異なった制御電圧を表す。
Ｕ、は試験電圧を表し、■、は試験電流を表す。
Ｒ５、Ｒｚ 、ＲＰは所望の動作点に調整するための直
列抵抗を表す。
列抵抗を表す。
第２図において、０．〜０．は同様に上部電極給電線を
示し、Ｕ、、Ｕｔは下部電極給電線を示している。Ｐ、
、Ｐ、は導体路上の２つの試験点（測定点）を示して
いる。
示し、Ｕ、、Ｕｔは下部電極給電線を示している。Ｐ、
、Ｐ、は導体路上の２つの試験点（測定点）を示して
いる。
例えば第２図において試験点Ｐ＋ 、Ｐｔを試験したい
場合には、先ず次の電圧が印加される。
場合には、先ず次の電圧が印加される。
Ｔ！ｉ捲 電圧
Ｕ、 Ｏ
Ｕｚ ＵｚｚＯ，Ｕ、。
０！Ｏ
それによって、電極には試験点Ｐ＋ 、Ｐｇを介して、
ガス放電の点弧を生じさせる電圧ＵＮＩまたはＵ２１が
印加される。ＯＩとＵ２との交差点およびＯｔとＵＩと
の交差点には電位差は生じないかまたは生じても僅かで
ある。今、例えばＵ、および０．における電圧が同じ値
Ｕｐだけ変化したとすると、Ｐ、またはＰ２上の電圧差
は変化しないが、しかしながらＰ＋、Ｐｔ間には電位差
が発生する６両試験点Ｐ、 、Ｐ、が導電結合している
場合には、その電位差によってガス放電の電流が導体路
を通って流れる。その場合にはＵｐ＜Ｕｚ＋、Ｕ２．で
なければならない、というのは、そうでな。
ガス放電の点弧を生じさせる電圧ＵＮＩまたはＵ２１が
印加される。ＯＩとＵ２との交差点およびＯｔとＵＩと
の交差点には電位差は生じないかまたは生じても僅かで
ある。今、例えばＵ、および０．における電圧が同じ値
Ｕｐだけ変化したとすると、Ｐ、またはＰ２上の電圧差
は変化しないが、しかしながらＰ＋、Ｐｔ間には電位差
が発生する６両試験点Ｐ、 、Ｐ、が導電結合している
場合には、その電位差によってガス放電の電流が導体路
を通って流れる。その場合にはＵｐ＜Ｕｚ＋、Ｕ２．で
なければならない、というのは、そうでな。
いと不所望な個所でガス放電が点弧されてしまうからで
ある。
ある。
Ｎ個の導体路（および、説明を簡単にするために、導体
路光たり２つの試験すべき最終点）を備えたプリント板
を試験する際には、“導通試験”のためにＮ回の測定が
必要である。絶縁試験の際に各導体路が他の各導体路に
対して個別に短絡または分路試験をされなければならな
い場合には、１／２Ｎ （Ｎ−１）回の測定が必要とさ
れる。それゆえ、結論が出るまでには非常に長い測定時
間を要する。
路光たり２つの試験すべき最終点）を備えたプリント板
を試験する際には、“導通試験”のためにＮ回の測定が
必要である。絶縁試験の際に各導体路が他の各導体路に
対して個別に短絡または分路試験をされなければならな
い場合には、１／２Ｎ （Ｎ−１）回の測定が必要とさ
れる。それゆえ、結論が出るまでには非常に長い測定時
間を要する。
多数の制御ガス放電の並列接続は物理的に可能ではない
ので、従来の方法を用いたのでは、他の全ての導体路に
対する一つの導体路の絶縁試験を同時に行うことはでき
ない。
ので、従来の方法を用いたのでは、他の全ての導体路に
対する一つの導体路の絶縁試験を同時に行うことはでき
ない。
しかしながら、本発明による装置を用いると、以下で述
べる方法によれば、“他の全ての導体路に対する一つの
導体路”の試験を実現することができる。この試験によ
れば、他の全ての導体路に対する一つの導体路の絶縁試
験を一つのステップにて行うことができる。その場合、
同様に絶縁試験はＮ回の測定を必要とするだけである。
べる方法によれば、“他の全ての導体路に対する一つの
導体路”の試験を実現することができる。この試験によ
れば、他の全ての導体路に対する一つの導体路の絶縁試
験を一つのステップにて行うことができる。その場合、
同様に絶縁試験はＮ回の測定を必要とするだけである。
例えばＰｌについて他の全ての導体路に対する絶縁試験
を行いたい場合には、一方ではＵ、と他方では他の全て
の下部Ｔ！１ｈＵ＋ （この下部電極は試験すべき点
上に位置し、Ｐｌに所属する導体路上に位置するのでは
ない）との間に、既に燃焼しているガス放電を維持する
には充分であるが自発的点弧を起こさせるには充分でな
い電圧が印加される。０１に、Ｏ，、Ｕ、間だけの点弧
を可能にしてそれ以外での点弧を可能にしないような大
きさと極性とを有する電圧が印加されると、Ｐ、の上で
は電極間にガス放電が点弧される。このことによって試
験点Ｐ１およびその試験点Ｐ、に導電結合している各試
験点Ｐ、へ流れる電流が生ぜしめられる。これによって
試験点Ｐ、とその上に存在している下部電極との間に点
弧が惹き起こされる。このようにして、固定的に選択さ
