JPH02302932A - 光記録再生方式 - Google Patents
光記録再生方式Info
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- JPH02302932A JPH02302932A JP1122481A JP12248189A JPH02302932A JP H02302932 A JPH02302932 A JP H02302932A JP 1122481 A JP1122481 A JP 1122481A JP 12248189 A JP12248189 A JP 12248189A JP H02302932 A JPH02302932 A JP H02302932A
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- laser
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、書き換え型光記録媒体にレーザービームを
微小スポットに集束して信号の記録、再生、または書き
換えを行う方法に関する。
微小スポットに集束して信号の記録、再生、または書き
換えを行う方法に関する。
近年、情報記録の高密度化、大容量化(・こ対する要求
が高まり、国内外でその研究開発が盛んに行われている
が 、J二<に半導体レーザーを光源として用いる記録
媒体としての光ディスクは従来の磁気配録媒体に比べて
およそ10〜100倍の記録密度を有し、しかも記録、
再生ヘッドと記録媒体とが非接触状態で情報の記録、再
生ができるために、記録媒体の損傷も少なく長寿命であ
るなどの特徴があることから膨大な情報量全記録、再生
する高密度、大容量の記録方式として有望である。
が高まり、国内外でその研究開発が盛んに行われている
が 、J二<に半導体レーザーを光源として用いる記録
媒体としての光ディスクは従来の磁気配録媒体に比べて
およそ10〜100倍の記録密度を有し、しかも記録、
再生ヘッドと記録媒体とが非接触状態で情報の記録、再
生ができるために、記録媒体の損傷も少なく長寿命であ
るなどの特徴があることから膨大な情報量全記録、再生
する高密度、大容量の記録方式として有望である。
この光ディスクは用途に応じて再生専用型、追記、書換
え型の6種類に大別することができる。
え型の6種類に大別することができる。
再生専用型は情報の読み出しのみが可能な再生専用ディ
スクであシ、追記型は必要に応じて情報を記録し再生す
ることはできるが、記録した情報の消去は不可能なもの
である。これに対して書換え型は情報の記録、再生とさ
らに記録済みの情報を消去して書換えることが可能であ
シ、コンピュータ用のデータファイルとしての利用が望
まれ最も期待の太きいものでちる。
スクであシ、追記型は必要に応じて情報を記録し再生す
ることはできるが、記録した情報の消去は不可能なもの
である。これに対して書換え型は情報の記録、再生とさ
らに記録済みの情報を消去して書換えることが可能であ
シ、コンピュータ用のデータファイルとしての利用が望
まれ最も期待の太きいものでちる。
書換え型のディスクについては、光磁気方式と相変化方
式の2つの記録方式の開発が進められているが、いずれ
の方式も記録材料や書込み機構などの点でなお改良の余
地が残されている。これらのうち、相変仕方式は一般に
レーザー光をディスクの記録面に集光して加熱し、レー
ザー光のパルス出力とパルス幅とを制御することによっ
て生ずる記録材料の相変化、すなわち結晶状態から非晶
質状態への移行などを起こさせ、それぞれの状態におけ
る反射率の違いで情報の記録と消去を行うものである。
式の2つの記録方式の開発が進められているが、いずれ
の方式も記録材料や書込み機構などの点でなお改良の余
地が残されている。これらのうち、相変仕方式は一般に
レーザー光をディスクの記録面に集光して加熱し、レー
ザー光のパルス出力とパルス幅とを制御することによっ
て生ずる記録材料の相変化、すなわち結晶状態から非晶
質状態への移行などを起こさせ、それぞれの状態におけ
る反射率の違いで情報の記録と消去を行うものである。
この相変化方式の光ディスクの構造については、通常多
くのトラッキング溝を設けた例えばポリカーボネートな
どの透明な基板表面に硫化亜鉛(ZnS )等のセラミ
ック層よりなる保護層を形成し、その上に光記録層を設
け、さらにその上にセラミック等よりなる保護層と有機
系の表面保物層を順次堆積した構造としである。また、
保護層と有機系表面保護層の間にアルミニウム(AI)
等の反射、冷却層をもうける事も行われている。反射、
冷却層はレーザー光を反射して光の利用効率を上げると
同時に結晶状態から非結晶状態への変化の際に溶融状態
からの冷却速度を上げ、 るためのものであ勺、この際
セラミック層は断熱6一 層として作用する。媒体の特性確保のためには、この断
