JPH02307259A - 高電圧発生回路 - Google Patents
高電圧発生回路Info
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- JPH02307259A JPH02307259A JP1129408A JP12940889A JPH02307259A JP H02307259 A JPH02307259 A JP H02307259A JP 1129408 A JP1129408 A JP 1129408A JP 12940889 A JP12940889 A JP 12940889A JP H02307259 A JPH02307259 A JP H02307259A
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- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 31
- 230000015654 memory Effects 0.000 abstract description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 108010075750 P-Type Calcium Channels Proteins 0.000 abstract 2
- 108090000699 N-Type Calcium Channels Proteins 0.000 abstract 1
- 102000004129 N-Type Calcium Channels Human genes 0.000 abstract 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 3
- 241000270295 Serpentes Species 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Dc-Dc Converters (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は不揮発性半導体メモリーの中で特に電気的に書
き込み、消去可能なリードオンリーメモリー(以下、E
2FROMと記す)の書き込み、消去に必要な高電圧を
発生させるための高電圧発生回路に関する。
き込み、消去可能なリードオンリーメモリー(以下、E
2FROMと記す)の書き込み、消去に必要な高電圧を
発生させるための高電圧発生回路に関する。
[従来の技術]
E2FROMのデータの書き込み、消去には供給電源電
圧よりも高い電圧(15■〜25v)が必要である。第
7図は従来の高電圧発生回路である。1は昇圧電圧を発
生させるための昇圧回路で、いわゆるチャージポンプ回
路(例えば文献JOURNAL OF 5OLID
5TATECIRCUITS、VOL、5C−16
,N。
圧よりも高い電圧(15■〜25v)が必要である。第
7図は従来の高電圧発生回路である。1は昇圧電圧を発
生させるための昇圧回路で、いわゆるチャージポンプ回
路(例えば文献JOURNAL OF 5OLID
5TATECIRCUITS、VOL、5C−16
,N。
3’、June 1981のA 1.5V Si
ngle 5upply One Transi
stor CMO5EEPROM記載)でNchトラン
ジスタと容量からなる。3はメモリセル等の負荷容量で
あり、2は昇圧回路1を駆動させる信号を供給するため
の発振信号CL、CLを出力する発振回路である。2の
発振回路はインパークとNORから成っている。NOH
の1人力には書き込み、消去制御信号(以下、W /
E fli制御信号と記す)が入力されている。NOH
についてはW/E制御信号のロジックによりNANDで
あっても構わない。動作を説明すると、読み出し時には
w / E 1lil制御信号はHレベルとなるため発
振回路2の発振信号CL、CLはそれぞれHレベル、L
レベルに固定されるため、昇圧回路1は駆動されず昇圧
電圧は発生しない。書き込み、消去時にはW/E制御信
号はLレベルとなるため、発振回路2では発振動作が生
じ発振信号CL、CLが出力される。その結果、昇圧回
路1が駆動され昇圧電圧が発生する。
ngle 5upply One Transi
stor CMO5EEPROM記載)でNchトラン
ジスタと容量からなる。3はメモリセル等の負荷容量で
あり、2は昇圧回路1を駆動させる信号を供給するため
の発振信号CL、CLを出力する発振回路である。2の
発振回路はインパークとNORから成っている。NOH
の1人力には書き込み、消去制御信号(以下、W /
E fli制御信号と記す)が入力されている。NOH
についてはW/E制御信号のロジックによりNANDで
あっても構わない。動作を説明すると、読み出し時には
w / E 1lil制御信号はHレベルとなるため発
振回路2の発振信号CL、CLはそれぞれHレベル、L
レベルに固定されるため、昇圧回路1は駆動されず昇圧
電圧は発生しない。書き込み、消去時にはW/E制御信
号はLレベルとなるため、発振回路2では発振動作が生
じ発振信号CL、CLが出力される。その結果、昇圧回
路1が駆動され昇圧電圧が発生する。
[発明が解決しようとする課題]
従来技術での高電圧発生回路では昇圧回路lの昇圧電圧
値が主に発振回路2から供給される発振信号の振幅電位
、即ち電源電圧値に依存するため、電源電圧が高(なる
程発信信号の振幅電位も増え昇圧電圧値が高くなった。
値が主に発振回路2から供給される発振信号の振幅電位
