JPH0236334A - 粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置 - Google Patents

粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置

Info

Publication number
JPH0236334A
JPH0236334A JP63185748A JP18574888A JPH0236334A JP H0236334 A JPH0236334 A JP H0236334A JP 63185748 A JP63185748 A JP 63185748A JP 18574888 A JP18574888 A JP 18574888A JP H0236334 A JPH0236334 A JP H0236334A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid
sample tank
propeller
liquid level
alarm
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP63185748A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2570823B2 (ja
Inventor
Kazuhiro Washio
鷲尾 一裕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP63185748A priority Critical patent/JP2570823B2/ja
Publication of JPH0236334A publication Critical patent/JPH0236334A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2570823B2 publication Critical patent/JP2570823B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、レーザ回折法、光散乱法もしくは液相沈降法
等に基づく、液相式の粒度分布測定装置において、試料
懸濁液の撹拌、分散および測定系への送液を行うための
サンプリング装置に関する。
〈従来の技術〉 上記した各測定法に基づく粒度分布測定装置では、いず
れも、被測定粉体を適当な媒液中に均一に分散させた懸
濁液を用いて粒度分布を測定する。
このような懸濁液を装置の測定系に供給するためのサン
プリング装置としては、従来、第3図および第4図に例
示する装置が用いられている。これらの従来装置は、い
ずれも超音波発振子30(40)が装着されたいわゆる
超音波ハスを試料槽31(41)とし、槽内の懸濁液り
を超音波照射により分散させるとともにプロペラ撹拌器
32(42)によって撹拌しつつ、送液ポンプ33と循
環用の配管群によって測定系と試料槽31(41)間で
循環させている。
第3図に示す装置では、試料槽31に対して比較的小さ
いプロペラ32aを高速度で回転させて撹拌する方式を
採用しており、第4図に示す装置は比較的大型のプロペ
ラ42aを低速度で回転させて撹拌する方式を採用して
いる。
〈発明が解決しようとする課題〉 第3図に示す方式においては、試料槽31内の洗浄が比
較的容易であるが、試料槽31内に投入jる液量に基づ
いてプロペラ32aの位置を適切にセツティングしなけ
れば充分な撹拌効果が得られない。換言すると、液量が
同等である場合には、第5図(alに示すよ・つにプロ
ペラ32aの位置が低過ぎると、比較的大径の重い粒子
がプロペラ32aの回転によって舞い上がらずにその遠
心力によって試料槽31の出口の周囲に押しやられ、主
として軽い粒子が吸引されて測定系に導かれてしまい、
逆に、同図(blに示すようにプロペラ32aの位置が
高過ぎると、撹拌のエネルギが充分に液全体に伝わらず
、試料槽31の底に粒子が残ってしまう。
第4図に示す方式では、上述のような液量による撹拌の
効果の差は出にくいが、プロペラ42aの回転速度を高
くすると気泡の混入が著し、く、液量が相当少ない場合
にはプロペラ42aの回転速度を極めて低くする必要が
生じ、このため充分に撹拌することができない。また、
試ネ」槽41内の洗浄も比較的困難である。
本発明の目的は、試料槽内の懸濁液量の多少に拘らず、
常に最適の撹拌効果が得られ、正確で再現性の良いサン
プリングを行うことのできる粒度分布測定用懸濁液サン
プリング装置を提供することにある。
く課題を解決するための手段〉 上記の目的を達成するため、本発明では、実施例に対応
する第1図に示すように、撹拌器3のプロペラ3aの試
料槽1内での高さを駆動機構4によって変更し得るよう
構成するとともに、試料槽1内の懸濁液りのレベルを検
出する液面位検出器14を設け、この液面位検出器14
の出力6y ?、q −イく制御部16からの駆動指令
により駆動機構44駆動して、プロペラ3aを高さを自
動的に変更するよう構成している。