熱層の厚さを最適値にする事が肝要である。
くのトラッキング溝を設けた例えばポリカーボネートな
どの透明な基板表面に硫化亜鉛(ZnS )等のセラミ
ック層よりなる保護層を形成し、その上に光記録層を設
け、さらにその上にセラミック等よりなる保護層と有機
系の表面保物層を順次堆積した構造としである。また、
保護層と有機系表面保護層の間にアルミニウム(AI)
等の反射、冷却層をもうける事も行われている。反射、
冷却層はレーザー光を反射して光の利用効率を上げると
同時に結晶状態から非結晶状態への変化の際に溶融状態
からの冷却速度を上げ、 るためのものであ勺、この際
セラミック層は断熱6一 層として作用する。媒体の特性確保のためには、この断
熱層の厚さを最適値にする事が肝要である。
レーザー光は基板の光記録層を有する側と反対の面から
入射させるのが普通である。通常の光ディスクでは、初
期状態では光記録材料を結晶状態とし、情報記録時には
これに記録レーザー光を照射して照射部全溶融した後、
急冷して非結晶状態の記録スポットを形成する。消去時
には、この非結晶状態の記録スポラトラレーザーにより
アニールして結晶状態へ戻す。また、再生時には記録ス
ポットの非結晶状態に変化を与えないよう記録レーザー
光より弱い強度の再生レーザー光を照射し、結晶状態と
非結晶状態とで異なるレーザー光の反射率を光検出素子
で検出して信号の再生が行れる。
入射させるのが普通である。通常の光ディスクでは、初
期状態では光記録材料を結晶状態とし、情報記録時には
これに記録レーザー光を照射して照射部全溶融した後、
急冷して非結晶状態の記録スポットを形成する。消去時
には、この非結晶状態の記録スポラトラレーザーにより
アニールして結晶状態へ戻す。また、再生時には記録ス
ポットの非結晶状態に変化を与えないよう記録レーザー
光より弱い強度の再生レーザー光を照射し、結晶状態と
非結晶状態とで異なるレーザー光の反射率を光検出素子
で検出して信号の再生が行れる。
信号の記録時には光記録層全その融点温度以上に昇温じ
て非結晶状態の記録スポット’に形成するために、記録
レーザー光は大きなエネルギーを必要とする。そこで一
般には出力数十mWの半導体レーザーが用いられる。こ
の種の半導体レーザーとして現在実用されているものは
波長約830nmの長波長大出力の半導体レーザーであ
シ、その出力レーザービームを光学系によって集束して
得られる記録レーザースポットの照射強度の分布および
これによって加熱される光記録層の温度分布は、第6図
に曲線100で光の強度分布を9曲線2゜Oで温度分布
を示すように、集光部の中心(図では横軸の0位置)K
ピーク値を有するガウス形の連続的分布を示すが、温度
分布の光記録層の面方向の広がりは、記録スポット外周
部の熱拡散が中央部のそれよ勺大きいために、記録レー
ザースポーツトの広が9に比べて小さくなシ、曲線20
0は曲線100に比べて尖った特性を示す〇このような
照射強度の分布を示すレーザー光の集光限界(最小スポ
ット直径)XFi一般に、レーザー光の波長をλ、レー
ザー光集光用の対物レンズの開口比をAとすると次式で
表わされる。
て非結晶状態の記録スポット’に形成するために、記録
レーザー光は大きなエネルギーを必要とする。そこで一
般には出力数十mWの半導体レーザーが用いられる。こ
の種の半導体レーザーとして現在実用されているものは
波長約830nmの長波長大出力の半導体レーザーであ
シ、その出力レーザービームを光学系によって集束して
得られる記録レーザースポットの照射強度の分布および
これによって加熱される光記録層の温度分布は、第6図
に曲線100で光の強度分布を9曲線2゜Oで温度分布
を示すように、集光部の中心(図では横軸の0位置)K
ピーク値を有するガウス形の連続的分布を示すが、温度
分布の光記録層の面方向の広がりは、記録スポット外周
部の熱拡散が中央部のそれよ勺大きいために、記録レー
ザースポーツトの広が9に比べて小さくなシ、曲線20
0は曲線100に比べて尖った特性を示す〇このような
照射強度の分布を示すレーザー光の集光限界(最小スポ
ット直径)XFi一般に、レーザー光の波長をλ、レー
ザー光集光用の対物レンズの開口比をAとすると次式で
表わされる。
X=λ/A ・・・・・・・・・・・・・・・・
(1)すなわち、図中鎖線201を光記録層への書き込
みレベルとすると、記録スポットの最小径X。
(1)すなわち、図中鎖線201を光記録層への書き込
みレベルとすると、記録スポットの最小径X。
は、記録レーザー光の波長λTh83Qnm、対物レン
ズの開口比A’k O,55とするとXo = 1 、
5μmが下限値となる。ただし、記録スポットの直径Φ
0は前述の冷却効果によってXOより小さく、はぼ1μ
m程度とすることができる。
ズの開口比A’k O,55とするとXo = 1 、
5μmが下限値となる。ただし、記録スポットの直径Φ
0は前述の冷却効果によってXOより小さく、はぼ1μ
