JPH0239652Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0239652Y2 JPH0239652Y2 JP16795784U JP16795784U JPH0239652Y2 JP H0239652 Y2 JPH0239652 Y2 JP H0239652Y2 JP 16795784 U JP16795784 U JP 16795784U JP 16795784 U JP16795784 U JP 16795784U JP H0239652 Y2 JPH0239652 Y2 JP H0239652Y2
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- Japan
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- chip
- chip body
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- wire
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- Expired
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- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 11
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Arc Welding In General (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、溶接に用いられるコンタクトチツプ
の改良に関する。
の改良に関する。
従来、消耗電極(以下、ワイヤと称す)を使用
する溶接用のコンタクトチツプとしては、第2図
a,bに示すものが知られている。なお、同図b
は同図aのY−Y線に沿う断面図である。
する溶接用のコンタクトチツプとしては、第2図
a,bに示すものが知られている。なお、同図b
は同図aのY−Y線に沿う断面図である。
図中の1は、金属材料からなる筒状のチツプ本
体である。このチツプ本体1には、図示しないワ
イヤリール等から送給されるワイヤの外径よりも
少し大きい径の孔2が軸方向に貫通されている。
前記チツプ本体1の上部はネジ部3となつてい
る。
体である。このチツプ本体1には、図示しないワ
イヤリール等から送給されるワイヤの外径よりも
少し大きい径の孔2が軸方向に貫通されている。
前記チツプ本体1の上部はネジ部3となつてい
る。
〔考案が解決しようとする問題点〕
しかしながら、従来のコンタクトチツプによれ
ば、チツプ本体1の軸方向にワイヤの外径よりも
少し大きい径の孔2が貫通されているため、ワイ
ヤとチツプ本体1の内壁との接触が不安定である
とともに、長時間の使用により孔2の径が増大す
ると、増々その傾向は大きくなる。その結果、溶
接が不安になりスパツタ等が多量に発生する。ま
た、従来のコンタクトチツプは、孔2の増大によ
る消耗が生じた場合使い捨てられる。
ば、チツプ本体1の軸方向にワイヤの外径よりも
少し大きい径の孔2が貫通されているため、ワイ
ヤとチツプ本体1の内壁との接触が不安定である
とともに、長時間の使用により孔2の径が増大す
ると、増々その傾向は大きくなる。その結果、溶
接が不安になりスパツタ等が多量に発生する。ま
た、従来のコンタクトチツプは、孔2の増大によ
る消耗が生じた場合使い捨てられる。
本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、チ
ツプ本体の内壁がワイヤを挾むようにしてチツプ
本体の内壁とワイヤとの接触を安定に保ち、これ
により一定な給電状態で安定な溶接を行なうこと
のできるコンタクトチツプを提供することを目的
とする。
ツプ本体の内壁がワイヤを挾むようにしてチツプ
本体の内壁とワイヤとの接触を安定に保ち、これ
により一定な給電状態で安定な溶接を行なうこと
のできるコンタクトチツプを提供することを目的
とする。
本考案は、消耗電極を使用する溶接用コンタク
トチツプにおいて、筒状の第1のチツプ本体と、
この第1のチツプ本体の外周にロウ付けにより密
着して同心円状に設けられ、前記第1のチツプ本
体より熱膨脹係数の大きい第2のチツプ本体とを
具備し、前記第1・第2のチツプ本体の軸方向に
沿つてスリツトが設けられていることを特徴とす
るコンタクトチツプである。
トチツプにおいて、筒状の第1のチツプ本体と、
この第1のチツプ本体の外周にロウ付けにより密
着して同心円状に設けられ、前記第1のチツプ本
体より熱膨脹係数の大きい第2のチツプ本体とを
具備し、前記第1・第2のチツプ本体の軸方向に
沿つてスリツトが設けられていることを特徴とす
るコンタクトチツプである。
〔作用〕
本考案によれば、第1のチツプ本体の外周にこ
れよりも熱膨張係数の大きい第2のチツプ本体を
設けることにより、コンタクトチツプの使用中、
第2のチツプ本体の内側方向の膨張によりワイヤ
が第1のチツプ本体に挟圧され、これによりワイ
ヤへの給電が確実になつて溶接が安定する。
れよりも熱膨張係数の大きい第2のチツプ本体を
設けることにより、コンタクトチツプの使用中、
第2のチツプ本体の内側方向の膨張によりワイヤ
が第1のチツプ本体に挟圧され、これによりワイ
ヤへの給電が確実になつて溶接が安定する。
以下、本考案の一実施例を第2図a,bを参照
して説明する。なお、同図bは同図aのX−X線
に沿う断面図である。
して説明する。なお、同図bは同図aのX−X線
に沿う断面図である。
図中の11は、電気伝導度が良好でかつ耐摩耗
性が大きい、例えばCr−Cuなどからなる筒状の
第1のチツプ本体である。このチツプ本体11に
は、図示しないワイヤリール等から送給されるワ
イヤの外径より少し大きい孔12が軸方向に貫通
されている。前記チツプ本体11の外周には、該
チツプ本体11よりも大きな熱膨張係数を有する
第2のチツプ本体13が、チツプ本体11に密着
して同心円状に設けられている。ここで、第1の
チツプ本体11と第2のチツプ本体13は、例え
ばロウ付け等により機械的に強く結合されてい
る。前記第1、第2のチツプ本体11,13に
は、軸方向に沿つてチツプ本体11,13の軸方
向の変形を回避するための4個のスリツト14…
が設けられているとともに、上部はネジ部15と
