JPH0245824Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0245824Y2 JPH0245824Y2 JP8670083U JP8670083U JPH0245824Y2 JP H0245824 Y2 JPH0245824 Y2 JP H0245824Y2 JP 8670083 U JP8670083 U JP 8670083U JP 8670083 U JP8670083 U JP 8670083U JP H0245824 Y2 JPH0245824 Y2 JP H0245824Y2
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- JP
- Japan
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- circuit
- thyristor
- noise
- gate
- pulse
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 5
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は部分放電測定装置に関するものであ
る。
る。
供試体の絶縁性能をボイド放電量で評価する場
合、その放電量の測定には部分放電測定器が使用
される。この部分放電測定装置における増巾器の
熱雑音は1PC程度である。而るに、近時、サイリ
スターを用いた装置が多用されているが、サイリ
スターによる雑音は上記の熱雑音よりも大であ
り、このサイリスター雑音の除去は部分放電測定
器の測定感度の向上に有効である。
合、その放電量の測定には部分放電測定器が使用
される。この部分放電測定装置における増巾器の
熱雑音は1PC程度である。而るに、近時、サイリ
スターを用いた装置が多用されているが、サイリ
スターによる雑音は上記の熱雑音よりも大であ
り、このサイリスター雑音の除去は部分放電測定
器の測定感度の向上に有効である。
本考案はサイリスター雑音が電源に同期して周
期的に発生する位相の安定なパルス雑音であるこ
とに着目し、部分放電測定装置において、極めて
簡単な回路構成でそのサイリスター雑音を除去す
ることにある。
期的に発生する位相の安定なパルス雑音であるこ
とに着目し、部分放電測定装置において、極めて
簡単な回路構成でそのサイリスター雑音を除去す
ることにある。
すなわち、本考案に係る部分放電測定装置は供
試体に変源を印加する電圧印加回路と放電検出回
路と増巾回路と指示回路とを有し、電圧印加回路
に生じるサイリスター雑音を検出するサイリスタ
ー雑音検出器を設け、増巾回路と指示回路との間
にゲートを設け、サイリスター雑音検出器の検出
パルスをサイリスター雑音の繰り返し時間間隔だ
け遅延させる遅延回路を設け、該遅延パルスをゲ
ートパルスとして上記ゲートを開くことを特徴と
する構成である。
試体に変源を印加する電圧印加回路と放電検出回
路と増巾回路と指示回路とを有し、電圧印加回路
に生じるサイリスター雑音を検出するサイリスタ
ー雑音検出器を設け、増巾回路と指示回路との間
にゲートを設け、サイリスター雑音検出器の検出
パルスをサイリスター雑音の繰り返し時間間隔だ
け遅延させる遅延回路を設け、該遅延パルスをゲ
ートパルスとして上記ゲートを開くことを特徴と
する構成である。
以下、図面により本考案を説明する。
第１図において、１は電圧印加回路であり、試
験用変圧器１１、ブロツキングコイル１２等を含
んでいる。２は供試体、３は放電電流検出回路で
あり、コンデンサが用いられている。４は増巾回
路、５は指示回路である。６はゲートであり、増
巾回路４と指示回路５との間に設けられている。
７はサイリスター雑音検出器であり、電圧印加回
路１の試験用変圧器１１の一次側に設けられてい
る。８は検出雑音を増巾整形して所定のゲートパ
ルスとする増巾整形回路、９はゲートパルスの遅
延回路である。
験用変圧器１１、ブロツキングコイル１２等を含
んでいる。２は供試体、３は放電電流検出回路で
あり、コンデンサが用いられている。４は増巾回
路、５は指示回路である。６はゲートであり、増
巾回路４と指示回路５との間に設けられている。
７はサイリスター雑音検出器であり、電圧印加回
路１の試験用変圧器１１の一次側に設けられてい
る。８は検出雑音を増巾整形して所定のゲートパ
ルスとする増巾整形回路、９はゲートパルスの遅
延回路である。
第２図イは電源電圧に対するサイリスター雑音
の位相を示しており、サイリスターの作動上、サ
イリスター雑音a1，a2…は電源の一定の位相にお
いて生じる。而して、サイリスター雑音は電源に
同期して周期的に発生し、電源周波数１サイクル
に対し数箇（図では説明の便宜上１個としてい
る）の雑音を発生するから、サイリスター雑音の
時間間隔は50Hz電源の場合で20mSである。第２
図ロは増巾整形回路８の出力パルスb1，b2…を示
しており、既述した通り、サイリスター雑音検出
器の検出信号から得られるものであり、サイリス
ター雑音a1，a2…と同位相である。このパルス
（サイリスター雑音と同位相のパルス）は、遅延
回路９によりサイリスター雑音の時間間隔だけ、
すなわち上記20mS（厳密には20mS−△ｔであり、
△ｔ＝２〜3mSである）だけ遅延されてゲートに
ゲートパルスとして注入される。このゲートパル
スg1，g2…は第２図ハに示されている。
の位相を示しており、サイリスターの作動上、サ
イリスター雑音a1，a2…は電源の一定の位相にお
いて生じる。而して、サイリスター雑音は電源に
同期して周期的に発生し、電源周波数１サイクル
に対し数箇（図では説明の便宜上１個としてい
る）の雑音を発生するから、サイリスター雑音の
時間間隔は50Hz電源の場合で20mSである。第２
図ロは増巾整形回路８の出力パルスb1，b2…を示
しており、既述した通り、サイリスター雑音検出
器の検出信号から得られるものであり、サイリス
