JPH0244912A - ゲート回路 - Google Patents

ゲート回路

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JPH0244912A
JPH0244912A JP1156921A JP15692189A JPH0244912A JP H0244912 A JPH0244912 A JP H0244912A JP 1156921 A JP1156921 A JP 1156921A JP 15692189 A JP15692189 A JP 15692189A JP H0244912 A JPH0244912 A JP H0244912A
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gate
field effect
transistor
channel
circuit
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JP1156921A
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Frank P Behagel
フランク・ポール・ベハーヘル
Tiemen Poorter
テイーメン・ポールテル
Petrus A C M Nuijten
ペトルス・アントニウス・コルネリス・マリア・ヌイエイテン
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Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
    • H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
    • H03K17/0812—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit
    • H03K17/08122—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the control circuit in field-effect transistor switches
    • H—ELECTRICITY
    • H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03K—PULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
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    • H03K17/56—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices
    • H03K17/687—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors
    • H03K17/6871—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor
    • H03K17/6872—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used by the use, as active elements, of semiconductor devices the devices being field-effect transistors the output circuit comprising more than one controlled field-effect transistor using complementary field-effect transistors

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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、その並列接続ドレイン・ソース通路によりア
ナログ信号ゲートを構成するよう配置したNチャネル絶
縁ゲート電界効果トランジスタおよびPチャネル絶縁ゲ
ート電界効果トランジスタと2つの電界効果トランジス
タをターン オンもしくはターン オフするため関連の
ゲート電極に接続した制御回路とを含むゲート回路に関
するものである。この種形式のゲート回路は公知であり
、例えば、マルチプレクサにおけるアナログ半導体スイ
ッチとして使用されている。
〔従来の技術〕
