JPH02304719A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
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- JPH02304719A JPH02304719A JP12281789A JP12281789A JPH02304719A JP H02304719 A JPH02304719 A JP H02304719A JP 12281789 A JP12281789 A JP 12281789A JP 12281789 A JP12281789 A JP 12281789A JP H02304719 A JPH02304719 A JP H02304719A
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、対物レンズを経て記録媒体に書き込みまた
は読み取り光を投射して情報の記録または再生を行う光
学式情報記録再生装置に用いる焦点検出装置に関する。
は読み取り光を投射して情報の記録または再生を行う光
学式情報記録再生装置に用いる焦点検出装置に関する。
光学式情報記録再生装置に用いられる焦点検出装置にお
いては、一般に対物レンズを経て記録媒体に投射された
光の該記録媒体からの戻り光に基づいて、対物レンズの
記録媒体に対する焦点状態を検出するようにしている。
いては、一般に対物レンズを経て記録媒体に投射された
光の該記録媒体からの戻り光に基づいて、対物レンズの
記録媒体に対する焦点状態を検出するようにしている。
しかしながら、この種の光学式情報記録再生装置におい
ては、記録時において形成されるピットが、記録媒体に
対して走査されるビームスポット全体に均一に生じるの
ではな(、照射エネルギーが大きい部分から先に生成さ
れるため、記録媒体上のビームスポット内の走査方向(
ディスク状記録媒体においてはタンジェンシャル方向)
には、未記録部と既記録部とが同時に存在することにな
る。このため、その記録媒体からの反射光に基づいて焦
点状態を表すフォーカスエラー信号を得ようとすると、
未記録部と既記録部との反射率差や、位相差による回折
効果の結果、反射光のファーフィールドパターンの走査
方向の光量分布が不均一となり、その結果再生区間と記
録区間とで、フォーカスエラー信号にオフセットが生じ
るという問題がある。
ては、記録時において形成されるピットが、記録媒体に
対して走査されるビームスポット全体に均一に生じるの
ではな(、照射エネルギーが大きい部分から先に生成さ
れるため、記録媒体上のビームスポット内の走査方向(
ディスク状記録媒体においてはタンジェンシャル方向)
には、未記録部と既記録部とが同時に存在することにな
る。このため、その記録媒体からの反射光に基づいて焦
点状態を表すフォーカスエラー信号を得ようとすると、
未記録部と既記録部との反射率差や、位相差による回折
効果の結果、反射光のファーフィールドパターンの走査
方向の光量分布が不均一となり、その結果再生区間と記
録区間とで、フォーカスエラー信号にオフセットが生じ
るという問題がある。
このような問題を解決するため、本願人は特開昭63−
70936号公報において、第4図に示すような焦点検
出装置を既に提案している。この焦点検出装置は、臨界
角法を採用するもので、レーザダイオード1から射出さ
れた書き込みまたは読み取り光は、コリメータレンズ2
により平行光とされ、偏光ビームスプリッタ3にP偏光
として入射して、該偏光ビームスプリッタ3を透過する
。この偏光ビームスプリッタ3を透過した光は、174
波長板4および対物レンズ5を経て、回転駆動される記
録媒体としてのディスク6に投射され、その反射光は対
物レンズ5および174波長板4を経て偏光ビームスプ
リッタ3にS偏光として入射し、該偏光ビームスブリッ
ク3で反射される。
70936号公報において、第4図に示すような焦点検
出装置を既に提案している。この焦点検出装置は、臨界
角法を採用するもので、レーザダイオード1から射出さ
れた書き込みまたは読み取り光は、コリメータレンズ2
により平行光とされ、偏光ビームスプリッタ3にP偏光
として入射して、該偏光ビームスプリッタ3を透過する
。この偏光ビームスプリッタ3を透過した光は、174
波長板4および対物レンズ5を経て、回転駆動される記
録媒体としてのディスク6に投射され、その反射光は対
物レンズ5および174波長板4を経て偏光ビームスプ
