JPH0236134Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 技術分野 本考案は、基板上でテストポイントを自由に選
ぶことができるようにしたテストクリツプに関す
るものである。

背景技術 一般に、基板上に所定のプリンパテーンで銅箔
を落とすことにより回路を形成したプリント基板
は、抵抗やコイルあるいはコンデンサ等の部品を
半田付けしたあと、必要な導通が得られているか
どうか、テストポイントごとにリード線を接続し
てチエツクすることがある。

従来、この種のチエツクに際しては、テストポ
イントにテスト用端子を半田付けし、このテスト
用端子を鍔口クリツプ等に咬ませることにより、
リード線に接続するようにしていた。

このため、半田付け作業に時間がかかつてしま
い、実質的なテスト時間が制約されてしまつたり
し、またテスト用端子を半田付けしたことによ
り、テスト終了後にも回路に悪影響が残ることが
あるなどの欠点があつた。

考案の開示 本考案は、上記欠点を除去したものであり、基
板上のテストポイントに挿通された導電性の鋲体
を、導電体のチエツク部により咬止することによ
り、テスト用端子等う半田付けすることなく、き
わめて簡単にテストポイントへの電気的な接続を
図ることができるようにしたテストクリツプを提
供することを目的とする。

この目的を達成するため、本考案は、鍔部の一
面に突設され、基板等の非テスト部材に挿通され
るピン状部を有し、前記一面とピン状部が導電性
を備えた鋲体と、カバー体に対し移動可能に挿着
された導電体とから成り、前記導電体は、前記カ
バー体に対し一方向へ移動されるように付勢する
付勢手段と、前記導電体の一端部に有し、前記付
勢手段により一方向へ移動された際、前記カバー
体側に設けられた案内壁に衝合して前記ピン状部
を咬止させ、前記鍔部を前記非テスト部材に圧着
させるように閉口され、前記付勢手段に対して他
方向へ移動された際、前記案内壁から離れて、前
記ピン状部材の咬止を放すように開口するチヤツ
ク部とを備えて構成したことを要旨とするもので
ある。

本校案によれば、導電体と鋲体の二分割構造で
あるから、特別の工具を用いなくとも、きわめて
簡単にテストポイントに装着することができ、ま
たテスト用端子等を半田付けする必要がないか
ら、テスト終了後に基板に余計なものを残さずに
済み、基板上の回路への悪影響がそれだけ少な
く、さらにまた、チヤツク部による咬止時、鋲体
は付勢手段、例えばばねなどの不勢力により基板
に圧着されるから、テストポイントと鋲体の電気
的な接続を確実にとることができ、これにより正
確なテストが可能である等の優れた効果を奉す
る。

考案を実施するための最良の形態 以下、本考案の実施例について、図面を参照し
て説明する。

第１，２図は、夫々本考案のテストクリツプの
一実施例を示す縦断面図及び分解斜視図、第３，
４図は、夫々上記テストクリツプの使用方法を説
明するための縦断面図である。

第１，２図中、テストクリツプ１はピン状部２
ａと鍔部２ｂからなる金属性の鋲体２と、この鋲
体２のピン状部２ａに咬止されるチヤツク部３ａ
を有する導電体３と、この導電体３の外周を覆う
筒状態の絶縁性を有するカバー体４と、導電体３
に装着したコイルばね５及び、導電体３の頭部３
ｂを覆い、導電体３に接続されたリード線６を保
持する絶縁性を有するキヤツプ７とから成るクリ
ツプ体１１とから大略構成されている。

カバー体４は、プラスチツク材からなり、その
内部には導電体３のチヤツク部３ａを咬止解除状
態からから咬止状態に案内するための案内壁４ａ
と、導電体３に装着したコイルばね５の一端部を
係止するための係止壁４ｂが形成してある。