m程度とすることができる。
光ディスクに記録された情報を読み出す再生操作は、長
波長大出力の半導体レーザーの出力を光記録層の融点レ
ベルより充分低くなるよう絞9、弱いレベルの再生レー
ザースポラトラ照射し、非結晶状態の記録スポットから
の反射光を検出することによって行われるが、従来方法
では1つの大出力半導体レーザーを用いて再生を行うた
めに、レーザー光の波長は記録レーザースポットと同じ
83Qnmであり、ソ(7)集光限界XOけ1 、5
ttmが下限となる。
波長大出力の半導体レーザーの出力を光記録層の融点レ
ベルより充分低くなるよう絞9、弱いレベルの再生レー
ザースポラトラ照射し、非結晶状態の記録スポットから
の反射光を検出することによって行われるが、従来方法
では1つの大出力半導体レーザーを用いて再生を行うた
めに、レーザー光の波長は記録レーザースポットと同じ
83Qnmであり、ソ(7)集光限界XOけ1 、5
ttmが下限となる。
第7図は従来の再生状況を示す説明図であシ、一定速度
(例えば1800回転/分)で回転する光ディスクの情
報トラック80上に相互に1μmの間隔を保ってΦo=
1μmで記録された記録スポット81を、Xo=1.5
μmの再生レーザースポット91を照射してその反射光
を検出し、電気信号に変換された再生信号300を得よ
うとする状態を示す。この場合、再生レーザースポット
91が同時に二つの記録スポット81にまたがって照射
する時点が生ずるために、再生信号300の信号対ノイ
ズ比(以下CN比とよぶ)が低下するという問題が発生
する。また、CN比の低下を防ぐためには記録スポット
81相互の間隔全1.58m以上に広げる必要があり、
これが原因で情報トラック80の記録密度および再生時
の転送速度が制約されるという問題が発生する。さらに
、隣接する情報トラック80間での信号の混入(クロス
トークノイズとよぶ)を抑制するためには溝ピッチも1
゜5μm以上(従来の規格では1.6μm)にする必要
があり、光ディスクとしての面内記録密度が制約される
という問題も発生する。
(例えば1800回転/分)で回転する光ディスクの情
報トラック80上に相互に1μmの間隔を保ってΦo=
1μmで記録された記録スポット81を、Xo=1.5
μmの再生レーザースポット91を照射してその反射光
を検出し、電気信号に変換された再生信号300を得よ
うとする状態を示す。この場合、再生レーザースポット
91が同時に二つの記録スポット81にまたがって照射
する時点が生ずるために、再生信号300の信号対ノイ
ズ比(以下CN比とよぶ)が低下するという問題が発生
する。また、CN比の低下を防ぐためには記録スポット
81相互の間隔全1.58m以上に広げる必要があり、
これが原因で情報トラック80の記録密度および再生時
の転送速度が制約されるという問題が発生する。さらに
、隣接する情報トラック80間での信号の混入(クロス
トークノイズとよぶ)を抑制するためには溝ピッチも1
゜5μm以上(従来の規格では1.6μm)にする必要
があり、光ディスクとしての面内記録密度が制約される
という問題も発生する。
この発明の目的は、再生レーザービームの集光限界を小
さくすることによfi、CN比および配録密度を高める
ことKある。
さくすることによfi、CN比および配録密度を高める
ことKある。
上記課題を解決するために、この発明によれば、光記録
媒体に微小スポットに集束された記録レーザー光を照射
し可逆性を有する光学的変化に基づいて信号を記録し、
この光学的変化部分に前記記録レーザー光より弱い再生
レーザー光を照射し前記光学的変化を検出して信号の再
生を行う方式であって、前記再生レーザー光の波長を前
記記録レーザー光の波長より短かくして信号の再生を行
うこととする。
媒体に微小スポットに集束された記録レーザー光を照射
し可逆性を有する光学的変化に基づいて信号を記録し、
この光学的変化部分に前記記録レーザー光より弱い再生
レーザー光を照射し前記光学的変化を検出して信号の再
生を行う方式であって、前記再生レーザー光の波長を前
記記録レーザー光の波長より短かくして信号の再生を行
うこととする。
上記手段は、照射エネルギー1mW程度を光学系を介し
て出力できる小出力牛導体レーザーとしては波長600
nmオーダの短波長小出力の半導体レーザーが実用化
されつつあシ、長波長レーザーに非線形効果を利用した
第2高調波発生素子を組み合わせた場合には波長400
nm オーダの再生レーザー光を得ることも可能であ
ることに着目して構成した方法であシ、再生レーザー光
の波長全短縮したことにより、再生レーザー光の集光限
界を1゜2μm以下0゜76μm程度にまで縮小できる
ので、CN比を低下させることなく記録スポット相互の
間隔および情報トラック相互の間隔を縮小することが可
能とな夛、光ディスクの記録密度および信号転送速度を
大幅に改善することができる。