リッタ3にS偏光として入射し、該偏光ビームスブリッ
ク3で反射される。
偏光ビームスプリッタ3で反射されたディスク6からの
戻り光は、ビームスプリッタ7で2分され、その一方の
光束は臨界角プリズム8を経て戻り光のタンジェンシャ
ル方向に2分割された受光領域9A、9Bを有する光検
出器9で受光され、他方の光束は同様にタンジエンシャ
ル方向に2分割された受光領域10A、IOBを有する
光検出器10で受光される。
戻り光は、ビームスプリッタ7で2分され、その一方の
光束は臨界角プリズム8を経て戻り光のタンジェンシャ
ル方向に2分割された受光領域9A、9Bを有する光検
出器9で受光され、他方の光束は同様にタンジエンシャ
ル方向に2分割された受光領域10A、IOBを有する
光検出器10で受光される。
光検出器9の受光領域9A、9Bの出力は、差動アンプ
等の演算回路11に供給され、それらの差に基づいてフ
ォーカスエラー信号SFEが検出される。ここで、演算
回路11から得られるフォーカスエラー信号srtには
、臨界角プリズム8がディスク6に対する対物レンズ5
の焦点位置のずれに応じて、ディスク6からの戻り光の
タンジェンシャル方向の光量分布が変化するように配置
されるため、そのディスク6での反射光のタンジェンシ
ャル方向の光量分布の不均一によるオフセットが重畳さ
れている。
等の演算回路11に供給され、それらの差に基づいてフ
ォーカスエラー信号SFEが検出される。ここで、演算
回路11から得られるフォーカスエラー信号srtには
、臨界角プリズム8がディスク6に対する対物レンズ5
の焦点位置のずれに応じて、ディスク6からの戻り光の
タンジェンシャル方向の光量分布が変化するように配置
されるため、そのディスク6での反射光のタンジェンシ
ャル方向の光量分布の不均一によるオフセットが重畳さ
れている。
また、光検出器10の受光領域10A、IOBの出力は
、同様に差動アンプ等の演算回路12に供給され、それ
らの差に基づいてディスク6からの戻り光のタンジェン
シャル方向の光量分布信号S4が検出される。
、同様に差動アンプ等の演算回路12に供給され、それ
らの差に基づいてディスク6からの戻り光のタンジェン
シャル方向の光量分布信号S4が検出される。
演算回路11および12の出力は、差動アンプ等の演算
回路13に供給され、ここでフォーカスエラー信号SF
!と光量分布信号S4との差が検出され、これによりオ
フセットが消去されたフォーカスエラー信号S’FEが
検出される。このフォーカスエラー信号S’F!は、位
相補償回路14および対物レンズ駆動回路15を経てレ
ンズアクチュエータ16のフォーカスコイル16Aに供
給され、これによりフォーカスエラー信号s’rzが零
となるように対物レンズ5をその光軸方向に移動させる
フォーカス制御が行われる。
回路13に供給され、ここでフォーカスエラー信号SF
!と光量分布信号S4との差が検出され、これによりオ
フセットが消去されたフォーカスエラー信号S’FEが
検出される。このフォーカスエラー信号S’F!は、位
相補償回路14および対物レンズ駆動回路15を経てレ
ンズアクチュエータ16のフォーカスコイル16Aに供
給され、これによりフォーカスエラー信号s’rzが零
となるように対物レンズ5をその光軸方向に移動させる
フォーカス制御が行われる。
しかしながら、第4図に示した焦点検出装置にあっては
、フォーカスエラー信号のオフセットを消去するために
、ディスク6からの戻り光を分割するビームスプリッタ
7および戻り光のタンジェンシャル方向の光量分布信号
を検出するための光検出器10を用いるようにしている
ため、部品点数が多くなり、コスト高になるという問題
があると共に、装置が大型になるという問題がある。ま
た、ディスク6からの戻り光に対して、フォーカスエラ
ー信号を検出するための光検出器9と光量分布信号を検
出するための光検出器10との位置調整が必要となるた
め、組立が面倒で時間がかかるという問題もある。
、フォーカスエラー信号のオフセットを消去するために
、ディスク6からの戻り光を分割するビームスプリッタ
7および戻り光のタンジェンシャル方向の光量分布信号
を検出するための光検出器10を用いるようにしている
ため、部品点数が多くなり、コスト高になるという問題
があると共に、装置が大型になるという問題がある。ま
た、ディスク6からの戻り光に対して、フォーカスエラ
ー信号を検出するための光検出器9と光量分布信号を検
出するための光検出器10との位置調整が必要となるた