く作用〉 制御部16は、液面位検出器J4<7)出力、つまり試
料槽1内ζこ存在する懸濁液りのL・ベルに応じてプロ
ペラ3aの高さを変更すべく駆動機構4に駆動指令を与
える。
試料槽1内の懸濁液■2のレベルと、この懸濁液L!、
:対して最適の攪拌効果を与えて送液できるプロペラ3
aの高さは、試料槽1の形状等に基づいである一定の相
関がある。制御部16がこのような相関関係に堪づいて
液面位検出器14の出力に応した駆動指令を出力するこ
とで、プロペラ3aの高さを常に最適な高さに制御でき
る。
〈実施例〉 第1図は本発明実施例の全体構成図である。
ローI・状の下端部に液出口1 aを備えた試料槽1に
は、超音波発振子2aとこれに駆動信阿を与える超音波
発振回路2bからなイ)超音波発振器2が装着されてお
り、内部の懸濁液t、j、こ超音波を照射することがで
きる。
試料槽1の上方から、撹拌器3のプロペラ3aが試料槽
1内に挿入されでいる。撹拌器3は、プロペラ3a、モ
ータ3りおよびこれらを連結するプロペラシャー7B3
.邦・ミ、なり、駆動機構A(、二上って試料槽1内へ
のプ「2ペラ3aの挿に高さり変更できるよう?こ構成
されている。
すなわち、駆動機構4は、撹拌器3のモータ3bを支持
してガイド(図示せず)に沿って一ト下方向に変位自在
のラック4aと、このラック4aに噛合するビニオンギ
ア4b、およびこのピニオン′ギア4bを回動させるパ
ルスモータ4c等によって構成されており、パルスモー
タ4cの駆動により撹拌器3全体を上下動させることが
できる。
試料槽1の液出口1aは吸引パイプ5を介し7て測定系
の液入口6に連通しており、測定系の液出ロアは送液ポ
ンプ8の吸入口に連通している。また、送液ポンプ8の
吐出口には、試料槽1の上方から槽内に臨む戻しパイプ
9が接続されている。
送液ポンプ8は、モータ制御回路10によってON・O
FF制御されるモータ11によって駆動され、この送液
ポンプ8の駆動により、懸濁液りは測定系−送液ポンプ
84戻しパイプ9−試料槽1−吸引パイプ5−測定系へ
と循環することになる。なお、試料槽1の液出口1aに
は開閉弁12を介してドレインパイプ13が接続されて
いる。
試料槽1の上方には、超音波式の液面位検出器14が配
設されており、この液面位検出器12は試料槽1内にパ
ルス状の超音波信号を照射するとともに、その反射信号
を入射し、そのエコータイムによって試料槽1内の懸f
fi>ff1Lのレベルを検出することができる。
液面位検出器14の出力はアンプ15を介して制御部1
6に採り込まれる。制御部16はマイクロコンピュータ
およびその周辺機器等によって構成されており、液面位
検出器14からのデータを採り込んで、後述するプログ
ラムに基づいて、前述した超音波発振器2bおよびモー
タ制御回路10にOFF指令を与えることができるとと
もに、駆動機構4のパルスモータ4Cに駆動信号を供給
し得るよう構成されている。制御部16には、また、こ
の制御部16からの指令に基づいて各種の警報を発する
ことのできる警報器17が接続されている。
第2図は制御部16のROMに書き込まれたプログラム
の内容を示すフローチャートで、以下、この図を参照し
つつ各部の動作を説明する。
制御部16にはあらかじめ、試料槽1内の液量が0に近
い液面レベルl minと、液がオーバーフローする直
前の液面レベル/ maxが設定されている。
液面位検出器14からの液面位データlは、装置駆動開
始当初を含めて例えば一定のタイミングで採取され、ま
ずl minおよびff maxと比較される。2がl
 minよりも小さければ、すなわち、試料槽1内に懸
濁液りが殆んど入っていないと判定すると、直ちに超音
波発振器2をOFFにし、警報器17によってその旨の
警報を発する。試料槽1内に液が入っていない状態で超
音波発振器2を駆動すると、−船釣に装置の破損や性能
劣化の原因となるが、上述の動作によって、液の入れ忘
れや他の何らかの理由で液が減少したことによる装置の
性能劣化を未然に防止することができる。
βがAmaXよりも大きければ、送液ポンプ8を停止す
るとともに、警報器17によってその旨の警報を発し、
余分な懸濁液りの除去を促がす。
さて、lがl minとE maxの間にあれば、つま
り?、A FAt& Lがオーバーフローせずに、かつ
、超音波発振器2を駆動してもよいと判断される、適量
範囲内の液面レベルであれば、βの大きさに基づいて、
プロペラ3aによる撹拌効果が最大に生かされて液出口
1aから送液される、プロペラ3aの最適高さを決定し
、それに基づいて駆動機構4のパルスモータ4Cを駆動
する。
ここで、試料槽1内の液面レベルとプロペラ3aの最適
高さとの関係は、試料槽1の形状やプロペラ3aの撹拌
能力等によって定まるが、例えばあらかじめ実験によっ
てこの関係を求めておき、数式化もしくはテーブル化し
て制御部16に記憶しておくことで、データβから直ち
にプロペラ3aの最適高さを決定できる。なお、プロペ
ラ3aの最適高さが、液面レベルとほぼ比例関係にある
場合には、データ2を用いた簡単な比例計算によってプ
ロペラ3aの最適高さを求めることができる。
以上の動作により、試料槽1内の懸濁液■7の量に拘ら