て出力できる小出力牛導体レーザーとしては波長600
nmオーダの短波長小出力の半導体レーザーが実用化
されつつあシ、長波長レーザーに非線形効果を利用した
第2高調波発生素子を組み合わせた場合には波長400
nm オーダの再生レーザー光を得ることも可能であ
ることに着目して構成した方法であシ、再生レーザー光
の波長全短縮したことにより、再生レーザー光の集光限
界を1゜2μm以下0゜76μm程度にまで縮小できる
ので、CN比を低下させることなく記録スポット相互の
間隔および情報トラック相互の間隔を縮小することが可
能とな夛、光ディスクの記録密度および信号転送速度を
大幅に改善することができる。
〔実施例〕
以下この発明を実施例に基づいて説明する。
第1図はこの発明の実施例方法を説明するための装置の
概略構成図、第2図は実施例方法の原理的説明図である
。図において、1は光記録媒体としての光ディスクであ
シ、ポリカーボネート製の透明なディスク基板1Aの一
方の面側に硫化亜鉛(ZnS )からなるセラミック保
護層IB、ゲルマニウム(Ge2)とアンチモン(Sb
2)トテルル(Te、 ) (D化合物(Ge、 5k
)z TeB )からなる光記録層I C、ZnSセラ
ミック保護層1D、アルミニウム反射層1E、およびU
V樹脂系保護層1Fの順にスパッタ膜が形成される。一
定速度(1800回転毎分)で回転する光ディスク1の
ディスク基板1A側には間隙全保持して記録消去光学ヘ
ッド2および再生光学ヘッド6が配される。記録消去光
学ヘッド2は波長830 nmのレーザー光を発する長
波長大出力の半導体レーザー光源と、このレーザー光を
集束して光ディスク1の情報トラックに投射する投射光
学系を備え、記録レーザースポット90として出力15
mWのレーザー光を光記録層1Cに与える。また、再生
光学ヘッド6は波長670 nmのレーザー光を発する
短波長小出力の半導体レーザー光源およびその投射光学
系と、反射光を検出して電気信号に変換して再生信号を
出力する元検出部とを備え、レーザー出力1 mWの再
生レーザースポット91を光記録層1Cに投射する。
概略構成図、第2図は実施例方法の原理的説明図である
。図において、1は光記録媒体としての光ディスクであ
シ、ポリカーボネート製の透明なディスク基板1Aの一
方の面側に硫化亜鉛(ZnS )からなるセラミック保
護層IB、ゲルマニウム(Ge2)とアンチモン(Sb
2)トテルル(Te、 ) (D化合物(Ge、 5k
)z TeB )からなる光記録層I C、ZnSセラ
ミック保護層1D、アルミニウム反射層1E、およびU
V樹脂系保護層1Fの順にスパッタ膜が形成される。一
定速度(1800回転毎分)で回転する光ディスク1の
ディスク基板1A側には間隙全保持して記録消去光学ヘ
ッド2および再生光学ヘッド6が配される。記録消去光
学ヘッド2は波長830 nmのレーザー光を発する長
波長大出力の半導体レーザー光源と、このレーザー光を
集束して光ディスク1の情報トラックに投射する投射光
学系を備え、記録レーザースポット90として出力15
mWのレーザー光を光記録層1Cに与える。また、再生
光学ヘッド6は波長670 nmのレーザー光を発する
短波長小出力の半導体レーザー光源およびその投射光学
系と、反射光を検出して電気信号に変換して再生信号を
出力する元検出部とを備え、レーザー出力1 mWの再
生レーザースポット91を光記録層1Cに投射する。
このように構成された光ディスクおよび光学ヘッドを用
いて情報の記録を行なった場合第2図に示すように、記
録ヘッド2から出射される記録レーザースポットの照射
光量の分布は曲線100に示すように、光記録層1Cを
その融点温度に昇温するに要する書き込みレベル201
で集束限度XOが1゜5μmであるのに対し、再生ヘッ
ド6から出射される再生レーザースポット91の照射光
量の分布は曲線120に示すように、必要な再生信号を
得るに必要な再生レベル220において集束限界X1
が1.2μmに縮小される。
いて情報の記録を行なった場合第2図に示すように、記
録ヘッド2から出射される記録レーザースポットの照射
光量の分布は曲線100に示すように、光記録層1Cを
その融点温度に昇温するに要する書き込みレベル201
で集束限度XOが1゜5μmであるのに対し、再生ヘッ
ド6から出射される再生レーザースポット91の照射光
量の分布は曲線120に示すように、必要な再生信号を
得るに必要な再生レベル220において集束限界X1
が1.2μmに縮小される。
そこで、光ディスク1を各層IB、10.IDオヨびI
Eそれぞれの厚みTh120nm、 6Qnm+ 17
0 nm 、 および1100nとし、かつ間隔1゜
6μmで情報トラックを形成した直径130mmのディ
スクとし、これ’Th1800回転毎分で回転しつつ、
記録消去ヘッド2から直径1.5μmに集束された15
mWの記録レーザースポット90を照射して周波数4.