れた試験点Ｐ１と他のあらかじめ定められていない試験
点Ｐ！との間の、（不所望な）導電結合を試験すること
ができる。したがって、Ｎ個の導体路の場合にはＮ回の
絶縁測定を必要とするだけである。必要な場合には、こ
の短絡は、Ｐ、が全での試験点に対してではなく半分（
ｌ／４、等）の試験点に対して短絡を試験されるような
他の測定によって位置決めすることができる。測定の付
加的な回数は２を底とする導体路数１ｄ（Ｎ）の対数と
ほぼ一致する。
を行いたい場合には、一方ではＵ、と他方では他の全て
の下部Ｔ！１ｈＵ＋ （この下部電極は試験すべき点
上に位置し、Ｐｌに所属する導体路上に位置するのでは
ない）との間に、既に燃焼しているガス放電を維持する
には充分であるが自発的点弧を起こさせるには充分でな
い電圧が印加される。０１に、Ｏ，、Ｕ、間だけの点弧
を可能にしてそれ以外での点弧を可能にしないような大
きさと極性とを有する電圧が印加されると、Ｐ、の上で
は電極間にガス放電が点弧される。このことによって試
験点Ｐ１およびその試験点Ｐ、に導電結合している各試
験点Ｐ、へ流れる電流が生ぜしめられる。これによって
試験点Ｐ、とその上に存在している下部電極との間に点
弧が惹き起こされる。このようにして、固定的に選択さ
れた試験点Ｐ１と他のあらかじめ定められていない試験
点Ｐ！との間の、（不所望な）導電結合を試験すること
ができる。したがって、Ｎ個の導体路の場合にはＮ回の
絶縁測定を必要とするだけである。必要な場合には、こ
の短絡は、Ｐ、が全での試験点に対してではなく半分（
ｌ／４、等）の試験点に対して短絡を試験されるような
他の測定によって位置決めすることができる。測定の付
加的な回数は２を底とする導体路数１ｄ（Ｎ）の対数と
ほぼ一致する。
例：
第２図に図示された実施例においては、上部電極給電線
０．、Ｏ，，０３および下部電極給電線Ｕ、、Ｕよ用と
して直径３■のアルミニウム線が使用された。上部電極
給電線を有する平面と下部電極給電線を有する平面との
間隔は２５ｍである。
０．、Ｏ，，０３および下部電極給電線Ｕ、、Ｕよ用と
して直径３■のアルミニウム線が使用された。上部電極
給電線を有する平面と下部電極給電線を有する平面との
間隔は２５ｍである。
下部電極給電線の線輪と導体路２および試験点Ｐ１、Ｐ
２を有する平面との間隔は１０ｍｍである。ガス放電路
６．７および他の図示されていないガス放電路の直径は
３＋ｍである。装置全体は圧力２５ｍｂａｒのヘリウム
雰囲気内に置かれた。
２を有する平面との間隔は１０ｍｍである。ガス放電路
６．７および他の図示されていないガス放電路の直径は
３＋ｍである。装置全体は圧力２５ｍｂａｒのヘリウム
雰囲気内に置かれた。
試験は次の電気的パラメータを用いて行われた。
符号は第１図に示された符号が引用されている。
直列抵抗Ｒ，＝４００にΩ
直列抵抗Ｒｚ＝４００にΩ
直列抵抗ＲＰ−１０にΩ
Ｕ、、Ｏ，（無電位）間の燃焼電圧は４５０ｖ、Ｕ、は
０１に対して正、燃焼電流は１．３ｍＡＵ８．０□ （
無電位）間の燃焼電圧は４５０■、Ｕｚは０□に対して
負、燃焼電流は１．３ ｍ ＡＩＪ＋ 、Ｕｚ （ｖ
ｌ、１ｉｉ位）間（Ｄ試Ｍｉｉ圧Ｃ；！ ２００ ｖ、
ＵｚはＵ、に対して正 導体路２を介して試験点Ｐ、、Ｐ、間が導電結合されて
いる場合には、試験電流１ｒ−０，６ｍＡが測定された
。導体路２が中断されている場合には、試験電流１．は
それに対して■、＝０となった。
０１に対して正、燃焼電流は１．３ｍＡＵ８．０□ （
無電位）間の燃焼電圧は４５０■、Ｕｚは０□に対して
負、燃焼電流は１．３ ｍ ＡＩＪ＋ 、Ｕｚ （ｖ
ｌ、１ｉｉ位）間（Ｄ試Ｍｉｉ圧Ｃ；！ ２００ ｖ、
ＵｚはＵ、に対して正 導体路２を介して試験点Ｐ、、Ｐ、間が導電結合されて
いる場合には、試験電流１ｒ−０，６ｍＡが測定された
。導体路２が中断されている場合には、試験電流１．は
それに対して■、＝０となった。
第１図は電気的機能試験を行うための制御装置の原理構
成を示す断面図、第２図は制御電極を備えた６個の選択
された試験点を示す概略図である。 １・・・プリント板 ２・・・導体路 ３．４・・・測定点 ５・・・支持板 ６．７・・・ガス放電路 ８．９．１０．１１・・・電極 １２．１３・・・制御ガス放電 Ｕ２１、Ｕ、□・・・電圧 Ｐ、、Ｐ、・・・試験点 Ｕ、 、Ｕ、・・・電極給電線 ０１．０２．０．・・・電極給電線
成を示す断面図、第２図は制御電極を備えた６個の選択
された試験点を示す概略図である。 １・・・プリント板 ２・・・導体路 ３．４・・・測定点 ５・・・支持板 ６．７・・・ガス放電路 ８．９．１０．１１・・・電極 １２．１３・・・制御ガス放電 Ｕ２１、Ｕ、□・・・電圧 Ｐ、、Ｐ、・・・試験点 Ｕ、 、Ｕ、・・・電極給電線 ０１．０２．０．・・・電極給電線
