JPH0243634A - Information processor - Google Patents

Information processor

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JPH0243634A
JPH0243634A JP63195181A JP19518188A JPH0243634A JP H0243634 A JPH0243634 A JP H0243634A JP 63195181 A JP63195181 A JP 63195181A JP 19518188 A JP19518188 A JP 19518188A JP H0243634 A JPH0243634 A JP H0243634A
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JP
Japan
Prior art keywords
data
verification
circuit
collating
circuits
Prior art date
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Pending
Application number
JP63195181A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akikazu Takahashi
明和 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0243634A publication Critical patent/JPH0243634A/en
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Abstract

PURPOSE:To suppress the increase of a hardware quantity and to earlier detect the intermittent trouble at the time of diagnosing a collating circuit by operating a collating circuit to execute the diagnosis collation by the conditions different from ordinary ones. CONSTITUTION:The title processor includes a means to give special diagnosis data in place of the collating data to the second input of a collating circuit not to give the collating data out of a collating circuit 6 and means 15 and 17 to change the cycle of the action clock of the collating circuit to give the diagnosis data for a specified value, and these collating circuits are diagnosed in accordance with the collating result of the collating circuit to give the diagnosing data. Namely, all the same diagnosis data are simultaneously given to plural collating circuits which become the collation action time idle condition by the relation of the variable collating data quantity and an unchanged collating circuit number, the diagnosis collation is executed simultaneously with the ordinary collation, and it is checked whether or not the diagnosed result is the same by all collating circuit to execute the diagnosis collation. Thus, the on-line diagnosis to simultaneously execute the ordinary collating action and the diagnosing action can be executed.

Description

【発明の詳細な説明】 斑丘立1 本発明は情報処理装置に関し、特に通常照合と照合回路
の故障の有無等を検査する診断照合とを行うデータ照合
処理装置の診断方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an information processing device, and more particularly to a diagnostic method for a data verification processing device that performs normal verification and diagnostic verification to check for the presence or absence of a failure in a verification circuit.

良惠弦韮 従来のこの様な照合処理装置における照合回路の診断方
法としては次のようなものがある。照合回路にハードウ
ェアチエツク回路を設ける方法、照合回路を二重化する
方法、ソフトウェアにより定期的に診断ルーチンを実行
させるいわゆるパトロール方法等がある。
As a conventional method for diagnosing the verification circuit in such a verification processing device, there are the following methods. There are methods such as providing a hardware check circuit in the verification circuit, duplicating the verification circuit, and a so-called patrol method in which a diagnostic routine is periodically executed by software.

ハードウェアチエツク回路を設ける方法や照合回路を二
重化する方法はハードウェア量が増大することになり、
特に後者の方法では、照合回路が複数個有るアレイ構造
の場合には特に不適となるという欠点がある。パトロー
ル方法はハードウェアの増加はないが、照合回路が時々
故障して復旧するような間欠故障の発見は困難となると
いう欠点を有する。
The method of providing a hardware check circuit or the method of duplicating the verification circuit increases the amount of hardware;
In particular, the latter method has the disadvantage that it is particularly unsuitable in the case of an array structure having a plurality of matching circuits. Although the patrol method does not require an increase in hardware, it has the disadvantage that it is difficult to detect intermittent failures in which the verification circuit occasionally fails and recovers.

1匪ム1追 そこで、本発明はこの様な従来のものの欠点を解決すべ
くなされたものであって、その目的とするところは、照
合回路の診断に当り、ハードウェア量の増大を抑えると
共に間欠故障をも早めに検出可能な情報処理装置を提供
することにある。
Therefore, the present invention was made to solve the drawbacks of the conventional ones, and its purpose is to suppress the increase in the amount of hardware while diagnosing the verification circuit. An object of the present invention is to provide an information processing device that can detect even intermittent failures early.

九哩丘旦羞 本発明による情報処理装置は、夫々が第1及び第2の入
力を有し、これ等再入力に与えられたデータが等しいか
否かを照合する複数の照合回路を有し、前記照合回路の
夫々の第1の入力に共通に検索データを与えておき、前
記第2の入力に多数の照合データ舎順次与えることによ
り前記検索データに等しい照合データを探し出すように
したデータ照合方式を採用しな情報処理装置であって、
前記照合回路のうち前記照合データが与えられていない
照合回路の前記第2の入力に前記照合データに代えて特
定の診断データを与える手段と、この診断データが与え
られた照合回路の動作クロックのサイクルを規定値に対
して変化せしめる手段とを含み、前記診断データが与え
られた照合回路の照合結果に応じてこれ等照合回路の診
断をなすようにしたことを特徴とする。
An information processing device according to the present invention includes a plurality of verification circuits each having a first and a second input, and verifying whether or not the data given to the re-inputs are equal. , a data collation in which search data is commonly given to each first input of the collation circuit, and collation data equal to the search data is searched for by sequentially supplying a large number of collation data to the second input. An information processing device that adopts a method,
Means for supplying specific diagnostic data in place of the verification data to the second input of the verification circuit to which the verification data is not provided among the verification circuits, and an operation clock of the verification circuit to which the diagnostic data is supplied. The present invention is characterized in that it includes means for changing the cycle from a specified value, and that the verification circuits are diagnosed in accordance with the verification results of the verification circuits to which the diagnostic data is applied.

