JPH0229997B2 - - Google Patents
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- JPH0229997B2 JPH0229997B2 JP58186370A JP18637083A JPH0229997B2 JP H0229997 B2 JPH0229997 B2 JP H0229997B2 JP 58186370 A JP58186370 A JP 58186370A JP 18637083 A JP18637083 A JP 18637083A JP H0229997 B2 JPH0229997 B2 JP H0229997B2
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- G01V3/00—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
- G01V3/08—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices
- G01V3/10—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils
- G01V3/104—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils using several coupled or uncoupled coils
- G01V3/105—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils using several coupled or uncoupled coils forming directly coupled primary and secondary coils or loops
- G01V3/107—Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation operating with magnetic or electric fields produced or modified by objects or geological structures or by detecting devices using induction coils using several coupled or uncoupled coils forming directly coupled primary and secondary coils or loops using compensating coil or loop arrangements
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Description
【発明の詳細な説明】
＜本発明の産業上の利用分野＞
本発明は、被検査体に混入した金属を検出する
金属検出装置に関し、特に、被検査体の材質自体
による金属検出への悪影響を低減するための調整
を、金属検査中に自動的に行ない得るようにした
金属検出装置に関する。
金属検出装置に関し、特に、被検査体の材質自体
による金属検出への悪影響を低減するための調整
を、金属検査中に自動的に行ない得るようにした
金属検出装置に関する。
＜従来技術＞
製品（例えばハム、ソーセージ、みそなど）中
に混入した微小な金属を検出するなどの目的で用
いられる金属検出装置は、一般に第１図に示す検
出原理によつている。
に混入した微小な金属を検出するなどの目的で用
いられる金属検出装置は、一般に第１図に示す検
出原理によつている。
第１図において、１は検出部で、発振器からの
交番信号を与えられて交番磁界を発生させる送信
コイルＰと、この送信コイルＰに対向して、送信
コイルＰによる交番磁界の磁力線が等量交わり、
交番磁界によつて生じる誘起電圧Ｅ１，Ｅ２が等
しくなるように配置された二つの受信コイルＳ
１，Ｓ２とを備えている。
交番信号を与えられて交番磁界を発生させる送信
コイルＰと、この送信コイルＰに対向して、送信
コイルＰによる交番磁界の磁力線が等量交わり、
交番磁界によつて生じる誘起電圧Ｅ１，Ｅ２が等
しくなるように配置された二つの受信コイルＳ
１，Ｓ２とを備えている。
このように配置された送信コイルＰと受信コイ
ルＳ１，Ｓ２との間を一方の受信コイルＳ１から
他方の受信コイルＳ２方向へと、所定速度で被検
査体Ｗを搬送装置（図示せず）によつて搬送す
る。
ルＳ１，Ｓ２との間を一方の受信コイルＳ１から
他方の受信コイルＳ２方向へと、所定速度で被検
査体Ｗを搬送装置（図示せず）によつて搬送す
る。
被検査体Ｗ中に金属が混入していれば、金属に
よつて磁力線に変化が生じる。
よつて磁力線に変化が生じる。
即ち、被検査体Ｗに鉄が混入している場合に
は、第２図に示すように、被検査体Ｗが例えば受
信コイルＳ１を通過するとき鉄の存在によつて磁
路が変形されて、受信コイルＳ１に交わる磁力線
の誘起電圧Ｅ２より大となる。