6MHzのパルス信号を光記録層1cに書き込んだ。つ
いで、再生ヘッド3から直径1.2μmK集束サレタ1
mW 、 670nmの再生レーザースポット91を
照射して再生を行なったところ、再生信号としてCN比
で47dBというデータが得られた。同様にして再生ヘ
ッドから′ 1.5μmに集束された波長830nmの
従来の再生レーザースポット(第2図に曲線102で照
射光量分布を示す)′fr:照射してCN比を求めた結
果33dBというデータが得られ、またCN比として実
用上必要な45dBを得るためには記録パルス信号の周
波数を6.7MH2以下に下げる必要があることが明ら
かになった。この結果から、波長830nmのレーザー
光で記録した信号を670nmに短縮した再生レーザー
光を用いて信号の読み出しを行うことにより、信号周波
数いいかえれは信号の転送速度と、ツCディスクへの信
号の記録密度とを従来の1.2倍に高めることができる
。
Eそれぞれの厚みTh120nm、 6Qnm+ 17
0 nm 、 および1100nとし、かつ間隔1゜
6μmで情報トラックを形成した直径130mmのディ
スクとし、これ’Th1800回転毎分で回転しつつ、
記録消去ヘッド2から直径1.5μmに集束された15
mWの記録レーザースポット90を照射して周波数4.
6MHzのパルス信号を光記録層1cに書き込んだ。つ
いで、再生ヘッド3から直径1.2μmK集束サレタ1
mW 、 670nmの再生レーザースポット91を
照射して再生を行なったところ、再生信号としてCN比
で47dBというデータが得られた。同様にして再生ヘ
ッドから′ 1.5μmに集束された波長830nmの
従来の再生レーザースポット(第2図に曲線102で照
射光量分布を示す)′fr:照射してCN比を求めた結
果33dBというデータが得られ、またCN比として実
用上必要な45dBを得るためには記録パルス信号の周
波数を6.7MH2以下に下げる必要があることが明ら
かになった。この結果から、波長830nmのレーザー
光で記録した信号を670nmに短縮した再生レーザー
光を用いて信号の読み出しを行うことにより、信号周波
数いいかえれは信号の転送速度と、ツCディスクへの信
号の記録密度とを従来の1.2倍に高めることができる
。
次に、上述の光ディスク1の情報トラックの間隔を1.
4μmに縮めて上述と同様に記録された信号を波長67
0nm、imWの再生レーザースポット91全照射して
読み出した。その結果、得られた再生信号のCN比は4
6dBであった。′また、トラック間のクロストークノ
イズは再生信号に対して一30dBであった。同様に、
波長830nmのレーザー光で再生した場合のCN比は
3 QdB。
4μmに縮めて上述と同様に記録された信号を波長67
0nm、imWの再生レーザースポット91全照射して
読み出した。その結果、得られた再生信号のCN比は4
6dBであった。′また、トラック間のクロストークノ
イズは再生信号に対して一30dBであった。同様に、
波長830nmのレーザー光で再生した場合のCN比は
3 QdB。
クロストークノイズは−i 8dBであった。クロスト
ークノイズは実用上−25dB以下であることが・望ま
れるものであシ、実施例方法においてはトラック間隔を
1.4μmに短縮しても要求水準に余裕をもって適合す
る性能が得られることがわかる。
ークノイズは実用上−25dB以下であることが・望ま
れるものであシ、実施例方法においてはトラック間隔を
1.4μmに短縮しても要求水準に余裕をもって適合す
る性能が得られることがわかる。
このように、この実施例方法においては記録密度を従来
方法の約1゜4倍に高めることができる。
方法の約1゜4倍に高めることができる。
次に、この発明の実施例方法を可能にする光学ヘッドの
具体的構成音、記録消去ヘッドと再生ヘッドを一体化し
た場合について記録、再生方法と表もに説明する。
具体的構成音、記録消去ヘッドと再生ヘッドを一体化し
た場合について記録、再生方法と表もに説明する。
第3図はこの発明の異なる実施例方法を示す光学ヘッド
の概略構成図であり、長波長半導体レーザー11の出射
レーザービーム(波長830nm)は、偏光ビームスプ
リッタ13で反射され、偏光ビームスプリッタ15を透
過し、開口比Aが0゜55程度の対物レンズ16で集光
限界ZOが1゜5μmの記録レーザースポット90に集
束されて光ディスク1の情報トラック80上に投射され
、非結晶状態に変化した直径1μm程度の記録スポット
81を形成する。また、短波長半導体レーザー12の出
射レーザービーム(波長670nm)は偏光ビームスプ
リッタ16で反対物レンズ側に反射され、ミラー14で
反射される際偏光面が90° 回転し、偏光ビームスプ
リッタ16および15′!il−透過し、対物レンズ1
6で集光限界Zがほぼ1.2μmの再生レーザースポッ
ト92に集束されて記録スポット81に投射される。記
録スポット81の反射光は対物レンズ16で平行光線と
なシ、偏光ビームスプリッタ15で反射され、光検出器
17で再生信号に変換される。この実施例においては記
録消去光学ヘッドと再生光学ヘッドが一体化され、光学
系の構成が簡素化されるとともに、前述の実施例と同様
に、46dB以上のCN比と、−25dB以上のクロス