ず、常に最適の高さにプロペラ3aを位置決めすること
ができる。
なお、本発明は以上の実施例に限定されることなく、駆
動機構4はランク・ビニオン方式以外の機構、例えばカ
ム機構やリング機構、クランク機構等の任意の機構を採
用することができ、また、撹拌器3全体を上下動させず
に、モータ3bを固定してプロペラ3aの高さのみを変
更する等の変形も可能である。
更に、液面位検出器10としては、超音波式のほか、フ
ロート弐等の他の公知の液面検出器を採用し得ることは
勿論である。
〈発明の効果〉 以上説明したように、本発明によれば、懸濁液を収容す
る試料槽内の液面レベルを検出し、その検出結果に応じ
て、撹拌器のプロペラ高さを、撹拌効果を最大に生かし
て送液できる、最適高さに自動的に位置決めするよう構
成したから、懸濁液量の多少に拘らずに常に最適な撹拌
状態で送液することかでき、個人差なく再現性のよい正
確な粒度分布測定値を得ることができる。
なお、本発明における液面位検出データは、試料槽内の
液量の過少時における超音波発振器の駆動による装置の
性能劣化やあるいは液量過多によるオーバーフロー等を
未然に防止する等の、フールセーフ機能にも利用するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の全体構成図、 第2図はその制御部16の170Mに書き込まれたプロ
グラムの内容を示すフローチャート、第3図および第4
図はそれぞれ従来の懸濁液サンプリング装置の説明図、 第5図は従来装置のプロペラ高さによる撹拌効果の説明
図である。 1・・・・試料槽 2・・・・超音波発振器 3・・・・撹拌器 3a・ ・ ・プロペラ 4・・・・駆動機構 ・・吸引パイプ ・・送液ポンプ ・・戻しパイプ ・液面位検出器 ・・制御部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  被測定粉体を媒液中に分散させてなる懸濁液を、液相
    式の粒度分布測定装置の測定系に供給する装置であって
    、超音波発振器により内部に超音波を照射し得る試料槽
    と、その試料槽内の懸濁液を上記測定系とこの試料槽内
    間で循環させるための配管および送液ポンプと、上記試
    料槽内の懸濁液を撹拌するプロペラを備えてなる撹拌器
    と、上記試料槽内での上記プロペラの高さを変更するた
    めの駆動機構と、上記試料槽内の液面位を検出する液面
    位検出器と、その液面位検出器の出力に基づいて上記駆
    動機構に駆動指令を与える制御部を備えたことを特徴と
    する、粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置。
JP63185748A 1988-07-26 1988-07-26 粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置 Expired - Lifetime JP2570823B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63185748A JP2570823B2 (ja) 1988-07-26 1988-07-26 粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63185748A JP2570823B2 (ja) 1988-07-26 1988-07-26 粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0236334A true JPH0236334A (ja) 1990-02-06
JP2570823B2 JP2570823B2 (ja) 1997-01-16

Family

ID=16176172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63185748A Expired - Lifetime JP2570823B2 (ja) 1988-07-26 1988-07-26 粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2570823B2 (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0559311U (ja) * 1992-01-27 1993-08-06 株式会社島津製作所 自動化学分析装置
JPH05322721A (ja) * 1992-05-19 1993-12-07 Sumitomo Metal Ind Ltd 分析用液体試料の定容量化装置及び方法、並びに攪拌 器の洗浄装置
JP2004045113A (ja) * 2002-07-10 2004-02-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2004108842A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置及び自動分析方法