め、組立が面倒で時間がかかるという問題もある。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、フォーカスエラー信号のオフセットを、簡単
かつ小型、安価な構成で消去でき、常に正確なフォーカ
スエラー信号が得られるよう適切に構成した焦点検出装
置を提供することを目的とする。
たもので、フォーカスエラー信号のオフセットを、簡単
かつ小型、安価な構成で消去でき、常に正確なフォーカ
スエラー信号が得られるよう適切に構成した焦点検出装
置を提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段および作用〕上記目的を達
成するため、この発明では、対物レンズを経て記録媒体
に投射された光の該記録媒体からの戻り光の光路中に配
置され、該戻り光の中心光線に対してほぼ臨界角で、か
つP偏光またはS偏光に対しては反射防止膜となり、S
偏光またはP偏光に対しては反射増加膜となる薄膜を設
けた反射面を有する臨界角プリズムと、この臨界角プリ
ズムと前記記録媒体との間で、前記反射面における戻り
光の中心光線の入射面と平行な平面を境とする戻り光の
一方の光束の光路中に配置した172波長板と、 前記反射面で反射された戻り光を受光するように配置さ
れ、直交する分割線で分割された4個の受光領域を有す
る光検出器とを具え、 この光検出器の対角線方向のそれぞれ2個の受光領域の
出力の和の差に基づいて、前記対物レンズの前記記録媒
体に対する焦点状態を検出するよう構成する。
成するため、この発明では、対物レンズを経て記録媒体
に投射された光の該記録媒体からの戻り光の光路中に配
置され、該戻り光の中心光線に対してほぼ臨界角で、か
つP偏光またはS偏光に対しては反射防止膜となり、S
偏光またはP偏光に対しては反射増加膜となる薄膜を設
けた反射面を有する臨界角プリズムと、この臨界角プリ
ズムと前記記録媒体との間で、前記反射面における戻り
光の中心光線の入射面と平行な平面を境とする戻り光の
一方の光束の光路中に配置した172波長板と、 前記反射面で反射された戻り光を受光するように配置さ
れ、直交する分割線で分割された4個の受光領域を有す
る光検出器とを具え、 この光検出器の対角線方向のそれぞれ2個の受光領域の
出力の和の差に基づいて、前記対物レンズの前記記録媒
体に対する焦点状態を検出するよう構成する。
〔実施例]
第1図はこの発明の一実施例を示すものである。
この実施例では、レーザダイオード21がら射出された
書き込みまたは読み取り光を、コリメータレンズ22に
より平行光とした後、偏光ビームスプリッタ23にP偏
光として入射させ、該偏光ビームスプリッタ23を透過
した光を、174波長板24および対物レンズ25を経
て、回転駆動される記録媒体としてのディスク26に投
射する。ディスク26での反射光は、対物レンズ25お
よび1/4波長板24を経て偏光ビームスプリッタ23
にS偏光として入射させて、該偏光ビームスプリッタ2
3で反射させ、その反射光を臨界角プリズム27を経て
光検出器28で受光するようにする。
書き込みまたは読み取り光を、コリメータレンズ22に
より平行光とした後、偏光ビームスプリッタ23にP偏
光として入射させ、該偏光ビームスプリッタ23を透過
した光を、174波長板24および対物レンズ25を経
て、回転駆動される記録媒体としてのディスク26に投
射する。ディスク26での反射光は、対物レンズ25お
よび1/4波長板24を経て偏光ビームスプリッタ23
にS偏光として入射させて、該偏光ビームスプリッタ2
3で反射させ、その反射光を臨界角プリズム27を経て
光検出器28で受光するようにする。
また、偏光ビームスプリッタ23と臨界角プリズム27
との間の光路中には、ディスク26からの戻り光の一部
の光束が透過するように172波長板29を配置する。
との間の光路中には、ディスク26からの戻り光の一部
の光束が透過するように172波長板29を配置する。
臨界角プリズム27は、ディスク26がらの戻り光の中
心光線に対してほぼ臨界角となるように設定した反射面
27Aを有し、該反射面27Aで反射される光束の光量
分布が、ディスク26に対する対物レンズ25の焦点位
置のずれに応じて、ディスク26のタンジェンシャル方
向に変化するように配置する。この実施例では、臨界角
プリズム27の反射面27Aに、第2図に反射率特性を
示すようにP偏光に対しては反射防止膜として作用し、
S偏光に対しては反射増加膜として作用する薄膜27B