トークノイズレベルと、従来の1゜2倍の転送速度、お
よび従来の1゜2倍から1゜4倍の記録密度が得られる
。
の概略構成図であり、長波長半導体レーザー11の出射
レーザービーム(波長830nm)は、偏光ビームスプ
リッタ13で反射され、偏光ビームスプリッタ15を透
過し、開口比Aが0゜55程度の対物レンズ16で集光
限界ZOが1゜5μmの記録レーザースポット90に集
束されて光ディスク1の情報トラック80上に投射され
、非結晶状態に変化した直径1μm程度の記録スポット
81を形成する。また、短波長半導体レーザー12の出
射レーザービーム(波長670nm)は偏光ビームスプ
リッタ16で反対物レンズ側に反射され、ミラー14で
反射される際偏光面が90° 回転し、偏光ビームスプ
リッタ16および15′!il−透過し、対物レンズ1
6で集光限界Zがほぼ1.2μmの再生レーザースポッ
ト92に集束されて記録スポット81に投射される。記
録スポット81の反射光は対物レンズ16で平行光線と
なシ、偏光ビームスプリッタ15で反射され、光検出器
17で再生信号に変換される。この実施例においては記
録消去光学ヘッドと再生光学ヘッドが一体化され、光学
系の構成が簡素化されるとともに、前述の実施例と同様
に、46dB以上のCN比と、−25dB以上のクロス
トークノイズレベルと、従来の1゜2倍の転送速度、お
よび従来の1゜2倍から1゜4倍の記録密度が得られる
。
第4図はこの発明の他の実施例を示す光学ヘッドの概略
構成図であり、長波長半導体レーザー11を2箇所に設
け、一方の半導体レーザーの波長830 nmの出射ビ
ームを非線形効果を利用した第2高調波発生素子21に
よって波長415nmの短波長レーザー光に変換し、ビ
ーム整形器22全通して偏光ビームスプリッタ13.ミ
ラー14.偏光ビームスプリッタ15.対物レンズ16
等からなる投射光学系を介して光ディスク1に再生レー
ザースポット93として投射するようにした点が前述の
各実施例方法と異なっておシ、波長λが415nmに短
縮されることにより、(11式によって求まる集光限界
は0.76μmとなシ、転送速度を従来方法の2倍に2
面内記録密度を従来方法の4倍にすることができる。
構成図であり、長波長半導体レーザー11を2箇所に設
け、一方の半導体レーザーの波長830 nmの出射ビ
ームを非線形効果を利用した第2高調波発生素子21に
よって波長415nmの短波長レーザー光に変換し、ビ
ーム整形器22全通して偏光ビームスプリッタ13.ミ
ラー14.偏光ビームスプリッタ15.対物レンズ16
等からなる投射光学系を介して光ディスク1に再生レー
ザースポット93として投射するようにした点が前述の
各実施例方法と異なっておシ、波長λが415nmに短
縮されることにより、(11式によって求まる集光限界
は0.76μmとなシ、転送速度を従来方法の2倍に2
面内記録密度を従来方法の4倍にすることができる。
第5図は異なる他の実施例方法を示す光学ヘッドの構成
図であシ、1個の長波長大出力半導体レーザー光源11
の出射レーザー光をビーム切換器31によって記録・消
去用の光路と再生用の光路とに切シ換え、記録または消
去時にはミラー32によって投射光学系の偏光ビームス
プリッタ16に入射させ、再生時には第2高調波発生素
子21で波長が33 Q nmから415nmに短縮さ
れたレーザー光をビーム整形器22およびミラー36を
介して投射光学系の偏光ビームスプリッタ13に記録時
とは逆向きに入射させるようにした点が゛前述の実施例
方法と異なっている。ビーム切換器61としては、通常
用いられる音響口1?格子等を用いる方法や、ミラーの
機械的回転を利用する方法等の適用が可能であり、長波
長大出力半導体レーザー光源1個を用いて再生時の集光
限界X’kO076μmに縮小することができる。
−〔発明の効果〕 この発明は前述のように、再生時のレーザー光の波長を
記録時のそれより短かくするよう構成した。その結果、
光ディスクの光記録層をその融点温度に加熱して情報の
書き込みまたは消去するのに必要とする大容量半導体レ
ーザーを、再生時にはその出力を絞って弱い再生レーザ
ースポラトラ形成するように構成した従来方法では、大
容量半導体レーザーの出力レーザー光の波長が830n
mと長く、シたがってその集束限界が1.5μmと大き
いのに対し、再生専用の小容量半導体レーザーを設ける
か、あるいは第2高調波発生素子を用いることによって
波長670nmあるいは415nmのレーザー光が得ら
れ、集束限界を1.2μmあるいは0.76μmにまで
縮小することが可能となり、これに基づいて光ディスク
の面内記録密度を従来の1.4倍または4倍程度に向上
できるとともに、記録でれた信号の転送速度を従来の1
.2倍または2倍に向上することができる。また、従来
と同じ書き換え型光ディスクを用いてその記録密度およ
び転送速度を改善できるので、例えばコンピュータの記
録容量の増大や高連化に貢献できる利点が得られる。
図であシ、1個の長波長大出力半導体レーザー光源11
の出射レーザー光をビーム切換器31によって記録・消
去用の光路と再生用の光路とに切シ換え、記録または消
去時にはミラー32によって投射光学系の偏光ビームス