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）配線板上に取付可能な支持板を備え、その支持板内
には電極を具備した多数のガス放電路が設けられ、前記
配線板のそれぞれ少なくとも２つの選定された測定点（
試験点）がそれらに所属するガス放電路およびその電極
を介してプラズマによって電気的に接触可能であり、各
ガス放電路は少なくとも２つの電極を備えかつ一致原理
に基づいてそれらの電極を介して所属の電極給電線を選
択可能であり、ガス放電路の第１の電極は列状に第１の
電極給電線を介して互いに結合され、ガス放電路の第２
の電極は列状に第２の電極給電線を介して互いに結合さ
れているような配線板の電気的機能試験装置の制御装置
において、第１の選択されたガス放電路（６）の第１の
電極給電線（Ｏ＿１）および第２の電極給電線（Ｕ＿１
）には、前記第１の選択されたガス放電路（６）の第１
の電極給電線（Ｏ＿１）と第２の電極給電線（Ｕ＿１）
との間にガス放電を点弧させるのに充分な電圧（Ｕ＿２
＿１）が印加され、さらに第２の選択されたガス放電路
（７）の第１の電極給電線（Ｏ＿２）および第２の電極
給電線（Ｕ＿２）には、前記第２の選択されたガス放電
路（７）の第１の電極給電線（Ｏ＿２）と第２の電極給
電線（Ｕ＿２）との間にガス放電を点弧させるのに充分
である電圧（Ｕ＿２＿２）が印加され、ガス放電路（６
、７）間の導電結合を試験するためにガス放電間には、
導電結合がなされている場合には第１の制御ガス放電（
１２）からその導電結合を介して第２の制御ガス放電（
１３）へ流れる電流を生ぜしめる電位差（Ｕ＿ｐ）が印
加されるようになっていることを特徴とする配線板の電
気的機能試験装置の制御装置。 ２）電極（８、９）および電極給電線（Ｏ＿１〜Ｏ＿ｎ
、Ｕ＿１〜Ｕ＿ｍ）は導電線から構成されるかまたは帯
状に形成されることを特徴とする請求項１記載の制御装
置。 ３）第１の電極（８、１０）と第２の電極（９、１１）
とはガス放電路（６、７）内の異なった高さ位置に配置
されることを特徴とする請求項１記載の制御装置。 ４）第１の電極給電線（Ｏ＿１〜Ｏ＿ｎ）と第２の電極
給電線（Ｕ＿１〜Ｕ＿ｍ）とは交差して配置されること
を特徴とする請求項１記載の制御装置。 ５）第１の電極給電線（Ｏ＿１〜Ｏ＿ｎ）と第２の電極
給電線（Ｕ＿１〜Ｕ＿ｍ）とは４５°の角度で交差する
ことを特徴とする請求項４記載の制御装置。 ６）電極給電線（Ｏ、Ｕ）は膜回路の導体路によって形
成されることを特徴とする請求項５記載の制御装置。 ７）選択されたガス放電路（６、７）の第１の電極に導
かれる第１の電極給電線を除いて、全ての第１の電極給
電線（Ｏ＿１〜Ｏ＿ｎ）は互いに結合可能であることを
特徴とする請求項１記載の制御装置。 ８）選択されたガス放電路（６、７）の第２の電極に導
かれる第２の電極給電線を除いて、全ての第２の電極給
電線（Ｕ＿１〜Ｕ＿ｍ）は互いに結合可能であることを
特徴とする請求項１記載の制御装置。 ９）全てのガス放電路（６、７）はイオンビームによっ
て付勢可能であることを特徴とする請求項１記載の制御
装置。 １０）試験点（Ｐ＿１）に所属するガス放電路内で制御
ガス放電が点弧され、一方では試験点上に位置して試験
点（Ｐ＿１）が所属する導体路上に位置するのではない
全ての下部電極給電線（Ｕ＿１〜Ｕ＿ｍ）と、他方では
制御ガス放電との間に、試験点（Ｐ＿１）とどれか１つ
の他の試験点（Ｐ＿２〜Ｐ＿ｎ）との間に導電結合が形
成されている場合にはそれらに所属する下部電極給電線
と試験点との間にガス放電を点弧させるのに充分である
電圧（Ｕ＿ｐ）が印加され、それによりこれらの電極か
らガス放電および導電結合を介して制御ガス放電へ流れ
る電流が生ぜしめられることを特徴とする、１つの試験
点（Ｐ＿１）を他の全ての導体路に対して絶縁試験する
ための請求項１記載の制御装置。 １１）ガス放電路（６、７）はプリント板技術において
通常用いられる格子寸法にて配置されることを特徴とす
る請求項１記載の制御装置。 １２）試験装置全体は試験すべき配線板に対して９０°
回動可能であり、試験は回動しない位置と回動した位置
とで行われ得ることを特徴とする請求項１記載の制御装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3743390.3 | 1987-12-21 | ||