通常MO5(Metal 0xide 5ilicon
  ;金属酸化物珪素)トランジスタと呼ばれる現在の
絶縁ゲート電界効果トランジスタの有効チャネル長の減
少ならびに標準電源電圧へ向かう趨勢の結果、)’10
Sトランジスタ内の電界の強さは着実に増加しつつある
。MOS  トランジスタのドレイン領域の近傍の電界
の強さが2ないし3・10’V/cmより大きい値を有
する場合、この領域は多数の高エネルギー電子およびホ
ールを含み、それらの高い速度の結果、これらの電荷キ
ャリヤは半導体材料の原子と衝突するので、電荷キャリ
ヤは全方向に散乱する。これらの散乱電荷キャリヤは部
分的にゲート酸化物に到達し、そこで速度を落として固
定電荷として残留する。
前記固定電荷はMOS  l−ランジスタのスレショー
ルド電圧に変化をもたらす。すなわち、固定電荷の量に
応じて、スレショールド電圧にかなりの偏移が生じ、そ
の結果として、MOSトランジスタの特性が仕様から相
当かけ離れたものとなり、その信頼度も低下する。実際
には、MOS  l−ランジスタのスレショールド電圧
の100mV以」二の変化は一般的に受容できない。
半導体基板内にバイポーラ構成素子と電界効果トランジ
スタの双方を形成するBJHO3技術の場合は、関連の
電界効果トランジスタの寿命期間中にスレショールド電
圧が100mV以上変化しないようにするためには、導
電状態における最大許容可能ドレイン・ソース電圧はN
チャネルMOSトランジスタに対して約5.5■、Pチ
ャネルMO3l−ランジスタに対して約8.5Vと考え
られている。PチャネルMO5)ランジスタに対する許
容可能ドレイン・ソース電圧の方が高いのは、Pチャネ
ルMO3トランジスタにおいては、自由電荷キャリヤは
主としてホールで、電子より低い移動度を有し、換言す
れば、ホールは同じ電界の強さにおいてより低い加速度
を経験しているという事実によるものである。非導電状
態においては、最大許容可能ドレイン・ソース電圧は充
分高い値を有し、これは主に、トランジスタのゲート酸
化物および寄生ダイオードのブレークダウンによるもの
と考えられる。
英国の技術文献においては、上記の効果は“熱キヤリヤ
効果(hot−carrier effect) ”と
呼ばれており、この結果として、81MO3技術におけ
る電界効果トランジスタを使用して構成したゲート回路
では、なんらかの付加的ステップをとらない限り、約1
.75V以下のr、m、s、 (実効値)を有する信号
のみを扱いうるに過ぎない。したがって、信号ゲートに
供給される前に、相当量の信号を減衰させなげればなら
ない。しかし、これは、信号強度が減少する一方、減衰
器の寄与による雑音の結果、不所望の信号雑音比の劣化
を招来する。
〔発明が解決しようとする課題〕
本発明の目的は、少なくとも使用するNチャネルMOS
 トランジスタの導電状態における最大許容可能ドレイ
ン・ソース電圧より高い電圧を有する信号を取扱いうる
ような前述形式のゲート回路を提供しようとするもので
ある。
〔課題を解決するための手段〕
この目的を達成するため、本発明ゲート回路は少なくと
も所定値より低いドレイン・ソース電圧でNチャネル電
界効果トランジスタをターン オンさせる手段を具えた
ことを特徴とする。
前述のように、NチャネルMOS  l−ランジスタの
オン状態における最大許容可能ドレイン・ソース電圧は
ゲート回路が究極的に完全な導電状態に駆動されるよう
指令する。該手段の目的はそのドレイン・ソース電圧が
導電状態における最大許容可能電圧に等しいかそれより
小さいときだけのゲート回路のNチャネル電界効果トラ
ンジスタを導電状態に駆動することである。導電期間中
、ドレイン・ソース電圧は既知の方法でゲート回路と直
列に適当な負荷抵抗を配置することにより充分低い値に
保持することができる。
オン状態におけるNチャネルMOSトランジスタとPチ
ャネルMO5)ランジスタ間の最大許容可能ドレイン・
ソース電圧の差を使用するようにした本発明ゲート回路
の一実施例の場合、該手段はPチャネル電界効果トラン
ジスタより遅延してNチャネル電界効果トランジスタを
ターン オンさせるため制御回路に接続した遅延手段を
含むことを特徴とする。前記遅延手段は実際に知られて
いる種々の方法で構成することができる。
取扱うべき信号の強さをPチャネノI/MOSトランジ
スタのオン状態における最大許容可能ドレイン・ソース
電圧より小と仮定した場合は、このトランジスタは任意
の付加的手段を必要とせず、制御回路により直接導電状
態に駆動されることができる。負荷、寸法およびゲート
回路に供給される信号強度により、ドレイン・ソース電
圧はある時間の後、NチャネルMOS  l−ランジス
タのオン状態における最大許容可能値以下に減少し、そ