JP2005099046A (ja) * 2004-12-06 2005-04-14 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2008249724A (ja) * 2008-06-06 2008-10-16 Horiba Ltd 粒子径分布測定装置
JP2015520397A (ja) * 2012-06-22 2015-07-16 マルバーン インストゥルメンツ リミテッド 不均質流体試料の特性評価
JP2015227823A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 株式会社島津製作所 粒度分布測定方法、並びに、粒度分布測定装置及びその制御プログラム

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0559311U (ja) * 1992-01-27 1993-08-06 株式会社島津製作所 自動化学分析装置
JPH05322721A (ja) * 1992-05-19 1993-12-07 Sumitomo Metal Ind Ltd 分析用液体試料の定容量化装置及び方法、並びに攪拌 器の洗浄装置
JP2004045113A (ja) * 2002-07-10 2004-02-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2004108842A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置及び自動分析方法
JP2005099046A (ja) * 2004-12-06 2005-04-14 Hitachi Ltd 自動分析装置
JP2008249724A (ja) * 2008-06-06 2008-10-16 Horiba Ltd 粒子径分布測定装置
JP2015520397A (ja) * 2012-06-22 2015-07-16 マルバーン インストゥルメンツ リミテッド 不均質流体試料の特性評価
JP2015227823A (ja) * 2014-06-02 2015-12-17 株式会社島津製作所 粒度分布測定方法、並びに、粒度分布測定装置及びその制御プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2570823B2 (ja) 1997-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2720340B2 (ja) レーザ回折式粒度分布測定方法
JPH0236334A (ja) 粒度分布測定用懸濁液サンプリング装置
US7005107B2 (en) Apparatus for determining the speed of sedimentation of blood and other parameters correlated thereto
US4282745A (en) Particle size determination
JPS63103962A (ja) 液/液分散系における分散相の体積保有率の超音波による測定方法及び装置
JP3704035B2 (ja) 自動分析装置
KR20180131956A (ko) 반응 용기, 그것을 사용한 물질 제조 시스템 및 제조 방법
JP3425093B2 (ja) 光散乱式粒子径分布測定装置における試料液および洗浄液の排水方法
WO2020213338A1 (ja) 光分析方法および光分析システム
US20040220472A1 (en) Cell suspension rotating fluidic pump
JPH025406Y2 (ja)
JPH10300651A (ja) 化学分析装置
US4825688A (en) Apparatus for sensing of mass in baths
JPH0725676Y2 (ja) 磁性粉末粒度分布測定用サンプリング装置
JP3307082B2 (ja) 粒度分布測定装置
JPS641630Y2 (ja)
US5849064A (en) System and method for evenly suspending and circulating particles in a liquid
EP3901610A1 (en) Assay robot for measuring suspended particles in high particle aqueous solutions
JP2003207438A (ja) 粒径分布測定装置および粒径分布測定装置の脱泡方法
JPH0635948U (ja) レーザ回折式粒度分布測定装置
US4193288A (en) Apparatus for calibrating instruments for granulometric recording
JP3987415B2 (ja) 脱泡装置および粉体測定装置
JPS63246636A (ja) 粒度分布測定装置
JPS649566B2 (ja)
US20260029315A1 (en) Sample preparation device