JPH0230654B2 - - Google Patents
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- JPH0230654B2 JPH0230654B2 JP58104940A JP10494083A JPH0230654B2 JP H0230654 B2 JPH0230654 B2 JP H0230654B2 JP 58104940 A JP58104940 A JP 58104940A JP 10494083 A JP10494083 A JP 10494083A JP H0230654 B2 JPH0230654 B2 JP H0230654B2
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- optical fiber
- sensor
- light
- reflective film
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/32—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は反射型光フアイバ温度測定装置、特に
光フアイバを使用して温度測定を行う装置に関す
る。
光フアイバを使用して温度測定を行う装置に関す
る。
従来技術
被測定個所に配置されたセンサフアイバにレー
ザ光を供給し、前記レーザ光とセンサフアイバか
らの反射光とを混合して干渉光を発生し、干渉光
の干渉縞移動量を検出することにより、被測定個
所の温度を測定する光フアイバ温度測定の原理は
周知である。
ザ光を供給し、前記レーザ光とセンサフアイバか
らの反射光とを混合して干渉光を発生し、干渉光
の干渉縞移動量を検出することにより、被測定個
所の温度を測定する光フアイバ温度測定の原理は
周知である。
すなわち、光フアイバを通過する光の位相速度
は、光フアイバの温度変化に従つて変化する。こ
れは主として光フアイバのコアの屈折率が温度に
よつて変化するからである。従つて、所定長さの
光フアイバを伝搬した光の位相は、温度によつて
変化することとなる。この光フアイバを伝搬した
光と伝搬していない参照光とを混合することによ
つて干渉光が発生するので、温度変化量を干渉縞
の移動量として表わすことができる。そして、干
渉縞の移動量は２個の光・電気変換検出器によつ
て検出することができ、その移動量から光フアイ
バが配置された被測定個所の温度を測定すること
ができる。
は、光フアイバの温度変化に従つて変化する。こ
れは主として光フアイバのコアの屈折率が温度に
よつて変化するからである。従つて、所定長さの
光フアイバを伝搬した光の位相は、温度によつて
変化することとなる。この光フアイバを伝搬した
光と伝搬していない参照光とを混合することによ
つて干渉光が発生するので、温度変化量を干渉縞
の移動量として表わすことができる。そして、干
渉縞の移動量は２個の光・電気変換検出器によつ
て検出することができ、その移動量から光フアイ
バが配置された被測定個所の温度を測定すること
ができる。
発明の目的
本発明の目的は、小型で操作性に優れ測定精度
の高い反射型光フアイバ温度測定装置を提供する
ことにある。
の高い反射型光フアイバ温度測定装置を提供する
ことにある。
発明の構成
上記目的を達成するために、本発明は、開放端
に反射膜が被覆されているセンサ部と該センサ部
と一体的に構成されレーザ光源からのレーザ光を
センサ部へ供給しかつセンサ部からの反射光を導
く光伝送部とを有するセンサ用光フアイバと、開
放端に反射膜が被覆されレーザ光源からのレーザ
光を反射膜へ供給しかつ反射膜からの反射光を導
く光伝送部を有する参照用光フアイバと、前記各
光フアイバからの反射光を混合して干渉縞を発生
する干渉計部と、干渉計部からの干渉縞を電気的
に検出するために互いに干渉縞の位相角度だけ離
れた位置に設けられた２個の検出器を有する検出
部と、を含み、前記各光フアイバの光伝送部は互
いに束ねられていることを特徴とする。
に反射膜が被覆されているセンサ部と該センサ部
と一体的に構成されレーザ光源からのレーザ光を
センサ部へ供給しかつセンサ部からの反射光を導
く光伝送部とを有するセンサ用光フアイバと、開
放端に反射膜が被覆されレーザ光源からのレーザ
光を反射膜へ供給しかつ反射膜からの反射光を導
く光伝送部を有する参照用光フアイバと、前記各