本発明による他の情報処理装置は、夫々が第1及び第2
の入力を有し、これ等再入力に与えられたデータが等し
いか否かを照合する複数の照合回路を有し、前記照合回
路の各々の第1゛の入力に共通に検索データを与えてお
き、前記第2の入力に多数の照合データを順次与えるこ
とにより前記検索データに等しい照合データを探し出す
ようにしたデータ照合方式を採用した情報処理装置であ
って、前記照合回路のうち前記照合データが与えられて
いない照合回路の前記第2の入力に前記照合データに代
えて特定の診断データを与える手段と、この診断データ
が与えられた照合回路の動作電圧を規定値に対して変化
せしめる手段とを含み、前記診断データが与えられた照
合回路の照合結果に応じてこれ等照合回路の診断をなす
ようにしたことを特徴とする。
Another information processing device according to the present invention includes first and second information processing devices, respectively.
has a plurality of verification circuits for verifying whether or not the data given to the re-inputs are equal, and the search data is commonly given to the first input of each of the verification circuits. The information processing apparatus employs a data matching method in which matching data equal to the search data is searched for by sequentially applying a large number of matching data to the second input, wherein the matching data in the matching circuit is means for supplying specific diagnostic data in place of the verification data to the second input of the verification circuit to which the verification data is not provided; and means for changing the operating voltage of the verification circuit to which the diagnostic data is applied relative to a specified value. The present invention is characterized in that the verification circuits are diagnosed in accordance with the verification results of the verification circuits to which the diagnostic data is given.

実施例 本発明の実施例を図面に基づいて説明する。Example Embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は本発明−実施例構成図である。記憶装置1には
、検索データおよび照合データが記憶されている。記憶
装置2には、診断照合に使用する診断照合データが記憶
されている。この記憶装置1および2からの読出データ
はバス3および4により共通制御部5に入力されている
。この共通制御部5は、同一機能を有するn個の照合回
路6a〜6nがアレイ構成された照合回路6を共通制御
するらので、制御信号線8を介して各照合部R6a〜6
nに対して照合データ転送開始を指示するフリップフロ
ップ(以下F/Pと略記する)と、データ転送先を示す
循環レジスタと、残り照合データ数を示すカウンタと、
空き状態の全照合回路に診断照合を指示する信号発生回
路と、記憶装置1と2との続出切換を行う切換回路とか
ら構成されている。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention. The storage device 1 stores search data and verification data. The storage device 2 stores diagnostic verification data used for diagnosis verification. Read data from the storage devices 1 and 2 is input to the common control unit 5 via buses 3 and 4. This common control unit 5 commonly controls the collation circuit 6 in which n collation circuits 6a to 6n having the same function are arranged in an array.
a flip-flop (hereinafter abbreviated as F/P) that instructs n to start transferring verification data; a circulation register that indicates a data transfer destination; a counter that indicates the number of remaining verification data;
It consists of a signal generation circuit that instructs all idle verification circuits to perform diagnostic verification, and a switching circuit that performs successive switching between storage devices 1 and 2.

一方、各照合回路6a〜6nは、検索データを格納する
レジスタと、照合データを格納するレジスタと、これら
のレジスタの内容が有効かつ照合動作可能であることを
示すF/Fと、通常照合または診断照合を指示するモー
ドF/Fからなるブロック6a1〜6nlおよび照合部
6a2〜6n2および照合結果を処理するブロック6a
3〜6n3から構成されている。この各照合回路6a〜
6nと共通制御部5とは、共通バス9により夫々接続さ
れている。
On the other hand, each of the verification circuits 6a to 6n has a register for storing search data, a register for storing verification data, an F/F indicating that the contents of these registers are valid and a verification operation is possible, and a normal verification or verification circuit. Blocks 6a1 to 6nl consisting of mode F/Fs that instruct diagnostic verification, verification units 6a2 to 6n2, and block 6a that processes verification results.
It is composed of 3 to 6n3. Each of these matching circuits 6a~
6n and the common control unit 5 are connected by a common bus 9, respectively.

