JPH0244546A - Production of master disk for optical disk - Google Patents
Production of master disk for optical diskInfo
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- JPH0244546A JPH0244546A JP63194095A JP19409588A JPH0244546A JP H0244546 A JPH0244546 A JP H0244546A JP 63194095 A JP63194095 A JP 63194095A JP 19409588 A JP19409588 A JP 19409588A JP H0244546 A JPH0244546 A JP H0244546A
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- Pending
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、クロストークの小さい高密度再生専用光ディ
スク原盤等の光ディスク原盤の製造方法に関するもので
ある。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing an optical disc master such as a high-density read-only optical disc master with low crosstalk.
従来の技術
再生専用光ディスクの高密度化に伴い、トラックピッチ
は狭くなり隣接トラック間のクロストークが問題となっ
ている。その解決策の一つとしてピット形状、すなわち
ビットの側面をできる限りディスク面に対して垂直に立
たせることが考えられる。Conventional Technology As the density of read-only optical discs increases, the track pitch becomes narrower and crosstalk between adjacent tracks becomes a problem. One possible solution to this problem is to change the pit shape, that is, to make the sides of the bit as perpendicular to the disk surface as possible.
従来はレジスト塗布、光マスタリング、現像、ポストベ
イク、イオンミリング、レジスト除去という一連の工法
を用いており、中でもミリングには、サイドエツチング
が少なく異方性を持たせ易いイオン銃を用いたイオンミ
リング法を採用していた。Conventionally, a series of methods have been used: resist coating, optical mastering, development, post-bake, ion milling, and resist removal.Among these, the ion milling method uses an ion gun, which causes less side etching and makes it easier to create anisotropy. was adopted.
発明が解決しようとする課題
光ディスクでは、最小ビットが現在すでにピット面積的
0.471mX0.6μmかつビット深さ1/4波長=
約0.1μmと非常に小さい。そのためイオン銃を用い
たイオンミリングにおいても、第2図(a)に見られる
ような側面が垂直に立ったきれいなビットは得られず、
通常第2図(b)で示されるような全体に丸まった、あ
るいは三角形のビット断面形状となっていた。すなわち
、第2図(b)のようなビット形状では隣接トラック中
のビットによる反射光が散乱されるため、トラックピッ
チを1μm以下に狭めたときにクロストークが大きくな
ってしまっていた。Problems to be Solved by the Invention In optical discs, the smallest bit is currently 0.471 m x 0.6 μm in terms of pit area and the bit depth is 1/4 wavelength =
It is very small, approximately 0.1 μm. Therefore, even in ion milling using an ion gun, it is not possible to obtain a clean bit with vertical sides as shown in Figure 2 (a).
Usually, the cross-sectional shape of the bit was rounded or triangular as shown in FIG. 2(b). That is, with the bit shape as shown in FIG. 2(b), reflected light from bits in adjacent tracks is scattered, resulting in increased crosstalk when the track pitch is narrowed to 1 μm or less.
本発明は、従来のこの様な課題を解決した、光ディスク
原盤の製造方法を提供することを目的とする。An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an optical disk master that solves the above-described conventional problems.
課題を解決するための手段
本発明は、光ディスク原盤の製造方法において、レジス
ト塗布、光マスタリング、現像の後、ポストベイクを行
わずに、膜を蒸着法またはイオンビームスパッタ法等を
用い、膜形成部近傍圧力8×10−’torr以下で形
成、レジスト除去する。Means for Solving the Problems The present invention provides a method for manufacturing an optical disc master, in which a film is deposited on a film forming part by vapor deposition or ion beam sputtering without post-baking after resist coating, optical mastering, and development. The resist is formed and the resist is removed at a nearby pressure of 8×10 −' torr or less.
作用
8X 10−’ torr以下といった高真空下では、
原子は気体分子による散乱を受けずに基板面に垂直入射
して膜を形成するので、出来たビットの側面を容易にデ
ィスク面に対して垂直に立たせることが可能となる。Under high vacuum such as action 8X 10-' torr or less,
Since the atoms are not scattered by gas molecules and are incident perpendicularly to the substrate surface to form a film, it is possible to easily make the sides of the resulting bit perpendicular to the disk surface.
またレジスト現像後に常識として行われていたポストベ
イクを、逆に本発明では実施しないことによりレジスト
プロファイルが急峻となり、ポストベイク時に発生する
レジストの縮みからくる解像度の劣化、及びレジスト除
去時に発生するレジスト段差部でのビットパターンのち
ぎれを阻止することが出来る。In addition, post-bake, which is commonly carried out after resist development, is not performed in the present invention, so the resist profile becomes steep, resolution deteriorates due to resist shrinkage that occurs during post-bake, and resist step portions that occur when resist is removed. It is possible to prevent the bit pattern from being torn apart.