は、第２図に示すように、被検査体Ｗが例えば受
信コイルＳ１を通過するとき鉄の存在によつて磁
路が変形されて、受信コイルＳ１に交わる磁力線
の誘起電圧Ｅ２より大となる。
非鉄金属が混入している場合には、第３図に示
すように、非鉄金属内に渦電流が流れ、渦電流の
エネルギーとして電磁束が消費されて、一方の受
信コイルＳ１に交わる磁力線が減り、誘起電圧Ｅ
１が減り、他方の受信コイルＳ２の誘起電圧Ｅ２
より小となる。
すように、非鉄金属内に渦電流が流れ、渦電流の
エネルギーとして電磁束が消費されて、一方の受
信コイルＳ１に交わる磁力線が減り、誘起電圧Ｅ
１が減り、他方の受信コイルＳ２の誘起電圧Ｅ２
より小となる。
このように被検査体Ｗ中に金属が混入している
場合には、検出部通過時に第１、第２の受信コイ
ルＳ１，Ｓ２の誘起電圧Ｅ１，Ｅ２に差が生じ、
この両者の差電圧を不平衡信号として出力して金
属を検出している。
場合には、検出部通過時に第１、第２の受信コイ
ルＳ１，Ｓ２の誘起電圧Ｅ１，Ｅ２に差が生じ、
この両者の差電圧を不平衡信号として出力して金
属を検出している。
しかして、このような磁力線への影響は、被検
査体Ｗの材質自体によつても生じる。即ち、例え
ばハムなどの場合には、物体中の水分や塩分が導
電性を有するため磁力線に変化が生じ、不平衡出
力として現われる。このため微量の金属まで高精
度に検出するには、この被検査体の材質自体によ
る影響（マテリアル・エフエクト）をできるだけ
低減することが必要である。
査体Ｗの材質自体によつても生じる。即ち、例え
ばハムなどの場合には、物体中の水分や塩分が導
電性を有するため磁力線に変化が生じ、不平衡出
力として現われる。このため微量の金属まで高精
度に検出するには、この被検査体の材質自体によ
る影響（マテリアル・エフエクト）をできるだけ
低減することが必要である。
しかして、前記したように、金属のうち鉄の場
合の非鉄金属の場合とでは、誘起電圧の変動に関
して逆の現象が生じており、送信コイルに印加さ
れる交番信号の位相と検出感度との関係は、鉄の
場合と非鉄金属の場合とでは、異なる位相でそれ
ぞれ最良の検出感度となる。
合の非鉄金属の場合とでは、誘起電圧の変動に関
して逆の現象が生じており、送信コイルに印加さ
れる交番信号の位相と検出感度との関係は、鉄の
場合と非鉄金属の場合とでは、異なる位相でそれ
ぞれ最良の検出感度となる。
このため、金属検出装置では、二つの受信コイ
ルから出力される耳電圧信号を、送信コイルを駆
動する発振器の交番信号から作つた基準位相信号
の位相を変化させて、あるいは、受信コイルの同
調回路の位相を変化させて、誘起電圧信号と基準
位相信号とを相対的に調整して検波して不平衡検
波信号を得ている。しかして、被検査体の材質に
よる影響も、同様に位相によつて影響の度合が異
なるので、被検査体の種類ごとに、影響の度合が
最小となる位相に調整する必要がある。
ルから出力される耳電圧信号を、送信コイルを駆
動する発振器の交番信号から作つた基準位相信号
の位相を変化させて、あるいは、受信コイルの同
調回路の位相を変化させて、誘起電圧信号と基準
位相信号とを相対的に調整して検波して不平衡検
波信号を得ている。しかして、被検査体の材質に
よる影響も、同様に位相によつて影響の度合が異
なるので、被検査体の種類ごとに、影響の度合が
最小となる位相に調整する必要がある。
このため従来の金属検出装置では、被検査体の
種類が変るごとに、金属検出のために被検査体を
連続的に搬送するラインを一旦ストツプさせて、
基準位相信号の位相又は同調回路の位相を、種々
手動で変化せながら、金属の混入していない良品
の被検査体をサンプルとして送信コイルと受信コ
イルの間を何度も通過させて、被検査体の材質自
体による不平衡信号の出力レベルが最小となるよ
うに、位相の手動調整を行なつていた。
種類が変るごとに、金属検出のために被検査体を
連続的に搬送するラインを一旦ストツプさせて、
基準位相信号の位相又は同調回路の位相を、種々
手動で変化せながら、金属の混入していない良品
の被検査体をサンプルとして送信コイルと受信コ
イルの間を何度も通過させて、被検査体の材質自
体による不平衡信号の出力レベルが最小となるよ
うに、位相の手動調整を行なつていた。
また、同種の被検査体であつても、ラインによ
つて順次搬送されてくる被検査体が、次第に大き
なものに変化したり、あるいは小さなもの変化す
る場合がある。また、被検査体に含まれる水分や
塩分の量が次第に変化する場合がある。これらの
場合にも、被検査体の材質自体による不平衡出力
のレベルが変化するから、こらの場合にも、その
度にライン一旦ストツプさせて、手動による位相
調整を行なつていた。
つて順次搬送されてくる被検査体が、次第に大き
なものに変化したり、あるいは小さなもの変化す
る場合がある。また、被検査体に含まれる水分や
塩分の量が次第に変化する場合がある。これらの
場合にも、被検査体の材質自体による不平衡出力
のレベルが変化するから、こらの場合にも、その
度にライン一旦ストツプさせて、手動による位相
調整を行なつていた。