そして照合回路にはクロック制御回路15からの複数の
クロック信号線16と共通制御部からの制御信号線18
とにより各照合回路側にクロック供給回路17からクロ
ック信号線19としてクロックが供給される。
The verification circuit includes a plurality of clock signal lines 16 from the clock control circuit 15 and a control signal line 18 from the common control section.
As a result, a clock is supplied from the clock supply circuit 17 to each verification circuit as a clock signal line 19.

また、各照合回路6a〜6nの照合結果は信号線12を
介して、診断照合結果を判別する判別回路13に接続さ
れ、この判別回路13からは判別信号14が出力されて
いる。
Further, the verification results of each of the verification circuits 6a to 6n are connected via a signal line 12 to a discrimination circuit 13 that discriminates the diagnostic verification results, and a discrimination signal 14 is output from this discrimination circuit 13.

このような構成で、予め共通バス9を介して各照合回路
6a〜6nに共通の検索データ(以下「Sデータ」とい
う)が与えられている0次に、記憶装置1内の1ブロツ
クづつの照合データ(以下「FデータJという)が順次
各照合回路6a〜6Ωに転送され、各照合回路6a〜6
nのすべてにFデータが転送されると通常照合が行われ
る。
With such a configuration, common search data (hereinafter referred to as "S data") is given to each collating circuit 6a to 6n in advance via the common bus 9. Verification data (hereinafter referred to as "F data J") is sequentially transferred to each verification circuit 6a-6Ω, and each verification circuit 6a-6
Normal verification is performed when F data is transferred to all of n.

このFデータ転送時に、Fデータの数が零となり、照合
回路6a〜6nのいずれかが空き状態となると、記憶装
置2内の診断データ(以下「Sデータ」という)が空き
状態の照合回路に転送される。このSデータが転送され
た照合回路では、照合回路に故障が生じているか否か等
の診断照合が行われる。このとき、Fデータが転送され
た各照合回路では通常照合が行われる。
During this F data transfer, if the number of F data becomes zero and any of the verification circuits 6a to 6n becomes vacant, the diagnostic data in the storage device 2 (hereinafter referred to as "S data") is transferred to the vacant verification circuit. be transferred. The verification circuit to which this S data is transferred performs diagnostic verification to determine whether or not a failure has occurred in the verification circuit. At this time, normal verification is performed in each verification circuit to which the F data has been transferred.

各照合回路6a〜6nで通常照合または診断照合のいず
れが行われており、その照合結果の情報が信号線12に
より判別回路13に出力される。
Either normal verification or diagnostic verification is performed in each of the verification circuits 6a to 6n, and information on the verification results is output to the discrimination circuit 13 via the signal line 12.

判別回路13では、二以上の診断照合結果が同一である
か否かを判別し、判別信号14を出力する。
The determination circuit 13 determines whether or not two or more diagnostic verification results are the same, and outputs a determination signal 14.

通常照合の結果はバス11を介して後段装置で利用され
る。
The results of the normal verification are used by subsequent devices via the bus 11.

このことをさらに詳しく説明する。説明を容易にするた
めアレイ構成された照合回路が4個である場合を例にと
り説明する。
This will be explained in more detail. For ease of explanation, an example will be described in which there are four matching circuits arranged in an array.

第2図は第1図に示した共通制御部5の要部回路の楕成
例を示す図である。カウンタ18は1個のSデータとの
照合対象となるFデータの総数を最初にセットし、各照
合回路6a〜6dに1個のFデータを転送する毎に1づ
つ引かれるカウンタで、常に残りFデータ数を表示する
。このカウンタ18の内容19は信号線20により比較
回路21に接続され零と比較される。この比較回路21
により零と比較され、Fデータの残り数が零となると信
号線22は論理「1」を出力する。
FIG. 2 is a diagram showing an elliptical example of the main circuit of the common control section 5 shown in FIG. 1. The counter 18 is a counter that first sets the total number of F data to be compared with one S data, and is decremented by 1 each time one F data is transferred to each of the matching circuits 6a to 6d. Displays the number of F data. The contents 19 of this counter 18 are connected to a comparison circuit 21 via a signal line 20 and compared with zero. This comparison circuit 21
is compared with zero, and when the remaining number of F data becomes zero, the signal line 22 outputs logic "1".