の後NチャネルMOSトランジスタはなんらの問題なし
にターン オンされることができる。
このようにして、ゲート回路はNチャネルMOSトラン
ジスタの最大許容可能ドレイン・ソース電圧より大きい
信号を取扱うことが可能となる。
81MO3技術におけるPチャネルMO3+−ランジス
タは約2.75Vのr、m、s、値(実効値)を有する
信号を扱うことができる。
実際には、遅延時間は例えば、ゲート回路の最大負荷(
容量性)および取扱うべき最大信号強度のような関連回
路内で起こる可能性のある最悪の場合の条件に適応させ
ている。ゲート回路をターン オフさせるに際しては、
熱キヤリヤ効果を考慮するを要しない。それは、ターン
 オフの瞬間には、2つのMOSトランジスタを横切る
ドレイン・ソース電圧はまだ低く、オン状態におけるN
チャネルMOSトランジスタの最大許容可能ドレイン・
ソース電圧以下であることによる。
また、BIMOS技術を使用するのにきわめて適し、か
つ取扱うべき最大信号電圧より低い駆動電圧でゲート回
路を駆動しろるようにした本発明回路の一実施例の場合
は、該制御回路はNチャネル電界効果トランジスタおよ
びPチャネル電界効果トランジスタの第1および第2直
列配置を具えて、前記直列配置の各々を第1および第2
電源端子に結合し、1導電形式の電界効果トランジスタ
を相互に交差接続して双安定トリガ回路を形成させ、信
号ゲートのNチャネル電界効果トランジスタおよびPチ
ャネル電界効果トランジスタを制御するため、第1直列
配置の他の導電形式の電界効果トランジスタのゲート電
極をインハーク回路を介して、また第2直列配置の対応
する導電形式の電界効果トランジスタのゲート電極を直
接制御入力端子に結合し、前記信号ゲートの電界効果ト
ランジスタのゲート電極をそれぞれ第1および第2直列
配置に結合するとともに、該制御回路はさらに、第1お
よび第2直列配置とカスコードに配置した1またはそれ
以上の他の電界効果トランジスタを含み、そのゲート電
極により1またはそれ以上の補助電圧を供給するだめの
1またはそれ以上の端子を構成させるようにしたことを
特徴とする。
双安定トリガ回路はアナログ信号ゲートのNチャネルM
O5)ランジスタをPチャネルMO5+・ランジスタに
対し遅延してターン オンさせるのに適するような遅延
時間を与えることができる。
第1および第2電源端子に供給すべき電圧は、取扱う最
大信号電圧により指図される。第1および第2直列配置
のMOS  )ランジスクをカスコード接続することに
より各MOSトランジスタに対して、オン状態における
ドレイン・ソース電圧を最大許容値より低い値とし、こ
のようにして形成される制御回路におけるMOS  )
ランジスクの劣化を排除することができる。
信号ゲートのNチャネルMO3)ランジスタのターン 
オン遅延は制御回路のMOSトランジスタの寸法を適当
に選択することにより調整することができる。本発明の
他の実施例においては、第1および第2直列配置の電界
効果トランジスタのドレイン・ソース チャネルの幅対
長さ比を1導電形式のトランジスタに対し他の導電形式
のトランジスタのそれより小としたことを特徴とする。
より大きい寸法を有する他の導電形式の4OSトランジ
スタは、それに結合し、かつより小さいチャネル寸法を
有する1導電形式のトランジスタより高い寄生容量を呈
するので、2つの直列配置の電圧レベルは該寄生容量の
充電および放電の結果としての相互遅延により相互に変
化する。したがって、該配置に供給される信号ゲートの
NチャネルおよびPチャネルMOSトランジスタのゲー
ト電極は、必要に応じて相互に遅延してスイッチされる
。
さらに、第1直列配置の1導電形式の電界効果トランシ
タのドレイン・ソース チャネルの幅対長さの比を第2
直列配置の対応する電界効果トランジスタのそれより小
とした場合は、信号ゲートのNチャネルMOSトランジ
スタをPチャネルMOSトランジスタに対し遅延してタ
ーン オンさせることができる。
また、ゲート回路の並列接続MOSトランジスタを導電
状態に駆動する際のドレイン・ソース電圧を減少させる
ための本発明回路の他の実施例においては、該手段は信
号ゲートを少なくとも1つの補助電圧に接続するため、
アナログ信号ゲートと直列に配置したスイッチング手段
を具えたことを特徴とする。
この実施例においては、ゲート回路のNチャネルおよび
PチャネルMO3)ランジスタをターンオンする前に、
付加的スイッチング手段を介して、ある時間ゲート回路
の一方の側に補助電圧を供給し、この補助電圧とゲート
回路の他の側に接続した信号源との間の最大電圧差をN
チャネルMOSトランジスタのオン状態における最大許
容可能ドレイン・ソース電圧に等しいかそれより小とな
