JPH043820B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH043820B2 JPH043820B2 JP25284085A JP25284085A JPH043820B2 JP H043820 B2 JPH043820 B2 JP H043820B2 JP 25284085 A JP25284085 A JP 25284085A JP 25284085 A JP25284085 A JP 25284085A JP H043820 B2 JPH043820 B2 JP H043820B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- image
- imaging
- imaging system
- bottle opening
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 24
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 20
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 4
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はびん口部検査装置、さらに詳しくは
直線ライン上を搬送されるびんに対してその側部
より照明を当て、びん口部をその天面より撮像
し、これを画像処理することにより欠けやビリ
（ガラス内部に形成される割れ）等の欠陥検査を
行なう検査装置に関する。
直線ライン上を搬送されるびんに対してその側部
より照明を当て、びん口部をその天面より撮像
し、これを画像処理することにより欠けやビリ
（ガラス内部に形成される割れ）等の欠陥検査を
行なう検査装置に関する。
従来、この種の検査装置として、フオトセンサ
をびん口部近傍に配置し、センサ位置でびんを回
転させてその全面を検査するもの、またはびん口
部を天面上部からリング状に照明し、同じく天面
上部からテレビカメラ等にて撮像し、その撮像画
像をもとに検査を行なうもの等が知られている。
をびん口部近傍に配置し、センサ位置でびんを回
転させてその全面を検査するもの、またはびん口
部を天面上部からリング状に照明し、同じく天面
上部からテレビカメラ等にて撮像し、その撮像画
像をもとに検査を行なうもの等が知られている。
しかしながら、前者の装置ではびんを回転させ
るための機構が必要であり、その処理速度が遅い
という問題がある（150BPM〔本／分〕程度）。ま
た、びん種別毎に回転、搬送機構の切換やセンサ
の位置調整等に手間が掛かる等の問題もある。
るための機構が必要であり、その処理速度が遅い
という問題がある（150BPM〔本／分〕程度）。ま
た、びん種別毎に回転、搬送機構の切換やセンサ
の位置調整等に手間が掛かる等の問題もある。
一方、後者の装置では次のような問題がある。
つまり、びん口天面は必ずしも滑らかではなく、
また或る曲率を持つものが多いため、天面全体を
一様に照明することは困難であり、したがつて欠
陥を同一の条件下で検査することは難かしい。特
に、ガラス内部に形成された割れ、つまりビリは
天面上方からの照明では殆んど画像として捉えら
れないのが普通である。
つまり、びん口天面は必ずしも滑らかではなく、
また或る曲率を持つものが多いため、天面全体を
一様に照明することは困難であり、したがつて欠
陥を同一の条件下で検査することは難かしい。特
に、ガラス内部に形成された割れ、つまりビリは
天面上方からの照明では殆んど画像として捉えら
れないのが普通である。
したがつて、この発明はびんを回転させるなど
の複雑な機構を必要とせず、またびん形状が変わ
つても容易に対処することができ、しかも高速な
検査が可能で、その上欠陥がびん口部のいずれに
あつても、また如何なる欠陥でも充分に検出する
ことができる検査装置を提供することを目的とす
る。
の複雑な機構を必要とせず、またびん形状が変わ
つても容易に対処することができ、しかも高速な
検査が可能で、その上欠陥がびん口部のいずれに
あつても、また如何なる欠陥でも充分に検出する
ことができる検査装置を提供することを目的とす
る。
所定の方向に搬送され略円形状のびん口部をも
つびんの搬送方向に対して所定の角度をもつ両側
部から該びん口部を照明する１対の照明手段と該
びん口部をその上部から撮像する撮像手段とから
なる第１の撮像系と、該撮像系と同様に構成され
その照明手段による光の照射軸が第１撮像系のそ
れと略90度異なる第２の撮像系と、撮像信号の２
値化手段および特徴量抽出手段ならびにびん口部