光フアイバからの反射光を混合して干渉縞を発生
する干渉計部と、干渉計部からの干渉縞を電気的
に検出するために互いに干渉縞の位相角度だけ離
れた位置に設けられた２個の検出器を有する検出
部と、を含み、前記各光フアイバの光伝送部は互
いに束ねられていることを特徴とする。
実施例
以下図面に基づいて本発明の好適な実施例を説
明する。
明する。
第１図には、本発明に係る反射型光フアイバ温
度測定装置の概略構成が示され、第２図には、第
１図で示される装置のブロツク構成が示されてい
る。
度測定装置の概略構成が示され、第２図には、第
１図で示される装置のブロツク構成が示されてい
る。
第２図から明らかなように、本実施例装置は、
レーザ光１００を発生する光源部１０と、被測定
個所に配置されるセンサ部１２と、光源部１０か
らのレーザ光１００をセンサ部１２へ供給しかつ
センサ部１２からの反射光１０２，１０４を伝送
するケーブル部１４と、ケーブル部１４からの各
反射光１０２，１０４を混合して干渉光１０６を
発生する干渉計部１６と、干渉計部１６からの干
渉光１０６を電気的に検出する検出部１８と、を
備えている。
レーザ光１００を発生する光源部１０と、被測定
個所に配置されるセンサ部１２と、光源部１０か
らのレーザ光１００をセンサ部１２へ供給しかつ
センサ部１２からの反射光１０２，１０４を伝送
するケーブル部１４と、ケーブル部１４からの各
反射光１０２，１０４を混合して干渉光１０６を
発生する干渉計部１６と、干渉計部１６からの干
渉光１０６を電気的に検出する検出部１８と、を
備えている。
上記光源部１０はHe−Ne等のガスレーザ、半
導体レーザ等のレーザ光源２０を有し、レーザ光
源２０からのレーザ光１００は干渉計部１６を介
してケーブル部１４及びセンサ部１２へ供給され
る。
導体レーザ等のレーザ光源２０を有し、レーザ光
源２０からのレーザ光１００は干渉計部１６を介
してケーブル部１４及びセンサ部１２へ供給され
る。
また上記センサ部１２は単一モード光フアイ
バ、定偏波光フアイバ等のセンサ用光フアイバ２
２の一部（本実施例では長さ１cm）からなり、該
センサ用光フアイバ２２は被測定個所に配置され
ている。センサ用光フアイバ２２は所定長からな
り、その開放端には反射膜２４が被覆されてお
り、センサ用光フアイバ２２に供給されたレーザ
光１００ａは被測定個所の温度に応じた位相速度
でセンサ用光フアイバ２２を通過し、反射膜２４
にて反射し、反射光１０２として再びセンサ用光
フアイバ２２を逆方向に伝送される。
バ、定偏波光フアイバ等のセンサ用光フアイバ２
２の一部（本実施例では長さ１cm）からなり、該
センサ用光フアイバ２２は被測定個所に配置され
ている。センサ用光フアイバ２２は所定長からな
り、その開放端には反射膜２４が被覆されてお
り、センサ用光フアイバ２２に供給されたレーザ
光１００ａは被測定個所の温度に応じた位相速度
でセンサ用光フアイバ２２を通過し、反射膜２４
にて反射し、反射光１０２として再びセンサ用光
フアイバ２２を逆方向に伝送される。
更に前記ケーブル部１４は前記センサ用光フア
イバ２２と一体的に構成される光伝送部２６（本
実施例では長さ１ｍ）を有し、該光伝送部２６は
レーザ光１００ａをセンサ部１２へ供給しかつセ
ンサ部１２からの反射光１０２を干渉計部１６へ
導くように構成されている。またケーブル部１４
は前記センサ用光フアイバ２２と同一部材から成
る参照用光フアイバ２８を有し、該参照用光フア
イバ２８の主要部をなす光伝送部３０の開放端に
は反射膜３２が被覆されており、レーザ光１００
ｂは光伝送部３０にて反射膜３２へ供給され、ま
た反射膜３２からの反射光１０４は上記光伝送部
３０にて干渉計部１６へ導かれる。
イバ２２と一体的に構成される光伝送部２６（本
実施例では長さ１ｍ）を有し、該光伝送部２６は
レーザ光１００ａをセンサ部１２へ供給しかつセ
ンサ部１２からの反射光１０２を干渉計部１６へ
導くように構成されている。またケーブル部１４
は前記センサ用光フアイバ２２と同一部材から成
る参照用光フアイバ２８を有し、該参照用光フア
イバ２８の主要部をなす光伝送部３０の開放端に
は反射膜３２が被覆されており、レーザ光１００
ｂは光伝送部３０にて反射膜３２へ供給され、ま
た反射膜３２からの反射光１０４は上記光伝送部
３０にて干渉計部１６へ導かれる。
本発明において特徴的なことは、前記各光フア
イバ２２，２８の光伝送部２６，３０が互いに束