るようにしている。制御回路に上述の遅延手段を設けた
場合は、最大電圧差はPチャネルMO3)ランジスタの
導電状態におけるより高い最大ドレイン・ソース電圧に
等しいかそれより小とすることができる。
また、補助電源への一時的接続は、例えば、アナログ 
マルチプレクサの場合のように、複数の信号源をゲート
回路を介して共通のバスに接続し、−時に1つのゲート
回路のみをターン オンさせるようにする場合にも好都
合である。これは、共通のバスに対する瞬時電圧差がオ
ン状態におけるMOS  I−ランジスタの最大許容可
能ドレイン・ソース電圧より大きいような電圧を有する
他の信号源を選択しようとするとき問題を提起する。バ
スを以前それに結合したゲート回路のカントオフ後ある
時間にわたって補助電圧源に接続するようにした場合は
、バスをターン オンすべきゲート回路のMOS  I
−ランジスタのオン状態における最大のドレイン・ソー
ス電圧を超えないような電圧に導くことができる。
また、最大の信号源電圧の1/2に等しい値を有する1
つの補助電圧のみを使用して、一般のゲート回路により
NチャネルMOS  l−ランジスクのオン状態におけ
る最大許容可能ドレイン・ソース電圧の2倍の最大電圧
値を有する信号を扱うことができる。
また、付加的スイッチング手段それ自体は並列接続Nチ
ャネルMO5)ランジスタおよびPチャネルMO3)ラ
ンジスタを含むゲー1へ回路により構成することも可能
である。前述のような遅延手段を使用することなしに、
NチャネルMOS  トランジスタのオン状態における
最大許容可能ドレイン・ソース電圧の2倍より高い信号
電圧を取扱わなげればならない場合は、同じような方法
で複数の補助電圧および他の制御回路を有する付加的ス
イッチング手段を使用して、段階的にバスを所望電圧に
導くようにすることもできる。
〔実施例〕
以下図面により本発明を説明する。
第1図は並列接続トレイン・ソース通路を有するNチャ
ネルMOS  l〜ランジスタN、およびPヂャネルM
O3)ランジスタP1を示す。このように形成したアナ
ログ信号ゲートの一方の側には信号源1を接続し、他の
側には負荷2を接続する。トランジスタPIはそのゲー
ト電極を端子3に接続し、制御信号を供給するようにす
る。また、相補的制御信号を供給するため、トランジス
タN、のゲートをインバータ回路4を介して端子3に接
続する。この場合、ゲート回路は、端子3上の制御電圧
の大きさに従属してオン状態またはオフ状態となる。
正常状態のもとにおいては、インパーク回路は端子3か
らトランジスタN、のゲート電極への転送に当たり、2
つのMOS  )ランジスタがほとんど同時に駆動され
るような小さい遅延を生ずる。したがって、実際上、こ
の回路に対する最大の許容可能信号源電圧はNチャネル
MOSトランジスタのオン状態における最大の許容可能
ドレイン・ソース電圧に等しい。
第2図は本発明ゲート回路の実施例の基本回路を示すも
ので、この回路は第1図示回路と比較したとき、端子3
とトランジスタN1のゲート電極間の接続内に、端子3
上の制御電圧のトランジスタN1のゲート電極への遅延
転送のための付加的遅延回路5を配置している。遅延回
路の遅延時間は、トランジスタP、のターン オンの結
果、ドレイン・ソース電圧がNチャネルMOS  l−
ランジスタN1のオン状態における最大許容可能ドレイ
ン・ソース電圧より低くなったときだけターン オンす
るようこれを選定する。遅延回路5は既知の種々の方法
で構成することができる。
熱キヤリヤ効果(hot−carrier effec
t)の結果としてのMOS  )ランジスタの劣化の傾
向を最小にするためには、実際上、遅延時間を最悪の場
合の作動条件、すなわち最大の信号源信号および最大(
容量性)負荷に適応させる必要がある。
BIMO5技術におけるMOSトランジスタに対しては
、最大信号源電圧は8■とすることができる。
したがって、第2図示回路は、減衰手段を使用すること
なく、例えば、最大2.75Vのr、m、s、値(実効
値)を有する正弦波交番電圧を取扱うためのもので、こ
れは2.5■のr、m、s、値を有する電圧を取扱う必
要のある多くの実際的用途があることから有効である。
第3図は第2図示回路の実用例を示すもので、この場合
は遅延回路5およびインハーク回路4を1つのユニット
を形成するよう集積させている。
図示回路はそれぞれ2つのNチャネルMOSトランジス
タN2.N4およびN+、Nsと縦続に配置したPチャ
ネルMO5)ランジスタPZI P3の第1および第2
直列配置を含む。トランジスタP2. P3のソース電
極は信号接地に対して正の電源電圧を供給するため、こ
れらを第1電源端子6に接続し、トランジスタN2. 