また、温度の変化によつても、被検査体の材質
自体による不平衡出力レベルは変化するので、温
度変化の場合にも、ラインをストツプさせて、手
動による位相調整をおこになつていた。
自体による不平衡出力レベルは変化するので、温
度変化の場合にも、ラインをストツプさせて、手
動による位相調整をおこになつていた。
＜本発明が解決しようとする問題＞
しかしながら、このように被検査体の種類が変
るごとにラインを一旦ストツプさせて、金属の含
まれていないサンプルを何度も通過させつつ手動
調整する方法は、極めて煩雑で多大な時間がかか
り、ラインを一旦ストツプさせるため、金属検出
の作業能率が著しく低下するばかりでなく、高精
度の調整は困難であつた。
るごとにラインを一旦ストツプさせて、金属の含
まれていないサンプルを何度も通過させつつ手動
調整する方法は、極めて煩雑で多大な時間がかか
り、ラインを一旦ストツプさせるため、金属検出
の作業能率が著しく低下するばかりでなく、高精
度の調整は困難であつた。
また、前記したように同種の被検査体であつて
も、次第に大きさや含まれる水分や塩分の量が変
化したり、あるいは、環境温度が変化した場合
に、その都度、ラインをストツプさせて手動調整
するのは、極めて煩雑であるばかりでなく、これ
らに関する変化を常に監視しつつ、この変化その
都度追従して手動調整することは、事実上不可能
であつた。
も、次第に大きさや含まれる水分や塩分の量が変
化したり、あるいは、環境温度が変化した場合
に、その都度、ラインをストツプさせて手動調整
するのは、極めて煩雑であるばかりでなく、これ
らに関する変化を常に監視しつつ、この変化その
都度追従して手動調整することは、事実上不可能
であつた。
本発明はこれらの問題点を解決し、被検査体の
種類の変化、同種における前記した大きさや水
分、塩分どの変化、あるいは温度などの変化が生
じても、何らラインをストツプさせることなく、
手動調整を要さず、金属検出動作を継続したまま
自動的に被検査体の材質自体による出力レベルが
最小となるように位相の調整ができるようにした
金属検出装置を提供するこを目的としている。
種類の変化、同種における前記した大きさや水
分、塩分どの変化、あるいは温度などの変化が生
じても、何らラインをストツプさせることなく、
手動調整を要さず、金属検出動作を継続したまま
自動的に被検査体の材質自体による出力レベルが
最小となるように位相の調整ができるようにした
金属検出装置を提供するこを目的としている。
＜前記問題点を解決するための手段＞
前記問題点を解決するために本発明の金属検出
装置では、 交番磁界を発生する送信コイルと、該送信コイ
ルに対向させて前記交番磁界を受信するように配
置された第１、第２の受信コイルとを備えた検出
部と、 前記送信コイルと前記第１、第２の受信コイル
との間を被検査体を通過させた場合に生ずる前記
第１、第２の受信コイルの誘起電圧の位相変動を
基準位相と比較して不平衡検波信号を出力する検
波回路と、 前記被検査体の材質による前記不平衡検波信号
への影響を低減するために、前記受信コイルの誘
起電圧の位相と前記基準位相とを相対的に調整す
るための位相調整回路と、 前記被検査体が通過するごとに前記不平衡検波
信号のピーク値をホールドするピークホールド回
路と、 金属有無の判定のための基準値が予め設定され
た基準値設定器と、 前記ピークホールド回路からのピーク出力値を
前記基準値と比較し、該ピーク出力値が前記基準
値以上の場合には金属有信号を出力し、それ以外
の場合には金属無信号を出力する金属有無判定回
路と、 前記金属有無判定回路から前記金属無信号を受
けるごとに前記ピークホールド回路からのピーク
出力値を記憶する共に、今回記憶された該ピーク
出力値を前回に金属無信号を受けたときに記憶さ
れたピーク出力値と比較し、前回に記憶されたピ
ーク出力値以上の場合には逆方向信号を出力し、
それ以外の場合には順方向信号を出力するピーク
値比較回路と、 前記位相調整回路へ前回出力した位相制御信号
が位相進み方向制御信号、位相遅れ方向制御信号
のいずれであるかを記憶すると共に、前記ピーク
値比較回路から前記逆方向信号を受けた場合には
前回の位相制御方向とは逆方向の位相制御信号
を、前記順方向信号を受けた場合には前回の制御
方向と同位相方向への位相制御信号を、前記位相
調整回路へ出力して前記位相調整回路の位相を制
御する位相制御回路とを具備し、 前記金属有無判定回路からの前記金属無信号が
出力されると、前記位相制御回路によつて前記位
相調整回路の位相を前記ピークホールド回路から
のピーク値出力値が小さくなる方向へ制御するよ
うにしたこと を特徴としている。
装置では、 交番磁界を発生する送信コイルと、該送信コイ
ルに対向させて前記交番磁界を受信するように配
置された第１、第２の受信コイルとを備えた検出
部と、 前記送信コイルと前記第１、第２の受信コイル
との間を被検査体を通過させた場合に生ずる前記
第１、第２の受信コイルの誘起電圧の位相変動を
基準位相と比較して不平衡検波信号を出力する検
波回路と、 前記被検査体の材質による前記不平衡検波信号
