JPH0244027B2 - - Google Patents
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- JPH0244027B2 JPH0244027B2 JP57014516A JP1451682A JPH0244027B2 JP H0244027 B2 JPH0244027 B2 JP H0244027B2 JP 57014516 A JP57014516 A JP 57014516A JP 1451682 A JP1451682 A JP 1451682A JP H0244027 B2 JPH0244027 B2 JP H0244027B2
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- G01N29/04—Analysing solids
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- Pathology (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波探傷によつて割れなどの面状欠
陥の深さ位置や寸法を高精度に測定する手段に係
り、特に欠陥端部からの超音波エコーを利用して
欠陥の探さ位置や寸法を測定する方法に関するも
のである。
陥の深さ位置や寸法を高精度に測定する手段に係
り、特に欠陥端部からの超音波エコーを利用して
欠陥の探さ位置や寸法を測定する方法に関するも
のである。
従来欠陥端部からの超音波エコーを利用して欠
陥の深さ位置や寸法を測定する手段としては１探
触子法により欠陥端部からのエコーをとらえ、そ
の位置を幾何学的に計算する端部ピークエコー法
があつた。この方法は第１図に示されるごとく面
状欠陥４の上端部エコー８及び下端部のエコー
８′までのビーム路程を１個の探触子で測定し、
このビーム路程Ｗと探触子の屈折角θより面状欠
陥の両端の位置および面状欠陥の大きさを幾何学
的に測定する方法であつた。なお第１図のａ，ｂ
はブラウン管で観測される波形の概略図、ｃ，ｄ
はａ，ｂに対応する測定要領の説明図である。
陥の深さ位置や寸法を測定する手段としては１探
触子法により欠陥端部からのエコーをとらえ、そ
の位置を幾何学的に計算する端部ピークエコー法
があつた。この方法は第１図に示されるごとく面
状欠陥４の上端部エコー８及び下端部のエコー
８′までのビーム路程を１個の探触子で測定し、
このビーム路程Ｗと探触子の屈折角θより面状欠
陥の両端の位置および面状欠陥の大きさを幾何学
的に測定する方法であつた。なお第１図のａ，ｂ
はブラウン管で観測される波形の概略図、ｃ，ｄ
はａ，ｂに対応する測定要領の説明図である。
この方法によれば機械加工したスリツト状欠陥
等に対しては一般にかなり測定精度がよいが、自
然欠陥に対しては測定精度はかなり悪くなること
が知られている。これは端部エコー自体が極めて
微弱であることに加えて割れ端部および割れ面は
かなり複雑な形状を呈していることから、端部エ
コー以外のエコーが端部近傍に発生し、これらの
エコーと端部エコーとの見分けが極めて困難にな
るため端部エコー以外のエコーを端部エコーと見
誤ること、及びビームにはふくらみがあるため中
心ビーム以外の部分よりのエコーも存在し、破面
及び先端の状況によつては中心ビーム以外の部分
が寄与したエコーが発生し、これが中心ビームが
当つた場合より大きくなり、これを先端よりのエ
コーと誤認したりするためである。
等に対しては一般にかなり測定精度がよいが、自
然欠陥に対しては測定精度はかなり悪くなること
が知られている。これは端部エコー自体が極めて
微弱であることに加えて割れ端部および割れ面は
かなり複雑な形状を呈していることから、端部エ
コー以外のエコーが端部近傍に発生し、これらの
エコーと端部エコーとの見分けが極めて困難にな
るため端部エコー以外のエコーを端部エコーと見
誤ること、及びビームにはふくらみがあるため中
心ビーム以外の部分よりのエコーも存在し、破面
及び先端の状況によつては中心ビーム以外の部分
が寄与したエコーが発生し、これが中心ビームが
当つた場合より大きくなり、これを先端よりのエ
コーと誤認したりするためである。
一方、面状欠陥端部からの超音波エコーを利用
する別の手段としては、２探触子法により欠陥端