NGのソース電極は信号接地に接続した第2電源端子7
に接続する。第1電源端子6と第2電源端子7との間に
は8Vの最大電圧を供給することができる。トランジス
タP2およびP3のソース電極およびゲート電極は相互
に交差結合して双安定トリガ回路を形成させる。カスコ
ード トランジスタN4およびN5のゲート電極は第2
電源端子7に対して5■の電圧を供給するため、これら
を第3電源端子8に接続する。
図示制御回路は、さらに、PチャネルMO5)ランジス
タP4とNチャネルMOSトランジスタN6の直列配置
よりなる既知のインバータ回路を含み、前記トランジス
タP4のソース電極を第3電源端子8に接続し、トラン
ジスタN6のソース電極を第2電源端子7に接続する。
また、第1直列配置のトランジスタN2のゲート電極を
インバータ トランジスタP4およびN6間の接続点に
接続し、トランジスタP4. N6およびN3のゲート
電極を制御信号端子3に接続する。
また、図示アナログ信号ゲート回路はトランジスタP、
およびN1を含み、前記トランジスタP、のゲート電極
をトランジスタP3のドレイン電極に接続し、トランジ
スタN、のゲート電極をトランジスタP2のドレイン電
極に接続する。さらに、PチャネルMO5I−ランジス
クの基板を関連の電源端子に接続し、Nチャネ/l、M
OS  l−ランジスクの基板を信号接地端子7に接続
する。
実際には、前記制御回路は、例えば8■で電源端子6に
、5■で電源端子8に接続し、かつ、5Vのような通例
の論理信号を使用したゲート回路を作動させるための電
圧レベル変換器ならびにNチャネルMO3)ランジスタ
N1にターン オン遅延を与えるための双安定トリガ回
路を含む。回路の作動は以下のとおりである。
いま、すべてのMOSトランジスタをエンハンスメント
形とした場合は、端子3上の制御電圧がNチャネルMO
S  l−ランジスタがターン オンされるスレショー
ルド電圧より小さい(論理値“0”信号に対応)とき、
トランジスタP4. NZ、 N4およびP3はターン
 オンされ、1−ランジスクNb、 111+ Nsお
よびP2はカット オフされる。この場合、ゲート回路
はターン オフされる。
端子3上の制御電圧が論理値゛1゛°信号に対応する5
Vになった場合は、トランジスタNb、 +1+および
N5がターン オンされ、トランジスタP+のゲート電
極の電圧を低下させて(寄生容量の放電)、そのソース
電極上の電圧からスレショールド電圧を減じたものより
小さくなるようにするので、トランジスタPIはターン
 オンされる。さらに、トランジスタN2およびN4が
カット オフ状態の場合は、(関連ブランチの寄生容量
の大きさにより)トランジスタP2はターン オンされ
、トランジスタP3はターン オフされる。かくして、
ゲート回路のトランジスタN、のデー1〜電極上の電圧
はそのソース電圧プラス スレショールド電圧より高く
なるのでトランジスタN、も導電状態に駆動される。
熱キヤリヤ効果の結果としてのNチャネルMOSトラン
ジスタN、の劣化を排除するため、ターンオン遅延は、
トランジスタP1のターン オンによりドレイン・ソー
ス電圧がMOS  )ランジスタN1のオン状態におけ
る最大許容可能ドレイン・ソース電圧以下に減少するよ
うなものとする必要がある。
前述したように、1〜ランジスタN1のターン オン遅
延は制御回路内のNチャネルMOS  l−ランジスタ
のドレイン・ソース チャネルの幅対長さ比をPチャネ
/l/MO5)ランジスタP2およびP3のドレイン・
ソース チャネルの幅対長さ比より大きくすることによ
り増大させることができる。実際には、NチャネルMO
S  )ランジスタのドレイン・ソースチャネルの幅対
長さ比がトランジスタP2およびP3のドレイン・ソー
ス チャネルの幅対長さ比の4倍であるような構成とす
ることにより好ましい結果を得ることができる。
遅延は、トランジスタP2のドレイン・ソースチャネル
の幅対長さ比をトランジスタP3のそれより小とするこ
とによりさらに増大させることができる。ゲート回路の
トランジスタN、をこの回路のトランジスタPより遅く
ターン オンさせることもできる。第3図示回路の場合
、これはゲート回路がより高い容量性負荷をとりうるこ
とを意味する。
端子3の高い制御電圧および低い制御電圧の双方に対し
て、制御回路は無電流であるため、NチャネルMOSト
ランジスタの劣化は起こらない。トランジスタN2およ
びN3は、それらの関連のドレイン・ソース電圧がオン
状態における最大許容可能ドレイン・ソース電圧より大
きい場合のスイッチング期間中のみターン オン可能で
ある。第3図示回路の場合、この問題はそれぞれトラン
ジスタN2またはN3とカスコードに他のNチャネルM
OSトランジスタN4またはN5を配置することにより
解決している。
カスコード トランジスタN4. N5のドレイン・ソ
ース チャネルの幅対長さ比を例えばトランジスタN2
およびN3のそれの2倍にすることにより、関連のNチ