への影響を低減するために、前記受信コイルの誘
起電圧の位相と前記基準位相とを相対的に調整す
るための位相調整回路と、 前記被検査体が通過するごとに前記不平衡検波
信号のピーク値をホールドするピークホールド回
路と、 金属有無の判定のための基準値が予め設定され
た基準値設定器と、 前記ピークホールド回路からのピーク出力値を
前記基準値と比較し、該ピーク出力値が前記基準
値以上の場合には金属有信号を出力し、それ以外
の場合には金属無信号を出力する金属有無判定回
路と、 前記金属有無判定回路から前記金属無信号を受
けるごとに前記ピークホールド回路からのピーク
出力値を記憶する共に、今回記憶された該ピーク
出力値を前回に金属無信号を受けたときに記憶さ
れたピーク出力値と比較し、前回に記憶されたピ
ーク出力値以上の場合には逆方向信号を出力し、
それ以外の場合には順方向信号を出力するピーク
値比較回路と、 前記位相調整回路へ前回出力した位相制御信号
が位相進み方向制御信号、位相遅れ方向制御信号
のいずれであるかを記憶すると共に、前記ピーク
値比較回路から前記逆方向信号を受けた場合には
前回の位相制御方向とは逆方向の位相制御信号
を、前記順方向信号を受けた場合には前回の制御
方向と同位相方向への位相制御信号を、前記位相
調整回路へ出力して前記位相調整回路の位相を制
御する位相制御回路とを具備し、 前記金属有無判定回路からの前記金属無信号が
出力されると、前記位相制御回路によつて前記位
相調整回路の位相を前記ピークホールド回路から
のピーク値出力値が小さくなる方向へ制御するよ
うにしたこと を特徴としている。
＜作用＞
このようにしたため、本発明の金属検出装置で
は、 被検査体が通過する度に、ピークホールド回路
の出力値は予め設定した基準値と比較されて、金
属の有無が金属有無判定回路によつて判定され
る。
は、 被検査体が通過する度に、ピークホールド回路
の出力値は予め設定した基準値と比較されて、金
属の有無が金属有無判定回路によつて判定され
る。
金属無の場合には、ピーク値比較回路は金属有
無判定回路からの金属無信号によつてピークホー
ルド回路からのピーク出力値を記憶する。
無判定回路からの金属無信号によつてピークホー
ルド回路からのピーク出力値を記憶する。
ピーク値比較回路は、この金属無時のピーク出
力値（即ち基準値より小さいピーク出力値）を、
前回の金属無時に記憶したピーク出力値を比較
し、前回の記憶値以上なら逆方向信号を出力し、
そうでなければ順方向信号を出力する。
力値（即ち基準値より小さいピーク出力値）を、
前回の金属無時に記憶したピーク出力値を比較
し、前回の記憶値以上なら逆方向信号を出力し、
そうでなければ順方向信号を出力する。
位相制御回路は、前回において前記位相調整回
路の位相を進み位相、遅れ位相のいずれに制御し
たかを記憶していて、前記逆方向信号を受けると
前回とは逆方向に、順方向信号を受けると前回と
同方向に位相制御する。
路の位相を進み位相、遅れ位相のいずれに制御し
たかを記憶していて、前記逆方向信号を受けると
前回とは逆方向に、順方向信号を受けると前回と
同方向に位相制御する。
即ち、金属無の時のピーク出力値は被検査体の
材質自体によつて生じた不平衡出力であり、この
金属無時のピーク出力値が前回より今回の方が増
加しているら、前回の位相制御方向とは逆方向に
位相制御にするから、被検査体材質による不平衡
出力は減少する方向に制御される。前回より今回
の方が減少しているなら、前回の位相制御方向と
胴方向に位相制御するから、被検査体材質による
不平衡出力はさらに減少する方向に制御される。
材質自体によつて生じた不平衡出力であり、この
金属無時のピーク出力値が前回より今回の方が増
加しているら、前回の位相制御方向とは逆方向に
位相制御にするから、被検査体材質による不平衡
出力は減少する方向に制御される。前回より今回
の方が減少しているなら、前回の位相制御方向と
胴方向に位相制御するから、被検査体材質による
不平衡出力はさらに減少する方向に制御される。
従つて、金属検出において金属が被検査体に含
まれていない時には、被検査の材質自体による不
平衡出力は常に減少する方向に制御されるから、
被検査体の種類が変つても、被検査体の大きさ、
水分、塩分の量が変つても、温度が変つても、ラ
インをストツプさせることなく、被検査体を順次
通過させ続けるだけで自動的に調整される。
まれていない時には、被検査の材質自体による不
平衡出力は常に減少する方向に制御されるから、
被検査体の種類が変つても、被検査体の大きさ、
水分、塩分の量が変つても、温度が変つても、ラ
インをストツプさせることなく、被検査体を順次
通過させ続けるだけで自動的に調整される。
＜本発明の実施例＞
第４図は本発明による金属検出装置の一実施例
のブロツク図である。
のブロツク図である。
同図において、１１は所定周波数の発振信号を
出力する発振器である。１２は該発振信号で駆動
されて交番磁界を発生する送信コイルＰと、これ
に対向して交番磁界の磁力線が等量交わつて各誘
起電圧が等しくなるよに配置された第１、第２の
