JPH0239176U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0239176U JPH0239176U JP11877388U JP11877388U JPH0239176U JP H0239176 U JPH0239176 U JP H0239176U JP 11877388 U JP11877388 U JP 11877388U JP 11877388 U JP11877388 U JP 11877388U JP H0239176 U JPH0239176 U JP H0239176U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- under test
- signal under
- signal
- synchronization
- gate circuit
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Landscapes
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例のブロツク構成図、
第２図は該一実施例のおける動作の流れ図、第３
図は該一実施例の動作タイミング図、第４図は従
来装置のブロツク構成図、第５図は従来装置の動
作の流れ図、第６図は従来装置で計数誤差が起こ
らない場合の動作タイミング図、第７図は従来装
置で計数誤差が起こる場合の動作タイミング図で
ある。
第２図は該一実施例のおける動作の流れ図、第３
図は該一実施例の動作タイミング図、第４図は従
来装置のブロツク構成図、第５図は従来装置の動
作の流れ図、第６図は従来装置で計数誤差が起こ
らない場合の動作タイミング図、第７図は従来装
置で計数誤差が起こる場合の動作タイミング図で
ある。
Claims (1)
- 被測定信号をゲート回路により一定時間とり込
んで計数を行なう周波数計数装置において、被測
定信号の一部を取り出して基準信号発振器及びタ
イミング制御部に印加し、ゲート回路の制御信号
を被測定信号に同期させる同期回路を有すること
を特徴とする周波数計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11877388U JPH0239176U (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11877388U JPH0239176U (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0239176U true JPH0239176U (ja) | 1990-03-15 |
Family
ID=31363413
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11877388U Pending JPH0239176U (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0239176U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008114602A1 (ja) * | 2007-03-20 | 2008-09-25 | Advantest Corporation | 試験装置および電子デバイス |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP11877388U patent/JPH0239176U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008114602A1 (ja) * | 2007-03-20 | 2008-09-25 | Advantest Corporation | 試験装置および電子デバイス |