JPH0244446Y2 - - Google Patents
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- JPH0244446Y2 JPH0244446Y2 JP10209685U JP10209685U JPH0244446Y2 JP H0244446 Y2 JPH0244446 Y2 JP H0244446Y2 JP 10209685 U JP10209685 U JP 10209685U JP 10209685 U JP10209685 U JP 10209685U JP H0244446 Y2 JPH0244446 Y2 JP H0244446Y2
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Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は電子顕微鏡等において、試料の汚染を
防止するための試料汚染防止装置に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a sample contamination prevention device for preventing contamination of a sample in an electron microscope or the like.
[従来の技術]
電子顕微鏡等においては、試料の汚染を防止す
るため試料の近傍を低温に保たれた金属で被い、
試料の近傍まで飛行してきた汚染原因となる粒子
を前記金属に吸着させトラツプして試料の汚染を
防止している。第2図は、例えばトツプエントリ
ー型の試料装置に適合させるように製作された従
来の試料汚染防止装置を示すもので、図中1は試
料ステージ、2は電子レンズを構成するためのポ
ールピースユニツトで、該ポールピースユニツト
2は対物レンズの上磁極片2a、対物レンズの下
磁極片2bをスペーサ3を介して対向させ一体的
に組み立てたものである。4は試料ステージ1の
受けに挿入されたトツプエントリー型の試料筒
で、5は試料筒4に保持された試料である。6は
例えば銅(Cu)で形成された外側冷却フインで
あり、冷却フイン6の内側には同じ部材で形成さ
れた内側冷却フイン7が備えられている。これら
の冷却フインは、鏡体8の大気側に設けられた液
体窒素容器9に可撓性の熱伝導部材10と熱伝導
棒11とを介して接続されており、極めて低い温
度に保たれるため有効に前記粒子をトラツプする
ことができる。[Prior art] In electron microscopes, etc., the vicinity of the sample is covered with a metal kept at a low temperature to prevent contamination of the sample.
Particles that fly close to the sample and cause contamination are adsorbed and trapped by the metal, thereby preventing contamination of the sample. Figure 2 shows a conventional sample contamination prevention device manufactured to be compatible with, for example, a top entry type sample device. The pole piece unit 2 is integrally assembled with an upper magnetic pole piece 2a of the objective lens and a lower magnetic pole piece 2b of the objective lens facing each other with a spacer 3 in between. Reference numeral 4 denotes a top-entry type sample tube inserted into the receiver of the sample stage 1, and 5 indicates a sample held in the sample tube 4. Reference numeral 6 denotes an outer cooling fin made of copper (Cu), for example, and an inner cooling fin 7 made of the same material is provided inside the cooling fin 6. These cooling fins are connected to a liquid nitrogen container 9 provided on the atmospheric side of the mirror body 8 via a flexible heat conduction member 10 and a heat conduction rod 11, and are kept at an extremely low temperature. Therefore, the particles can be effectively trapped.
[考案が解決しようとする問題点]
しかし乍らこのように構成された従来装置で
は、ポールピースユニツトを交換して例えば観察
倍率を標準倍率80万倍から超高倍率120万倍とし
て観察する場合には、内側冷却フインをその都度
取外してポールピースユニツトを交換しなければ
ならずポールピースユニツトの交換作業が繁雑に
なる欠点があつた。[Problems to be solved by the invention] However, with the conventional device configured in this way, when the pole piece unit is replaced and the observation magnification is changed from a standard magnification of 800,000 times to an ultra-high magnification of 1.2 million times, The disadvantage of this method is that the inner cooling fin must be removed and the pole piece unit replaced each time, making the pole piece unit replacement work complicated.
本考案は以上の欠点を解消するためになされた
もので、ポールピースユニツトの交換作業を容易
にした試料汚染防止装置を提供することを目的と
している。 The present invention was devised to eliminate the above-mentioned drawbacks, and an object of the present invention is to provide a sample contamination prevention device that facilitates the replacement work of the pole piece unit.