実施例 以下に、本発明の詳細な説明する。Example The present invention will be explained in detail below.
第1図は、本発明の光ディスク原盤の製造方法を説明す
るための、光ディスク原盤の一部断面図である。第1図
(a)は、原盤表面lへのレジスト2の塗布工程、第1
図(b)は、光マスタリング及び現像工程であり、ここ
でビットパターン3がレジスト2内に刻まれる。第1図
(C)は、真空中での膜4の形成工程、第1図(d)は
、レジスト除去工程であり、後にビットパターン5が原
盤表面l上に残る。FIG. 1 is a partial sectional view of an optical disc master for explaining the method for manufacturing an optical disc master of the present invention. FIG. 1(a) shows the first step of applying resist 2 to the master surface l.
Figure (b) shows the optical mastering and development process, in which a bit pattern 3 is carved into the resist 2. FIG. 1C shows the process of forming the film 4 in a vacuum, and FIG. 1D shows the process of removing the resist, after which the bit pattern 5 remains on the master surface l.
次に、第1図(b′)、 (C′)、 (d′)は、本
発明とは逆にレジスト現像後にポストベイクを行ったと
きの原盤断面形状変化を示すものである。Next, FIGS. 1(b'), (C'), and (d') show changes in the cross-sectional shape of the master when post-baking is performed after resist development, contrary to the present invention.
第1図(b)と第1図(b′)とを比べると、第1図(
b′)ではまずレジスト2の解像度が落ちてビット部が
広がってしまっていること、さらにレジストプロファイ
ルの急峻さが失われていることが分かる。第1図(C)
と第1図(C′)とを比べて分かる最も大きな違いは、
第1図(C9)ではレジスト斜面にも膜4が形成されて
しまっている点である。故に、第1図(C′)で最終的
に得られたビットパターン5を見てみると、まずビット
面積が広がってしまっていること、さらにレジスト段差
部における膜4自身のちぎれからビット側面の形状がぎ
ざぎざになっていることの二つが分かる。Comparing Figure 1 (b) and Figure 1 (b'), Figure 1 (
In b'), it can be seen that the resolution of resist 2 has decreased and the bit portion has become wider, and that the steepness of the resist profile has been lost. Figure 1 (C)
The biggest difference that can be seen by comparing and Figure 1 (C') is
In FIG. 1 (C9), the film 4 is also formed on the resist slope. Therefore, when we look at the finally obtained bit pattern 5 in FIG. Two things are obvious: the shape is jagged.
この原盤から取られたレプリカを再生すると、隣接トラ
ック間のクロストークには本発明のものと比べ劣化が見
られ+1.5db増加していた。When a replica taken from this master disc was played back, crosstalk between adjacent tracks was degraded compared to that of the present invention, and was increased by +1.5 db.
本発明とは逆に膜4を形成する際、膜形成部近傍圧力が
8X 10””torrを越えていたときの原盤断面形
状変化を第1図(c”)、 (d”)に示す。圧力が高
いため膜4の構成原子は気体分子により散乱され、原盤
表面に対し完全な垂直入射が出来なくなってしまう。従
って第1図(c ”)ではレジスト2の段差部にも原子
が付着し膜4を形成している。そのため、第1図(d”
)で最終的に得られたビットパターン5を見てみると、
レジスト段差部における膜4自身のちぎれからビット側
面の形状がぎざぎざになっていることが分かる。この原
盤から取られたレプリカを再生すると、隣接トラック間
のクロストークには本発明のものと比べ劣化が見られ+
〇、5db増加していた。Contrary to the present invention, FIGS. 1(c") and 1(d") show changes in the cross-sectional shape of the master when the pressure near the film forming part exceeds 8×10'' torr when forming the film 4. Due to the high pressure, atoms constituting the film 4 are scattered by gas molecules, making it impossible for them to be completely perpendicular to the surface of the master disk. Therefore, in FIG. 1(c''), atoms also adhere to the stepped portion of the resist 2 to form a film 4. Therefore, in FIG. 1(d'')
), looking at the bit pattern 5 finally obtained,
It can be seen that the shape of the side surface of the bit is jagged from the tearing of the film 4 itself at the resist step portion. When a replica taken from this master is played back, crosstalk between adjacent tracks is degraded compared to that of the present invention.
〇, it had increased by 5db.