部からのエコーをとらえてその位置を幾何学的に
計算するデイフラクシヨンエコー法がSilkらによ
つて提案されている。この方法は第２図に示され
るごとく面状欠陥４を間に置いて送信・受信２個
の斜角探触子１，１′が試験片の同一面に対向配
置される２探触子法であるため、受信される余分
なエコーは少く、また受信されたエコーが中心ビ
ーを外れた部分が寄与したエコーであつても欠陥
位置を正確に推定できるという利点があつた。な
お第２図のａ，ｂはブラウン管で観測される第１
図ａ，ｂと同様な波形図、ｃ，ｄはａ，ｂに対応
する測定要領の説明図である。しかし、この場合
も端部よりのエコーは極めて微弱であり、自然欠
陥では入射方向によつては端部エコーが認められ
なかつたり、モード変換等による別ルートのエコ
ーを端部エコーと誤認したりして、自然欠陥の場
合端部エコーを正確に判定するのは困難であつ
た。
する別の手段としては、２探触子法により欠陥端
部からのエコーをとらえてその位置を幾何学的に
計算するデイフラクシヨンエコー法がSilkらによ
つて提案されている。この方法は第２図に示され
るごとく面状欠陥４を間に置いて送信・受信２個
の斜角探触子１，１′が試験片の同一面に対向配
置される２探触子法であるため、受信される余分
なエコーは少く、また受信されたエコーが中心ビ
ーを外れた部分が寄与したエコーであつても欠陥
位置を正確に推定できるという利点があつた。な
お第２図のａ，ｂはブラウン管で観測される第１
図ａ，ｂと同様な波形図、ｃ，ｄはａ，ｂに対応
する測定要領の説明図である。しかし、この場合
も端部よりのエコーは極めて微弱であり、自然欠
陥では入射方向によつては端部エコーが認められ
なかつたり、モード変換等による別ルートのエコ
ーを端部エコーと誤認したりして、自然欠陥の場
合端部エコーを正確に判定するのは困難であつ
た。
すなわち試験片の表面に対して垂直及び垂直に
近い面状欠陥の端部にある屈折角の範囲で超音波
ビームを入射させた場合、端部を電源として両側
に端部エコーが放出され、これは面状欠陥端部に
おける波の回折現象の結果生じる波動であるが、
このエコーは前述のごとく極めて微弱であるため
端部エコーと距離的に近い部分からのエコーとが
重複して端部エコーの見分けが難かしかつたり、
欠陥端部の傾きの影響などから一方向のみからで
は端部エコーが強く認められないこともある。
近い面状欠陥の端部にある屈折角の範囲で超音波
ビームを入射させた場合、端部を電源として両側
に端部エコーが放出され、これは面状欠陥端部に
おける波の回折現象の結果生じる波動であるが、
このエコーは前述のごとく極めて微弱であるため
端部エコーと距離的に近い部分からのエコーとが
重複して端部エコーの見分けが難かしかつたり、
欠陥端部の傾きの影響などから一方向のみからで
は端部エコーが強く認められないこともある。
そのため本発明者らは微弱な端部エコーを精度
よく検出するための方法として、従来法では欠陥
の片側のみで受信させていた端部エコーを欠陥の
両側で受信させ、両者を用いて総合的に判定する
ことによつて端部エコーの検出精度を著しく向上
させることができることを見い出した。これは欠
陥を間に置いて対向させた２個の斜角探触子を試
験片の同一面に配置させ、同時に送受信させるこ
とによつて達成される。そして、両探触子に受信
される端部エコーを時間的に合わせることにより
両探触子から欠陥端部までの距離はそれぞれ等し
くなるため、２個の探触子の入射点と欠陥端部の
３点を結ぶ線分は二等辺三角形を形成し、試験材
表面から欠陥端部までの深さは二等辺三角形を２
等分する垂線の長さとして容易にしかも極めて正
確に求められるという知見を得た。
よく検出するための方法として、従来法では欠陥
の片側のみで受信させていた端部エコーを欠陥の
両側で受信させ、両者を用いて総合的に判定する
ことによつて端部エコーの検出精度を著しく向上
させることができることを見い出した。これは欠
陥を間に置いて対向させた２個の斜角探触子を試
験片の同一面に配置させ、同時に送受信させるこ
とによつて達成される。そして、両探触子に受信
される端部エコーを時間的に合わせることにより
両探触子から欠陥端部までの距離はそれぞれ等し
くなるため、２個の探触子の入射点と欠陥端部の
３点を結ぶ線分は二等辺三角形を形成し、試験材