25はレジスタであり、照合回路6a〜6dの数と等し
い4個のF/F 26〜29で構成され、その内容が各
F/F26,27,28.29を循環するよう構成され
ている。このレジスタ25は各F/F26,27,28
.29の内容により、信号線30,31,32.33を
介して各照合回路6a〜6dへのデータ転送を指示する
Reference numeral 25 denotes a register, which is composed of four F/Fs 26 to 29 equal in number to the collation circuits 6a to 6d, and the contents thereof are configured to circulate through each of the F/Fs 26, 27, 28, and 29. This register 25 is for each F/F 26, 27, 28
.. The contents of 29 instruct data transfer to each of the matching circuits 6a to 6d via the signal lines 30, 31, 32, and 33.

今、最初のFデータ転送時には、F/F 26に「1」
がセットされ、照合回路6aへのFデータ転送を指示し
、以後Fデータ転送毎にF/F 26の内容「1」が各
F/F27,28,29.26と循環し、それぞれデー
タ転送先を各照合回路6b、6c、6d、6aと(旨示
して行く。
Now, when transferring the first F data, "1" is set to F/F 26.
is set, instructing F data transfer to the collation circuit 6a, and thereafter, the content "1" of F/F 26 is circulated to each F/F 27, 28, 29, 26 every time F data is transferred, and the data transfer destination is with each matching circuit 6b, 6c, 6d, 6a (as shown).

Fデータが対応する照合回路で受取られると、とジー信
号35,36,37.38がそれぞれ「1)となる、す
べての照合回路6a〜6dがビジー状態となり、とジー
信号35.36.37゜38がすべて「IJとなると、
ゲート40により信号線41が「1」、信号線42が「
0」となり、F/F43に「1」がセットされ、照合開
始信号線44が「IJとなり、通常照合が行われる。こ
の照合結果はバス11に出力される。
When the F data is received by the corresponding verification circuit, the G signals 35, 36, 37.38 become "1", and all the verification circuits 6a to 6d become busy, and the G signal 35, 36, 37 becomes "1". When ゜38 is all “IJ,”
The gate 40 sets the signal line 41 to "1" and the signal line 42 to "1".
0", the F/F 43 is set to "1", the verification start signal line 44 becomes "IJ", and normal verification is performed. This verification result is output to the bus 11.

この動作が繰返され、Fデータの残り数が零となり、上
記信号線22に「1」が出力されているとき、少なくと
も1つ以上の照合回路にFデータの空き状態が生じると
、信号線42が「1」となり、ゲート45より出力され
るSデータ転送指示信号46が「1」となる、このSデ
ータ転送指示信号46が「IJとなることにより、Sデ
ータが空き状態の照合回路に転送される。
When this operation is repeated and the remaining number of F data becomes zero and "1" is output to the signal line 22, if at least one collation circuit has an empty F data, the signal line 42 becomes "1", and the S data transfer instruction signal 46 output from the gate 45 becomes "1". When this S data transfer instruction signal 46 becomes "IJ", the S data is transferred to the checking circuit in the empty state. be done.

全照合回路の照合動作が終了(信号線48,49.50
.51すべて「1」)すると、ゲート52により信号線
53に「1」が出力され、F/F54に「1」がセット
され、Fデータ転送開始信号55が「1」となる。
Verification operation of all verification circuits is completed (signal lines 48, 49.50
.. 51 are all "1"), the gate 52 outputs "1" to the signal line 53, the F/F 54 is set to "1", and the F data transfer start signal 55 becomes "1".

ここで、Fデータの数が零となり上記信号線22に「1
」が出力された時のレジスタ25の内容は保持され、次
にFデータ転送が再開されるとこの空き状態となった照
合回路からデータ転送指示が行われ、以後同様に循環指
示が行われる。したがって、Fデータは常に診断照合を
おこなった照合回路からFデータ転送を開始させること
になり、信頼度の向上および各照合回路に対する診断動
作の平均化が図られている。
Here, the number of F data becomes zero and the signal line 22 is “1”.
The contents of the register 25 at the time when "" is output are held, and when the F data transfer is restarted next time, a data transfer instruction is issued from this empty collation circuit, and thereafter a circulation instruction is issued in the same manner. Therefore, the F data transfer is always started from the verification circuit that has performed the diagnostic verification, thereby improving reliability and averaging the diagnostic operations for each verification circuit.

第3図〜第4図は・記憶装置1および2からのFデータ
およびSデータ読出部の一実施例の構成図である。記憶
装置2には、Sデータとして異なる4種類の診断照合デ
ータA、B、C,Dが格納されていて、Sデータ転送指
示信号46が「1」のとき、Sデータ格納アドレスを示
すポインタ56により読出され、バス4を介してゲート
57から照合回路に転送される。
FIGS. 3 and 4 are block diagrams of one embodiment of the F data and S data reading section from the storage devices 1 and 2. FIG. The storage device 2 stores four different types of diagnostic verification data A, B, C, and D as S data, and when the S data transfer instruction signal 46 is "1", a pointer 56 indicating the S data storage address is stored. The data is read out by the gate 57 and transferred to the verification circuit via the bus 4.

