JPH02308478A - ビットエラーレート測定法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、レーザー等の光を微小径のスポットに絞り、
情報を記録する光学式記録媒体のビットエラーレートを
測定する方法に関する。

［従来の技術］ 従来、光学式記録媒体のビットエラーレートを測定する
場合、まず一定の周波数の信号を記録する。次に、この
部分を再生し、本来記録されているはずのデータと比べ
ることにより、ビットエラーレートを求めていた。この
−例を第４図に示す。

第４図において、４１が一定周波数のデータが記録され
ている光学式記録媒体からの再生信号で、４２がこの信
号をコードデータに戻したものである。もし、光学式記
録媒体上にほこり・傷等に起因する欠陥が存在すると、
この再生信号が乱され、その部分がエラーとなる。即ち
、従来のビットエラーレート測定法は、光学式記録媒体
上の欠陥数を計数しているのである。

［発明が解決しようとする課題］ 一般的に、光学式記録媒体に情報を記録する場合、各種
の変調方式が用いられ、第４図に示したように一定の周
波数の信号のみが記録されるのではなくて、複数の周波
数が混在する信号が記録される。この−例を第５図に示
す。第５図において、５１は変調された信号が記録され
た光学式記録媒体からの再生信号で、５２がこの信号を
コードデータに戻したものである。光学式記録において
は、記録されたビットの間隔が短くなると、この図に見
られるように再生信号の振幅が小さくなる。いま、最小
の振幅をａ、最大の振幅をｂとし、ｂ／ａを変調度と呼
ぶことにする。この変調度があまり小さくなると、デー
タが存在するのかどうか検出できなくなり、エラーが発
生する。このように変調信号を記録した場合、そのパタ
ーンによってもエラーの発生することがありうる。しか
し、従来のビットエラーレート測定法では、一定の周波
数でしか記録を行わないので、この種のエラーは、検出
していなかった。そこで本発明はこのような問題点を解
決するためのもので、その目的とするところは、実際の
記録に用いられる変調方式て記録を行い、このデータを
再生することにより、実使用状態でのビットエラーレー
トを測定する方法を提供することにある。

［課題を解決するための手段］ 本発明のビットエラーレート測定法は、光学式記録媒体
と、この光学式記録媒体に情報を記録再生する光学ピッ
クアップと、この光学式記録媒体の再生信号からデータ
を取り出すデータ判別器と、前述の記録媒体にデータを
記録したり、前述の再生データとの比較を行うためのＲ
ＯＭを有する構成において、再生データとＲＯＭ内のデ
ータを比較することにより、ビットエラーを検出するこ
とを特徴とする。

［実施例］ 以下本発明について図面に基づいて説明する。

第１図は、本発明のビットエラー測定法のブロック図で
ある。１０２は、光学ピックアップで、光学式記録媒体
１０１に情報を記録再生する。光学ピックアップ１０２
から得られたアナログの再生信号１０３は、１０４の波
形整形器で２値化される。このときの具体例を第２図に
示す。２１がアナログの再生波形で、この波形からピー
ク検出を行うことにより、２値化された２２の波形が得
られる。この２値化されたデータからクロックを抽出し
たものが２３の波形で、このクロックの立ち上がりで、
２２の波形を読み取ることにより、コードデータ２４が
得られる。第１図において、クロック波形２３を抽出す
るところが、１０６で示されるクロック抽出器であり、
このクロックを基準にコードデータ２４を得る部分が１
０５で示されるデータ判別器である。第１図の次の部分
の説明の前に、光学式記録媒体の物理フォーマット例に
ついて、第３図をもとに説明しておく。光学式記録媒体
においては、トラックアドレス・セクタアドレス等が凹
凸状のビットで予め媒体上に形成されている。第３図に
おいて、上方に示された部分がセクタのフォーマットで
ある。このセクタが複数偏集まって、　トラックを形成
する。３１が前述の凹凸状のビットで形成されたプリフ
ォーマット部、３３がユーザーがデータを記録するユー
ザー記録部である。３２は、３１と３３を分離するギャ
ップ部、３４は、セクタを分離するギャップ部である。

　次に、下方に示された部分がユーザー記録部３３の詳
細図である。３５は、クロック同期を取るためのＶＦＯ
部、３６は、同期確定を検出する５ＹＮＣマークで、３
７がユーザーのデータを記録する部分である。以上で、
光学式記録媒体の物理フォーマットの説明を終了し、第
１図の残りの部分について説明する。まず、ビットエラ
ーレートの測定を行う前に、光学式記録媒体の被検査エ
リアにデータを記録しておく必要がある。