表面から欠陥端部までの深さは二等辺三角形を２
等分する垂線の長さとして容易にしかも極めて正
確に求められるという知見を得た。
本発明はかかる知見によつてなされたものであ
り、その要旨とする所は面状欠陥を間に置いて対
向させた２個の同一周波数用の斜角探触子試験片
の同一面に配置し、同時に送信パルスを送り、面
状欠陥の上端部あるいは下端部よりのエコーをそ
れぞれの探触子で受信させ、端部エコーの反射成
分と反対側の探触子による端部エコーの回折成分
との干渉波を用いて両探触子のビーム路程を同一
に調整し、このビーム路程の値と２個の探触子の
入射点間距離とから試験片表面より面状欠陥先端
部までの深さを高精度に測定することを特徴とし
た超音波探傷方法にある。
り、その要旨とする所は面状欠陥を間に置いて対
向させた２個の同一周波数用の斜角探触子試験片
の同一面に配置し、同時に送信パルスを送り、面
状欠陥の上端部あるいは下端部よりのエコーをそ
れぞれの探触子で受信させ、端部エコーの反射成
分と反対側の探触子による端部エコーの回折成分
との干渉波を用いて両探触子のビーム路程を同一
に調整し、このビーム路程の値と２個の探触子の
入射点間距離とから試験片表面より面状欠陥先端
部までの深さを高精度に測定することを特徴とし
た超音波探傷方法にある。
以下本発明の内容を図面を用いて詳述する。第
３図は欠陥端部よりのエコーの発生を模式的に示
したものであり、ａは欠陥上端部、ｂは欠陥下端
部に対する場合である。斜角探触子１より超音波
パルス２を欠陥４の端部を狙つて入射させると欠
陥の両側に欠陥の先端を音源とした端部エコー３
を生じる。
３図は欠陥端部よりのエコーの発生を模式的に示
したものであり、ａは欠陥上端部、ｂは欠陥下端
部に対する場合である。斜角探触子１より超音波
パルス２を欠陥４の端部を狙つて入射させると欠
陥の両側に欠陥の先端を音源とした端部エコー３
を生じる。
第４図は本発明の場合の欠陥に対する斜角探触
子の配置と端部エコーの関係を説明するための図
である。同図では欠陥上端部の場合を示したが下
端の場合も同様である。欠陥４を間に置き試験片
の同一面に対向配置させた２個の探触子１，１′
より同時に超音波パルスを送信させる。このとき
一方の探触子１からの超音波は欠陥４の端部でエ
コーを発生するが、この端部エコーは四方に発射
されるので、一部は上記探触子１に「反射成分の
エコー３として戻り、他の一部はもう一つの探触
子１′に回折成分のエコー３′として入る。同様に
もう一方の探触子１′からの超音波のエコーも
３″および３のエコーとしてそれぞれの探触子
に入る。
子の配置と端部エコーの関係を説明するための図
である。同図では欠陥上端部の場合を示したが下
端の場合も同様である。欠陥４を間に置き試験片
の同一面に対向配置させた２個の探触子１，１′
より同時に超音波パルスを送信させる。このとき
一方の探触子１からの超音波は欠陥４の端部でエ
コーを発生するが、この端部エコーは四方に発射
されるので、一部は上記探触子１に「反射成分の
エコー３として戻り、他の一部はもう一つの探触
子１′に回折成分のエコー３′として入る。同様に
もう一方の探触子１′からの超音波のエコーも
３″および３のエコーとしてそれぞれの探触子
に入る。
ここにおいて双方の探触子が発生する超音波の
周波数は同一であるから、それぞれの探触子に入
る反射成分のエコー３，３″と回折成分のエコー
３，３′とそれぞれ干渉する。したがつて双方
の探触子のビーム路程が等しいとき干渉で強め波
高値が高くなる。これによりSN比が向上できる
ので、微弱なため従来は検出困難であつた端部エ
コーを確実に捕捉できる。
周波数は同一であるから、それぞれの探触子に入
る反射成分のエコー３，３″と回折成分のエコー
３，３′とそれぞれ干渉する。したがつて双方
の探触子のビーム路程が等しいとき干渉で強め波
高値が高くなる。これによりSN比が向上できる
ので、微弱なため従来は検出困難であつた端部エ
コーを確実に捕捉できる。
第５図は本発明による欠陥に対する斜角探触子
の配置と欠陥位置の求め方を説明する図で、ａは
概略平面図、ｂは側面（断面）図である。先ず探
触子１により欠陥と直交する線上より探傷し、端
部エコーをブラウン管上に描かせる。ブラウン管
上で端部エコーの判定ができない場合には端部ピ
ークと思われるエコーを描かせる。次に探触子１