ャネルMO5)ランジスタ間のドレイン・ソース電圧が
オン状態における最大許容可能ドレイン・ソース電圧よ
り大きくならないようにすることができる。
さらに、信号ゲートのPチャネルMO3)ランジスタの
オン状態における最大許容可能ドレイン・ソース電圧よ
り高い電圧値を有する信号を扱わなければならない場合
はNチャネル トランジスタおよびPチャネル トラン
ジスタの双方に対して制御回路内に若干数のカスコード
 トランジスタを配置することが必要となる。
第4図はこの種回路の実施例を示すもので、図において
は、トランジスタP4およびN6(第3図参照)を含む
インバータ回路をインバータ9で記号的に図示しである
。端子10.11にはゲート回路(図示せず)を接続す
るを要すること勿論である。
また、トランジスタN4およびN、の相互接続ゲート電
極にばNチャネルMO3)ランジスタのオン状態におけ
る最大許容可能ドレイン・ソース電圧とMOSトランジ
スタのスレショールド電圧の和に等しい電圧を供給する
必要がある。さらに、トランジスタN7およびN8の相
互接続ゲート電極には最大許容可能ドレイン・ソース電
圧の2倍とスレショールド値との和に等しい電圧を供給
し、また、トランジスタP5およびP6の相互接続ゲー
ト電極には、電源電圧からスレショールド電圧の絶対値
およびPチャネルMOSトランジスタのオン状態におけ
る最大ドレイン・ソース電圧を滅した値に等しい電圧を
供給する必要がある。この場合、複数の付加的補助電源
とのカスコード配置を使用することにより、さらに高い
電圧を扱いうるようにすることもできる。
第3図および第4図に示す信号ゲート制御回路は、トラ
ンジスタP2およびP3の関連のドレイン電極およびゲ
ート電極の代わりに、トランジスタN2およびN3の関
連のドレイン電極およびゲート電極を交差結合し、ゲー
ト回路を制御する制御信号をトランジスタP3のゲート
に供給するほか、インバータを介してトランジスタP2
のゲートに供給することにより、簡単に変形することが
できる。この場合にも、電源電圧に従属して1またはそ
れ以上のカスコード トランジスタを配置することが必
要である。また、ゲート回路のトランジスタのデー1〜
電極への制御回路の直接結合はさておき、1またはそれ
以上の中間駆動段を介してこの回路を制御することもで
きる。
第5a図はNチャネル電界効果トランジスタのオン状態
における最大許容可能ドレイン・ソース電圧より低いド
レイン・ソース電圧でアナログ信号ゲートをターン オ
ンさせる回路の他の実施例の基本回路図である。
第5a図は、本質的に、複数の信号源SI+S2+ ・
・・S、、をそれぞれアナログ信号ゲー1’ G+ 、
 Gz、・・・G11を介してハス12に接続し、ゲー
トの1つののを導電状態(ソース セレクタ)としたシ
ステムを示すもので、図では簡単のため、アナログ ゲ
−ト回路GI+ G2+ ・・・+ Gnをスイッチと
して表示しである(ただし、nはOより大きい整数であ
る)。
このようなソース セレクタの場合には、他の信号源を
選定しなければならないとき、種々の問題が起こる。瞬
時的に導電状態のゲート回路、例えばG、がターン オ
フされる直前には、ハス12は、例えば、8■の信号源
別の瞬時電圧にある。ゲート回路G、がターン オフさ
れ、ゲート回路G2がターン オンされた場合は、G2
を横切るドレイン・ソース電圧はハス12と信号Bsz
間の瞬時的電圧差に等しい。ソース電圧は当初未知であ
るので、G2を横切るドレイン・ソース電圧は信号源S
2がO■の電圧を有する場合には、BIMO5技術にお
けるNチャネルMOSトランジスタのオン状態での最大
許容可能ドレイン・ソース電圧より大きい。本実施例に
おいては、最大ドレイン・ソース電圧は8Vであるので
、第2図ないし第4図に示すような方法でゲート回路G
、、 G2、・・・、G、、を構成することができる。
本発明による他の可能性は、図示のように、付加的ゲー
ト回路Gaを介してバス12に接続したイ」加的補助信
号源Saを使用することである。本実施例の場合、この
補助信号源は例えば、4Vの直流電圧を有する。1つの
信号源から他の信号源への切換え期間中に、この補助電
圧が一時的に供給されて、ハス12が4■の電圧になっ
た場合には、ゲート回路Gl+ G2+ ・・・+ G
4および付加的ゲート回路G、を横切るドレイン・ソー
ス電圧は常に4■に限定される。これを第5b図に関し
説明する。
第5b図は8■信号源SlからoV電源s2への切換え
期間中における時間tの関数としてのゲート回路Gz 
GzおよびGaの両端のドレイン・ソース電圧■。を示
すグラフである。
時間t。には、ゲート回路G1が導電状態で、ゲート回
路G2およびGIlはカント オフ状態である。
時間t、には、デー1−回路G1はカット オフ状態と
なり、ハス12は瞬時的に8Vの電圧となる。ゲート回
路G、がカンI・ オフ状態になった後、時間t2には