なつている。
性が大きい、例えばCr−Cuなどからなる筒状の
第1のチツプ本体である。このチツプ本体11に
は、図示しないワイヤリール等から送給されるワ
イヤの外径より少し大きい孔12が軸方向に貫通
されている。前記チツプ本体11の外周には、該
チツプ本体11よりも大きな熱膨張係数を有する
第2のチツプ本体13が、チツプ本体11に密着
して同心円状に設けられている。ここで、第1の
チツプ本体11と第2のチツプ本体13は、例え
ばロウ付け等により機械的に強く結合されてい
る。前記第1、第2のチツプ本体11,13に
は、軸方向に沿つてチツプ本体11,13の軸方
向の変形を回避するための4個のスリツト14…
が設けられているとともに、上部はネジ部15と
なつている。
こうした構造のコンタクトチツプにおいて、第
1のチツプ本体11、第2のチツプ本体13は、
使用中、図示しないがアークおよび溶融池からの
輻射熱、自分自身を通過する溶接電流によるジユ
ール熱のため、室温よりもかなり高温に保たれて
いる。したがつて、前記各チツプ本体11,13
の熱膨張係数の差により、コンタクトチツプは先
端に行く程中心側に曲る。
1のチツプ本体11、第2のチツプ本体13は、
使用中、図示しないがアークおよび溶融池からの
輻射熱、自分自身を通過する溶接電流によるジユ
ール熱のため、室温よりもかなり高温に保たれて
いる。したがつて、前記各チツプ本体11,13
の熱膨張係数の差により、コンタクトチツプは先
端に行く程中心側に曲る。
しかして、本考案によれば、第1のチツプ本体
11の外周に該チツプ本体より熱膨張係数の大き
い第2のチツプ本体13をロウ付け等により同心
円状に結合して設けた構造となつているため、使
用中のコンタクトチツプの第2のチツプ本体13
は先端に行く程内側に曲る。従つて、コンタクト
チツプの先端部では、熱膨張係数の大きい第2の
チツプ本体13の内側方向の膨張によりワイヤが
第1のチツプ本体11に挟圧され、ワイヤへの給
電が確実になつて溶接が安定する。また、各チツ
プ本体11,13に軸方向に沿つてスリツト14
…が設けられているため、チツプ本体11,13
の断面方向の膨張が吸収され、それチツプ本体の
軸方向の変形を回避できる。更に、各チツプ本体
11,13が摩耗してもそれらの先端が常に内側
に変形するので、給電状態が変化せず安定な溶接
を維持できる。
11の外周に該チツプ本体より熱膨張係数の大き
い第2のチツプ本体13をロウ付け等により同心
円状に結合して設けた構造となつているため、使
用中のコンタクトチツプの第2のチツプ本体13
は先端に行く程内側に曲る。従つて、コンタクト
チツプの先端部では、熱膨張係数の大きい第2の
チツプ本体13の内側方向の膨張によりワイヤが
第1のチツプ本体11に挟圧され、ワイヤへの給
電が確実になつて溶接が安定する。また、各チツ
プ本体11,13に軸方向に沿つてスリツト14
…が設けられているため、チツプ本体11,13
の断面方向の膨張が吸収され、それチツプ本体の
軸方向の変形を回避できる。更に、各チツプ本体
11,13が摩耗してもそれらの先端が常に内側
に変形するので、給電状態が変化せず安定な溶接
を維持できる。
なお、上記実施例では、各々のチツプ本体の軸
方向に4個のスリツトを設けたが、この数に限定
されるものではない。
方向に4個のスリツトを設けたが、この数に限定
されるものではない。
また、上記実施例では、第1のチツプ本体の材
質としてCr−Cuを用いたが、これに限らず、第
1のチツプ本体の熱膨張係数が第2のチツプ本体
それより小さければ種々の組合せが可能である。
質としてCr−Cuを用いたが、これに限らず、第
1のチツプ本体の熱膨張係数が第2のチツプ本体
それより小さければ種々の組合せが可能である。
以上詳述した如く本考案によれば、一定な給電
状態で安定な溶接を行なうことができるコンタク
トチツプを提供することを目的とする。
状態で安定な溶接を行なうことができるコンタク
トチツプを提供することを目的とする。
第1図aは本考案の一実施例に係るコンタクト
チツプの部分断面図、同図bは同図aのX−X線
に沿う断面図、第2図aは従来のコンタクトチツ
プの部分断面図、同図bは同図aのY−Y線に沿
う断面図である。 11,13……チツプ本体、12……孔、14
……スリツト。
チツプの部分断面図、同図bは同図aのX−X線
に沿う断面図、第2図aは従来のコンタクトチツ
プの部分断面図、同図bは同図aのY−Y線に沿
う断面図である。 11,13……チツプ本体、12……孔、14
……スリツト。
Claims (1)
- 消耗電極を使用する溶接用コンタクトチツプに
おいて、筒状の第1のチツプ本体と、この第1の
チツプ本体の外周にロウ付けにより密着して同心
円状に設けられ、前記第1のチツプ本体より熱膨
脹係数の大きい第2のチツプ本体とを具備し、前
記第1・第2のチツプ本体の軸方向に沿つてスリ
ツトが設けられていることを特徴とするコンタク
トチツプ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16795784U JPH0239652Y2 (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16795784U JPH0239652Y2 (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6187681U JPS6187681U (ja) | 1986-06-07 |
| JPH0239652Y2 true JPH0239652Y2 (ja) | 1990-10-24 |
Family
ID=30725741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16795784U Expired JPH0239652Y2 (ja) | 1984-11-07 | 1984-11-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0239652Y2 (ja) |
-
1984
- 1984-11-07 JP JP16795784U patent/JPH0239652Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6187681U (ja) | 1986-06-07 |
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