JPH025406Y2 - - Google Patents
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- JPH025406Y2 JPH025406Y2 JP14943083U JP14943083U JPH025406Y2 JP H025406 Y2 JPH025406 Y2 JP H025406Y2 JP 14943083 U JP14943083 U JP 14943083U JP 14943083 U JP14943083 U JP 14943083U JP H025406 Y2 JPH025406 Y2 JP H025406Y2
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 26
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- 239000012895 dilution Substances 0.000 claims description 11
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は、光透過法に基づく粒度分布測定装置
に、試料粉体を媒液で希釈して測定可能な濃度の
懸濁液を調製して供給し、自動的に測定開始を行
い得る、粒度分布測定装置の希釈サンプリング装
置に関する。
に、試料粉体を媒液で希釈して測定可能な濃度の
懸濁液を調製して供給し、自動的に測定開始を行
い得る、粒度分布測定装置の希釈サンプリング装
置に関する。
(ロ) 従来技術
一般に、光透過法によつて試料粉体の粒度分布
測定を行う場合、試験に先立つて試料を媒液で希
釈した懸濁液を調製しなければならないが、この
懸濁液の粒子濃度は、通常、吸光度で約１（透過
率10％）に調節される。すなわち、この濃度より
高ければ濃度（面積濃度）と吸光度との直線関係
がなくなり、また、低ければ高感度の吸光度検出
を要してノイズの影響も大となる。
測定を行う場合、試験に先立つて試料を媒液で希
釈した懸濁液を調製しなければならないが、この
懸濁液の粒子濃度は、通常、吸光度で約１（透過
率10％）に調節される。すなわち、この濃度より
高ければ濃度（面積濃度）と吸光度との直線関係
がなくなり、また、低ければ高感度の吸光度検出
を要してノイズの影響も大となる。
従来、この懸濁液の濃度調整は、まず目視等に
よつて適当に希釈を行い、その懸濁液の吸光度を
実際に測定し、吸光度が目標値に近づくまで希釈
と測定を繰り返し行つていた。このような従来方
法によれば、操作が煩雑であるばかりでなく、希
釈過程において粒子沈降によるサンプリング誤差
も生じやすいという問題点がある。また、懸濁液
の濃度調整が終れば、この懸濁液を試料セル内に
所定量注入し、沈降測定を行うが、この一連の操
作は人手によつている為、沈降速度の速い粒子に
ついては、試料セルを測定部にセツトして測定を
開始するまでの時間にばらつきがあり、測定結果
に誤差を生じやすいという問題点をも有してい
る。
よつて適当に希釈を行い、その懸濁液の吸光度を
実際に測定し、吸光度が目標値に近づくまで希釈
と測定を繰り返し行つていた。このような従来方
法によれば、操作が煩雑であるばかりでなく、希
釈過程において粒子沈降によるサンプリング誤差
も生じやすいという問題点がある。また、懸濁液
の濃度調整が終れば、この懸濁液を試料セル内に
所定量注入し、沈降測定を行うが、この一連の操
作は人手によつている為、沈降速度の速い粒子に
ついては、試料セルを測定部にセツトして測定を
開始するまでの時間にばらつきがあり、測定結果
に誤差を生じやすいという問題点をも有してい
る。
試料セルを密閉形にして、その試料セル内への
懸濁液の注入をポンプで行い、沈降開始をそのポ
ンプを停止させることによつて行い、沈降時間の
測定誤差を少なくした装置は既に商品化されてい
るが、この装置によつても希釈は人手によつてお
り、更に測定開始も懸濁液濃度が目標値に近いこ
とを人間が判断して手動で行つているので、懸濁
液濃度の調整作業の煩雑さやサンプリング誤差の
問題点を根本的に解決するに至つていない。
懸濁液の注入をポンプで行い、沈降開始をそのポ
ンプを停止させることによつて行い、沈降時間の
測定誤差を少なくした装置は既に商品化されてい
るが、この装置によつても希釈は人手によつてお
り、更に測定開始も懸濁液濃度が目標値に近いこ