の中心線上で欠陥を間に置いて対向す位置に探触
子１′を置き、この場合のエコーもブラウン管上
に描かせる。この状態で探触子１′に前後に動か
し、両者の端部エコーがブラウン管時間軸上で同
じ位置に揃うように調整する。探触子１′の前後
送査のみではうまく両探触子よりのエコーを合わ
せることが出来ない場合は、更に探触子１も前後
に微調整して一致点を捜す。このような操作を行
うことにより片側からのみでは端部エコーが明瞭
でない場合でも反対側からの端部エコーが重複加
算される複合効果により端部エコーが明瞭にな
る。両探触子よりのエコーを時間軸上で一致させ
た場合、２個の探触子の入射点イ，ロと欠陥の先
端ハを結ぶ線は２つの角度が（90−θ）゜なる二
等辺三角形を形成する。ここにおいて２個の探触
子間の距離をｙ、片方の探触子から欠陥端部まで
のビーム路程をＷとすれば、欠陥端部までの深さ
ｄは として求めることができる。また欠陥は２個の探
触子の前方ｙ／２の位置に存在する。以上は上端を 狙つた場合であるが欠陥下端の場合でも全く同様
に求めることができることは言うまでもない。
の配置と欠陥位置の求め方を説明する図で、ａは
概略平面図、ｂは側面（断面）図である。先ず探
触子１により欠陥と直交する線上より探傷し、端
部エコーをブラウン管上に描かせる。ブラウン管
上で端部エコーの判定ができない場合には端部ピ
ークと思われるエコーを描かせる。次に探触子１
の中心線上で欠陥を間に置いて対向す位置に探触
子１′を置き、この場合のエコーもブラウン管上
に描かせる。この状態で探触子１′に前後に動か
し、両者の端部エコーがブラウン管時間軸上で同
じ位置に揃うように調整する。探触子１′の前後
送査のみではうまく両探触子よりのエコーを合わ
せることが出来ない場合は、更に探触子１も前後
に微調整して一致点を捜す。このような操作を行
うことにより片側からのみでは端部エコーが明瞭
でない場合でも反対側からの端部エコーが重複加
算される複合効果により端部エコーが明瞭にな
る。両探触子よりのエコーを時間軸上で一致させ
た場合、２個の探触子の入射点イ，ロと欠陥の先
端ハを結ぶ線は２つの角度が（90−θ）゜なる二
等辺三角形を形成する。ここにおいて２個の探触
子間の距離をｙ、片方の探触子から欠陥端部まで
のビーム路程をＷとすれば、欠陥端部までの深さ
ｄは として求めることができる。また欠陥は２個の探
触子の前方ｙ／２の位置に存在する。以上は上端を 狙つた場合であるが欠陥下端の場合でも全く同様
に求めることができることは言うまでもない。
このように本発明方法を用いることによりブラ
ウン管上に現われるエコー群の中から端部エコー
を拡大して求めることができると共に、ブラウン
管時間軸上でそれぞれの端部エコーの立上りの位
置を合わせるという単純な操作によつて２個の探
触子と欠陥端部を結ぶ線分は正確に二等辺三角形
を形成し、欠陥の深さ位置は二等辺三角形を二等
分する垂線の長さとして正確にしかも簡単に求め
られる。
ウン管上に現われるエコー群の中から端部エコー
を拡大して求めることができると共に、ブラウン
管時間軸上でそれぞれの端部エコーの立上りの位
置を合わせるという単純な操作によつて２個の探
触子と欠陥端部を結ぶ線分は正確に二等辺三角形
を形成し、欠陥の深さ位置は二等辺三角形を二等
分する垂線の長さとして正確にしかも簡単に求め
られる。
次に本発明による超音波探傷方法を具現化する
ための装置の一態様例を説明する。第６図は本発
明装置の一態様例を示す説明図である。同期部６
のタイミングコントロールによる送受信部５，
５′より同時に送信された超音波パルスは欠陥４
の端部で反射され、探触子１，１′で電気信号に
変換され、送受信部５，５′で増幅検波されて時
間軸部９，９′を経て２現象ブラウン管７に送ら
れる。第６図では片振れ波形で示し、探触子１側
の出力Ａに対して探触子１′側の出力Ｂの波形は
逆転させて示した。探触子１，１′の位置を微調
整させ、端部エコー波形８″，８が時間軸上で
一致するまで微調整を続ける。この時のビーム路
程Ｗと２個の探触子１，１″の入射点間の距離ｙ
を読み、(1)式を用いて欠陥端部までの深さｄが測
定される。なお、本発明の装置において、同期部
６，送受信部５，５′，斜角探触子１，１′，時間
軸部９，９′は通常の超音波探傷器に使用される