本発明で得られた第1図(d)のビットパターン5は、
第1図(b)に示されている従来のイオンミリング法で
得られたものと比較すると凹凸は逆であるが、明らかに
理想のビットパターン第2図(a)に近付いており改善
が見られる。実際、本発明で得られた原盤及び従来のイ
オンミリング法による原盤のそれぞれから取られたレプ
リカの再生実験から、本発明により隣接トラック間のク
ロストークは一4db改善されることが分かった。The bit pattern 5 in FIG. 1(d) obtained by the present invention is as follows:
Compared to the one obtained by the conventional ion milling method shown in Figure 1(b), the unevenness is opposite, but it is clearly approaching the ideal bit pattern in Figure 2(a), indicating an improvement. It will be done. In fact, from a reproduction experiment of replicas taken from the master disc obtained by the present invention and the master disc obtained by the conventional ion milling method, it was found that the crosstalk between adjacent tracks was improved by 14 dB by the present invention.
たとえ異方性を持たせられるようにイオン銃を用いても
(反応性でない)イオンミリング法では、微小ビットを
良好な形状で形成できない理由として次の二つがあげら
れる。一つは、エツチングレートのイオン人射角依存、
すなわち水平入射に近いある特定の角度でエツチングレ
ートは最大となることである。これのためにビット側面
は垂直でなくある角度を取った方が安定となってしまう
。Even if an ion gun is used to provide anisotropy, the (non-reactive) ion milling method cannot form minute bits in a good shape for the following two reasons. One is that the etching rate depends on the ion radiation angle.
That is, the etching rate is maximum at a certain angle close to horizontal incidence. For this reason, it is more stable if the side of the bit is at a certain angle rather than vertical.
二つ目はレジスト側面へのエツチングされた粒子の再付
着効果である。これのためにビット側面は原盤に対し垂
直に立たずに丸まってしまう。The second is the reattachment effect of etched particles to the side surfaces of the resist. Because of this, the sides of the bit are not perpendicular to the master disk, but are curved.
この二つの効果を消すには、イオン銃を用いた反応性エ
ツチングが効果的である。なぜなら反応性エツチングに
おいてはエツチングレートのイオン人射角依存がなく、
かつエツチングされた粒子は気体分子となることから再
付着もしない。従来のガラス基板を用いた光ディスク原
盤ではガラスと反応する弗素系のガスを用い反応性エツ
チングを行っていた。Reactive etching using an ion gun is effective in eliminating these two effects. This is because in reactive etching, the etching rate does not depend on the ion radiation angle.
In addition, since the etched particles become gas molecules, they do not attach again. In conventional optical disc masters using glass substrates, reactive etching is performed using a fluorine-based gas that reacts with glass.
しかしトラッキングのための■溝を有する光ディスク原
盤においては、原盤の■溝面の材質が、■溝を切削加工
しやすい金属すなわちCuあるいはAIを主成分として
いるため、反応性でかつ反応後これら金属を気化しうる
ガス種が普通用いられるものの中には存在しない。故に
、特に■溝を有する原盤において本発明は有用と考えら
れる。However, in an optical disk master having ■grooves for tracking, the material of the groove surface of the master disk is mainly composed of metals that are easy to cut into grooves, such as Cu or AI. There are no commonly used gas species that can vaporize . Therefore, the present invention is considered to be particularly useful for master discs having grooves.
なお原盤のV溝面の材質として通常は最も微小切削加工
しゃすいCuが用いられるが、Cuは酸化し易くかつ酸
化鋼は面荒れを起こしやすい。従ってそのままでは本発
明を用いても、現像時にCuが現像液と反応し面荒れを
起こしてしまいそれがビット表面の荒れとなり引いては
再生時のクロス)−りの劣化へとつながり、かつロット
間でも大きなばらつきを生じてしまう。そこでこの面荒
れへの対策としては、■溝を切った後に酸化されづらい
金属薄膜を原盤表面に予め形成しておくか、または原盤
のV溝面の材質にAIを主成分とするものを採用する、
の二つが考えられる。実際、どちらの方法を用いても再
生時の顕著なりロストーク劣化は全ロットにわたって観
察されなかった。Note that as the material for the V-groove surface of the master, Cu, which is the most suitable for micro-cutting, is usually used, but Cu is easily oxidized, and oxidized steel is likely to cause surface roughness. Therefore, even if the present invention is used as is, Cu will react with the developer during development and cause surface roughness, which will cause roughness on the bit surface, which in turn will lead to deterioration of the cross section during playback, and There will be large variations between the two. Therefore, as a countermeasure against this surface roughness, either: ① Form a metal thin film that is difficult to oxidize on the surface of the master disc in advance after cutting the grooves, or use a material whose main component is AI for the V-groove surface of the master disc. do,
There are two possibilities. In fact, no significant losstalk deterioration during playback was observed across all lots using either method.