とを人間が判断して手動で行つているので、懸濁
液濃度の調整作業の煩雑さやサンプリング誤差の
問題点を根本的に解決するに至つていない。
(ハ) 目的
本考案は上記に鑑みてなされたもので、吸光度
測定すべき懸濁液を自動的に調製して粒度分布測
定に入ることができ、濃度調整作業の煩雑さ、サ
ンプリング誤差および沈降時間の測定誤差等の従
来の諸問題点を一挙に解消し得る粒度分布測定装
置の希釈サンプリング装置の提供を目的としてい
る。
測定すべき懸濁液を自動的に調製して粒度分布測
定に入ることができ、濃度調整作業の煩雑さ、サ
ンプリング誤差および沈降時間の測定誤差等の従
来の諸問題点を一挙に解消し得る粒度分布測定装
置の希釈サンプリング装置の提供を目的としてい
る。
(ニ) 構成
本考案の粒度分布測定装置の希釈サンプリング
装置は、媒液を収容する媒液容器と、試料粉体と
上記媒液とを混合した懸濁液を収容する懸濁液容
器と、その懸濁液容器内を撹拌する撹拌装置と、
懸濁液容器に連通する出、入口を備えた密閉形の
試料セルと、懸濁液容器内の懸濁液を上記出、入
口を介して試料セル内に注入、循環させるポンプ
と、媒液容器内の媒液の懸濁液容器内への流入を
規制するバルブと、試料セル内の懸濁液の吸光度
測定値に基づいて上記ポンプおよびバルブを制御
する制御部とを備え、試料セル内の懸濁液濃度が
所定値に達した後、自動的に粒度分布測定を開始
し得るよう構成したことを特徴としている。
装置は、媒液を収容する媒液容器と、試料粉体と
上記媒液とを混合した懸濁液を収容する懸濁液容
器と、その懸濁液容器内を撹拌する撹拌装置と、
懸濁液容器に連通する出、入口を備えた密閉形の
試料セルと、懸濁液容器内の懸濁液を上記出、入
口を介して試料セル内に注入、循環させるポンプ
と、媒液容器内の媒液の懸濁液容器内への流入を
規制するバルブと、試料セル内の懸濁液の吸光度
測定値に基づいて上記ポンプおよびバルブを制御
する制御部とを備え、試料セル内の懸濁液濃度が
所定値に達した後、自動的に粒度分布測定を開始
し得るよう構成したことを特徴としている。
(ホ) 実施例
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図は本考案実施例を粒度分布測定装置に取
り付けた状態で示す構成図である。
り付けた状態で示す構成図である。
媒液容器１には試料粉体を希釈すべき媒液が収
容されている。懸濁液容器２は、試料粉体を媒液
で希釈した懸濁液を収容するもので、電磁開閉弁
３を介して媒液容器１と連通している。懸濁液容
器２には、モータ４ａによつて駆動されるスクリ
ユー４ｂの回転により、内部の懸濁液を撹拌する
撹拌装置４が装着されている。
容されている。懸濁液容器２は、試料粉体を媒液
で希釈した懸濁液を収容するもので、電磁開閉弁
３を介して媒液容器１と連通している。懸濁液容
器２には、モータ４ａによつて駆動されるスクリ
ユー４ｂの回転により、内部の懸濁液を撹拌する
撹拌装置４が装着されている。
試料セル５は第２図にその外観図を示す如く、
懸濁液の出口５ａおよび入口５ｂを備えた密閉タ
イプのセルであつて、粒度分布測定装置の光源６
と光検知器７とを結ぶ光軸上に配置される。試料
セル５の出口５ａは配管８ａによつて懸濁液容器
３に連通しており、また、入口５ｂは配管８ｂに
よつてポンプ９を介して懸濁液容器３に連通して
いる。
懸濁液の出口５ａおよび入口５ｂを備えた密閉タ
イプのセルであつて、粒度分布測定装置の光源６
と光検知器７とを結ぶ光軸上に配置される。試料
セル５の出口５ａは配管８ａによつて懸濁液容器
３に連通しており、また、入口５ｂは配管８ｂに
よつてポンプ９を介して懸濁液容器３に連通して
いる。
粒度分布測定装置は前述の光源６と光検知器７
の他に、光検知器７からの検知信号を増巾するプ
リアンプ１０、そのプリアンプ１０の出力をデジ
タル化するＡ−Ｄ変換器１１、条件等の設定の為
のキーボード１２、入出力ポート１３、CPU１
４、ROM１５、RAM１６および表示器１７等
から構成され、ROM１５に書き込まれたプログ
ラムに基づいて、光検知器７からのデジタル変換
データから吸光度を求めるとともに、測定開始指
令が発生されると同時に測定モードに入り、その
指令発生後の経過時間に対する吸光度の変化か
ら、試料粉体の粒度分布を計算するよう構成され
ている。
の他に、光検知器７からの検知信号を増巾するプ