を設ける。このような反射率特性を有する薄膜27Bは
、例えば臨界角プリズム27に対して高屈折率(nH=
2.27)の物質と、低屈折率(nL=1.38)の物
質とを、それぞれ174波長の厚さで交互に5層積層し
て構成することができる。
心光線に対してほぼ臨界角となるように設定した反射面
27Aを有し、該反射面27Aで反射される光束の光量
分布が、ディスク26に対する対物レンズ25の焦点位
置のずれに応じて、ディスク26のタンジェンシャル方
向に変化するように配置する。この実施例では、臨界角
プリズム27の反射面27Aに、第2図に反射率特性を
示すようにP偏光に対しては反射防止膜として作用し、
S偏光に対しては反射増加膜として作用する薄膜27B
を設ける。このような反射率特性を有する薄膜27Bは
、例えば臨界角プリズム27に対して高屈折率(nH=
2.27)の物質と、低屈折率(nL=1.38)の物
質とを、それぞれ174波長の厚さで交互に5層積層し
て構成することができる。
172波長板29は、臨界角プリズム27の反射面27
Aにおけるディスク26からの戻り光の中心光線の入射
面と平行な平面(第1図において紙面と平行な面)、こ
の実施例では第3図に戻り光30の入射方向からみた図
を示すように戻り光30の中心光線を含む平面を境とす
る一方の光束の光路中に配置し、これにより該172波
長板29を透過する光束をS偏光からP偏光に変換する
ようにする。
Aにおけるディスク26からの戻り光の中心光線の入射
面と平行な平面(第1図において紙面と平行な面)、こ
の実施例では第3図に戻り光30の入射方向からみた図
を示すように戻り光30の中心光線を含む平面を境とす
る一方の光束の光路中に配置し、これにより該172波
長板29を透過する光束をS偏光からP偏光に変換する
ようにする。
また、光検出器28は、第1図に入射面側から見た図を
も示すように、戻り光のタンジエンシャル方向およびこ
れと直交する方向に分割された4個の受光領域28A〜
28Dをもって構成し、タンジエンシャル方向を境とす
る受光領域28A。
も示すように、戻り光のタンジエンシャル方向およびこ
れと直交する方向に分割された4個の受光領域28A〜
28Dをもって構成し、タンジエンシャル方向を境とす
る受光領域28A。
28Bの出力A、Bを差動アンプ等の演算回路31に、
受光領域28C,28Dの出力C,Dを差動アンプ等の
演算回路32にそれぞれ供給してその差(A−B)およ
び(C−D)を求め、これら差出力を差動アンプ等の演
算回路33に供給して、((A−B)−(C−D))
=((A+D)−(B+C))すなわち対角線方向のそ
れぞれ2個の受光領域28A、28D;28B、28C
の出力の和の差を求める。
受光領域28C,28Dの出力C,Dを差動アンプ等の
演算回路32にそれぞれ供給してその差(A−B)およ
び(C−D)を求め、これら差出力を差動アンプ等の演
算回路33に供給して、((A−B)−(C−D))
=((A+D)−(B+C))すなわち対角線方向のそ
れぞれ2個の受光領域28A、28D;28B、28C
の出力の和の差を求める。
演算回路33の出力は、位相補償回路34および対物レ
ンズ駆動回路35を経てレンズアクチュエータ36のフ
ォーカスコイル36Aに供給し、これにより該演算回路
33の出力が零となるように対物レンズ25をその光軸
方向に移動させるフォーカス制御を行うようにする。
ンズ駆動回路35を経てレンズアクチュエータ36のフ
ォーカスコイル36Aに供給し、これにより該演算回路
33の出力が零となるように対物レンズ25をその光軸
方向に移動させるフォーカス制御を行うようにする。
上記構成において、偏光ビームスプリッタ23で反射さ
れるディスク26からの戻り光はS偏光であるが、タン
ジェンシャル方向を境とする光束の半分は172波長板
29を透過することにより偏光面が90°回転したP偏
光となる。したがって、臨界角プリズム27には半分が
S偏光で、残りの半分がP偏光の光束が入射し、この光
束が反射面27Aで反射されて、S偏光の光束が光検出
器28の受光領域28C,28Dに、P偏光の光束が受
光領域28A、28Bにそれぞれ入射することになる。
れるディスク26からの戻り光はS偏光であるが、タン
ジェンシャル方向を境とする光束の半分は172波長板
29を透過することにより偏光面が90°回転したP偏
光となる。したがって、臨界角プリズム27には半分が
S偏光で、残りの半分がP偏光の光束が入射し、この光
束が反射面27Aで反射されて、S偏光の光束が光検出