[問題点を解決するための手段]
本問題点を解決するための本考案の構成は、一
対の磁極片を一体的に固定したポールピースユニ
ツトと、該ユニツトを囲むように配置された筒状
冷却フインと、該冷却フインを伝熱部材を介して
大気側より冷却する冷却手段と、該両磁極片と熱
的に遮断された状態で該一対の磁極片の間に位置
するように該ユニツトに一体的に取付けられた冷
却トラツプとを備え、前記ユニツトを冷却フイン
に挿入した際に該冷却トラツプが該冷却フインに
熱接触するように構成されていることを特徴とし
ている。[Means for solving the problem] The structure of the present invention for solving the problem includes a pole piece unit in which a pair of magnetic pole pieces are integrally fixed, and a cylindrical shape arranged to surround the unit. a cooling fin; a cooling means for cooling the cooling fin from the atmosphere side via a heat transfer member; and a cooling trap integrally attached to the cooling fin, the cooling trap being configured to come into thermal contact with the cooling fin when the unit is inserted into the cooling fin.
[実施例] 以下本考案の実施例を図面に基づき詳述する。[Example] Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は本考案の一実施例の構成図であり、第
2図の従来装置と同一構成要素には同一番号を付
してその説明を省略する。第1図において、12
は前記対物レンズの上磁極片2aと対物レンズの
下磁極片2bとを接続するためのスペーサで、該
スペーサ12には断熱材13を介して例えばベリ
リユウム銅(BeCu)で形成された弾性力を有す
るU字状のヒートコンダクタ(熱伝導体)14
a,14bが断熱ビス15a,15bによつて取
付けられている。16a,16bはスペーサ12
を貫通しヒートコンダクタ14a,14bにろう
付等により固定された冷却トラツプで、それぞれ
の冷却トラツプの先端部は前記試料筒4の試料保
持部分に最接近するように固定されている。 FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention, and the same components as those of the conventional device shown in FIG. 2 are given the same numbers and their explanations will be omitted. In Figure 1, 12
is a spacer for connecting the upper magnetic pole piece 2a of the objective lens and the lower magnetic pole piece 2b of the objective lens, and an elastic force made of, for example, beryllium copper (BeCu) is applied to the spacer 12 via a heat insulating material 13. A U-shaped heat conductor (thermal conductor) 14 having
a, 14b are attached by heat insulating screws 15a, 15b. 16a and 16b are spacers 12
The cooling traps penetrate through the heat conductors 14a and 14b and are fixed to the heat conductors 14a and 14b by brazing or the like, and the tip of each cooling trap is fixed so as to be closest to the sample holding portion of the sample cylinder 4.
このように構成された装置では、スペーサ12
に取付けられヒートコンダクタ14a,14bが
冷却フイン6の内側に適当な押圧力で接触し、上
磁極片2a、下磁極片2b、スペーサ12及びヒ
ートコンダクタ等で構成されるポールピースユニ
ツト2Aと冷却フイン6とは挿脱可能に形成され
ている。このように構成するとにより、ポールピ
ースユニツト2Aが冷却フイン6内に挿入された
状態では、冷却トラツプ16a,16bはヒート
コンダクタ14a,14b及び冷却フイン6を介
して極めて低い温度に保たれる。従つて、試料の
近傍まで飛行してきた汚染原因となる粒子を冷却
トラツプに吸着させて捕獲できるため、試料の汚
染を防止することができる。 In the device configured in this way, the spacer 12
The heat conductors 14a and 14b are attached to the inside of the cooling fin 6 with an appropriate pressing force, and the cooling fin is connected to the pole piece unit 2A consisting of the upper magnetic pole piece 2a, the lower magnetic pole piece 2b, the spacer 12, the heat conductor, etc. 6 is formed so that it can be inserted and removed. With this configuration, when the pole piece unit 2A is inserted into the cooling fin 6, the cooling traps 16a, 16b are kept at an extremely low temperature via the heat conductors 14a, 14b and the cooling fin 6. Therefore, contamination-causing particles that fly close to the sample can be adsorbed and captured by the cooling trap, thereby preventing contamination of the sample.
さて、このように構成された装置では、例えば
観察倍率を変えて観察するためポールピースユニ
ツトを交換する場合、内側冷却フインをその都度
取外すことなく、ポールピースユニツトを冷却フ
インに挿脱するだけでポールピースユニツトを容
易に交換し得る。 Now, with an apparatus configured in this way, when changing the pole piece unit for observation by changing the observation magnification, for example, the pole piece unit can be simply inserted and removed from the cooling fin without having to remove the inner cooling fin each time. The pole piece unit can be easily replaced.