リアンプ１０、そのプリアンプ１０の出力をデジ
タル化するＡ−Ｄ変換器１１、条件等の設定の為
のキーボード１２、入出力ポート１３、CPU１
４、ROM１５、RAM１６および表示器１７等
から構成され、ROM１５に書き込まれたプログ
ラムに基づいて、光検知器７からのデジタル変換
データから吸光度を求めるとともに、測定開始指
令が発生されると同時に測定モードに入り、その
指令発生後の経過時間に対する吸光度の変化か
ら、試料粉体の粒度分布を計算するよう構成され
ている。
ROM１５に書き込まれたプログラムには、測
定モードの他に希釈サンプリングモードがあり、
この希釈サンプリングモードにおいては、ポンプ
９に入出力ポート１３から駆動信号を発して懸濁
液容器３内の懸濁液を試料セル内に注入、循環せ
しめ、光検知器７による試料セル５内の懸濁液の
吸光度検出値に基づき、電磁開閉弁２の開放時間
を決定して入出力ポート１３から電磁開閉弁２に
制御信号を発し、更に、吸光度検出値があらかじ
め設定された所定領域に収まれば、ポンプ９の駆
動を停止して測定開始指令を発するよう構成され
ている。
定モードの他に希釈サンプリングモードがあり、
この希釈サンプリングモードにおいては、ポンプ
９に入出力ポート１３から駆動信号を発して懸濁
液容器３内の懸濁液を試料セル内に注入、循環せ
しめ、光検知器７による試料セル５内の懸濁液の
吸光度検出値に基づき、電磁開閉弁２の開放時間
を決定して入出力ポート１３から電磁開閉弁２に
制御信号を発し、更に、吸光度検出値があらかじ
め設定された所定領域に収まれば、ポンプ９の駆
動を停止して測定開始指令を発するよう構成され
ている。
なお、媒液容器１には調圧チユーブ１ａが設け
られており、媒液容器１内の媒液量が変化しても
電磁開閉弁２開放時の媒液の単位時間当りの懸濁
液液容器３内への流入量は一定に保たれるよう構
成されている。また、懸濁液容器３内には、懸濁
液液面が所定レベルに達したときにこれを検知し
て入出力ポート１３を介してCPU１４に信号を
供給するレベル計１８が設けられている。
られており、媒液容器１内の媒液量が変化しても
電磁開閉弁２開放時の媒液の単位時間当りの懸濁
液液容器３内への流入量は一定に保たれるよう構
成されている。また、懸濁液容器３内には、懸濁
液液面が所定レベルに達したときにこれを検知し
て入出力ポート１３を介してCPU１４に信号を
供給するレベル計１８が設けられている。
次に作用を述べる。まず、試料粉体を媒液で適
当に希釈して懸濁液を作り、その所定量を懸濁液
容器３内に投入する。このとき懸濁液濃度は適当
でよいものの、吸光度１より濃くしておかなけれ
ばならず、また極端に濃すぎるものも好ましくな
い。媒液容器１内には媒液を注入しておく。次
に、キーボード１２から指令を与えると、撹拌装
置４を駆動して懸濁液容器３内を撹拌するととも
に、ポンプ９を駆動して懸濁液を試料セル５内に
注入、循環せしめ、同時に光源６を点灯して希釈
サンプリングモードに入る。
当に希釈して懸濁液を作り、その所定量を懸濁液
容器３内に投入する。このとき懸濁液濃度は適当
でよいものの、吸光度１より濃くしておかなけれ
ばならず、また極端に濃すぎるものも好ましくな
い。媒液容器１内には媒液を注入しておく。次
に、キーボード１２から指令を与えると、撹拌装
置４を駆動して懸濁液容器３内を撹拌するととも
に、ポンプ９を駆動して懸濁液を試料セル５内に
注入、循環せしめ、同時に光源６を点灯して希釈
サンプリングモードに入る。
希釈サンプリングモードに入つた後の装置の動
作を、第３図に示す経過時間と吸光度の相関グラ
フに基づいて説明する。
作を、第３図に示す経過時間と吸光度の相関グラ
フに基づいて説明する。
まず、A1における吸光度測定結果から、電磁
開閉弁２の第１回目の開放時間D1が決定される。
なお、吸光度による開放時間の決定は、当該時間
だけ電磁開閉弁２の開放により、媒液が懸濁液容
器３内に流入して懸濁液を希釈したとき、その吸
光度が１以下にならないよう理論時間よりやや短
めとしておく。D1だけ電磁開閉弁２を開放して
閉じ、循環系内の濃度が均一になるまで所定の時
間Ｗだけ待機した後、A2における吸光度測定結
果から２回目の開放時間D2を決定して開放する。
このようにして順次電磁開閉弁２の開放、待機を
繰り返し、吸光度があらかじめ設定さた領域に達
するとＳ、ポンプ９が停止され、これにより試料
セル５内の粒子が沈降を開始するが、同時に測定