プリッタ16に入射させ、再生時には第2高調波発生素
子21で波長が33 Q nmから415nmに短縮さ
れたレーザー光をビーム整形器22およびミラー36を
介して投射光学系の偏光ビームスプリッタ13に記録時
とは逆向きに入射させるようにした点が゛前述の実施例
方法と異なっている。ビーム切換器61としては、通常
用いられる音響口1?格子等を用いる方法や、ミラーの
機械的回転を利用する方法等の適用が可能であり、長波
長大出力半導体レーザー光源1個を用いて再生時の集光
限界X’kO076μmに縮小することができる。
−〔発明の効果〕 この発明は前述のように、再生時のレーザー光の波長を
記録時のそれより短かくするよう構成した。その結果、
光ディスクの光記録層をその融点温度に加熱して情報の
書き込みまたは消去するのに必要とする大容量半導体レ
ーザーを、再生時にはその出力を絞って弱い再生レーザ
ースポラトラ形成するように構成した従来方法では、大
容量半導体レーザーの出力レーザー光の波長が830n
mと長く、シたがってその集束限界が1.5μmと大き
いのに対し、再生専用の小容量半導体レーザーを設ける
か、あるいは第2高調波発生素子を用いることによって
波長670nmあるいは415nmのレーザー光が得ら
れ、集束限界を1.2μmあるいは0.76μmにまで
縮小することが可能となり、これに基づいて光ディスク
の面内記録密度を従来の1.4倍または4倍程度に向上
できるとともに、記録でれた信号の転送速度を従来の1
.2倍または2倍に向上することができる。また、従来
と同じ書き換え型光ディスクを用いてその記録密度およ
び転送速度を改善できるので、例えばコンピュータの記
録容量の増大や高連化に貢献できる利点が得られる。
第1図はこの発明の実施例方法を説明するための装置の
概略構成図、第2図は実施例方法の原理的説明図、第6
図は異なる実施例方法を示す光学ヘッドの概略構成図、
第4図は他の実施例方法を示す光学ヘッドの構成図、第
5図は異なる他の実施例方法を示す光学ヘッドの概略構
成図、第6図は従来方法を示す記録レーザー光の照射強
度および記録層温度の分布図、第7図は従来の再生方法
の説明図である。 1・・・光記録媒体(光ディスクン、2・・・記録・消
去光学ヘッド(長波長大出力半導体レーザーを含む)、
6・・・再生光学ヘッド(短波長小出力半導体レーザー
を含む)、11・・・長波長半導体レーザー、12・・
・短波長半導体レーザー、13.15・・・偏光ビーム
スプリッタ、14.32.33・・・ミラー、16・・
・対物レンズ、17・・・光検出器、21・・・第2高
調波発生素子、22・・・ビーム整形器、31・・・ビ
ーム切換器、80・・・情報トラック、81・・・記録
スポット、90・・・記録レーザースボッ)、91゜9
2.93・・・再生レーザースポット、XO・・・記録
レーザースポットの径、Xl・・・ 再生レーザースポ
ットの径。 □°”・、1 代理人弁理士 山 口 巌 ″・ 1、′I ・・ミノ ?L戸・ ←塚尋延C飯緯妃酬 坪量Δ小−輔6叛罠稲趣 紀琳敞岬6甥剣
概略構成図、第2図は実施例方法の原理的説明図、第6
図は異なる実施例方法を示す光学ヘッドの概略構成図、
第4図は他の実施例方法を示す光学ヘッドの構成図、第
5図は異なる他の実施例方法を示す光学ヘッドの概略構
成図、第6図は従来方法を示す記録レーザー光の照射強
度および記録層温度の分布図、第7図は従来の再生方法
の説明図である。 1・・・光記録媒体(光ディスクン、2・・・記録・消
去光学ヘッド(長波長大出力半導体レーザーを含む)、
6・・・再生光学ヘッド(短波長小出力半導体レーザー
を含む)、11・・・長波長半導体レーザー、12・・
・短波長半導体レーザー、13.15・・・偏光ビーム
スプリッタ、14.32.33・・・ミラー、16・・
・対物レンズ、17・・・光検出器、21・・・第2高
調波発生素子、22・・・ビーム整形器、31・・・ビ
ーム切換器、80・・・情報トラック、81・・・記録
スポット、90・・・記録レーザースボッ)、91゜9
2.93・・・再生レーザースポット、XO・・・記録
レーザースポットの径、Xl・・・ 再生レーザースポ
ットの径。 □°”・、1 代理人弁理士 山 口 巌 ″・ 1、′I ・・ミノ ?L戸・ ←塚尋延C飯緯妃酬 坪量Δ小−輔6叛罠稲趣 紀琳敞岬6甥剣
Claims (1)
- 1)光記録媒体に微小スポットに集束された記録レーザ
ー光を照射し可逆性を有する光学的変化に基づいて信号
を記録し、この光学的変化部分に前記記録レーザー光よ
り弱い再生レーザー光を照射し前記光学的変化を検出し
て信号の再生を行う方式であって、前記再生レーザー光
の波長を前記記録レーザー光の波長より短かくして信号
の再生を行うことを特徴とする光記録再生方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1122481A JPH02302932A (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | 光記録再生方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1122481A JPH02302932A (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | 光記録再生方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02302932A true JPH02302932A (ja) | 1990-12-14 |