ゲート回路G8がターン オンされ、その結果、ハス1
2ばその結果的容量性負荷に従属する割合の電圧が4■
まで上昇する。かくして、Glを横切るドレイン・ソー
ス電圧はO■から4Vまで増加し、G2を横切るドレイ
ン・ソース電圧は8Vから4■に減少し、またGaを横
切るドレイン・ソース電圧は4■から0■に減少する。
次いで、時間t3には、付加的ゲート回路G8は再びタ
ーン オンされ、時間t4にはゲート回路G2がターン
 オンされる。かくして、このゲート回路G2のターン
 オン期間中62を横切るドレイン・ソース電圧は4V
、すなわち、G2のNチャネルBIMO3l−ランジス
タのオン状態における最大許容可能ドレイン・ソース電
圧以下となる。したがって、バスは、その結果的容量性
負荷に従属するレートで新しい信号源S2の電圧に到達
する。
この実施例は、任意のゲート回路がターン オンされた
とき、この回路の両端のドレイン・ソース電圧は常に4
Vより小さいことを示している。
−船釣に、第5a図示回路配置を使用するときは、第1
図に示すようなりIMO5技術におけるゲート回路に対
して取扱われるべき最大信号源電圧は、Nチャネル電界
効果トランジスタのオン状態における最大ドレイン・ソ
ース電圧の2倍の値に等しくすることができ、その場合
には、補助信号源電圧は、最大信号源電圧の172に等
しくする必要がある。また、第3図示ゲート回路を使用
する場合にはBLMO3l−ランジスクに対して取扱う
べき最大信号源電圧は約11V (NチャネルMO3l
−ランジスタのオン状態における最大ドレイン・ソース
電圧の2倍)に等しくすることさえ可能である。
さらに高い信号を扱おうとする場合は、例えば、第4図
に示すよう構成したゲート回路もしくはゲート回路を横
切るトレイン・ソース電圧をステップ状に供給するよう
形成した第6図示実施例を使用することができる。
第6図は関連のゲート回路を介して複数の信号源を接続
可能としたバス12を示す。図においては、簡単のため
、1つの信号源S、のみを示しである。
また、図示配置はライン13の電圧とスイッチ オンす
べき信号源の電圧の双方を測定する測定回路14を含む
ほか、複数の付加的ゲート回路Gl+ Gz・・・、G
よをライン13に接続し、さらに前記ゲート回路をはし
ご形抵抗回路RI+ R2+ ・・・+Rkを介して補
助電圧Sir S2+ ・・・+Skに結合している(
ただし、kはOより大きい整数である)。前記はしご形
抵抗回路RI+ R2+ ・・・+RMは、端子15に
電源電圧が供給されたとき、2つの連続する補助電圧間
の差がオン状態におけるNチャネル電界効果トランジス
タの最大ドレイン・ソース電圧に等しいかそれより小さ
くなるようこれを選定する。
ゲート回路G、がターン オンされる前に、ライン13
と信号源S、との間の瞬時電圧差が測定回路14により
測定される。まず、その関連の補助電圧がNチャネル電
界効果トランジスタのオン状態における最大許容可能ト
レイン・ソース電圧より小さい値だけ、ライン13上の
瞬時電圧と異なるようなゲート回路で始まって、ライン
13を信号源S。
の電圧に等しいか、信号源Sbの電圧とNチャネル電界
効果トランジスタのオン状態における最大許容可能ドレ
イン・ソース電圧との差より小さい電圧に導くのに必要
な数のゲート回路をターンオンさせるようにする。ライ
ン13に個々の補助電圧を供給すべき時間は母線13の
実効容量性負荷に従属する。このようにして、取扱うべ
き信号スイングは使用する付加的ゲート回路および補助
信号源の数によりかなり拡大することができる。また、
補助電圧は既知の任意の方法で実現しうろこと明らかで
ある。
以上の記述でば81MO5技術における電界効果トラン
ジスタに焦点を当てていたが、本発明は例えば、相補M
O5技術またはその他の同様な技術で製造した電界効果
トランジスタにも適用できること勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は並列接続PチャネルおよびNチャネルMO5)
ランジスタおよび制御回路を含む既知のアナログ ゲー
ト回路の基本回路図、 第2図は本発明ゲート回路の一実施例の基本回路図、 第3図は第2図示回路の実用例を示す回路図、第4図は
縦続配置した複数のMOS  )ランジスタを含む第3
図示制御回路の類似の制御回路を示す図、 第5a図は補助電圧を供給するための付加的スイッチン
グ手段を含む本発明ゲート回路の他の実施例の基本回路
図、 第5b図は第5a図示ゲート回路のドレイン・ソース電
圧を示すグラフ、 第6図は本発明によりステップ状に複数の補助電圧を供
給するための基本回路を示す図である。 1、S+〜S、、、Sa、Sb ”’信号源2・・・負
荷 3、 6. 7. 8.10. IL 15・・・端子
4.9・・・インバータ回路 5・・・遅延手段 12・・・ハス 14・・・測定回路 N、〜N8・・・NチャネルMO5)ランジスタP、〜