の光で直接照射される部分をマスクするマスク手
段をもつ画像処理装置とを設ける。
つびんの搬送方向に対して所定の角度をもつ両側
部から該びん口部を照明する１対の照明手段と該
びん口部をその上部から撮像する撮像手段とから
なる第１の撮像系と、該撮像系と同様に構成され
その照明手段による光の照射軸が第１撮像系のそ
れと略90度異なる第２の撮像系と、撮像信号の２
値化手段および特徴量抽出手段ならびにびん口部
の光で直接照射される部分をマスクするマスク手
段をもつ画像処理装置とを設ける。
上記画像処理装置により第１，第２撮像系から
の撮像信号をそれぞれ２値化し、適宜な特徴量を
抽出してびん口部の光で直接照射される部分をマ
スクし、マスクされない部分の特徴量、例えば面
積値から欠けやビリ等の欠陥を高速かつ高速度に
検出する。
の撮像信号をそれぞれ２値化し、適宜な特徴量を
抽出してびん口部の光で直接照射される部分をマ
スクし、マスクされない部分の特徴量、例えば面
積値から欠けやビリ等の欠陥を高速かつ高速度に
検出する。
第１図はこの発明の実施例を示す概要図で、同
図イはその上面図、ロはその側面図である。な
お、同図において、１は画像処理装置、２１，２
２はテレビカメラの如き撮像装置、３はびん、４
１〜４４は照明器である。
図イはその上面図、ロはその側面図である。な
お、同図において、１は画像処理装置、２１，２
２はテレビカメラの如き撮像装置、３はびん、４
１〜４４は照明器である。
動作を説明する。
まず、びん３は搬送ラインLN上を矢印Ｒの方
向に直接搬送される。その搬送途中には搬送方向
に対して照射軸が例えば45度となるような１対の
照明器４１と４２、４３と４４が２組設けられ、
これによりびん口部Ｂの側面が照明される。した
がつて、照明器４１と４２および照明器４３と４
４によつて形成される光の照射方向は互いに直交
し、光が直接当たる部分（この部分は光が直接反
射して欠陥検査ができないので、マスク部と呼ぶ
ことにする。）と当たらない部分（この部分は正
常ならば反射がなく、欠陥があるときのみ反射が
得られるので、この部分を欠陥検査エリアＡと呼
ぶことにする。）とが互いに90度ずれることにな
るため、両者の欠陥検査エリアを合わせることに
より、びん口部全体を検査することができる。テ
レビカメラ２１，２２はそれぞれの位置に対応し
て１つずつ設けられ、びん口部Ｂを撮像する。画
像処理装置１はテレビカメメラ２１，２２からの
撮像信号を順次処理し、欠陥検査を行なう。
向に直接搬送される。その搬送途中には搬送方向
に対して照射軸が例えば45度となるような１対の
照明器４１と４２、４３と４４が２組設けられ、
これによりびん口部Ｂの側面が照明される。した
がつて、照明器４１と４２および照明器４３と４
４によつて形成される光の照射方向は互いに直交
し、光が直接当たる部分（この部分は光が直接反
射して欠陥検査ができないので、マスク部と呼ぶ
ことにする。）と当たらない部分（この部分は正
常ならば反射がなく、欠陥があるときのみ反射が
得られるので、この部分を欠陥検査エリアＡと呼
ぶことにする。）とが互いに90度ずれることにな
るため、両者の欠陥検査エリアを合わせることに
より、びん口部全体を検査することができる。テ
レビカメラ２１，２２はそれぞれの位置に対応し
て１つずつ設けられ、びん口部Ｂを撮像する。画
像処理装置１はテレビカメメラ２１，２２からの
撮像信号を順次処理し、欠陥検査を行なう。
第２図はびん口部を照明する照明器とびん口部
からの反射光との関係を説明するための参照図で
ある。なお、同図イは上面図、同ロは側面図であ
る。
からの反射光との関係を説明するための参照図で
ある。なお、同図イは上面図、同ロは側面図であ
る。
すなわち、同図イの如くびん口部Ｂを所定方向
の両側部から照明すると、同図ロに示すように、
光が直接当たる部分（マスク部）では直接反射光
Lpを生じるが、それと直交する部分（欠陥検査
エリア）Ａでは正常ならば反射光は殆んどなく、
欠けやビリなどの欠陥Ｆがあるときのみ欠陥断面
部で上方に向かう反射光Lfを生じることがわか
る。
の両側部から照明すると、同図ロに示すように、
光が直接当たる部分（マスク部）では直接反射光
Lpを生じるが、それと直交する部分（欠陥検査
エリア）Ａでは正常ならば反射光は殆んどなく、
欠けやビリなどの欠陥Ｆがあるときのみ欠陥断面
部で上方に向かう反射光Lfを生じることがわか
る。
第３図は画像処理装置の具体例を示すブロツク
図である。こゝに、１０はアナログ／デイジタル
（Ａ／Ｄ）変換部、１１は画像位置検出部、１２
はマスク発生部、１３は画像メモリ、１４は欠陥
画像検出部、１５はマイクロプロセツサの如き演