ねられていることである。両光フアイバ２２，２
８の光伝送部２６，３０を束ねる手段としては、
等間隔で縛つたり、接着剤で固着したり、ポリエ
チレン等の樹脂からなるチユーブに入れたりする
ことにより行われる。このように両光フアイバ２
２，２８の光伝送部２６，３０を互いに束ねたこ
とにより、後述するように、ケーブル部１４での
温度変化に基づく測定誤差を極めて小さくするこ
とができる。
イバ２２，２８の光伝送部２６，３０が互いに束
ねられていることである。両光フアイバ２２，２
８の光伝送部２６，３０を束ねる手段としては、
等間隔で縛つたり、接着剤で固着したり、ポリエ
チレン等の樹脂からなるチユーブに入れたりする
ことにより行われる。このように両光フアイバ２
２，２８の光伝送部２６，３０を互いに束ねたこ
とにより、後述するように、ケーブル部１４での
温度変化に基づく測定誤差を極めて小さくするこ
とができる。
更に前記干渉計部１６は、前記各光フアイバ２
２，２８からの反射光１０２，１０４を混合して
干渉光１０６を発生するために、半透鏡３４、全
反射鏡３６及びレーザ用集光レンズ、セルフオツ
クレンズ等の集光レンズ３８，４０から構成され
ている。そして、レーザ光源２０から半透鏡３４
に供給されたレーザ光１００の一部は、レーザ光
１００ａとして半透鏡３４を透過して直進し、集
光レンズ３８を通過してセンサ用光フアイバ２２
に供給される。センサ用光フアイバ２２からの反
射光１０２は、再び集光レンズ３８を通過し、そ
の一部が半透鏡３４にて反射される。またレーザ
光源２０から半透鏡３４に供給されたレーザ光１
００の一部は、レーザ光１００ｂとして半透鏡３
４、全反射鏡３６にてそれぞれ反射された後、集
光レンズ４０を通過して参照用光フアイバ２８に
供給される。参照用光フアイバ２８からの反射光
１０４は、再び集光レンズ４０を通過して全反射
鏡３６にて反射され、その一部が半透鏡３４を透
過する。従つて、各光フアイバ２２，２８からの
反射光１０２，１０４は半透鏡３４の位置で混合
され、この結果、干渉光１０６が発生する。干渉
光１０６は第３図で示されるように、その断面形
状が明部１０６ａ及び暗部１０６ｂを組み合わせ
た干渉光縞から成り、この干渉縞の移動量から基
準温度に対する温度変化分、すなわち、被測定個
所の温度を測定することができる。このようにし
て半透鏡３４にて発生した干渉光１０６は、検出
部１８に供給される。
２，２８からの反射光１０２，１０４を混合して
干渉光１０６を発生するために、半透鏡３４、全
反射鏡３６及びレーザ用集光レンズ、セルフオツ
クレンズ等の集光レンズ３８，４０から構成され
ている。そして、レーザ光源２０から半透鏡３４
に供給されたレーザ光１００の一部は、レーザ光
１００ａとして半透鏡３４を透過して直進し、集
光レンズ３８を通過してセンサ用光フアイバ２２
に供給される。センサ用光フアイバ２２からの反
射光１０２は、再び集光レンズ３８を通過し、そ
の一部が半透鏡３４にて反射される。またレーザ
光源２０から半透鏡３４に供給されたレーザ光１
００の一部は、レーザ光１００ｂとして半透鏡３
４、全反射鏡３６にてそれぞれ反射された後、集
光レンズ４０を通過して参照用光フアイバ２８に
供給される。参照用光フアイバ２８からの反射光
１０４は、再び集光レンズ４０を通過して全反射
鏡３６にて反射され、その一部が半透鏡３４を透
過する。従つて、各光フアイバ２２，２８からの
反射光１０２，１０４は半透鏡３４の位置で混合
され、この結果、干渉光１０６が発生する。干渉
光１０６は第３図で示されるように、その断面形
状が明部１０６ａ及び暗部１０６ｂを組み合わせ
た干渉光縞から成り、この干渉縞の移動量から基
準温度に対する温度変化分、すなわち、被測定個
所の温度を測定することができる。このようにし
て半透鏡３４にて発生した干渉光１０６は、検出
部１８に供給される。
更に前記検出部１８は干渉計部１６で発生した
干渉光１０６の干渉縞移動量を電気的に検出する
２個の検出器４２，４４を有し、これら検出器４
２，４４は例えばフオトダイオード又はフオトト
ランジスタあるいは光電子増倍管等から構成され
ている。そして、前記干渉計部１６から供給され
た干渉光１０６の一部は、半透鏡４６を透過して
検出器４２に供給され、また干渉光１０６の一部
は半透鏡４６にて反射され、他方の検出器４４に
供給される。
干渉光１０６の干渉縞移動量を電気的に検出する