P6・・・PチャネルMO5)ランジスタG1〜Gn、
G−、Gb 、Gk・・’ゲート回路R+〜Rk・・・
はしご形抵抗回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、その並列接続ドレイン・ソース通路によりアナログ
    信号ゲートを構成するよう配置したNチャネル絶縁ゲー
    ト電界効果トランジスタおよびPチャネル絶縁ゲート電
    界効果トランジスタと、2つの電界効果トランジスタを
    ターンオンもしくはターンオフするため関連のゲート電
    極に接続した制御回路とを含むゲート回路において、少
    なくとも所定値より低いドレイン・ソース電圧でNチャ
    ネル電界効果トランジスタをターンオンさせる手段を具
    えたことを特徴とするゲート回路。 2、該手段はPチャネル電界効果トランジスタより遅延
    してNチャネル電界効果トランジスタをターンオンさせ
    るため、該制御回路に結合した遅延手段を含むことを特
    徴とする請求項1記載のゲート回路。 3、該制御回路はNチャネル電界効果トランジスタおよ
    びPチャネル電界効果トランジスタの第1および第2直
    列配置を具えて、前記直列配置の各々を第1および第2
    電源端子に結合し、1導電形式の電界効果トランジスタ
    を相互に交差接続して双安定トリガ回路を形成させ、信
    号ゲートのNチャネル電界効果トランジスタおよびPチ
    ャネル電界効果トランジスタを制御するため、第1直列
    配置の他の導電形式の電界効果トランジスタのゲート電
    極をインバータ回路を介して、また第2直列配置の対応
    する導電形式の電界効果トランジスタのゲート電極を直
    接制御入力端子に結合し、前記信号ゲートの電界効果ト
    ランジスタのゲート電極をそれぞれ第1および第2直列
    配置に結合するとともに、該制御回路はさらに、第1お
    よび第2直列配置とカスコードに配置した1またはそれ
    以上の他の電界効果トランジスタを含み、そのゲート電
    極により1またはそれ以上の補助電圧を供給するための
    1またはそれ以上の端子を構成させるようにしたことを
    特徴とする請求項2記載のゲート回路。 4、第1および第2直列配置の電界効果トランジスタの
    ドレイン・ソースチャネルの幅対長さ比を1導電形式の
    トランジスタに対し他の導電形式のトランジスタのそれ
    より小としたことを特徴とする請求項3記載のゲート回
    路。 5、第1直列配置の1導電形式の電界効果トランジスタ
    のドレイン・ソースチャネルの幅対長さ比を第2直列配
    置の対応する電界効果トランジスタのそれより小とした
    ことを特徴とする請求項3または4に記載のゲート回路
    。 6、該手段は信号ゲートを少なくとも1つの補助電圧に
    接続するため、アナログ信号ゲートと直列に配置したス
    イッチング手段を具えたことを特徴とする請求項1ない
    し5のいずれか1項に記載のゲート回路。 7、該スイッチング手段は1またはそれ以上の対の並列
    接続NチャネルおよびPチャネル絶縁ゲート電界効果ト
    ランジスタを含むことを特徴とする請求項6記載のゲー
    ト回路。
JP1156921A 1988-06-24 1989-06-21 ゲート回路 Pending JPH0244912A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL8801611 1988-06-24
NL8801611 1988-06-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0244912A true JPH0244912A (ja) 1990-02-14

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ID=19852518

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JP1156921A Pending JPH0244912A (ja) 1988-06-24 1989-06-21 ゲート回路

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EP (1) EP0347998A1 (ja)
JP (1) JPH0244912A (ja)
KR (1) KR900001132A (ja)

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KR900001132A (ko) 1990-01-31
EP0347998A1 (en) 1989-12-27

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