指令を発して測定モードへと入る。すなわち、Ｓ
点からの経過時間と粒子沈降に伴う吸光度変化か
ら試料粉体の沈降曲線を得て、粒度分布が算出さ
れる。
開閉弁２の第１回目の開放時間D1が決定される。
なお、吸光度による開放時間の決定は、当該時間
だけ電磁開閉弁２の開放により、媒液が懸濁液容
器３内に流入して懸濁液を希釈したとき、その吸
光度が１以下にならないよう理論時間よりやや短
めとしておく。D1だけ電磁開閉弁２を開放して
閉じ、循環系内の濃度が均一になるまで所定の時
間Ｗだけ待機した後、A2における吸光度測定結
果から２回目の開放時間D2を決定して開放する。
このようにして順次電磁開閉弁２の開放、待機を
繰り返し、吸光度があらかじめ設定さた領域に達
するとＳ、ポンプ９が停止され、これにより試料
セル５内の粒子が沈降を開始するが、同時に測定
指令を発して測定モードへと入る。すなわち、Ｓ
点からの経過時間と粒子沈降に伴う吸光度変化か
ら試料粉体の沈降曲線を得て、粒度分布が算出さ
れる。
なお、A1における吸光度が所定の値以上であ
るとき、および１以下であるときは、その旨を表
示器１７に表示して懸濁液の修正を支持する。ま
た、希釈過程において懸濁液容器３内の液面が所
定レベルに達すると、レベル計１８からの検出信
号に基づいてオーバーフロー防止の為に表示器１
７にその旨を表示して、懸濁液の抜き取りを支持
する。
るとき、および１以下であるときは、その旨を表
示器１７に表示して懸濁液の修正を支持する。ま
た、希釈過程において懸濁液容器３内の液面が所
定レベルに達すると、レベル計１８からの検出信
号に基づいてオーバーフロー防止の為に表示器１
７にその旨を表示して、懸濁液の抜き取りを支持
する。
以上の実施例では、光透過法に基づく粒度分布
測定装置に本考案を適用した場合について説明し
たが、Ｘ線透過の粒度分布測定についても全く同
様に適用し得ることは言うまでもない。また、媒
液の懸濁液容器３内への流入量制御は、電磁開閉
弁２の開放時間によつて行つたが、例えば媒液流
路内に流量計を配設して、電磁開閉弁２の閉鎖信
号を得てもよい。
測定装置に本考案を適用した場合について説明し
たが、Ｘ線透過の粒度分布測定についても全く同
様に適用し得ることは言うまでもない。また、媒
液の懸濁液容器３内への流入量制御は、電磁開閉
弁２の開放時間によつて行つたが、例えば媒液流
路内に流量計を配設して、電磁開閉弁２の閉鎖信
号を得てもよい。
(ヘ) 効果
以上説明したように、本考案によれば、粒度分
布測定に供すべき濃度の懸濁液が自動的に調製さ
れ、煩雑な懸濁液希釈作業がなくなるとともに、
希釈時のサンプリング誤差が発生しにくい。ま
た、試料セル内へ注入する媒液のはかり取り作業
を行う必要がなくなるとともに、試料セル内への
液の注入から測定開始に至るまでの一連の操作に
人手による部分がなく、自動的に沈降測定が開始
されるので、沈降時間の測定誤差が発生しない。
布測定に供すべき濃度の懸濁液が自動的に調製さ
れ、煩雑な懸濁液希釈作業がなくなるとともに、
希釈時のサンプリング誤差が発生しにくい。ま
た、試料セル内へ注入する媒液のはかり取り作業
を行う必要がなくなるとともに、試料セル内への
液の注入から測定開始に至るまでの一連の操作に
人手による部分がなく、自動的に沈降測定が開始
されるので、沈降時間の測定誤差が発生しない。
第１図は本考案実施例を粒度分布測定装置に装
着した状態で示す構成図、第２図はその試料セル
５の外観斜視図、第３図は本考案実施例による経
過時間と吸光度との相関グラフを示す作用説明図
である。 １……媒液容器、２……電磁開閉弁、３……懸
濁液容器、４……撹拌装置、５……試料セル、６
……光源、７……光検知器、８ａ，８ｂ……配
管、９……ポンプ、１４……CPU、１５……
ROM、１６……RAM、１７……表示器。
着した状態で示す構成図、第２図はその試料セル
５の外観斜視図、第３図は本考案実施例による経
過時間と吸光度との相関グラフを示す作用説明図
である。 １……媒液容器、２……電磁開閉弁、３……懸
濁液容器、４……撹拌装置、５……試料セル、６
……光源、７……光検知器、８ａ，８ｂ……配
管、９……ポンプ、１４……CPU、１５……
ROM、１６……RAM、１７……表示器。
Claims (1)
- 試料粉体を媒液で希釈してなる懸濁液の吸光度
を検出する光学系を有し、懸濁液内における試料
粉体粒子の沈降に伴う上記吸光度の検出値の変化