２個の検出器４２，４４を有し、これら検出器４
２，４４は例えばフオトダイオード又はフオトト
ランジスタあるいは光電子増倍管等から構成され
ている。そして、前記干渉計部１６から供給され
た干渉光１０６の一部は、半透鏡４６を透過して
検出器４２に供給され、また干渉光１０６の一部
は半透鏡４６にて反射され、他方の検出器４４に
供給される。
上記各検出器４２，４４における干渉光１０６
の受光位置は、たとえば、干渉縞の位相角度θ＝
１／２πだけ離れた位置に選定され、例えば、第３ 図で示されるように、各検出器４２，４４の受光
面４２ａ，４４ａをそれぞれ明部１０６ａの中間
位置、明部１０６ａと暗部１０６ｂとの境界位置
に選定されている。従つて、干渉計部１６にて発
生した干渉光１０６のうち所定位置にある干渉光
１０６のみがそれぞれ検出器４２，４４に供給さ
れる。
の受光位置は、たとえば、干渉縞の位相角度θ＝
１／２πだけ離れた位置に選定され、例えば、第３ 図で示されるように、各検出器４２，４４の受光
面４２ａ，４４ａをそれぞれ明部１０６ａの中間
位置、明部１０６ａと暗部１０６ｂとの境界位置
に選定されている。従つて、干渉計部１６にて発
生した干渉光１０６のうち所定位置にある干渉光
１０６のみがそれぞれ検出器４２，４４に供給さ
れる。
この場合各検出器４２，４４の電気的な出力電
圧をｘ、ｙとすれば、 ｘ＝cosθ ……(1) ｙ＝sinθ ……(2) で表わされる。
圧をｘ、ｙとすれば、 ｘ＝cosθ ……(1) ｙ＝sinθ ……(2) で表わされる。
上記(2)式を(1)式で割ると、
ｙ／ｘ＝sinθ／cosθ＝tanθ
で表わされ、
θ＝tan-1ｙ／ｘ
から位相角度θを求めることができる。
更に本実施例装置は周知の演算・表示部４８を
備え、該演算・表示部４８は上述した位相角度θ
及び該位相角度θに基づく被測定個所の温度を演
算し、これをデジタル又はアナログ表示するよう
に構成されている。
備え、該演算・表示部４８は上述した位相角度θ
及び該位相角度θに基づく被測定個所の温度を演
算し、これをデジタル又はアナログ表示するよう
に構成されている。
なお本実施例における光源部１０、干渉計部１
６及び検出部１８は、第１図で示されるように、
１個のケース内に収められ、装置の小型化が図ら
れている。
６及び検出部１８は、第１図で示されるように、
１個のケース内に収められ、装置の小型化が図ら
れている。
本発明の実施例は以上の構成からなり、以下に
その作用を概略的に説明する。
その作用を概略的に説明する。
レーザ光源２０にて発生されたレーザ光１００
の一部は、レーザ光１００ａとして半透鏡３４を
透過して直進し、集光レンズ３８を通過してセン
サ用光フアイバ２２に供給される。センサ用光フ
アイバ２２に供給されたレーザ光１００ａは、光
伝送部２６にてセンサ部１２へ供給され、反射膜
２４にて反射され、反射光１０２としてセンサ部
１２及び光伝送部１６を逆方向に通過して再び干
渉計部１６へ供給される。干渉計部１６へ供給さ
れた反射光１０２は、集光レンズ３８を通過し、
その一部が半透鏡３４にて反射される。またレー
ザ光源２０にて発生されたレーザ光１００の一部
は、レーザ光１００ｂとして半透鏡３４、全反射
鏡３６にてそれぞれ反射され、集光レンズ４０を
通過して参照用光フアイバ２８に供給される。参
照用光フアイバ２８に供給されたレーザ光１００
ｂは、光伝送部３０にて反射膜３２へ供給され、
反射光１０４として光伝送部３０を逆方向に伝送
され、再び干渉計部１６へ供給される。干渉計部
１６へ供給された反射光１０４は集光レンズ４０
を通過して全反射鏡３６にて反射され、その一部
が半透鏡３４を透過する。
の一部は、レーザ光１００ａとして半透鏡３４を
透過して直進し、集光レンズ３８を通過してセン
サ用光フアイバ２２に供給される。センサ用光フ
アイバ２２に供給されたレーザ光１００ａは、光
伝送部２６にてセンサ部１２へ供給され、反射膜
２４にて反射され、反射光１０２としてセンサ部
１２及び光伝送部１６を逆方向に通過して再び干
渉計部１６へ供給される。干渉計部１６へ供給さ
れた反射光１０２は、集光レンズ３８を通過し、
その一部が半透鏡３４にて反射される。またレー
ザ光源２０にて発生されたレーザ光１００の一部
は、レーザ光１００ｂとして半透鏡３４、全反射
鏡３６にてそれぞれ反射され、集光レンズ４０を
通過して参照用光フアイバ２８に供給される。参