なお、コイルばね５は、係止壁４ｂと導電体３
の頭部３ｂとの間に圧縮状態で嵌装してあるた
め、通常は導電体３は、その上動限界位置にあ
る。

また、チヤツク部３ｂは、鰐口クリツプの如く
形成し、通常は先端が閉口しており、案内壁４ａ
によつて案内されることにより開口して、咬止状
態にいたる。

いま、プリント基板８のあるテストポイントに
て導通テストを行うものとする。

この場合、先ず、プリント基板８の導箔８ａ
側、すなわち回路パターンが形成されている裏面
側から、テストポイントに対し鋲体２を挿通す
る。鋲体２の鍔部２ｂを回路パターンに密着させ
たときに、ピン状部２ａが、プリント基板８の表
面側に突出していなければならない。もしそうで
なければ、ピン状部２ａのより長い他の鋲体２を
挿通する。

次に、キヤツプ７を取り出し、第３図に示した
ごとく、導電体３のキヤツプ７を上から指などで
押して、チヤツク部３ａを開口せしめる。そし
て、この状態でカバー４の端部をピン状部２ａの
突出分にあてがいつつ、チヤツク部３ａによりピ
ン状部２ａを咬ませる。

カバー４の端部がプリント基板８の表面に当接
係止したときに、キヤツプ７を押さえていた指を
離すと、導電体３が上動し、チヤツク部３ａは、
案内壁４ａによつて閉口状態に案内される。

また、これと同様に鋲体２は、鍔部２ｂがプリ
ント基板８の裏面に圧接する方向に引張られるた
め、第４図に示したごとく、テストポイントは鋲
体２、導電体３を介してリード線６にしつかりと
電気的に接続することができる。

こうして、クリツプ体１１の鋲体２への装着
は、簡単に、しかも確実に行うことができ、ま
た、テスト終了後の取り外しも、キヤツプ７を押
してチヤツク部３ａの咬止を解除するだけで、カ
バー４側と鋲体２側を分離し、簡単に行うことが
できる。

また、クリツプ体１１を取り外したあとは、ク
リツプ体１１を装着する前と何ら変わりない状態
に復帰するので、プリント基板８上の回路等に悪
影響を残す恐れは、皆無である。

さらにまた、クリツプ体１１自体の構造もカバ
ー４側と鋲体２側の二分割構造であり、特別な工
具等を使用しなくとも、取り付け、取り外しがで
きるため、操作に支障をきたさない程度に小型化
することにより、プリント基板が狭い場所に実装
されているような場合でも、楽に適用することが
できる。特に、クリツプ体１１の装着時に半田付
けを必要としないから、従来のテスト端子の半田
付けによる方法等に比較して、操作性、安全性、
経済性等の諸点において、格別の利点を有するも
のである。

なお、本実施例に記載されているテストクリツ
プ１は、クリツプ体１１と鋲体２とから構成され
ているものである。

【図面の簡単な説明】

第１，２図は、夫々本考案のテストクリツプの
一実施例を示す縦断面図及び分解斜視図、第３
図、４図は、夫々上記テストクリツプの使用方法
を説明するための縦断面図である。 １……テストクリツプ、２……鋲体、３ａ……
チヤツク部、４……カバー体（絶縁カバー）、５
……付勢手段（コイルばね）、７……キヤツプ
（絶縁キヤツプ）、１１……クリツプ体。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 鍔部の一面に突設され、基板等の被テスト部材
   に挿通されるピン状部を有し、前記一面とピン状
   部が導電性を備えた鋲体と、 カバー体に対し移動可能に挿着された導電体と
   から成り、 前記導電体は、前記カバー体に対し一方向へ移
   動されるように付勢する付勢手段と、 前記導電体の一端部に有し、前記付勢手段によ
   り一方向へ移動された際、前記カバー体側に設け
   られた案内壁に衝合して前記ピン状部を咬止させ
   前記鍔部を前記被テスト部材に圧着させるように
   閉口され、前記付勢手段に抗して他方向へ移動さ
   れた際、前記案内壁から離れて前記ピン状部の咬
   止を放すように開口するチヤツク部とを備えて成
   るテストクリツプ。