から、当該試料粉体の粒度分布を測定する装置
に、吸光度を測定すべき懸濁液を自動的に調製し
て供給する装置であつて、上記媒液を収容する媒
液容器と、試料粉体と上記媒液とを混合した懸濁
液を収容する懸濁液容器と、その懸濁液容器内を
撹拌する撹拌装置と、上記懸濁容器に連通する
出、入口を備えた密閉形の試料セルと、上記懸濁
液容器内の懸濁液を上記出、入口を介して上記試
料セル内に注入して循環させるポンプと、上記媒
液容器内の媒液の上記懸濁液容器内への流入を制
御するバルブと、上記光学系による上記試料セル
内の懸濁液の吸光度測定値に基づき、上記バルブ
および上記ポンプを制御する制御部とを備え、上
記試料セル内の懸濁液濃度が所定値に達した後、
自動的に粒度分布測定に移行し得るよう構成した
ことを特徴とする粒度分布測定装置の希釈サンプ
リング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14943083U JPS6056258U (ja) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | 粒度分布測定装置の希釈サンプリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14943083U JPS6056258U (ja) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | 粒度分布測定装置の希釈サンプリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6056258U JPS6056258U (ja) | 1985-04-19 |
| JPH025406Y2 true JPH025406Y2 (ja) | 1990-02-08 |
Family
ID=30331713
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14943083U Granted JPS6056258U (ja) | 1983-09-26 | 1983-09-26 | 粒度分布測定装置の希釈サンプリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6056258U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075324A (ja) * | 2001-09-06 | 2003-03-12 | Sysmex Corp | 抵抗式粒子計数装置 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0614005B2 (ja) * | 1986-04-30 | 1994-02-23 | 荏原インフイルコ株式会社 | 凝集沈澱反応測定方法及びその装置 |
| JPH0646178B2 (ja) * | 1987-04-10 | 1994-06-15 | 荏原インフイルコ株式会社 | 懸濁液の凝集状態検知方法 |
| JP4821950B2 (ja) * | 2005-01-31 | 2011-11-24 | 栗田工業株式会社 | 汚泥性状診断装置 |
| JP2009222566A (ja) * | 2008-03-17 | 2009-10-01 | Metawater Co Ltd | 微生物計測方法およびシステム |
| WO2013008520A1 (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-17 | 積水アクアシステム株式会社 | 沈降性評価装置および最適添加量算出装置 |
-
1983
- 1983-09-26 JP JP14943083U patent/JPS6056258U/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075324A (ja) * | 2001-09-06 | 2003-03-12 | Sysmex Corp | 抵抗式粒子計数装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6056258U (ja) | 1985-04-19 |
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