ター雑音a1，a2…と同位相である。このパルス
（サイリスター雑音と同位相のパルス）は、遅延
回路９によりサイリスター雑音の時間間隔だけ、
すなわち上記20mS（厳密には20mS−△ｔであり、
△ｔ＝２〜3mSである）だけ遅延されてゲートに
ゲートパルスとして注入される。このゲートパル
スg1，g2…は第２図ハに示されている。
今、第２図イ〜ハにおいて、サイリスター雑音
a1が侵入してから20mS後にゲートパルスg1によ
りゲート６が開かれるから、次の20mS後に侵入
するサイリスター雑音a2は指示回路５には送入さ
れず、このサイリスター雑音a2の侵入後20mS後
には再度ゲート６がゲートパルスg2により開かれ
るから、更に、次の20mS後に侵入するサイリス
ター雑音a3も指示回路５には送入されず、以後、
このような繰り返しにより、その後のサイリスタ
ー雑音も指示回路に送入されることがない。これ
は、サイリスター雑音が一定位相のパルス雑音で
あることによる。
a1が侵入してから20mS後にゲートパルスg1によ
りゲート６が開かれるから、次の20mS後に侵入
するサイリスター雑音a2は指示回路５には送入さ
れず、このサイリスター雑音a2の侵入後20mS後
には再度ゲート６がゲートパルスg2により開かれ
るから、更に、次の20mS後に侵入するサイリス
ター雑音a3も指示回路５には送入されず、以後、
このような繰り返しにより、その後のサイリスタ
ー雑音も指示回路に送入されることがない。これ
は、サイリスター雑音が一定位相のパルス雑音で
あることによる。
上述した通り、本考案に係る部分放電測定装置
は、サイリスター雑音が電源に同期した一定位相
のパルスであることに着目して、そのサイリスタ
ー雑音を除去するものであり、サイリスター雑音
検出器、遅延回路、ゲートを付加するだけでよ
く、回路構成が簡単である。この場合、電圧印加
回路の試験用変圧器の一次側にサイリスター雑音
検出器を設けているので、供試体の部分放電の影
響を受けることなく、上記サイリスター雑音の除
去が可能である。
は、サイリスター雑音が電源に同期した一定位相
のパルスであることに着目して、そのサイリスタ
ー雑音を除去するものであり、サイリスター雑音
検出器、遅延回路、ゲートを付加するだけでよ
く、回路構成が簡単である。この場合、電圧印加
回路の試験用変圧器の一次側にサイリスター雑音
検出器を設けているので、供試体の部分放電の影
響を受けることなく、上記サイリスター雑音の除
去が可能である。
第１図は本考案に係る部分放電測定装置を示す
回路図、第２図イ、第２図ロ並びに第２図ハはそ
れぞれ第１図における回路箇所ａ，ｂ並びにｃに
おける電圧またはパルス波形を示す説明図であ
る。 図において、１は電圧印加回路、２は供試体、
３は検出回路、４は増巾回路、５は指示回路、７
はサイリスター雑音検出器、９は遅延回路であ
る。
回路図、第２図イ、第２図ロ並びに第２図ハはそ
れぞれ第１図における回路箇所ａ，ｂ並びにｃに
おける電圧またはパルス波形を示す説明図であ
る。 図において、１は電圧印加回路、２は供試体、
３は検出回路、４は増巾回路、５は指示回路、７
はサイリスター雑音検出器、９は遅延回路であ
る。
Claims (1)
- 供試体に電源を印加する電圧印加回路と放電検
出回路と増巾回路と指示回路とを有し、電圧印加
回路に生じるサイリスター雑音を検出するサイリ
スター雑音検出器を設け、増巾回路と指示回路と
の間にゲートを設け、サイリスター雑音検出器の
検出パルスをサイリスター雑音の繰り返し時間間
隔だけ遅延させる遅延回路を設け、該遅延パルス
をゲートパルスとして上記ゲートを開くことを特
徴とする部分放電測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8670083U JPS59191677U (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 部分放電測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8670083U JPS59191677U (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 部分放電測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59191677U JPS59191677U (ja) | 1984-12-19 |
| JPH0245824Y2 true JPH0245824Y2 (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=30216626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8670083U Granted JPS59191677U (ja) | 1983-06-06 | 1983-06-06 | 部分放電測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59191677U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0711553B2 (ja) * | 1985-07-19 | 1995-02-08 | 三菱電機株式会社 | 部分放電測定装置 |
| JPH0731223B2 (ja) * | 1985-11-22 | 1995-04-10 | 昭和電線電纜株式会社 | 位相検波回路 |
-
1983
- 1983-06-06 JP JP8670083U patent/JPS59191677U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59191677U (ja) | 1984-12-19 |
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