照用光フアイバ２８に供給されたレーザ光１００
ｂは、光伝送部３０にて反射膜３２へ供給され、
反射光１０４として光伝送部３０を逆方向に伝送
され、再び干渉計部１６へ供給される。干渉計部
１６へ供給された反射光１０４は集光レンズ４０
を通過して全反射鏡３６にて反射され、その一部
が半透鏡３４を透過する。
従つて、前記各センサ用光フアイバ２２，２８
からの反射光１０２，１０４は半透鏡３４の位置
にて混合され、干渉光１０６が発生される。この
干渉光１０６の一部は、たとえば、第３図で示さ
れるように、互いに位相角度θ＝１／２πだけ離れ た位置に配置された各検出器４２，４４の受光面
４２ａ，４４ａから入射され、これら各検出器４
２，４４からは、各受光面４２ａ，４４ａの配置
位置における干渉光１０６の明部１０６ａ、暗部
１０６ｂに応じた明暗検出信号１０８，１１０が
出力され、演算・表示部４８に供給される。演
算・表示部４８では、明暗検出信号１０８，１１
０に基づいて位相角度θの演算を行い、更に演算
結果から被測定個所の温度の演算を行う。そし
て、演算された被測定個所の温度は表示器５０に
デジタル又はアナログ表示される。
からの反射光１０２，１０４は半透鏡３４の位置
にて混合され、干渉光１０６が発生される。この
干渉光１０６の一部は、たとえば、第３図で示さ
れるように、互いに位相角度θ＝１／２πだけ離れ た位置に配置された各検出器４２，４４の受光面
４２ａ，４４ａから入射され、これら各検出器４
２，４４からは、各受光面４２ａ，４４ａの配置
位置における干渉光１０６の明部１０６ａ、暗部
１０６ｂに応じた明暗検出信号１０８，１１０が
出力され、演算・表示部４８に供給される。演
算・表示部４８では、明暗検出信号１０８，１１
０に基づいて位相角度θの演算を行い、更に演算
結果から被測定個所の温度の演算を行う。そし
て、演算された被測定個所の温度は表示器５０に
デジタル又はアナログ表示される。
前述した各光フアイバ２２，２８による反射光
１０２，１０４の伝送時において、これら光フア
イバ２２，２８は互いに束ねられているので、参
照用光フアイバ２８とセンサ用光フアイバ２２は
常に同様な環境の影響を受けることとなり、ケー
ブル部１４の環境条件変化に基づく測定誤差を極
めて小さくすることができる。
１０２，１０４の伝送時において、これら光フア
イバ２２，２８は互いに束ねられているので、参
照用光フアイバ２８とセンサ用光フアイバ２２は
常に同様な環境の影響を受けることとなり、ケー
ブル部１４の環境条件変化に基づく測定誤差を極
めて小さくすることができる。
また本実施例においては、干渉計部１６がセン
サ部１２から離れた位置に設置されているので、
狭い被測定個所でも容易に配置することができ、
またセンサ部１２の移動操作等を容易に行うこと
ができる。
サ部１２から離れた位置に設置されているので、
狭い被測定個所でも容易に配置することができ、
またセンサ部１２の移動操作等を容易に行うこと
ができる。
発明の効果
以上説明したように、本発明によれば、センサ
用光フアイバ及び参照用光フアイバの各光伝送部
が互いに束ねられているので、これら光フアイバ
が温度などの影響を受けた場合であつても、高精
度で温度測定を行うことができる。
用光フアイバ及び参照用光フアイバの各光伝送部
が互いに束ねられているので、これら光フアイバ
が温度などの影響を受けた場合であつても、高精
度で温度測定を行うことができる。
また本発明によれば、装置が各機能ごとにセン
サ用光フアイバ、参照用光フアイバ、干渉計部及
び検出部を含む構成から成るので、装置の小型化
を図ることができる。
サ用光フアイバ、参照用光フアイバ、干渉計部及
び検出部を含む構成から成るので、装置の小型化
を図ることができる。
更に、本発明によれば、干渉計部はセンサ部か
ら離れた位置に配置されているので、センサ部を
狭い被測定個所へ容易に配置することができ、ま
たセンサ部の移動操作等を容易に行うことができ
る。
ら離れた位置に配置されているので、センサ部を
狭い被測定個所へ容易に配置することができ、ま
たセンサ部の移動操作等を容易に行うことができ
る。
第１図は本発明に係る反射型光フアイバ温度測
定装置の好適な実施例を示す構成図、第２図は第
１図で示される装置の詳細なブロツク構成図、第
３図は各検出器の受光面の配置位置を示す説明図
である。 １０……光源部、１２……センサ部、１４……
ケーブル部、１６……干渉計部、１８……検出