、即ち電源電圧値に依存するため、電源電圧が高(なる
程発信信号の振幅電位も増え昇圧電圧値が高くなった。
そのため電源電圧が高い場合にはメモリトランジスタの
高電圧印加によるストレスによる信頼性の劣化が生じた
。また、昇圧電圧値の電源電圧依存による昇圧電圧値の
変動によって書き込み、消去特性の変動が生じた。ある
いは、この様な昇圧電圧値の電源電圧依存を無(すため
に、昇圧電圧出力端にツェナーダイオード等を設けて昇
圧電圧をある電位でカットオ〕させて一定とする必要が
あった。本発明はこの様な課題を解決すべく、昇圧電圧
値を電lf!A電圧に依存せず一定とすることを目的と
する。
高電圧印加によるストレスによる信頼性の劣化が生じた
。また、昇圧電圧値の電源電圧依存による昇圧電圧値の
変動によって書き込み、消去特性の変動が生じた。ある
いは、この様な昇圧電圧値の電源電圧依存を無(すため
に、昇圧電圧出力端にツェナーダイオード等を設けて昇
圧電圧をある電位でカットオ〕させて一定とする必要が
あった。本発明はこの様な課題を解決すべく、昇圧電圧
値を電lf!A電圧に依存せず一定とすることを目的と
する。
[課題を解決するための手段1
本発明の高電圧発生回路は発振信号を出力する発振回路
と該発振信号により駆動する昇圧回路から成る高電圧発
生回路において、該発振回路の出力である発振信号に電
位を供給する一定電位供給回路を具備したことを特徴と
する。
と該発振信号により駆動する昇圧回路から成る高電圧発
生回路において、該発振回路の出力である発振信号に電
位を供給する一定電位供給回路を具備したことを特徴と
する。
[作 用]
本発明の上記の構成によれば、発振信号の振幅電位が電
源電圧に依らず一定電位となるため、これにより駆動さ
れる昇圧回路の昇圧電圧値も電源電圧に依存せず一定電
圧値となる。
源電圧に依らず一定電位となるため、これにより駆動さ
れる昇圧回路の昇圧電圧値も電源電圧に依存せず一定電
圧値となる。
[実 施 例]
第1図は本発明の第1の実施例である。発振回路2内の
発振信号CL、CLを出力するインバータ4.5のPc
ht−ランジスタロ、7のソースには、Pchトランジ
スタ9とNchトランジスタ10〜12とで構成された
一定電位供給回路8より電圧V8が与えられている。こ
こで、NchトランジスタlO〜12の電流供給能力は
Pchhランジスク9の能力よりも十分に大きいものと
する。第2図を用いて動作について説明する。電源電圧
■。。が低い領域ではNcht−ランジスタ10〜12
の全てがオン状態ではないので、電位V8はPchトラ
ンジスタ9によりV。0と同一の電イ立が出力される。
発振信号CL、CLを出力するインバータ4.5のPc
ht−ランジスタロ、7のソースには、Pchトランジ
スタ9とNchトランジスタ10〜12とで構成された
一定電位供給回路8より電圧V8が与えられている。こ
こで、NchトランジスタlO〜12の電流供給能力は
Pchhランジスク9の能力よりも十分に大きいものと
する。第2図を用いて動作について説明する。電源電圧
■。。が低い領域ではNcht−ランジスタ10〜12
の全てがオン状態ではないので、電位V8はPchトラ
ンジスタ9によりV。0と同一の電イ立が出力される。
電(原電圧V。0が高くなってNchトランジスタ10
〜12が全てオン状態になる電位Vcになると、Von
がそれより高くなってもNChトランジスタ10〜12
の電流供給能力がPch)ランジスタ9の能力よりも十
分に大きいため、電位v8はVcのまま一定電位を保ち
続ける。この一定電位Vcの値はNchhランジスタ1
0〜12のしきい値電圧値と、その和によって決定され
る。電位Vcを仕様型、FA電圧範囲の電位よりも低い
値に設定しておくと、発振回路2の出力である発振信号
CL、CLの振幅電位は第3図に示す様に仕様電源電圧
の範囲でVc一定の電位振幅となるため、昇圧回路1の
昇圧電圧値は電源電圧V。0に依存せず一定電圧値とな
る。この場合、昇圧電圧値は昇圧回路1を構成するNc
hhランジスタのしきい値電圧値で変化するが、つまり
、しきい値電圧値が高い程昇圧電圧値は低(なるが、電
位V8はNchhランジスク10〜12のしきい値電圧
値も同時に高くなることでその分高くなるため相殺し合
って、結局昇圧電圧値のNchhランジスクのしきい値
電圧値のプロセス変動による変化は少なくなる。
〜12が全てオン状態になる電位Vcになると、Von
がそれより高くなってもNChトランジスタ10〜12
の電流供給能力がPch)ランジスタ9の能力よりも十
分に大きいため、電位v8はVcのまま一定電位を保ち
続ける。この一定電位Vcの値はNchhランジスタ1
0〜12のしきい値電圧値と、その和によって決定され
る。電位Vcを仕様型、FA電圧範囲の電位よりも低い
値に設定しておくと、発振回路2の出力である発振信号
CL、CLの振幅電位は第3図に示す様に仕様電源電圧
の範囲でVc一定の電位振幅となるため、昇圧回路1の
昇圧電圧値は電源電圧V。0に依存せず一定電圧値とな
る。この場合、昇圧電圧値は昇圧回路1を構成するNc
hhランジスタのしきい値電圧値で変化するが、つまり
、しきい値電圧値が高い程昇圧電圧値は低(なるが、電
位V8はNchhランジスク10〜12のしきい値電圧
値も同時に高くなることでその分高くなるため相殺し合
って、結局昇圧電圧値のNchhランジスクのしきい値
電圧値のプロセス変動による変化は少なくなる。
第1の実施例では一定電位供給回路8はN c hトラ
ンジスタlO〜12の3段構成で説明したが、一定電位
Vcの設定、あるいはN c h トランジスタのしき
い値電圧値によっては段数は変化する。