一方、信号線58が「1」のときは、Fデータ読出アド
レスレジスタ59により指示された記憶装置1の内容が
、バス3を介してゲート60から照合回路に転送される
On the other hand, when the signal line 58 is "1", the contents of the storage device 1 specified by the F data read address register 59 are transferred from the gate 60 to the verification circuit via the bus 3.

第5図は第1図に示す照合回路、例えば6aの一実施例
の構成図である。レジスタ65および66は共通バス9
に接続されており、Sデータおよび照合データ、Fデー
タおよびSデータを格納するレジスタである。F/F6
7はレジスタ65および66に有効データがあることを
示すとジー状態表示用のF/Fである。F/F68はレ
ジスタ66の照合データがSデータであることを示すた
めのものである。ゲート69はF/F 67が「0」で
かつFデータ転送開始信号55が「1」のとき、ゲート
70を介してF/F 67をセットする。ゲート71は
F/F67が「0」かつSデータ転送指示信号46が「
1」のとき、ゲート70を介してF/F 67および6
8をセットする。このF/F68がセットされることに
より、照合回路の照合が診断照合であることが表示され
る。
FIG. 5 is a block diagram of one embodiment of the verification circuit shown in FIG. 1, for example 6a. Registers 65 and 66 are connected to common bus 9
This is a register that stores S data, verification data, F data, and S data. F/F6
7 is an F/F for displaying a gee state when registers 65 and 66 have valid data. The F/F 68 is used to indicate that the verification data in the register 66 is S data. The gate 69 sets the F/F 67 via the gate 70 when the F/F 67 is "0" and the F data transfer start signal 55 is "1". The gate 71 is set when the F/F 67 is "0" and the S data transfer instruction signal 46 is "0".
1”, F/Fs 67 and 6 through gate 70
Set 8. By setting this F/F 68, it is displayed that the verification by the verification circuit is diagnostic verification.

レジスタ65および66のデータは照合回路部6a2へ
送られ照合開始信号線44がrl、のとき照合動作を行
い、照合結果をF/F72にセットする。このときに、
同時に発生する照合終了信号73によりF/F67およ
び68がリセットされる。F/F68の出力信号Dnお
よびF/F 72の出力信号Onは判別回路13に送出
され、F/F67の出力信号は共通制御部5に送出され
る。
The data in the registers 65 and 66 are sent to the matching circuit section 6a2, and when the matching start signal line 44 is rl, a matching operation is performed and the matching result is set in the F/F 72. At this time,
F/Fs 67 and 68 are reset by the collation end signal 73 generated at the same time. The output signal Dn of the F/F 68 and the output signal On of the F/F 72 are sent to the discrimination circuit 13, and the output signal of the F/F 67 is sent to the common control section 5.

第6図は第1図に示した判別回路13の一実施例の構成
図である9図中、74a〜74bは、空き状態の照合回
路が2個の場合に、この空き状態の照合回路で行われた
各診断照合結果Cnが同一であるか否かを判別する判別
回路(二重化診断回路)である、75a〜75dは、空
き状態の照合回路が3個の場合に、この空き状態の照合
回路で行われた各診断結果Cnが同一であるか否かを判
別する判別回路(三重化診断回路)である、この各判別
回路74a〜74dおよび75a〜75dの出力信号T
nは、同一結果であれば「1」、不一致であれば「0」
となる。
FIG. 6 is a block diagram of one embodiment of the discriminating circuit 13 shown in FIG. 1. In FIG. Determination circuits 75a to 75d (duplex diagnostic circuits) that determine whether or not the diagnostic verification results Cn are the same are used to perform verification of the vacant state when there are three verification circuits in the vacant state. The output signal T of each of these discrimination circuits 74a to 74d and 75a to 75d is a discrimination circuit (triple diagnosis circuit) that discriminates whether each diagnosis result Cn performed in the circuit is the same or not.
n is "1" if the results are the same, "0" if the results are inconsistent
becomes.

各判別回路74a 〜74dおよび75a〜75dから
の出力信号T’ nは、選択回路76において、Da、
Db、Dc、Ddの値により1個選択され判別信号14
が発生する。ここで、Da、Db。
The output signals T'n from each of the discrimination circuits 74a to 74d and 75a to 75d are outputted to the selection circuit 76 by Da,
One is selected according to the values of Db, Dc, and Dd, and the discrimination signal 14
occurs. Here, Da, Db.