器28の受光領域28C,28Dに、P偏光の光束が受
光領域28A、28Bにそれぞれ入射することになる。
ここで、反射面27Aは、薄膜27Bの作用により第2
図に示した反射率特性を有するので、S偏光のまま入射
した光束は、該反射面27Aでほぼ全反射され、その光
量分布は対物レンズ25のディスク26に対する焦点状
態に関係なく、常にほぼ一様となる。これに対し、17
2波長板29の作用によりP偏光となった半分の光束は
、対物レンズ25のディスク26に対する焦点状態に応
じて反射率が急激に変化するので、その光量分布はタン
ジエンシャル方向において変化することになる。
図に示した反射率特性を有するので、S偏光のまま入射
した光束は、該反射面27Aでほぼ全反射され、その光
量分布は対物レンズ25のディスク26に対する焦点状
態に関係なく、常にほぼ一様となる。これに対し、17
2波長板29の作用によりP偏光となった半分の光束は
、対物レンズ25のディスク26に対する焦点状態に応
じて反射率が急激に変化するので、その光量分布はタン
ジエンシャル方向において変化することになる。
したがって、受光領域28A、28Bの出力の差を検出
する演算回路31からは、対物レンズ25のディスク2
6に対する焦点状態を表すフォーカスエラー信号5FE
(=A B)が得られるが、このフォーカスエラー信
号SFEには、戻り光の光量分布が何らかの原因(例え
ば、光源の変動、光学素子の移動、ディスク26の反射
率の変化等)で変化することにより発生するオフセット
が含まれることになる。これに対し、受光領域28C2
゛ 28Dの出力の差を検出する演算回路32からは、
フォーカスエラー信号成分を含まず、戻り光の光量分布
変化によるオフセット成分のみを含む光量分布信号sa
(=C−D)が得られるので、これら演算回路31
および32の出力を演算回路33に供給してその差を求
めれば、オフセントが消去されたフォーカスエラー信号
S’vt=Svt Sa= (A−B)−(C−D)
= (A+D)−(B+C)が得られることになる。
する演算回路31からは、対物レンズ25のディスク2
6に対する焦点状態を表すフォーカスエラー信号5FE
(=A B)が得られるが、このフォーカスエラー信
号SFEには、戻り光の光量分布が何らかの原因(例え
ば、光源の変動、光学素子の移動、ディスク26の反射
率の変化等)で変化することにより発生するオフセット
が含まれることになる。これに対し、受光領域28C2
゛ 28Dの出力の差を検出する演算回路32からは、
フォーカスエラー信号成分を含まず、戻り光の光量分布
変化によるオフセット成分のみを含む光量分布信号sa
(=C−D)が得られるので、これら演算回路31
および32の出力を演算回路33に供給してその差を求
めれば、オフセントが消去されたフォーカスエラー信号
S’vt=Svt Sa= (A−B)−(C−D)
= (A+D)−(B+C)が得られることになる。
このように、この実施例によれば、4分割された受光領
域28A〜28Dを有する1個の光検出器28を用い、
1/2波長板29を追加するだけで、フォーカスエラー
信号のオフセットを有効に除去できるので、部品点数が
少なく、組立、調整を容易かつ短時間でできると共に、
装置全体を小型かつ安価にできる。
域28A〜28Dを有する1個の光検出器28を用い、
1/2波長板29を追加するだけで、フォーカスエラー
信号のオフセットを有効に除去できるので、部品点数が
少なく、組立、調整を容易かつ短時間でできると共に、
装置全体を小型かつ安価にできる。
なお、この発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上記の実施例では、偏光ビームスプリッタ23に入射
するディスク26からの戻り光をS偏光としたが、これ
がP偏光の場合でも、また臨界角プリズム27の反射面
27Aにおける反射率特性がP偏光とS偏光とで逆の場
合でもこの発明を有効に適用でき、フォーカスエラー信
号のオフセットを有効に消去することができる。また、
172波長板29は必ずしも戻り光の半分の光束を透過
するように配置する必要はなく、その一部の光束を透過
するように配置しても良く、また光検出器28の分割線
の交点は必ずしも戻り光の中心光線に一致させる必要は
ない。これらの場合においても、演算回路31.32の
増幅率を調整することにより、オフセットを消去した正
確なフォーカスエラー信号を得ることができる。
ではなく、幾多の変形または変更が可能である。例えば