記録動作を行う場合、コントローラ１１３がアドレス切
り替え器１１２に信号を送信し、１０７のパターンＲＯ
Ｍの読みだし開始アドレスを記録用に設定する。このと
きパターンＲＯＭから送り出されるデータは、第３図に
おける３５〜３７の部分のデータである。パターンＲＯ
Ｍから出た記録信号１１１は、光学ピックアップ１０２
に入り、光学式記録媒体１０１上に記録される。次に、
ビットエラー検査について説明する。光学式記録媒体か
らの再生信号をコードデータになおす部分については、
前に述べたとおりである。そして、コントローラ１１３
は、アドレス切り替え器１１２に信号を送信し、パター
ンＲＯＭ　１０７の読みだし開始アドレスを検査用に設
定する。このときパターンＲＯＭから送り出されるデー
タは、第３図における３７の部分のみとなる。データ判
別器１０５を出たコードデータは、一部がマーク検出器
１０９に入り、ここで第３図に示される５ＹＮＣマーク
３６が検出される。この５ＹＮＣマーク検出をトワガー
として、再生データとパターンＲＯＭのデータをデータ
比較器１０８で比較し、一致しなかったデータをエラー
として、エラー計数器１１０で計数する。エラーの検出
方法としては、例えば、パターンＲＯＭのデータとデー
タ判別器１０５からの再生データとの排他的論理和を取
ればよい。こうして計数されたエラーの個数を被検査デ
ータ数で除することにより、ビットエラーレートが得ら
れる。

この検査方法においては、第３図におけるユーザーデー
タ部３７の部分については、どんな変調方魚　どんなデ
ータを記録しても差し支えなく、ユーザーの好みのデー
タで測定を行える。従って、実使用状態で、最も検出が
困難なパターンをＲＯＭに書き込み検査するのが最良で
ある。

［発明の効果］ 以上述べたように、本発明のビットエラーレート検査法
を用いると、光学式記録媒体に実使用状態で記録される
信号と同等の信号を記録し検査するので、記録信号のパ
ターンよる効果も含んた光学式記録媒体の正確な評価が
行える。また、ビットエラーの検査は、パターンＲＯＭ
で行うので、ユーザーが任意のデータを記録することが
でき、どんな変調方式でも使用できるという効果も有す

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明のビットエラーレート測定法のブロッ
ク図、第２図は、第１図で示されに各ブロックでの波形
図、第３図は、光学式記録媒体の物理フォーマットのレ
イアウト図、第４図は、従来のビットエラーレート測定
法の再生波形図、第５図は、変調信号の再生波形図であ
る。 １０１・・・光学式記録媒体 １０２・・・光学ピックアップ １０３・・・再生信号 １０４・・・波形整形器 １０５・・・データ判別器 １０６・・・クロヅク抽出器 １０７・・・パターンＲＯＭ １０８・・・データ比較器 １０９・・・マーク検出器 １１０・・・エラー計数器 １１１・・・記録信号 １１２・・・アドレス切替器 １１３・・・コントローラ ２１・・・アナログ再生波形 ２２・・・２値化波形 ２３・・・クロック ２４・・・コードデータ ３１・・・ブワフォーマット部 ３２．３４・・・ギャップ部 ３３・・・ユーザー記録部 ３５・・・ＶＦＯ部 ３６・・・５ＹＮＣ部 ３７・・・ユーザーデータ部 以上 出願人　セイコーエプソン株式会社 代理人弁理士　銘木喜三部（他１名） ３１ニブリフオ一マツト部 ３２，３４　：ギャップ部 ３３：ユーザー記録部 ３５　：　ＶＦＯ部 ３６　：　５ＹＮＣ部 ３７：ユーザーデータ部 第３図 第４図 第５図 ４ｅ

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 光学式記録媒体と、前記光学式記録媒体に情報を記録再
   生する光学ピックアップと、前記光学式記録媒体の再生
   信号からデータを取り出すデータ判別器と、前記記録媒
   体にデータを記録したり、前記再生データとの比較を行
   うためのＲＯＭを有する構成において、前記再生データ
   と前記ＲＯＭ内のデータを比較することにより、ビット
   エラーを検出することを特徴とするビットエラーレート
   測定法。