算処理部である。
図である。こゝに、１０はアナログ／デイジタル
（Ａ／Ｄ）変換部、１１は画像位置検出部、１２
はマスク発生部、１３は画像メモリ、１４は欠陥
画像検出部、１５はマイクロプロセツサの如き演
算処理部である。
こゝで、びん口部Ｂの画像が第４図の如く示さ
れる場合の処理動作について説明する。
れる場合の処理動作について説明する。
まず、テレビカメメラ２１，２２からのアナロ
グ画像はＡ／Ｄ変換部１０により、その濃淡レベ
ルに応じた白、黒または明、暗２値の画像に変換
され、画像メモリ１３に記憶される。第４図はこ
のときの画像データをアナログ的に示したもので
ある。このとき、照明器による光の照射方向が図
示の如くであるとすると、画像位置検出部１１で
は撮像画面Ｇの第１象限、第３象限におい
て、それぞれ暗から明，明から暗への変化点位置
Cd，Clと各水平走査線HS毎の明部（反射部）の
画像幅データを抽出する。なお、このときの明画
像幅データは、第４図にW1，W3の如く示され
る。演算処理部１５は画像位置検出部１１からの
明画像幅データを積算してその面積２分位置DI
を求めるとともに、この水平走査線位置（DI）
における画像の変化点位置データCd，Clから明部
画像の中心位置Ppを求める。マスク発生部１２は
演算処理部１５からの中心位置データにもとづい
て第４図の如き四角形のマスク領域MAを形成す
る。欠換画像検出部１４はこのマスク領域MAを
除く領域、すなわち欠陥検査エリアＡにおける画
像面積を抽出する。このとき、正常ならば欠陥検
出部１４による面積抽出値は略零であるが、欠け
やビリ等の欠陥Ｆがあるときは、その部分からの
反射光による面積値が抽出される。したがつて、
演算処理部１５によりこの面積値データを所定の
設定値と比較する等すれば、欠陥があるか否かを
判別することができる。
グ画像はＡ／Ｄ変換部１０により、その濃淡レベ
ルに応じた白、黒または明、暗２値の画像に変換
され、画像メモリ１３に記憶される。第４図はこ
のときの画像データをアナログ的に示したもので
ある。このとき、照明器による光の照射方向が図
示の如くであるとすると、画像位置検出部１１で
は撮像画面Ｇの第１象限、第３象限におい
て、それぞれ暗から明，明から暗への変化点位置
Cd，Clと各水平走査線HS毎の明部（反射部）の
画像幅データを抽出する。なお、このときの明画
像幅データは、第４図にW1，W3の如く示され
る。演算処理部１５は画像位置検出部１１からの
明画像幅データを積算してその面積２分位置DI
を求めるとともに、この水平走査線位置（DI）
における画像の変化点位置データCd，Clから明部
画像の中心位置Ppを求める。マスク発生部１２は
演算処理部１５からの中心位置データにもとづい
て第４図の如き四角形のマスク領域MAを形成す
る。欠換画像検出部１４はこのマスク領域MAを
除く領域、すなわち欠陥検査エリアＡにおける画
像面積を抽出する。このとき、正常ならば欠陥検
出部１４による面積抽出値は略零であるが、欠け
やビリ等の欠陥Ｆがあるときは、その部分からの
反射光による面積値が抽出される。したがつて、
演算処理部１５によりこの面積値データを所定の
設定値と比較する等すれば、欠陥があるか否かを
判別することができる。
その後、光の照射方向を変えて上記と同様の処
理を行ない、両者の判定結果を総合しびん口部全
体の検査を終了する。このとき、第４図の第２象
限，第４象限がマスク部となり、第１象限
，第３象限が欠陥検査エリアとなることは云
う迄もない。
理を行ない、両者の判定結果を総合しびん口部全
体の検査を終了する。このとき、第４図の第２象
限，第４象限がマスク部となり、第１象限
，第３象限が欠陥検査エリアとなることは云
う迄もない。
この発明によれば、びんを直線搬送させ、びん
口側面より照明し、天面上方からテレビカメラ等
により撮像して検査を行なうに当たり、１対２組
の照明器をその照射軸が互いに直交するように配
置し、直接反射して欠陥検出ができない領域を互
いに補ない合つてびん口部全体を検査できるよう
にしたので、びんを回転させる等の特別な機構が
不要となり、その結果、搬送機構が容易になると
ともにシステム全体の構成が簡略化される利点が
もたらされる。また、直線搬送させるだけである
から、びん形状が変わつてもその切換作業が容易
であるという利点もある。さらに、びん口部をそ
の側面部より照射し、欠陥部断面による反射光を
利用するようにしているので、びん口部の平滑度
やその曲率に関係なく検査ができ、高精度の検査
が可能となる。また、直接反射部の画像中心を求
めてこれをマスクし、このマスク領域以外の検査
エリアで画像の面積値を抽出して欠陥があるか否