、上記の実施例では、偏光ビームスプリッタ23に入射
するディスク26からの戻り光をS偏光としたが、これ
がP偏光の場合でも、また臨界角プリズム27の反射面
27Aにおける反射率特性がP偏光とS偏光とで逆の場
合でもこの発明を有効に適用でき、フォーカスエラー信
号のオフセットを有効に消去することができる。また、
172波長板29は必ずしも戻り光の半分の光束を透過
するように配置する必要はなく、その一部の光束を透過
するように配置しても良く、また光検出器28の分割線
の交点は必ずしも戻り光の中心光線に一致させる必要は
ない。これらの場合においても、演算回路31.32の
増幅率を調整することにより、オフセットを消去した正
確なフォーカスエラー信号を得ることができる。
さらに、上記の実施例においては、演算回路31.32
を用いて受光領域28A〜28Dの出力A−Dに対して
、(A−B)および(C−D)を求めるようにしたが、
2個の加算回路を用いて対角線方向のそれぞれ2個の受
光領域28A。
を用いて受光領域28A〜28Dの出力A−Dに対して
、(A−B)および(C−D)を求めるようにしたが、
2個の加算回路を用いて対角線方向のそれぞれ2個の受
光領域28A。
28Dおよび28B、28Cの出力の和、すなわち(A
+D)および(B+C)を求め、これら加算出力を演算
回路33に供給してその差を求めてオフセットを消去し
たフォーカスエラー信号を得るようにすることもできる
。また、上記の実施例ではフォーカスエラー信号のみを
求めるようにしたが、受光領域28A〜28Dの゛出力
A−Dに対して、(A+B)−α(C十D)を演算する
ことにより、プッシュプルのトラッキングエラー信号を
得ることもできる。ここで、αは臨界角プリズム27の
反射面27AにおけるP偏光とS偏光との反射率の違い
による入射光量の差を補正するための定数を表す。さら
に、この発明はディスク状の記録媒体を用いるものに限
らず、カード状の記録媒体を用いるものにも有効に適用
することができる。
+D)および(B+C)を求め、これら加算出力を演算
回路33に供給してその差を求めてオフセットを消去し
たフォーカスエラー信号を得るようにすることもできる
。また、上記の実施例ではフォーカスエラー信号のみを
求めるようにしたが、受光領域28A〜28Dの゛出力
A−Dに対して、(A+B)−α(C十D)を演算する
ことにより、プッシュプルのトラッキングエラー信号を
得ることもできる。ここで、αは臨界角プリズム27の
反射面27AにおけるP偏光とS偏光との反射率の違い
による入射光量の差を補正するための定数を表す。さら
に、この発明はディスク状の記録媒体を用いるものに限
らず、カード状の記録媒体を用いるものにも有効に適用
することができる。
以上のように、この発明によれば、臨界角法を採用する
焦点検出装置において、光検出器を4分割した受光領域
をもって構成すると共に、臨界角プリズムの反射面にP
偏光またはS偏光に対しては反射防止膜となり、S偏光
またはP偏光に対しては反射増加膜となる薄膜を設け、
かつ172波長板を追加するだけで、フォーカスエラー
信号のオフセットを有効に消去できるようにしたので、
小型かつ安価にできると共に、組立、調整を容易かつ短
時間でできる。
焦点検出装置において、光検出器を4分割した受光領域
をもって構成すると共に、臨界角プリズムの反射面にP
偏光またはS偏光に対しては反射防止膜となり、S偏光
またはP偏光に対しては反射増加膜となる薄膜を設け、
かつ172波長板を追加するだけで、フォーカスエラー
信号のオフセットを有効に消去できるようにしたので、
小型かつ安価にできると共に、組立、調整を容易かつ短
時間でできる。
第1図はこの発明の一実施例を示す図、第2図は第1図
に示す臨界角プリズムの反射面における反射率特性を示
す図、 第3図は第1図に示す1/2波長板の構成を示す図、 第4図は従来の技術を説明するための図である。 21− レーザダイオード 22−・−コリメータレンズ 23・−偏光ビームスプリッタ 24=・−174波長板 25一対物レンズ26−
・・ディスク 27 ’−’b’Fr界角プリ
ズム27A・−反射面 27 B−薄膜2B−光
検出器 28A〜28D−・受光領域29−・−
172波長Fj、30−戻り光31、 32. 33−
演算回路 34・−位相補償回路 35一対物レンズ駆動回路 36・−レンズアクチュエータ 36A・−・フォーカスコイル 手 続 ()「 正 書 平成元年 6月19日 特許庁長官 吉 1) 文 毅 殿1、事件