受信コイルＳ１，Ｓ２とを備えた検出部である。
出力する発振器である。１２は該発振信号で駆動
されて交番磁界を発生する送信コイルＰと、これ
に対向して交番磁界の磁力線が等量交わつて各誘
起電圧が等しくなるよに配置された第１、第２の
受信コイルＳ１，Ｓ２とを備えた検出部である。
１３は受信コイルＳ１，Ｓ２の同調回路であ
る。
る。
１５は、発振器１１の発振信号の位相を調整し
て基準位相信号として出力する移相回路である。
て基準位相信号として出力する移相回路である。
同調回路１３と移動位相回路１５とは、後述す
る位相制御信号によつて位相調整される位相調整
回路２５を構成し、例えばこの同調回路１３のコ
ンデンサの容量を切換スイツチで切換えることに
よつて受信コイルの誘起電圧の位相を変化できる
ように構成してもよく、あるいは、その代りに移
相器１５を位相制御信号によつて基準位相信号の
位相を変化させるように構成してもよい。
る位相制御信号によつて位相調整される位相調整
回路２５を構成し、例えばこの同調回路１３のコ
ンデンサの容量を切換スイツチで切換えることに
よつて受信コイルの誘起電圧の位相を変化できる
ように構成してもよく、あるいは、その代りに移
相器１５を位相制御信号によつて基準位相信号の
位相を変化させるように構成してもよい。
１４は同調回路１３から出力される受信コイル
Ｓ１，Ｓ２からの差電圧信号を増幅する交流増幅
回路がある。
Ｓ１，Ｓ２からの差電圧信号を増幅する交流増幅
回路がある。
１６は、交流増幅回路１４からの差電圧信号を
移相回路１５からの基準位相と比較して不平衡検
波信号を出力する検波回路である。１７は検波回
路１６からの不平衡検波信号を増幅する直流増幅
回路である。
移相回路１５からの基準位相と比較して不平衡検
波信号を出力する検波回路である。１７は検波回
路１６からの不平衡検波信号を増幅する直流増幅
回路である。
１９は被検査体Ｗが検出部１２を通過する際
に、これを検知して検知信号を出力する物体検知
器である。
に、これを検知して検知信号を出力する物体検知
器である。
１８は、物体検知器１９からの検知信号を受け
るごとに（即ち被検査体の通過ごとに）、直流増
幅回路１７の出力信号のピーク値をホールドする
ピークホールド回路である。
るごとに（即ち被検査体の通過ごとに）、直流増
幅回路１７の出力信号のピーク値をホールドする
ピークホールド回路である。
２０は、ピークホールド回路１８のピーク出力
値をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路である。
値をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路である。
２２は、予め定めた金属有無の判定のための基
準値（被検査体の種類によつて異なる所定の値）
が設定された基準値設定器である。
準値（被検査体の種類によつて異なる所定の値）
が設定された基準値設定器である。
２１は、Ａ／Ｄ変換回路２０を経たピークホー
ルド回路１８からのピーク出力値を受けて、これ
を前記基準値と比較し、ピーク出力値が前記基準
値以上の場合に金属有信号を出力し、それ以外の
場合には金属無信号を出力する金属有無判定回路
である。
ルド回路１８からのピーク出力値を受けて、これ
を前記基準値と比較し、ピーク出力値が前記基準
値以上の場合に金属有信号を出力し、それ以外の
場合には金属無信号を出力する金属有無判定回路
である。
２３は、
金属有無判定回路２１からの金属無信号を受け
ると、Ａ／Ｄ変換回路２０を経たピークホールド
回路１８からのピーク出力値を新たに記憶する第
１の記憶器と、 この第１の記憶器に新たにピーク出力値（即ち
今回のピーク出力値）が記憶される時に、今まで
第１の記憶器に記憶されていた記憶値（即ち前回
のピーク出力値）が記憶される第２の記憶器と、 この第１、第２の記憶器のピーク出力値を比較
し、第１の記憶器に記憶された今回のピーク出力
値が、第２の記憶器に記憶された前回のピーク出
力値以上の場合には、逆方向信号を出力し、それ
以外の場合には、順方向信号を出する比較器と を有するピーク値比較回路である。
ると、Ａ／Ｄ変換回路２０を経たピークホールド
回路１８からのピーク出力値を新たに記憶する第
１の記憶器と、 この第１の記憶器に新たにピーク出力値（即ち
今回のピーク出力値）が記憶される時に、今まで
第１の記憶器に記憶されていた記憶値（即ち前回
のピーク出力値）が記憶される第２の記憶器と、 この第１、第２の記憶器のピーク出力値を比較
し、第１の記憶器に記憶された今回のピーク出力
値が、第２の記憶器に記憶された前回のピーク出
力値以上の場合には、逆方向信号を出力し、それ
以外の場合には、順方向信号を出する比較器と を有するピーク値比較回路である。
２４は、
位相調整回路２５（同調回路１３または移相回
路１５のいずれか）へ前回出力した位相制御信号
が進み位相方向（コンデンサの容量を大にする方
向）の制御であるか、遅れ位相方向（コンデンサ
の容量を小にする方向）の制御であるかを記憶す
る第３の記憶器と、 前記ピーク値比較回路２３から前記逆方向信号