発明の効果
本発明は、ポストベイクを行わずに、膜を膜形成部近傍
圧力8X 10−’torr以下で形成、レジスト除去
するので、クロストークの小さい高密度再生専用光ディ
スク原盤でも安定に製造しうる。Effects of the Invention In the present invention, the film is formed and the resist is removed at a pressure of 8X 10-'torr or less in the vicinity of the film forming part without post-baking, so even high-density reproduction-only optical disc masters with low crosstalk can be stably manufactured. .
第1図(a)、 (b)、 (c)、 (d)は
、本発明の光ディスク原盤の製造方法の工程を示す工程
図、第1図(b ’) 、 (c ’) 、 (d
’)は、比較例を示す工程図、第1図(C”’)、
(d”)は、比較例を示す工程図、第2図(a)、
(b)は、従来の光ディスク原盤表面断面図である。
l・・・光ディスク原盤表面、2・・・レジスト、 3
・ ・ ・ビットパターン、 4・ ・ ・膜、 5・
・・ビットパターン
代理人の氏名 弁理士 粟野重孝 はか1名第
]
図
第
]
図
第
]
図
第2図FIGS. 1(a), (b), (c), and (d) are process diagrams showing the steps of the method for manufacturing an optical disc master of the present invention, and FIGS. 1(b'), (c'), and (d
') is a process diagram showing a comparative example, Figure 1 (C"'),
(d") is a process diagram showing a comparative example, FIG. 2(a),
(b) is a sectional view of the surface of a conventional optical disc master. l...Optical disc master surface, 2...Resist, 3
・ ・ ・Bit pattern, 4. ・ ・Membrane, 5.
...Bit pattern agent's name Patent attorney Shigetaka Awano Haka 1] Figure 1] Figure 2] Figure 2
Claims (5)
布、光マスタリング、現像の後、ポストベイクを行わず
に、膜を膜形成部近傍圧力8×10^−^4torr以
下で形成、レジスト除去することを特徴とする光ディス
ク原盤の製造方法。(1) The method for manufacturing an optical disc master is characterized in that after resist coating, optical mastering, and development, a film is formed at a pressure of 8×10^-^4 torr or less near the film forming part and the resist is removed without post-baking. A method of manufacturing an optical disc master.
の波長λの約1/4であることを特徴とする請求項1記
載の光ディスク原盤の製造方法。(2) The method for manufacturing an optical disc master according to claim 1, wherein the film thickness is about 1/4 of the wavelength λ of the reproduction light in the reproduction optical disc material.
加工を行っておくことを特徴とする請求項2記載の光デ
ィスク原盤の製造方法。(3) The method for manufacturing an optical disk master according to claim 2, characterized in that the optical disk master is previously machined with a V-groove for tracking.
ジスト塗布前に予め酸化されにくい金属薄膜を形成して
おくことを特徴とする請求項3記載の光ディスク原盤の
製造方法。(4) The method for manufacturing an optical disk master according to claim 3, characterized in that a metal thin film that is resistant to oxidation is previously formed on the surface of the V-grooved optical disk master before applying the resist.
る材質でできていることを特徴とする請求項3記載の光
ディスク原盤の製造方法。(5) The method for manufacturing an optical disk master according to claim 3, wherein at least the surface on which the V-groove is cut is made of a material containing Al as a main component.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63194095A JPH0244546A (en) | 1988-08-03 | 1988-08-03 | Production of master disk for optical disk |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63194095A JPH0244546A (en) | 1988-08-03 | 1988-08-03 | Production of master disk for optical disk |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244546A true JPH0244546A (en) | 1990-02-14 |
Family
ID=16318865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63194095A Pending JPH0244546A (en) | 1988-08-03 | 1988-08-03 | Production of master disk for optical disk |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244546A (en) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63119037A (en) * | 1986-11-07 | 1988-05-23 | Canon Inc | Production of master disk for information recording medium |
| JPH01251452A (en) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Hitachi Chem Co Ltd | Manufacture of optical disk substrate |
-
1988
- 1988-08-03 JP JP63194095A patent/JPH0244546A/en active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63119037A (en) * | 1986-11-07 | 1988-05-23 | Canon Inc | Production of master disk for information recording medium |
| JPH01251452A (en) * | 1988-03-31 | 1989-10-06 | Hitachi Chem Co Ltd | Manufacture of optical disk substrate |
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