ンジスタlO〜12の3段構成で説明したが、一定電位
Vcの設定、あるいはN c h トランジスタのしき
い値電圧値によっては段数は変化する。
一定電位供給回路8の構成は他にも第4図に示す様にP
chトランジスタ9の代りに抵抗13であってもよいし
、また、第5図に示す様にNchデプリーション型トラ
ンジスタ14と負荷Nchトランジスタ15とで構成し
ても良い。第5図の場合はN c hデプリーション型
トランジスタ14の電源供給能力なNchトランジスタ
15の能力よりも十分太きくしておくと、トランジスタ
14のデプリーションしきい値電圧値により一定電位V
cが決定される。
chトランジスタ9の代りに抵抗13であってもよいし
、また、第5図に示す様にNchデプリーション型トラ
ンジスタ14と負荷Nchトランジスタ15とで構成し
ても良い。第5図の場合はN c hデプリーション型
トランジスタ14の電源供給能力なNchトランジスタ
15の能力よりも十分太きくしておくと、トランジスタ
14のデプリーションしきい値電圧値により一定電位V
cが決定される。
第6図は本発明の第2の実施例である。この場合はイン
バータ4.5の出力部にNchトランジスタ16〜18
.19〜21をそれぞれ接続し、P c h hランジ
スタロ、7と合せて一定電位供給回路8.8′を構成し
ている。トランジスタ16〜18.19〜21は互に同
一のものであり、また、その電源供給能力はそれぞれP
chトランジスタ6.7より十分大きいとする。第1の
実施例と同様に発振信号CL、CLの振幅電位はトラン
ジスタ16〜18.19〜21により一定電位Vcとな
るため、昇圧回路1の昇圧電圧値は電源電圧V。。に依
存せず一定電圧値となる。
バータ4.5の出力部にNchトランジスタ16〜18
.19〜21をそれぞれ接続し、P c h hランジ
スタロ、7と合せて一定電位供給回路8.8′を構成し
ている。トランジスタ16〜18.19〜21は互に同
一のものであり、また、その電源供給能力はそれぞれP
chトランジスタ6.7より十分大きいとする。第1の
実施例と同様に発振信号CL、CLの振幅電位はトラン
ジスタ16〜18.19〜21により一定電位Vcとな
るため、昇圧回路1の昇圧電圧値は電源電圧V。。に依
存せず一定電圧値となる。
[発明の効果1
以上述べた様に本発明によれば、昇圧電位値の電源電圧
依存を無(したので高電源電圧側でのメモリセルの高電
圧印加ストレスによる信頼性の劣化を抑えること、また
、古き込み、消去特性の安定化を図ることが可能となる
。
依存を無(したので高電源電圧側でのメモリセルの高電
圧印加ストレスによる信頼性の劣化を抑えること、また
、古き込み、消去特性の安定化を図ることが可能となる
。
また、昇圧電圧値を一定とするためのツェナーダイオー
ド等も不要となるため、ツェナーダイオード等を形成す
るためのプロセス工程を減らすことが可能となる。また
、ツェナーダイオードを使用した場合のその信頼性劣化
の問題から解放される。
ド等も不要となるため、ツェナーダイオード等を形成す
るためのプロセス工程を減らすことが可能となる。また
、ツェナーダイオードを使用した場合のその信頼性劣化
の問題から解放される。
また、昇圧電圧の立ち上り時間の発振信号の振幅電位依
存の要因が無くなるため、立ち上り時間の電流電圧によ
る変動を抑えることができ、メモリセルの高電圧ストレ
スによる信頼性の劣化を抑えること、書き込み、消去特
性の安定化を図ることが容易となる。
存の要因が無くなるため、立ち上り時間の電流電圧によ
る変動を抑えることができ、メモリセルの高電圧ストレ
スによる信頼性の劣化を抑えること、書き込み、消去特
性の安定化を図ることが容易となる。
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図。
第2図は第1の実施例での電位を示す特性図。第3図は
第1の実施例での信号波形を示す特性図。 第4図、第5図は第1の実施例中の一定電位供給回路8
の他の構成を示す回路図。第6図は本発明の第2の実施
例を示す回路図。第7図は従来の高電圧発生回路を示す
回路図。 l ・ ・・・昇圧回路 2 ・・・・・発振回路 8.8′ ・・一定電位供給回路 3・・・・・・負荷容量 6.7.9・・Pchhランジスタ 10〜12.15〜21 ・・・・Nchトランジスタ 13・・・・・・抵抗 14・・・・・・Nchデプリーション型トランジスタ 以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 喜三部(他1名)算4巴
ス5 ■ 悌 6 m d1巳 謎 巨 −
第1の実施例での信号波形を示す特性図。 第4図、第5図は第1の実施例中の一定電位供給回路8
の他の構成を示す回路図。第6図は本発明の第2の実施
例を示す回路図。第7図は従来の高電圧発生回路を示す
回路図。 l ・ ・・・昇圧回路 2 ・・・・・発振回路 8.8′ ・・一定電位供給回路 3・・・・・・負荷容量 6.7.9・・Pchhランジスタ 10〜12.15〜21 ・・・・Nchトランジスタ 13・・・・・・抵抗 14・・・・・・Nchデプリーション型トランジスタ 以 上 出願人 セイコーエプソン株式会社 代理人 弁理士 鈴 木 喜三部(他1名)算4巴
ス5 ■ 悌 6 m d1巳 謎 巨 −
Claims (1)
- 発振信号を出力する発振回路と該発振信号により駆動す
る昇圧回路から成る高電圧発生回路において、該発振回
路の出力である発振信号に電位を供給する一定電位供給