Dc、Ddは、各照合回路6a〜6dが空き状態となり
Sデータが転送され、診断照合が行われたとき「1」が
出力される上記F/F 68の出力信号である。
Dc and Dd are output signals of the F/F 68 that output "1" when each of the verification circuits 6a to 6d is in a vacant state, S data is transferred, and diagnostic verification is performed.

選択回路76の動作を第7図の真理値表を用いて説明す
る。Da〜Ddは上記F/F68の出力信号、Tは各判
別回路74〜74dおよび75a〜75dの各出力信号
である。第7図中、Da、Db、Da、Dd−0000 Da、Db、Dc、Dd=OOOI Da、Db、Dc、Dd=OO10 Da  Db、Dc、Dd=0100 Da、Db、Dc、Dd=1000 のときは、診断照合は1個の照合回路のみで行われた場
合であるので常に判別信号を「1」としている。
The operation of the selection circuit 76 will be explained using the truth table shown in FIG. Da to Dd are output signals of the F/F 68, and T are output signals of each of the discrimination circuits 74 to 74d and 75a to 75d. In Fig. 7, Da, Db, Da, Dd-0000 Da, Db, Dc, Dd=OOOI Da, Db, Dc, Dd=OO10 Da Db, Dc, Dd=0100 Da, Db, Dc, Dd=1000 In this case, the diagnostic verification is performed by only one verification circuit, so the discrimination signal is always set to "1".

Da、Db、Dc、Dd=0101 Da、Db、Da、Dd=1010 のときは、照合回路が1個おきに空き状態となったこと
を示しており、起り得ない状態なので常に判別信号を「
0」としている。
When Da, Db, Dc, Dd=0101 and Da, Db, Da, Dd=1010, it means that every other matching circuit is empty, and since this is an impossible state, the discrimination signal is always set to "
0".

Da、Db、Da、Dd=Z 111 のときは、すべての照合回路が空き状態なったことを示
しており、この状態では診断照合を行わないので常に判
別信号を「0」としている0判別信号14が「1」であ
れば正常状態、「0」であれば不正状態であることがチ
エツクされる。
When Da, Db, Da, Dd=Z 111, it indicates that all the verification circuits are in an empty state, and since diagnostic verification is not performed in this state, the 0 discrimination signal always sets the discrimination signal to "0". If 14 is "1", it is checked that it is in a normal state, and if it is "0", it is checked that it is in an invalid state.

なお、判別信号14が「0」のとき、照合装置に対する
ロック機能を付加すると、故障調査上有効となる。また
、Fデータ址と照合回路数の設定を適切にすれば本発明
は一層有効となる。
It should be noted that when the discrimination signal 14 is "0", adding a locking function to the verification device will be effective in troubleshooting. Furthermore, the present invention becomes even more effective if the F data location and the number of collation circuits are appropriately set.

第8図は第1図に示したクロック制御部8@15および
クロック供給回路17の一実施例の構成図である。第1
図の制御信号18は第7図においてDa〜DdおよびE
a〜Bdに相当する。また第1図の信号19は6a〜6
dのクロックに相当する。信号線Da〜DdおよびEa
〜Edは第5図においてF/F 68の出力信号である
。照合回路が診断照合のときつまり第5図においてF/
F68の出力信号Dnが「1」のとき被照合回路に対し
て、通常照合時の規定クロックサイクル以外のサイクル
を有する診断用クロックを供給する。第8図において7
9a〜79dは論理和ゲートである。
FIG. 8 is a configuration diagram of an embodiment of the clock control section 8@15 and the clock supply circuit 17 shown in FIG. 1. 1st
The control signals 18 in the figure are Da to Dd and E in FIG.
Corresponds to a to Bd. Also, the signal 19 in FIG. 1 is 6a to 6.
This corresponds to the clock of d. Signal lines Da to Dd and Ea
~Ed is the output signal of F/F 68 in FIG. When the verification circuit performs diagnostic verification, that is, F/
When the output signal Dn of F68 is "1", a diagnostic clock having a cycle other than the specified clock cycle for normal verification is supplied to the circuit to be verified. 7 in Figure 8
9a to 79d are OR gates.

第9図は本発明の別の実施例のシステムブロック図であ
り、第1図の実施例と同等部分は同一符号により示され
ている。第1図の例と異なる部分についてのみ述べれば
、各照合回路は共通制御部5から電圧制御90への制御
信号91により夫々設定された動作電圧により動作する
。電圧供給部93は電圧回路90からの制御信号92に
より各照合回路への供給電圧の値を決定するものである
FIG. 9 is a system block diagram of another embodiment of the present invention, in which parts equivalent to the embodiment of FIG. 1 are designated by the same reference numerals. To describe only the differences from the example in FIG. 1, each collation circuit operates with an operating voltage set by a control signal 91 sent from the common control section 5 to a voltage control 90. The voltage supply section 93 determines the value of the voltage to be supplied to each verification circuit based on the control signal 92 from the voltage circuit 90.