| DE3743390 | 1987-12-21 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH022969A true JPH022969A (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=6343182
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63318370A Pending JPH022969A (ja) | 1987-12-21 | 1988-12-16 | 配線板の電気的機能試験装置の制御装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4967149A (ja) |
| EP (1) | EP0322607B1 (ja) |
| JP (1) | JPH022969A (ja) |
| AT (1) | ATE104059T1 (ja) |
| CA (1) | CA1294373C (ja) |
| DE (1) | DE3888946D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004068155A1 (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Agilent Technologies, Inc. | プローブ装置及びそれを用いたディスプレイ基板の試験装置 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3927842A1 (de) * | 1989-08-23 | 1991-02-28 | Siemens Ag | Vorrichtung fuer die elektrische funktionspruefung von verdrahtungsfeldern, insbesondere von leiterplatten |
| EP0498007A1 (en) * | 1991-02-06 | 1992-08-12 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for contactless testing |
| DE4310573A1 (de) * | 1993-03-31 | 1994-10-06 | Siemens Ag | Plasmaadapter mit Matrixadressierung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten |
| US5392527A (en) * | 1993-07-12 | 1995-02-28 | Wheelabrator Engineered Systems, Inc. | Annulus measuring device |
| JPH07140209A (ja) * | 1993-09-20 | 1995-06-02 | Fujitsu Ltd | 回路配線基板の検査装置およびその検査方法 |
| US5587664A (en) * | 1995-07-12 | 1996-12-24 | Exsight Ltd. | Laser-induced metallic plasma for non-contact inspection |
| US5818239A (en) * | 1997-03-05 | 1998-10-06 | International Business Machines Corporation | Simplified contactless test of MCM thin film I/O nets using a plasma |
| US6118285A (en) * | 1998-01-28 | 2000-09-12 | Probot, Inc | Non-contact plasma probe for testing electrical continuity of printed wire boards |
| US6566887B2 (en) * | 2000-06-07 | 2003-05-20 | Cirris Systems Corporation | Method and device for detecting and locating insulation/isolation defects between conductors |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4507605A (en) * | 1982-05-17 | 1985-03-26 | Testamatic, Incorporated | Method and apparatus for electrical and optical inspection and testing of unpopulated printed circuit boards and other like items |