Family
ID=14836915
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1122481A Pending JPH02302932A (ja) | 1989-05-16 | 1989-05-16 | 光記録再生方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02302932A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0573915A (ja) * | 1991-09-17 | 1993-03-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| WO1995017747A1 (fr) * | 1993-12-23 | 1995-06-29 | Thomson-Csf | Procede et systeme optiques d'inscription/lecture d'information sur un support d'enregistrement |
| FR2714511A1 (fr) * | 1993-12-23 | 1995-06-30 | Thomson Csf | Procédé et système optiques d'inscription/lecture d'informations sur un support d'enregistrement. |
| FR2722605A1 (fr) * | 1994-07-13 | 1996-01-19 | Thomson Csf | Procede et systeme optiques d'inscription/lecture d'informations sur un support d'enregistrement |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62162252A (ja) * | 1986-01-09 | 1987-07-18 | Canon Inc | 光記録読み取り方法 |
| JPS6355737A (ja) * | 1986-08-26 | 1988-03-10 | Canon Inc | 光学的情報記録再生装置 |
| JPS63304428A (ja) * | 1987-06-04 | 1988-12-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
-
1989
- 1989-05-16 JP JP1122481A patent/JPH02302932A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62162252A (ja) * | 1986-01-09 | 1987-07-18 | Canon Inc | 光記録読み取り方法 |
| JPS6355737A (ja) * | 1986-08-26 | 1988-03-10 | Canon Inc | 光学的情報記録再生装置 |
| JPS63304428A (ja) * | 1987-06-04 | 1988-12-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0573915A (ja) * | 1991-09-17 | 1993-03-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
| WO1995017747A1 (fr) * | 1993-12-23 | 1995-06-29 | Thomson-Csf | Procede et systeme optiques d'inscription/lecture d'information sur un support d'enregistrement |
| FR2714511A1 (fr) * | 1993-12-23 | 1995-06-30 | Thomson Csf | Procédé et système optiques d'inscription/lecture d'informations sur un support d'enregistrement. |
| FR2722605A1 (fr) * | 1994-07-13 | 1996-01-19 | Thomson Csf | Procede et systeme optiques d'inscription/lecture d'informations sur un support d'enregistrement |
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