JPH0245144B2 - Binkensasochi - Google Patents
BinkensasochiInfo
- Publication number
- JPH0245144B2 JPH0245144B2 JP5162084A JP5162084A JPH0245144B2 JP H0245144 B2 JPH0245144 B2 JP H0245144B2 JP 5162084 A JP5162084 A JP 5162084A JP 5162084 A JP5162084 A JP 5162084A JP H0245144 B2 JPH0245144 B2 JP H0245144B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- signal
- bin
- output signal
- photoelectric converter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、ビン検査装置に係り、特に、コン
ベア上を移動中のガラスビン等の形状変形による
欠陥を検出する装置に関するものである。
ベア上を移動中のガラスビン等の形状変形による
欠陥を検出する装置に関するものである。
従来、各種のガラスビン等のビンの割れ、欠
け、汚れなどの欠陥を検出するためのビン検査装
置については、種々の開発がなされている。とこ
ろが、従来のビン検査装置においては、本来、外
観形状が円形であるべきビンの胴部が、例えば楕
円形に変形した場合の様に、その形状変形の欠陥
を検出するためのビン検査装置は存在しておら
ず、このため、ビンが形状変形を起こした場合
に、その欠陥を容易に、かつ正確に検査をするこ
とができないという欠点があつた。
け、汚れなどの欠陥を検出するためのビン検査装
置については、種々の開発がなされている。とこ
ろが、従来のビン検査装置においては、本来、外
観形状が円形であるべきビンの胴部が、例えば楕
円形に変形した場合の様に、その形状変形の欠陥
を検出するためのビン検査装置は存在しておら
ず、このため、ビンが形状変形を起こした場合
に、その欠陥を容易に、かつ正確に検査をするこ
とができないという欠点があつた。
この発明は、上記の様な従来のものの欠点を改
善する目的でなされたもので、回転させながら搬
送するビンのビン口に光を照射し、このビン口よ
りの正反射光を光電変換して得られる出力信号に
よりビン口の幅を計測し、この計測されたビン口
の幅に基き、ビンの回転振れ信号を検出すること
によつて、ビンの形状変形の欠陥を容易に、かつ
正確に検査できる様にしたビン検査装置を提供す
るものである。
善する目的でなされたもので、回転させながら搬
送するビンのビン口に光を照射し、このビン口よ
りの正反射光を光電変換して得られる出力信号に
よりビン口の幅を計測し、この計測されたビン口
の幅に基き、ビンの回転振れ信号を検出すること
によつて、ビンの形状変形の欠陥を容易に、かつ
正確に検査できる様にしたビン検査装置を提供す
るものである。
以下、この発明の実施例を図について説明す
る。第１図はこの発明の一実施例であるビン検査
装置を示す概略構成図である。図において、１は
ガラスビン等のビン、２は帯状の光源、３は光電
変換器、３１は、光電変換器３内に設けられ、自
己走査機能を有するホトダイオード・アレイより
成る光電変換素子、４は二値化回路、５は信号幅
計数回路、６はビン回転振れ検出回路、７はビン
回転駆動ベルト、８はビン搬送コンベア、９はコ
ンベアサイドプレートである。二値化回路４と信
号幅計数回路５によりビン口幅計測手段５０を構
成し、また、ビン回転駆動ベルト７、ビン搬送コ
ンベア８及びコンベアサイドプレート９によりビ
ン搬送手段９０を構成している。第１図中、それ
ぞれ矢印で示す１１，８１は、ビン回転方向及び
ビン走行方向を示している。
る。第１図はこの発明の一実施例であるビン検査
装置を示す概略構成図である。図において、１は
ガラスビン等のビン、２は帯状の光源、３は光電
変換器、３１は、光電変換器３内に設けられ、自
己走査機能を有するホトダイオード・アレイより
成る光電変換素子、４は二値化回路、５は信号幅
計数回路、６はビン回転振れ検出回路、７はビン
回転駆動ベルト、８はビン搬送コンベア、９はコ
ンベアサイドプレートである。二値化回路４と信
号幅計数回路５によりビン口幅計測手段５０を構
成し、また、ビン回転駆動ベルト７、ビン搬送コ
ンベア８及びコンベアサイドプレート９によりビ
ン搬送手段９０を構成している。第１図中、それ
ぞれ矢印で示す１１，８１は、ビン回転方向及び
ビン走行方向を示している。
第２図ないし第４図は、それぞれ第１図のビン
検査装置の動作態様を説明するための上方から見
た要部の部分図である。上記各図において、１は