| DE3231598A1 (de) * | 1982-08-25 | 1984-03-01 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und vorrichtung zur elektrischen pruefung von mikroverdrahtungen |
| DE3235119A1 (de) * | 1982-09-22 | 1984-03-22 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Anordnung fuer die pruefung von mikroverdrahtungen und verfahren zu ihrem betrieb |
| DE3671106D1 (de) * | 1985-09-04 | 1990-06-13 | Siemens Ag | Vorrichtung fuer die elektrische funktionspruefung von verdrahtungsfeldern, insbesondere von leiterplatten. |
| EP0216135B1 (de) * | 1985-09-04 | 1990-05-09 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung für die elektrische Funktionsprüfung von Verdrahtungsfeldern, insbesondere von Leiterplatten |
-
1988
- 1988-12-07 EP EP88120462A patent/EP0322607B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1988-12-07 AT AT88120462T patent/ATE104059T1/de not_active IP Right Cessation
- 1988-12-07 DE DE88120462T patent/DE3888946D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-16 JP JP63318370A patent/JPH022969A/ja active Pending
- 1988-12-19 US US07/286,347 patent/US4967149A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-12-19 CA CA000586286A patent/CA1294373C/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004068155A1 (ja) * | 2003-01-27 | 2004-08-12 | Agilent Technologies, Inc. | プローブ装置及びそれを用いたディスプレイ基板の試験装置 |
| US7151384B2 (en) | 2003-01-27 | 2006-12-19 | Agilent Technologies, Inc. | Probe device and display substrate testing apparatus using same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3888946D1 (de) | 1994-05-11 |
| EP0322607B1 (de) | 1994-04-06 |
| ATE104059T1 (de) | 1994-04-15 |
| CA1294373C (en) | 1992-01-14 |
| US4967149A (en) | 1990-10-30 |
| EP0322607A2 (de) | 1989-07-05 |
| EP0322607A3 (en) | 1989-07-19 |
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