の表示 平成1年特許願第122817号 2、発明の名称 焦点検出装置 3、補正をする者 77(件との関係 特許出願人 (037) オリンパス光学工業株式会社4、代理人 明m?Jの「発明の詳細な説明」の欄 ■、明細書第3頁第8行の「その結果再生区間と記録区
間とで、」を「その結果未記録部と既記緑部とで、」に
訂正し、 同頁第10行を下記の通りに訂正する。 「題がある。走査方向の光量分布が不均一となる原因と
しては、この他に光源の変動や光学素子の移動等がある
。」 2、同第9頁第12〜13行の「174波長の厚さで」
を「1ノ4波長の光学的厚さでノに訂正する。
に示す臨界角プリズムの反射面における反射率特性を示
す図、 第3図は第1図に示す1/2波長板の構成を示す図、 第4図は従来の技術を説明するための図である。 21− レーザダイオード 22−・−コリメータレンズ 23・−偏光ビームスプリッタ 24=・−174波長板 25一対物レンズ26−
・・ディスク 27 ’−’b’Fr界角プリ
ズム27A・−反射面 27 B−薄膜2B−光
検出器 28A〜28D−・受光領域29−・−
172波長Fj、30−戻り光31、 32. 33−
演算回路 34・−位相補償回路 35一対物レンズ駆動回路 36・−レンズアクチュエータ 36A・−・フォーカスコイル 手 続 ()「 正 書 平成元年 6月19日 特許庁長官 吉 1) 文 毅 殿1、事件
の表示 平成1年特許願第122817号 2、発明の名称 焦点検出装置 3、補正をする者 77(件との関係 特許出願人 (037) オリンパス光学工業株式会社4、代理人 明m?Jの「発明の詳細な説明」の欄 ■、明細書第3頁第8行の「その結果再生区間と記録区
間とで、」を「その結果未記録部と既記緑部とで、」に
訂正し、 同頁第10行を下記の通りに訂正する。 「題がある。走査方向の光量分布が不均一となる原因と
しては、この他に光源の変動や光学素子の移動等がある
。」 2、同第9頁第12〜13行の「174波長の厚さで」
を「1ノ4波長の光学的厚さでノに訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、対物レンズを経て記録媒体に投射された光の該記録
媒体からの戻り光の光路中に配置され、該戻り光の中心
光線に対してほぼ臨界角で、かつP偏光またはS偏光に
対しては反射防止膜となり、S偏光またはP偏光に対し
ては反射増加膜となる薄膜を設けた反射面を有する臨界
角プリズムと、 この臨界角プリズムと前記記録媒体との間で、前記反射
面における戻り光の中心光線の入射面と平行な平面を境
とする戻り光の一方の光束の光路中に配置した1/2波
長板と、前記反射面で反射された戻り光を受光する ように配置され、直交する分割線で分割された4個の受
光領域を有する光検出器とを具え、この光検出器の対角
線方向のそれぞれ2個の受光領域の出力の和の差に基づ
いて、前記対物レンズの前記記録媒体に対する焦点状態
を検出するよう構成したことを特徴とする焦点検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12281789A JPH02304719A (ja) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12281789A JPH02304719A (ja) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | 焦点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02304719A true JPH02304719A (ja) | 1990-12-18 |
Family
ID=14845373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12281789A Pending JPH02304719A (ja) | 1989-05-18 | 1989-05-18 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02304719A (ja) |
-
1989
- 1989-05-18 JP JP12281789A patent/JPH02304719A/ja active Pending
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