ビン、７はビン回転駆動ベルト、９はコンベアサ
イドプレート、１２は光源２から光を照射された
ビン口よりの正反射光がビン搬送コンベア８の上
方向に向う範囲、３２は光電変換器３の視野をそ
れぞれ示している。
検査装置の動作態様を説明するための上方から見
た要部の部分図である。上記各図において、１は
ビン、７はビン回転駆動ベルト、９はコンベアサ
イドプレート、１２は光源２から光を照射された
ビン口よりの正反射光がビン搬送コンベア８の上
方向に向う範囲、３２は光電変換器３の視野をそ
れぞれ示している。
次に、上記第１図に示すこの発明の一実施例で
あるビン検査装置の動作について、上記第２図な
いし第４図を参照して説明する。ビン搬送コンベ
ア８により検査ステージまで搬送されてきたビン
１は、ここで、ビン回転駆動ベルト７によりビン
回転方向１１の方向に回転されながらビン搬送コ
ンベア８上を移動して行く。この時、ビン搬送コ
ンベア８の片側の上方向に設置された帯状の光源
２からの光によつて、ビン１のビン口が照明され
る。ビン１のビン口により正反射されて上方向に
向つた光は、光電変換器３内の光電変換素子３１
上に結像される。この様に、光電変換器３の視野
３２は、ビン搬送コンベア８のビン走行方向８１
と一致している。光電変換器３の出力信号は二値
化回路４において適当な設定値で二値化され、こ
の二値化された出力信号は信号幅計数回路５に入
力される。この信号幅計数回路５では、光電変換
素子３１の一走査周期ごとの入力信号の幅を計数
し、この計数値をビン回転振れ検出回路６が受け
取り、この受け取つた数値が、適当な許容範囲を
超えて大きくなるか小さくなつた時に、ビン回転
振れ検出回路６は変形ビン検出信号を出力する。
あるビン検査装置の動作について、上記第２図な
いし第４図を参照して説明する。ビン搬送コンベ
ア８により検査ステージまで搬送されてきたビン
１は、ここで、ビン回転駆動ベルト７によりビン
回転方向１１の方向に回転されながらビン搬送コ
ンベア８上を移動して行く。この時、ビン搬送コ
ンベア８の片側の上方向に設置された帯状の光源
２からの光によつて、ビン１のビン口が照明され
る。ビン１のビン口により正反射されて上方向に
向つた光は、光電変換器３内の光電変換素子３１
上に結像される。この様に、光電変換器３の視野
３２は、ビン搬送コンベア８のビン走行方向８１
と一致している。光電変換器３の出力信号は二値
化回路４において適当な設定値で二値化され、こ
の二値化された出力信号は信号幅計数回路５に入
力される。この信号幅計数回路５では、光電変換
素子３１の一走査周期ごとの入力信号の幅を計数
し、この計数値をビン回転振れ検出回路６が受け
取り、この受け取つた数値が、適当な許容範囲を
超えて大きくなるか小さくなつた時に、ビン回転
振れ検出回路６は変形ビン検出信号を出力する。
さて、第２図に示す様に、ビン１の胴部の形状
が円形を成す場合には、この円形の形状を有する
正常なビン１が検査ステージにきた時に、ビン１
が1/2回転する間、第２図に示す状態の関係を維
持しているため、信号幅計数回路５の出力信号は
安定しているが、第３図又は第４図に示す様に、
ビン１の胴部の形状が楕円形等に変形している場
合には、上記と同様にビン１が1/2回転する間、
第３図か第４図に示す様な状態が出現し、信号幅
計数回路５の出力信号は、第４図に示す状態では
大きくなり、また、第３図に示す状態では小さく
なるという様に大きく変動することになる。この
ため、この信号幅計数回路５の出力信号の変動を
ビン回転振れ検出回路６で検出して、このビン回
転振れ検出回路６から変形ビン検出信号を出力す
る様にする。
が円形を成す場合には、この円形の形状を有する
正常なビン１が検査ステージにきた時に、ビン１
が1/2回転する間、第２図に示す状態の関係を維
持しているため、信号幅計数回路５の出力信号は
安定しているが、第３図又は第４図に示す様に、
ビン１の胴部の形状が楕円形等に変形している場
合には、上記と同様にビン１が1/2回転する間、
第３図か第４図に示す様な状態が出現し、信号幅
計数回路５の出力信号は、第４図に示す状態では
大きくなり、また、第３図に示す状態では小さく
なるという様に大きく変動することになる。この
ため、この信号幅計数回路５の出力信号の変動を
ビン回転振れ検出回路６で検出して、このビン回
転振れ検出回路６から変形ビン検出信号を出力す
る様にする。
なお、上記実施例では、ビン回転振れ検出回路
６の判断基準を既知の定数としている場合につい
て説明したが、ビン１の検査終了ごとに、ビン１
が正常ビンと判定された場合には、このビン１の
信号幅計数回路５の出力信号の平均値を演算し、
この平均値と上記判断基準との重み付き平均を新
たな判断基準とする様な判定基準最適化回路を付
加することも可能である。
６の判断基準を既知の定数としている場合につい