第10図は第9図に示した電圧制御回路90の一実施例
の構成図である。第9図の制御信号91はDa〜Ddお
よびEa〜Edに相当する。第5図においてF/F 6
8の出力信号Dnが「1」の照合回路に対して、第7図
の電圧制御回路90により供給電圧レベルが規定値と異
なる値に設定され、電圧供給部93などを介して電圧が
供給される。電圧制御回路90はリレーなどを用いて構
成され、ディジタル信号であるDa〜Ddおよび“Ea
〜Edをアナログ信号92に変換する。電圧供給部93
はこれを受は各照合装置個別に動作動圧を供給する0通
常は各照合回路に対して規定の動作電圧を供給するもの
であるが、診断照合を行っている照合回路に対しては、
当該規定値以外の動作電圧を供給するようになっている
FIG. 10 is a configuration diagram of one embodiment of the voltage control circuit 90 shown in FIG. 9. Control signals 91 in FIG. 9 correspond to Da to Dd and Ea to Ed. In Figure 5, F/F 6
8, the voltage control circuit 90 in FIG. 7 sets the supply voltage level to a value different from the specified value, and the voltage is supplied via the voltage supply section 93 etc. Ru. The voltage control circuit 90 is configured using a relay or the like, and receives digital signals Da to Dd and "Ea".
~Ed into an analog signal 92. Voltage supply section 93
The receiver supplies operating dynamic pressure to each verification device individually.Normally, a specified operating voltage is supplied to each verification circuit, but for verification circuits that perform diagnostic verification,
An operating voltage other than the specified value is supplied.

この様に、診断照合を行っている照合回路に対して、通
常と異なる条件(クロックサイクルや動作電圧等の条件
)で動作させることにより、より積極的な診断動作が実
行できることになる。よって、間欠故障が固定故障とな
ることにより、故障の早期発見が可能となるのである。
In this way, by operating the verification circuit that performs diagnostic verification under conditions different from normal conditions (conditions such as clock cycle and operating voltage), a more aggressive diagnostic operation can be performed. Therefore, early detection of failures becomes possible by turning intermittent failures into fixed failures.

l汎凶漕」 本発明によれば、各照合回路内に診断用のチエツク回路
を付加せず、かつ照合回路の二重化も行う必要がないと
いう効果がある。すなわち、可変の照合データ量と不変
の照合回路数との関係で照合動作時空き状態となる複数
の照合回路に、すべて同一の診断データを同時に与え、
通常照合と同時に診断照合を行わせ、診断結果が診断照
合を実行したすべての照合回路で同一であるが否かをチ
エツクすることとしたので、通常の照合動作と診断動作
を同時に実行させたオンライン診断を行うことができる
。従って、特別の診断時間を必要としないで、間欠故障
を減少させることができる。
According to the present invention, there is an advantage that there is no need to add a diagnostic check circuit to each verification circuit, and there is no need to duplicate the verification circuits. In other words, the same diagnostic data is simultaneously applied to a plurality of verification circuits that are in an idle state during verification operation due to the relationship between the variable amount of verification data and the unchanging number of verification circuits.
Since we decided to perform diagnostic verification at the same time as normal verification and check whether the diagnostic results are the same in all the verification circuits that performed diagnostic verification, online Diagnosis can be made. Therefore, intermittent failures can be reduced without requiring special diagnostic time.

また、診断用金物量の増加を抑えることができる。Furthermore, an increase in the amount of diagnostic hardware can be suppressed.

また、照合データの照合回路への転送を連続的に循環さ
せて行うので、診断動作の平均化を図ることができる等
の優れた効果を有する。
Furthermore, since the verification data is transferred to the verification circuit in a continuous manner, it has excellent effects such as being able to average out the diagnostic operations.