部、２０……レーザ光源、２２……センサ用光フ
アイバ、２６……光伝送部、２８……参照用光フ
アイバ、３０……光伝送部、４２，４４……検出
器、１００ａ，１００ｂ……レーザ光、１０２，
１０４……反射光、１０６……干渉光。
定装置の好適な実施例を示す構成図、第２図は第
１図で示される装置の詳細なブロツク構成図、第
３図は各検出器の受光面の配置位置を示す説明図
である。 １０……光源部、１２……センサ部、１４……
ケーブル部、１６……干渉計部、１８……検出
部、２０……レーザ光源、２２……センサ用光フ
アイバ、２６……光伝送部、２８……参照用光フ
アイバ、３０……光伝送部、４２，４４……検出
器、１００ａ，１００ｂ……レーザ光、１０２，
１０４……反射光、１０６……干渉光。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 開放端に反射膜が被覆されているセンサ部と
該センサ部と一体的に構成されレーザ光源からの
レーザ光をセンサ部へ供給しかつセンサ部からの
反射光を導く光伝送部とを有するセンサ用光フア
イバと、 開放端に反射膜が被覆されレーザ光源からのレ
ーザ光を反射膜へ供給しかつ反射膜からの反射光
を導く光伝送部を有する参照用光フアイバと、 前記各光フアイバからの反射光を混合して干渉
縞を発生する干渉計部と、干渉計部からの干渉縞
を電気的に検出するために互いに干渉縞の位相角
度だけ離れた位置に設けられた２個の検出器を有
する検出部と、を含み、 前記各光フアイバの光伝送部は互いに束ねられ
ていることを特徴とする反射型光フアイバ温度測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58104940A JPS59230129A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 反射型光フアイバ温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58104940A JPS59230129A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 反射型光フアイバ温度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59230129A JPS59230129A (ja) | 1984-12-24 |
| JPH0230654B2 true JPH0230654B2 (ja) | 1990-07-09 |
Family
ID=14394086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58104940A Granted JPS59230129A (ja) | 1983-06-14 | 1983-06-14 | 反射型光フアイバ温度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59230129A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2022190277A1 (ja) * | 2021-03-10 | 2022-09-15 | オリンパス株式会社 | 温度測定方法、温度測定装置、医療機器システムおよびレーザ治療方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56135135A (en) * | 1980-03-26 | 1981-10-22 | Toshimitsu Musha | Temperature detection device |
| JPS586431A (ja) * | 1981-07-04 | 1983-01-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバを用いた温度測定法 |
-
1983
- 1983-06-14 JP JP58104940A patent/JPS59230129A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59230129A (ja) | 1984-12-24 |
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