て説明したが、ビン１の検査終了ごとに、ビン１
が正常ビンと判定された場合には、このビン１の
信号幅計数回路５の出力信号の平均値を演算し、
この平均値と上記判断基準との重み付き平均を新
たな判断基準とする様な判定基準最適化回路を付
加することも可能である。
この発明は以上説明した様に、ビン検査装置に
おいて、回転させながら搬送するビンのビン口に
光を照射し、このビン口よりの正反射光を光電変
換して得られる出力信号によりビン口の幅を計測
し、この計測されたビン口の幅に基き、ビンの回
転振れ信号を検出する様に構成したので、ビンの
形状変形の欠陥を極めて容易に、かつ正確に検査
することができるという優れた効果を奏するもの
である。
おいて、回転させながら搬送するビンのビン口に
光を照射し、このビン口よりの正反射光を光電変
換して得られる出力信号によりビン口の幅を計測
し、この計測されたビン口の幅に基き、ビンの回
転振れ信号を検出する様に構成したので、ビンの
形状変形の欠陥を極めて容易に、かつ正確に検査
することができるという優れた効果を奏するもの
である。
第１図はこの発明の一実施例であるビン検査装
置を示す概略構成図、第２図ないし第４図は、そ
れぞれ第１図のビン検査装置の動作態様を説明す
るための上方から見た要部の部分図である。 図において、１……ビン、２……光源、３……
光電変換器、４……二値化回路、５……信号幅計
数回路、６……ビン回転振れ検出回路、７……ビ
ン回転駆動ベルト、８……ビン搬送コンベア、９
……コンベアサイドプレート、１１……ビン回転
方向、１２……範囲、３１……光電変換素子、３
２……視野、５０……ビン口幅計測手段、８１…
…ビン走行方向、９０……ビン搬送手段である。
なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を
示す。
置を示す概略構成図、第２図ないし第４図は、そ
れぞれ第１図のビン検査装置の動作態様を説明す
るための上方から見た要部の部分図である。 図において、１……ビン、２……光源、３……
光電変換器、４……二値化回路、５……信号幅計
数回路、６……ビン回転振れ検出回路、７……ビ
ン回転駆動ベルト、８……ビン搬送コンベア、９
……コンベアサイドプレート、１１……ビン回転
方向、１２……範囲、３１……光電変換素子、３
２……視野、５０……ビン口幅計測手段、８１…
…ビン走行方向、９０……ビン搬送手段である。
なお、各図中、同一符号は同一、又は相当部分を
示す。
Claims (1)
- １ ビンを回転させながら搬送するビン搬送手段
と、ビン口に光を照射する光源と、前記ビン口よ
りの正反射光を光電変換する光電変換器と、この
光電変換器の出力信号により前記ビン口の幅を計
測するビン口幅計測手段と、このビン口幅計測手
段の出力信号に基き、前記ビンの回転振れ信号を
出力するビン回転振れ検出手段とを備えているこ
とを特徴とするビン検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5162084A JPH0245144B2 (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | Binkensasochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5162084A JPH0245144B2 (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | Binkensasochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60194336A JPS60194336A (ja) | 1985-10-02 |
| JPH0245144B2 true JPH0245144B2 (ja) | 1990-10-08 |
Family
ID=12891917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5162084A Expired - Lifetime JPH0245144B2 (ja) | 1984-03-15 | 1984-03-15 | Binkensasochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0245144B2 (ja) |
-
1984
- 1984-03-15 JP JP5162084A patent/JPH0245144B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60194336A (ja) | 1985-10-02 |
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