尚、本実施例においては、トツプエントリー型
の試料装置に本考案を適合させた例について詳述
したが、サイドエントリー型の試料装置に適合さ
せることもでき、この場合には、冷却トラツプと
略同一平面上に試料保持棒を直角に配置するよう
に構成すれば良い。 In this example, the present invention was described in detail as an example in which the present invention was applied to a top-entry type sample apparatus, but it can also be applied to a side-entry type sample apparatus, and in this case, it is called a cooling trap. The sample holding rods may be arranged on the same plane at right angles.
又、上述した実施例においては、弾性体をスペ
ーサに固定するようにしたが、冷却トラツプをス
ペーサに熱的に遮断して固定すると共に、冷却ト
ラツプに冷却フインとの熱接触用の弾性体を取り
付けるようにしても良い。 In addition, in the above embodiment, the elastic body was fixed to the spacer, but the cooling trap is fixed to the spacer while being thermally isolated, and the cooling trap is provided with an elastic body for thermal contact with the cooling fin. It is also possible to attach it.
更に又、冷却トラツプの外側の一部を板バネ状
に形成して弾性体に代えるようにしても良い。 Furthermore, a part of the outside of the cooling trap may be formed into a leaf spring shape instead of an elastic body.
[考案の効果]
以上詳述したように本考案によれば、ポールピ
ースユニツトを交換して試料像を観察する装置に
おいて、内側冷却フインを取外すことなくポール
ピースユニツトを交換できる装置が提供される。[Effects of the invention] As detailed above, according to the invention, an apparatus is provided in which the pole piece unit can be replaced without removing the inner cooling fin in an apparatus for observing a sample image by replacing the pole piece unit. .
第1図は本考案の一実施例の構成図、第2図は
従来装置の構成図である。
1:試料ステージ、2A:ポールピースユニツ
ト、2a:上磁極片、2b:下磁極片、4:試料
筒、5:試料、6:冷却フイン、8:鏡体、9:
液体窒素容器、10:熱伝導部材、11:熱伝導
棒、12:スペーサ、13:断熱材、14a,1
4b:ヒートコンダクタ、15a,15b:断熱
ビス、16a,16b:冷却トラツプ。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of a conventional device. 1: Sample stage, 2A: Pole piece unit, 2a: Upper magnetic pole piece, 2b: Lower magnetic pole piece, 4: Sample cylinder, 5: Sample, 6: Cooling fin, 8: Mirror body, 9:
Liquid nitrogen container, 10: Heat conduction member, 11: Heat conduction rod, 12: Spacer, 13: Heat insulating material, 14a, 1
4b: Heat conductor, 15a, 15b: Heat insulating screw, 16a, 16b: Cooling trap.
Claims (1)
ユニツトと、該ユニツトを囲むように配置された
筒状冷却フインと、該冷却フインを伝熱部材を介
して大気側より冷却する冷却手段と、該両磁極片
と熱的に遮断された状態で該一対の磁極片の間に
位置するように該ユニツトに一体的に取付けられ
た冷却トラツプとを備え、前記ユニツトを冷却フ
インに挿入した際に該冷却トラツプが該冷却フイ
ンに熱接触するように構成されていることを特徴
とする電子顕微鏡等の試料汚染防止装置。 a pole piece unit in which a pair of magnetic pole pieces are integrally fixed; a cylindrical cooling fin disposed to surround the unit; a cooling means for cooling the cooling fin from the atmosphere side via a heat transfer member; A cooling trap is integrally attached to the unit so as to be located between the pair of magnetic pole pieces in a thermally isolated state, and when the unit is inserted into the cooling fin, a cooling trap is provided. 1. A sample contamination prevention device for an electron microscope, etc., characterized in that a cooling trap is configured to be in thermal contact with the cooling fin.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP10209685U JPH0244446Y2 (en) | 1985-07-04 | 1985-07-04 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP10209685U JPH0244446Y2 (en) | 1985-07-04 | 1985-07-04 |
Publications (2)
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|---|---|
| JPS6210353U JPS6210353U (en) | 1987-01-22 |
| JPH0244446Y2 true JPH0244446Y2 (en) | 1990-11-26 |
Family
ID=30973433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10209685U Expired JPH0244446Y2 (en) | 1985-07-04 | 1985-07-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244446Y2 (en) |
-
1985
- 1985-07-04 JP JP10209685U patent/JPH0244446Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6210353U (en) | 1987-01-22 |
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