回路を具備したことを特徴とする高電圧発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1129408A JPH02307259A (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 高電圧発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1129408A JPH02307259A (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 高電圧発生回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02307259A true JPH02307259A (ja) | 1990-12-20 |
Family
ID=15008806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1129408A Pending JPH02307259A (ja) | 1989-05-23 | 1989-05-23 | 高電圧発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02307259A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0528787A (ja) * | 1991-07-25 | 1993-02-05 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置の冗長回路 |
| US5991221A (en) * | 1998-01-30 | 1999-11-23 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US6845046B1 (en) | 1997-01-31 | 2005-01-18 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| JP2006005099A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Nec Electronics Corp | 半導体回路装置 |
| US7023729B2 (en) | 1997-01-31 | 2006-04-04 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
-
1989
- 1989-05-23 JP JP1129408A patent/JPH02307259A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0528787A (ja) * | 1991-07-25 | 1993-02-05 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置の冗長回路 |
| US6407959B2 (en) | 1997-01-31 | 2002-06-18 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US6661715B2 (en) | 1997-01-31 | 2003-12-09 | Eiichi Ishikawa | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US6845046B1 (en) | 1997-01-31 | 2005-01-18 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US7023729B2 (en) | 1997-01-31 | 2006-04-04 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US7236419B2 (en) | 1997-01-31 | 2007-06-26 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US7385869B2 (en) | 1997-01-31 | 2008-06-10 | Renesas Technology Corp. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US5991221A (en) * | 1998-01-30 | 1999-11-23 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US6154412A (en) * | 1998-01-30 | 2000-11-28 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| US6327212B1 (en) | 1998-01-30 | 2001-12-04 | Hitachi, Ltd. | Microcomputer and microprocessor having flash memory operable from single external power supply |
| JP2006005099A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Nec Electronics Corp | 半導体回路装置 |
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