を受けると、この第３の記憶器に記憶された前回
の制御方向とは逆位相方向の位相制御信号を位相
調整回路２５へ出力し、前記順方向信号を受ける
と、前回の制御方向と同位相方向の位相制御信号
を位相調整回路２５へ出力する制御信号出力回路
と を有する位相制御回路である。次に上記実施例の
動作について説明する。
路１５のいずれか）へ前回出力した位相制御信号
が進み位相方向（コンデンサの容量を大にする方
向）の制御であるか、遅れ位相方向（コンデンサ
の容量を小にする方向）の制御であるかを記憶す
る第３の記憶器と、 前記ピーク値比較回路２３から前記逆方向信号
を受けると、この第３の記憶器に記憶された前回
の制御方向とは逆位相方向の位相制御信号を位相
調整回路２５へ出力し、前記順方向信号を受ける
と、前回の制御方向と同位相方向の位相制御信号
を位相調整回路２５へ出力する制御信号出力回路
と を有する位相制御回路である。次に上記実施例の
動作について説明する。
まず被検査体の種類に応じて同調回路１３の粗
調整用の手動スイツチ（図示せず）を切換える。
調整用の手動スイツチ（図示せず）を切換える。
発振器１１の発振信号によつて送信コイルＰは
交番磁界を生じる。複数の被検査体Ｗが１個ずつ
順次送信コイルＰと第１、第２の受信コイルＳ
１，Ｓ２間を通過すると、これによつて受信コイ
ル側に差電圧信号が生じる。この差電圧信号は交
流増幅回路１４で増幅され、その位相が移相器１
５からの基準位相と検波回路１６で比較されて不
平衡検波信号が出力される。検波回路１６から出
力された不平衡検波信号は、直流増幅回路１７で
増幅され、被検査体Ｗが１個通過するごとに、物
体検知器１９からの検知信号を受けて、この１個
の被検査体についてのピーク出力値がピークホー
ルド回路１８でホールドされ、このピーク出力値
がＡ／Ｄ変換回路２０でＡ／Ｄ変換される。
交番磁界を生じる。複数の被検査体Ｗが１個ずつ
順次送信コイルＰと第１、第２の受信コイルＳ
１，Ｓ２間を通過すると、これによつて受信コイ
ル側に差電圧信号が生じる。この差電圧信号は交
流増幅回路１４で増幅され、その位相が移相器１
５からの基準位相と検波回路１６で比較されて不
平衡検波信号が出力される。検波回路１６から出
力された不平衡検波信号は、直流増幅回路１７で
増幅され、被検査体Ｗが１個通過するごとに、物
体検知器１９からの検知信号を受けて、この１個
の被検査体についてのピーク出力値がピークホー
ルド回路１８でホールドされ、このピーク出力値
がＡ／Ｄ変換回路２０でＡ／Ｄ変換される。
そして、Ａ／Ｄ変換されたこのピーク出力値が
金属有無判定回路２１で基準値と比較され、基準
値以上の場合には、金属有信号が出力される。そ
れ以外の場合には、金属が含まれていないことを
示す金属無信号が出力される。
金属有無判定回路２１で基準値と比較され、基準
値以上の場合には、金属有信号が出力される。そ
れ以外の場合には、金属が含まれていないことを
示す金属無信号が出力される。
ピーク値比較回路２３は、この金属無信号を受
けた時、Ａ／Ｄ変換されたピークホールド回路１
８のピーク出力値を、前記第１の記憶器に記憶す
ると共に、前回の金属無信号を受けた時のピーク
出力値を前記第２の記憶器に移し、これらの今回
と前回のピーク出力値を比較し、今回のピーク出
力値が前回以上の場合には、逆方向信号を、そう
でない場合には、順方向信号を位相調整回路２５
（例えば同調回路１３）へ送つて、受信コイルＳ
１，Ｓ２側の出力信号の位相を微調整させる。
けた時、Ａ／Ｄ変換されたピークホールド回路１
８のピーク出力値を、前記第１の記憶器に記憶す
ると共に、前回の金属無信号を受けた時のピーク
出力値を前記第２の記憶器に移し、これらの今回
と前回のピーク出力値を比較し、今回のピーク出
力値が前回以上の場合には、逆方向信号を、そう
でない場合には、順方向信号を位相調整回路２５
（例えば同調回路１３）へ送つて、受信コイルＳ
１，Ｓ２側の出力信号の位相を微調整させる。
即ち、位相調整回路２４は、今回のピーク出力
値が前回のピーク出力値以上となつた場合には前
回と逆位相方向へ位相制御信号を送り、今回のピ
ーク出力値が前回のピーク出力り小となつた場合
には前回と同位相方向へ位相制御信号を送る（第
５図のフローチヤートに示している。）。
値が前回のピーク出力値以上となつた場合には前
回と逆位相方向へ位相制御信号を送り、今回のピ
ーク出力値が前回のピーク出力り小となつた場合
には前回と同位相方向へ位相制御信号を送る（第
５図のフローチヤートに示している。）。
このようにピークホールド回路１８にホールド
されたピーク出力値が基準設定器２２に設定され
た基準値より小の場合には、被検査体中には金属
は混入しておらず、不平衡検波信号出力は被検査
体の材質自体による磁力線への影響のためと考え
られる。従つて、ピーク出力値が基準値より小の
場合には、このピーク出力値をピーク値比較回路
２２で順次比較し、そしてピーク値が前回より増
大した場合には、位相制御回路２４によつて前回
と逆方向に位相を変化させ、ピーク値が減少した
場合には前回と同一方向に位相を変化させるか