一般的なものでよく、また２現象ブラウン管４と
しては横軸に目盛を入れビーム路程を読取れるよ
うにしたものが便利である。
ための装置の一態様例を説明する。第６図は本発
明装置の一態様例を示す説明図である。同期部６
のタイミングコントロールによる送受信部５，
５′より同時に送信された超音波パルスは欠陥４
の端部で反射され、探触子１，１′で電気信号に
変換され、送受信部５，５′で増幅検波されて時
間軸部９，９′を経て２現象ブラウン管７に送ら
れる。第６図では片振れ波形で示し、探触子１側
の出力Ａに対して探触子１′側の出力Ｂの波形は
逆転させて示した。探触子１，１′の位置を微調
整させ、端部エコー波形８″，８が時間軸上で
一致するまで微調整を続ける。この時のビーム路
程Ｗと２個の探触子１，１″の入射点間の距離ｙ
を読み、(1)式を用いて欠陥端部までの深さｄが測
定される。なお、本発明の装置において、同期部
６，送受信部５，５′，斜角探触子１，１′，時間
軸部９，９′は通常の超音波探傷器に使用される
一般的なものでよく、また２現象ブラウン管４と
しては横軸に目盛を入れビーム路程を読取れるよ
うにしたものが便利である。
次に本発明の効果を実施例を用いて更に具体的
に説明する。第７図はＫ開先溶接部の垂直な開先
面の近傍に表面に対してほゞ垂直な方向に発生し
た内部割れの表面から両端部までの深さを本発明
による方法と端部ピークエコー法により測定した
比較説明図である。探触子はいずれも周波数5M
Hz，屈折角45゜を用いた。なお、試験片は母材部
板厚38mmの鋼材（SM50B）であり、接触媒質は
グリセリン100％を用いた。第７図では実線は欠
陥部を切断して実測した値を、点線は本発明によ
る方法を用いた推定値を、一点鎖線は端部ピーク
エコー法による推定値を示す。端部ピークエコー
法によれば推定誤差は±５mmであつたのに対し、
本発明を用いることによつて推定誤差を±0.5mm
に向上させることができる。
に説明する。第７図はＫ開先溶接部の垂直な開先
面の近傍に表面に対してほゞ垂直な方向に発生し
た内部割れの表面から両端部までの深さを本発明
による方法と端部ピークエコー法により測定した
比較説明図である。探触子はいずれも周波数5M
Hz，屈折角45゜を用いた。なお、試験片は母材部
板厚38mmの鋼材（SM50B）であり、接触媒質は
グリセリン100％を用いた。第７図では実線は欠
陥部を切断して実測した値を、点線は本発明によ
る方法を用いた推定値を、一点鎖線は端部ピーク
エコー法による推定値を示す。端部ピークエコー
法によれば推定誤差は±５mmであつたのに対し、
本発明を用いることによつて推定誤差を±0.5mm
に向上させることができる。
このように超音波探傷において面状欠陥の位
置、寸法を推定する場合、本発明を適用すること
により推定精度を従来法に比べて著しく向上させ
ることができる。
置、寸法を推定する場合、本発明を適用すること
により推定精度を従来法に比べて著しく向上させ
ることができる。
第１図は端部ピークエコー法を説明するための
図、第２図はデイフラクシヨンエコー法を説明す
るための図、第３図は端部エコーの発生を示す模
式図、第４図は本発明による欠陥に対する探触子
の配置と端部エコーの関係を説明するための図、
第５図は本発明による欠陥に対する探触子の配置
と欠陥位置の求め方を説明する図、第６図は本発
明装置の一態様例を示す説明図、第７図は本発明
による効果を従来法（端部ピークエコー法）と比
較して示した図表である。 １，１′：斜角探触子、２：送信パルス、３，
３′，３″，３：端部エコー、４：面状欠陥、
５，５′：送受信部、６：同期部、７：２現象ブ
ラウン管、８，８′，８″，８：端部エコー波
形、９，９′：時間軸部、Ｗ：ビーム路程、θ：
屈折角、ｙ：２個の探触子の入射点間距離、ｄ：
欠陥端部までの深さ。
図、第２図はデイフラクシヨンエコー法を説明す
るための図、第３図は端部エコーの発生を示す模
式図、第４図は本発明による欠陥に対する探触子
の配置と端部エコーの関係を説明するための図、
第５図は本発明による欠陥に対する探触子の配置
と欠陥位置の求め方を説明する図、第６図は本発
明装置の一態様例を示す説明図、第７図は本発明
による効果を従来法（端部ピークエコー法）と比
較して示した図表である。 １，１′：斜角探触子、２：送信パルス、３，