かを判定するようにしているため特に複雑な演算
処理を必要とせず、高速処理が可能となる。
口側面より照明し、天面上方からテレビカメラ等
により撮像して検査を行なうに当たり、１対２組
の照明器をその照射軸が互いに直交するように配
置し、直接反射して欠陥検出ができない領域を互
いに補ない合つてびん口部全体を検査できるよう
にしたので、びんを回転させる等の特別な機構が
不要となり、その結果、搬送機構が容易になると
ともにシステム全体の構成が簡略化される利点が
もたらされる。また、直線搬送させるだけである
から、びん形状が変わつてもその切換作業が容易
であるという利点もある。さらに、びん口部をそ
の側面部より照射し、欠陥部断面による反射光を
利用するようにしているので、びん口部の平滑度
やその曲率に関係なく検査ができ、高精度の検査
が可能となる。また、直接反射部の画像中心を求
めてこれをマスクし、このマスク領域以外の検査
エリアで画像の面積値を抽出して欠陥があるか否
かを判定するようにしているため特に複雑な演算
処理を必要とせず、高速処理が可能となる。
第１図はこの発明の実施例を示す概要図、第２
図はびん口部を照明する照明器とびん口部からの
反射光との関係を説明するための参照図、第３図
は画像処理装置の具体例を示すブロツク図、第４
図はこの発明による画像処理方法を説明するため
の参照図である。 符号説明、１……画像処理装置、２１，２２…
…テレビカメラ、３……びん、４１〜４４……照
明器、１０……Ａ／Ｄ変換部、１１……画像位置
検出部、１２……マスク発生部、１３……画像メ
モリ、１４……欠陥画像検出部、１５……演算処
理部、Ａ……欠陥検査エリア、Ｂ……びん口部、
Ｐ……マスク部、MA……マスクエリア、Pp……
画像中心位置、Cd，Cl……変化点位置、W1，W3
……明画像幅データ、Ｆ……欠陥、Ｇ……撮像画
面。
図はびん口部を照明する照明器とびん口部からの
反射光との関係を説明するための参照図、第３図
は画像処理装置の具体例を示すブロツク図、第４
図はこの発明による画像処理方法を説明するため
の参照図である。 符号説明、１……画像処理装置、２１，２２…
…テレビカメラ、３……びん、４１〜４４……照
明器、１０……Ａ／Ｄ変換部、１１……画像位置
検出部、１２……マスク発生部、１３……画像メ
モリ、１４……欠陥画像検出部、１５……演算処
理部、Ａ……欠陥検査エリア、Ｂ……びん口部、
Ｐ……マスク部、MA……マスクエリア、Pp……
画像中心位置、Cd，Cl……変化点位置、W1，W3
……明画像幅データ、Ｆ……欠陥、Ｇ……撮像画
面。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 所定の方向に搬送され略円形状のびん口部を
もつびんの搬送方向に対して所定の角度をもつ両
側部から該びん口部を照明する１対の照明手段と
該びん口部をその上部から撮像する撮像手段とか
らなる第１の撮像系と、該第１撮像系と同様に構
成されその照明手段による光の照射軸が第１撮像
系のそれと略90度異なる第２の撮像系とを備え、
該第１，第２撮像系からの撮像信号を画像処理装
置にて順次処理することによりびん口部の欠陥を
検査する検査装置であつて、 該画像処理装置は少なくとも、 前記撮像信号を所定のレベルで２値化する２値
化手段と、 該２値化画像から所定の特徴量を抽出する特徴
量抽出手段と、 該特徴量にもとづいて前記びん口部の光で直接
照射される部分をマスクするマスク設定手段と、 を有し、びん口部のマスク領域以外の部分の特徴
量からその欠陥を検査することを特徴とするびん
口部検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25284085A JPS62113050A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | びん口部検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25284085A JPS62113050A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | びん口部検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62113050A JPS62113050A (ja) | 1987-05-23 |
| JPH043820B2 true JPH043820B2 (ja) | 1992-01-24 |
Family
ID=17242916