ら、金属無信号出力ごとに、不平衡検波信号出力
における被検査体の材質自体による影響は、位相
制御信号の出力ごとに低減する方向に常に自動的
に調整されることになる。従つて被検査体の種類
を変えても、ラインをストツプさせることなく、
検出動作中に自動的に最もマテリアル・エフエク
トが少なくなるように調整されることになる。ま
た、被検査体の大きさ、水分、塩分、温度などの
変化においても自動的に追随して調整される。
されたピーク出力値が基準設定器２２に設定され
た基準値より小の場合には、被検査体中には金属
は混入しておらず、不平衡検波信号出力は被検査
体の材質自体による磁力線への影響のためと考え
られる。従つて、ピーク出力値が基準値より小の
場合には、このピーク出力値をピーク値比較回路
２２で順次比較し、そしてピーク値が前回より増
大した場合には、位相制御回路２４によつて前回
と逆方向に位相を変化させ、ピーク値が減少した
場合には前回と同一方向に位相を変化させるか
ら、金属無信号出力ごとに、不平衡検波信号出力
における被検査体の材質自体による影響は、位相
制御信号の出力ごとに低減する方向に常に自動的
に調整されることになる。従つて被検査体の種類
を変えても、ラインをストツプさせることなく、
検出動作中に自動的に最もマテリアル・エフエク
トが少なくなるように調整されることになる。ま
た、被検査体の大きさ、水分、塩分、温度などの
変化においても自動的に追随して調整される。
また、直流増幅回路１７へ、ピーク値比較回路
２３の出力信号に基づいて増幅感度を制御する信
号を送つて制御するようにすれば、増幅感度も自
動調整できる。
２３の出力信号に基づいて増幅感度を制御する信
号を送つて制御するようにすれば、増幅感度も自
動調整できる。
またピーク値比較回路２３では１回ごとでな
く、所定回数置き、あるいは所定時間経過ごとに
判定するようにすることもできる。
く、所定回数置き、あるいは所定時間経過ごとに
判定するようにすることもできる。
＜本発明の効果＞
本発明は上記の如く構成されているので、被検
査体を順次搬送して金属検出動作を継続中におい
ても、被検査体の材質自体による不平衡出力が最
小となるように自動的に調整されるから、被検査
体を代えても、被検査体の大きさ、水分、塩分の
量の変化、環境温度の変化などが生じても、これ
らに追随して自動的に調整され、従来のようにこ
れらの変化の都度ラインをストツプさせて、金属
を含まないサンプルを何度も通過させつつ手動調
整する煩雑な多大な時間を要する調整作業が全く
不要となり、金属検出動作の能率が格段に向上で
き、常に種々の変化に追随して高い精度の金属検
出が可能となる。
査体を順次搬送して金属検出動作を継続中におい
ても、被検査体の材質自体による不平衡出力が最
小となるように自動的に調整されるから、被検査
体を代えても、被検査体の大きさ、水分、塩分の
量の変化、環境温度の変化などが生じても、これ
らに追随して自動的に調整され、従来のようにこ
れらの変化の都度ラインをストツプさせて、金属
を含まないサンプルを何度も通過させつつ手動調
整する煩雑な多大な時間を要する調整作業が全く
不要となり、金属検出動作の能率が格段に向上で
き、常に種々の変化に追随して高い精度の金属検
出が可能となる。
第１〜３図は金属検出装置の動作原理を示す
図、第４図は本発明の一実施例を示すブロツク
図、第５図は本発明の一実施例の要部の動作を示
すフローチヤートである。 １１……発振器、１２……検出部、１３……同
調回路、１５……移相回路、１６……検波回路、
１８……ピークホールド回路、１９……物体検知
回路、２０……Ａ／Ｄ変換回路、２１……金属有
無判定回路、２２……基準値設定器、２３……ピ
ーク値比較回路、２４……位相制御回路、２５…
…位相調整回路。
図、第４図は本発明の一実施例を示すブロツク
図、第５図は本発明の一実施例の要部の動作を示
すフローチヤートである。 １１……発振器、１２……検出部、１３……同
調回路、１５……移相回路、１６……検波回路、
１８……ピークホールド回路、１９……物体検知
回路、２０……Ａ／Ｄ変換回路、２１……金属有
無判定回路、２２……基準値設定器、２３……ピ
ーク値比較回路、２４……位相制御回路、２５…
…位相調整回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 交番磁界を発生する送信コイルと、該送信コ
イルに対向させて前記交番磁界を受信するように
配置された第１、第２の受信コイルとを備えた検
出部と、 前記送信コイルと前記第１、第２の受信コイル
との間を被検査体を通過させた場合に生ずる前記
第１、第２の受信コイルの誘起電圧の位相変動を
基準位相と比較して不平衡検波信号を出力する検
波回路と、 前記被検査体の材質による前記不平衡検波信号
への影響を低減するために、前記受信コイルの誘
起電圧の位相と前記基準位相とを相対的に調整す
るための位相調整回路と、 前記被検査体が通過するごとに前記不平衡検波
信号のピーク値をホールドするピークホールド回
路と、 金属有無の判定のための基準値が予め設定され