また、診断照合を行っている照合回路を通常と異なる条
件で動作させることにより、より積極的な診断動作とな
り、間欠故障が固定故障となれば故障を早期発見するこ
とができるという効果がある。
Further, by operating the verification circuit that performs diagnostic verification under conditions different from normal conditions, the diagnostic operation becomes more active, and if an intermittent failure becomes a fixed failure, there is an effect that failures can be detected early.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例のシステムブロック図、第2図
は共通制御部の具体例を示す図、第3図は記憶装置2の
読出回路の具体例を示す図、第4図は記憶装置1の読出
回路の具体例を示す図、第5図は照合回路の具体例を示
す図、第6図は判別回路の具体例を□示す図、第7図は
判別回路における選択回路76の動作を示す真理値表、
第8図はクロック制御回路の具体例を示す図、第9図は
本発明の別の実施例のシステムブロック図、第10図は
電圧制御回路の具体例を示す図である。 1.2・・・・・・記憶装置 5・・・・・・共通制御部 6・・・・・・照合回路 13・・・・・・判別回路 15・・・・・・クロック制御回路 17・・・・・・クロック供給回路 90・・・・・・電圧制御回路 93・・・・・・電圧供給部
FIG. 1 is a system block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a specific example of the common control section, FIG. 3 is a diagram showing a specific example of the readout circuit of the storage device 2, and FIG. 4 is a diagram showing a specific example of the readout circuit of the storage device 2. FIG. 5 is a diagram showing a specific example of the readout circuit of the device 1, FIG. 5 is a diagram showing a specific example of the collation circuit, FIG. 6 is a diagram showing a specific example of the discrimination circuit, and FIG. 7 is a diagram showing a specific example of the selection circuit 76 in the discrimination circuit. A truth table showing the behavior,
FIG. 8 is a diagram showing a specific example of a clock control circuit, FIG. 9 is a system block diagram of another embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a diagram showing a specific example of a voltage control circuit. 1.2...Storage device 5...Common control unit 6...Verification circuit 13...Discrimination circuit 15...Clock control circuit 17 ......Clock supply circuit 90...Voltage control circuit 93...Voltage supply section

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)夫々が第1及び第2の入力を有し、これ等両入力
に与えられたデータが等しいか否かを照合する複数の照
合回路を有し、前記照合回路の夫々の第1の入力に共通
に検索データを与えておき、前記第2の入力に多数の照
合データを順次与えることにより前記検索データに等し
い照合データを探し出すようにしたデータ照合方式を採
用した情報処理装置であって、前記照合回路のうち前記
照合データが与えられていない照合回路の前記第2の入
力に前記照合データに代えて特定の診断データを与える
手段と、この診断データが与えられた照合回路の動作ク
ロックのサイクルを規定値に対して変化せしめる手段と
を含み、前記診断データが与えられた照合回路の照合結
果に応じてこれ等照合回路の診断をなすようにしたこと
を特徴とする情報処理装置。
(1) A plurality of verification circuits each having a first and a second input and verifying whether data given to both inputs are equal; An information processing device employing a data matching method in which search data is commonly given to the input, and matching data equal to the search data is searched for by sequentially giving a large number of matching data to the second input. , means for supplying specific diagnostic data in place of the verification data to the second input of the verification circuit to which the verification data is not provided among the verification circuits; and an operation clock of the verification circuit to which the diagnostic data is provided. and means for changing the cycle of the reference circuit from a specified value, and the information processing apparatus is characterized in that the verification circuit is diagnosed in accordance with the verification result of the verification circuit to which the diagnostic data is applied.
(2)夫々が第1及び第2の入力を有し、これ等両入力
に与えられたデータが等しいか否かを照合する複数の照
合回路を有し、前記照合回路の各各の第1の入力に共通
に検索データを与えておき、前記第2の入力に多数の照
合データを順次与えることにより前記検索データに等し
い照合データを探し出すようにしたデータ照合方式を採
用した情報処理装置であって、前記照合回路のうち前記
照合データが与えられていない照合回路の前記第2の入
力に前記照合データに代えて特定の診断データを与える
手段と、この診断データが与えられた照合回路の動作電
圧を規定値に対して変化せしめる手段とを含み、前記診
断データが与えられた照合回路の照合結果に応じてこれ
等照合回路の診断をなすようにしたことを特徴とする情
報処理装置。
(2) a plurality of verification circuits each having a first and a second input and verifying whether data given to both inputs are equal; The information processing apparatus employs a data matching method in which search data is commonly given to the input of the second input, and matching data equal to the search data is searched for by sequentially giving a large number of matching data to the second input. means for supplying specific diagnostic data in place of the verification data to the second input of the verification circuit to which the verification data is not provided among the verification circuits; and an operation of the verification circuit to which the diagnostic data is provided. 1. An information processing device comprising: means for changing a voltage with respect to a specified value; and a device for diagnosing a verification circuit to which the diagnostic data is applied in accordance with a verification result of the verification circuit.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5671002A (en) * 1992-01-31 1997-09-23 Kyocera Corporation Print head with multiplexed resistances controlling supply of current to image blocks

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5671002A (en) * 1992-01-31 1997-09-23 Kyocera Corporation Print head with multiplexed resistances controlling supply of current to image blocks

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