３′，３″，３：端部エコー、４：面状欠陥、
５，５′：送受信部、６：同期部、７：２現象ブ
ラウン管、８，８′，８″，８：端部エコー波
形、９，９′：時間軸部、Ｗ：ビーム路程、θ：
屈折角、ｙ：２個の探触子の入射点間距離、ｄ：
欠陥端部までの深さ。
Claims (1)
- １ 面状欠陥を間に置いて対向させた２個の同一
周波数用の斜角探触子を試験片の同一面に配置
し、同時に送信パルスを送り、面状欠陥の上端部
あるいは下端部よりのエコーをそれぞれの探触子
で受信させ、端部エコーの反射成分と反対側の探
触子による端部エコーの同折成分との干渉波を用
いて両探触子のビーム路程を同一に調整し、この
ビーム路程の値と２個の探触子の入射点間距離と
から試験片表面より面状欠陥先端部までの深さを
高精度に測定することを特徴とした超音波探傷方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57014516A JPS58131560A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | 超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57014516A JPS58131560A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | 超音波探傷方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58131560A JPS58131560A (ja) | 1983-08-05 |
| JPH0244027B2 true JPH0244027B2 (ja) | 1990-10-02 |
Family
ID=11863247
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57014516A Granted JPS58131560A (ja) | 1982-02-01 | 1982-02-01 | 超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58131560A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0399956A (ja) * | 1989-09-11 | 1991-04-25 | Honda Motor Co Ltd | 車両用化粧板 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63169555A (ja) * | 1987-01-06 | 1988-07-13 | Nippon Steel Corp | 複雑な内部欠陥を有する鋳鍛造品及び厚肉鋼の超音波探傷法 |
| JP4538629B2 (ja) * | 2004-04-27 | 2010-09-08 | 国立大学法人東北大学 | 閉じたき裂の定量評価法、及び閉じたき裂の定量評価装置 |
| JP4701396B2 (ja) * | 2006-02-01 | 2011-06-15 | 国立大学法人鳥取大学 | 超音波法によるコンクリート構造物のひび割れ深さ探査方法及びそのひび割れ深さ探査装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5686351A (en) * | 1979-12-14 | 1981-07-14 | Toshiba Corp | Ultrasonic flaw detector |
-
1982
- 1982-02-01 JP JP57014516A patent/JPS58131560A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0399956A (ja) * | 1989-09-11 | 1991-04-25 | Honda Motor Co Ltd | 車両用化粧板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58131560A (ja) | 1983-08-05 |
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