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25284085A Granted JPS62113050A (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | びん口部検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62113050A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5486692A (en) * | 1994-10-19 | 1996-01-23 | Emhart Glass Machinery Investments Inc. | Glassware inspection machine comprising diffused light sources and two-dimensional cameras |
| JP4227272B2 (ja) * | 1999-08-11 | 2009-02-18 | 株式会社エヌテック | 異なる波長の光を用いた物品の検査装置 |
| US6903814B1 (en) | 2003-03-05 | 2005-06-07 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Container sealing surface inspection |
| JP4288104B2 (ja) * | 2003-05-22 | 2009-07-01 | 株式会社エヌテック | 容器の天面部の検査方法 |
| JP2007187615A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Kirin Techno-System Corp | 検査用照明装置 |
-
1985
- 1985-11-13 JP JP25284085A patent/JPS62113050A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62113050A (ja) | 1987-05-23 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04166751A (ja) | びんの欠陥検査方法 | |
| GB2180932A (en) | Bottle mouth defect inspection apparatus | |
| US7317524B2 (en) | Method and device for detecting surface defects on the neck ring of a transparent or translucent container of revolution | |
| JPH0634573A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JP3155106B2 (ja) | ボトルシールの外観検査方法及び装置 | |
| JPH043820B2 (ja) | ||
| JPH07104290B2 (ja) | びん検査装置 | |
| JPS59135353A (ja) | 表面傷検出装置 | |
| JPH04265847A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPH0634575A (ja) | 瓶検査方法 | |
| JPH04270951A (ja) | 瓶検査方法 | |
| JP3682249B2 (ja) | ガラスびんのねじ部検査装置 | |
| JPH0299806A (ja) | 表面欠陥の検査方法 | |
| JPH0968504A (ja) | 瓶口外観検査方法及び装置 | |
| JPH0324447A (ja) | 瓶口検査方法 | |
| JPS63222246A (ja) | びん口ねじ部の欠陥検査装置 | |
| JPH07104289B2 (ja) | びん口検査装置 | |
| JP4723894B2 (ja) | ガラスびんのねじ部検査装置及び検査方法 | |
| JP2000055827A (ja) | ガラス容器等の口部検査方法及び装置 | |
| JP2756738B2 (ja) | 半導体装置の外観検査装置 | |
| JPH0453253B2 (ja) | ||
| JPS6027064B2 (ja) | ラベルの表裏検査装置 | |
| JPH0432340B2 (ja) | ||
| JPS61283857A (ja) | 表面欠陥検出方法 | |
| JPH03123808A (ja) | 表面不良検出装置 |