た基準値設定器と、 前記ピークホールド回路からのピーク出力値を
前記基準値と比較し、該ピーク出力値が前記基準
値以上の場合には金属有信号を出力し、それ以外
の場合には金属無信号を出力する金属有無判定回
路と、 前記金属有無判定回路から前記金属無信号を受
けるごとに前記ピークホールド回路からのピーク
出力値を記憶すると共に、今回記憶された該ピー
ク出力値を前回に金属無信号を受けたときに記憶
されたピーク出力値と比較し、前回に記憶された
ピーク出力値以上の場合には逆方向信号を出力
し、それ以外の場合には順方向信号を出力するピ
ーク値比較回路と、 前記位相調整回路へ前回出力した位相制御信号
が位相進み方向制御信号、位相遅れ方向制御信号
のいずれであるかを記憶すると共に、前記ピーク
値比較回路から前記逆方向信号を受けた場合には
前回の位相制御方向とは逆方向の位相制御信号
を、前記順方向信号を受けた場合には前回の制御
方向と同位相方向への位相制御信号を、前記位相
調整回路へ出力して前記位相調整回路の位相を制
御する位相制御回路とを具備し、 前記金属有無判定回路からの前記金属無信号が
出力されると、前記位相制御回路によつて前記位
相調整回路の位相を前記ピークホールド回路から
のピーク値出力値が小さくなる方向へ制御するよ
うにしたことを特徴とする金属検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58186370A JPS6078378A (ja) | 1983-10-05 | 1983-10-05 | 金属検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58186370A JPS6078378A (ja) | 1983-10-05 | 1983-10-05 | 金属検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6078378A JPS6078378A (ja) | 1985-05-04 |
| JPH0229997B2 true JPH0229997B2 (ja) | 1990-07-03 |
Family
ID=16187190
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58186370A Granted JPS6078378A (ja) | 1983-10-05 | 1983-10-05 | 金属検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6078378A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4644286A (en) * | 1985-09-17 | 1987-02-17 | Allied Corporation | Article surveillance system receiver using synchronous demodulation and signal integration |
| JPH0518716Y2 (ja) * | 1987-08-07 | 1993-05-18 | ||
| JPS6454281A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Anritsu Corp | Metal detecting apparatus |
| JPH0619469B2 (ja) * | 1988-04-13 | 1994-03-16 | 大和製衡株式会社 | 金属等の異物混入検出器 |
| JPH0619470B2 (ja) * | 1988-07-26 | 1994-03-16 | 大和製衡株式会社 | 金属等の異物混入検出方法および検出器 |
| JPH0725735Y2 (ja) * | 1989-03-31 | 1995-06-07 | アンリツ株式会社 | 金属検出機 |
| JPH089653Y2 (ja) * | 1989-04-12 | 1996-03-21 | ティーディーケイ株式会社 | トナー検知用センサ回路 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1194177A (en) * | 1981-02-09 | 1985-09-24 | Kerr (Goring) Limited | Metal detection apparatus |
| JPS5820944U (ja) * | 1981-08-01 | 1983-02-09 | 株式会社カ−メイト | 自動車用スキ−キャリア |
-
1983
- 1983-10-05 JP JP58186370A patent/JPS6078378A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6078378A (ja) | 1985-05-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |