JPS5858032B2 - パルス幅測定方法 - Google Patents
パルス幅測定方法Info
- Publication number
- JPS5858032B2 JPS5858032B2 JP7125677A JP7125677A JPS5858032B2 JP S5858032 B2 JPS5858032 B2 JP S5858032B2 JP 7125677 A JP7125677 A JP 7125677A JP 7125677 A JP7125677 A JP 7125677A JP S5858032 B2 JPS5858032 B2 JP S5858032B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- break
- shot multi
- pulse width
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Landscapes
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はパルス幅測定方法に関し、特に入力信号に雑
音が重畳した場合、または量子化時に生じたパルスの割
れが存在する場合の測定方法に関するものである。
音が重畳した場合、または量子化時に生じたパルスの割
れが存在する場合の測定方法に関するものである。
パルス幅を測定する従来の方法では、信号パルスの立上
りと立下りとの間の時間を計数するために、入力信号に
重畳した雑音や量子化時のパルスの割れがある場合には
これらをも信号パルスの立上りまたは立下りとして誤っ
て判定し、１つのパルス幅を分割されたパルスのパルス
幅として測定するという欠点かあった。
りと立下りとの間の時間を計数するために、入力信号に
重畳した雑音や量子化時のパルスの割れがある場合には
これらをも信号パルスの立上りまたは立下りとして誤っ
て判定し、１つのパルス幅を分割されたパルスのパルス
幅として測定するという欠点かあった。
第１図は従来の方法の一例を示すブロック線図である。
第１図において１はスライサで、スライサ１は入力信号
たとえば入力ビデオ信号を量子化する。
たとえば入力ビデオ信号を量子化する。
２は立上り微分回路でスライサ１の出力パルスの立上り
点を微分し、このパルスをパルス幅測定の開始パルス１
０とする。
点を微分し、このパルスをパルス幅測定の開始パルス１
０とする。
３は立下り微分回路でスライサ１の出力パルスの立下り
点を微分し、このパルスをパルス幅測定の終了パルス１
１とする。
点を微分し、このパルスをパルス幅測定の終了パルス１
１とする。
４はクロック発生回路で、安定周波数のクロックパルス
９を発生し、５はパルスカウンタで測定開始パルス１０
と測定終了パルス１１とによって定められるゲートの期
間クロック９を計数する。
９を発生し、５はパルスカウンタで測定開始パルス１０
と測定終了パルス１１とによって定められるゲートの期
間クロック９を計数する。
したがってカウンタ５の計ｉ値がパルス幅を表わす。
またカウンタ５は第１図には示していないが適尚なリセ
ット回路を備えている。
ット回路を備えている。
第１図に示す回路では入力信号に重畳した雑音や量子化
時のパルスの割れも立上り微分回路２と立下り微分回路
３で検出され１つのパルス幅を分割されたパルスのパル
ス幅として測定する場合かある。
時のパルスの割れも立上り微分回路２と立下り微分回路
３で検出され１つのパルス幅を分割されたパルスのパル
ス幅として測定する場合かある。
これが第１図に示す従来の装置の欠点である。
この発明は従来の装置における上述の欠点を解消し、信
号に重畳した雑音や量子化時のパルスの割れが存在する
場合も誤った測定をしないパルス幅測定方法を提供する
ことを目的とするものである。
号に重畳した雑音や量子化時のパルスの割れが存在する
場合も誤った測定をしないパルス幅測定方法を提供する
ことを目的とするものである。
第２図はこの発明の一実施例を示すブロック線図であり
第２図において１−５．９〜１１は第１図に示す同一符
号と同−又は相当部分を示す。
第２図において１−５．９〜１１は第１図に示す同一符
号と同−又は相当部分を示す。
６と８はそれぞれワンショットマルチバイブレークで６
は再トリガ不可能なもの、８は再トリガ可能なものであ
り、７は遅延回路である。
は再トリガ不可能なもの、８は再トリガ可能なものであ
り、７は遅延回路である。
入力信号たとえはビデオ信号はスライサ１で量子化され
る。
る。
この量子化信号で再トリガ不可能なワンショットマルチ
パイブレ・−り６を駆動する。
パイブレ・−り６を駆動する。
このワンショットマルチバイブレーク６の出力は立、１
ニリ微分（２）路２で微分されて遅延回路７・＼入力さ
れて、再トリガ可能なワンショットマルチバイブレーク
８の準安定時間ｉｄ に等しい時間だけ遅延されて開始
パルス１０となる。
ニリ微分（２）路２で微分されて遅延回路７・＼入力さ
れて、再トリガ可能なワンショットマルチバイブレーク
８の準安定時間ｉｄ に等しい時間だけ遅延されて開始
パルス１０となる。
一方上記量子化信号は再トリガ可能なワンショットマル
チバイブレーク８を順次トリガしてその出力が立下り微
分回路３で微分されて終了パルス１１となる。
チバイブレーク８を順次トリガしてその出力が立下り微
分回路３で微分されて終了パルス１１となる。
第３図は第２図に示す実施例の動作タイムチャートの一
例である。
例である。
ａは入力パルス信号たとえばビデオパルス信号の一例、
ｂはスライサ１の出力、Ｃは再トリガ不可能なワンショ
ットマルチバイブレーク６の出力、ｄ、ｅ、ｆは再トリ
ガ可能なワンショットマルチバイブレーク８のトリガの
状況、ｔｄハワンショットマルナバイブレーク８の準安
定時間、ｇは再トリガ可能なワンショットマルチバイブ
レーク８の出力、ｈは開始パルス１０、ｉは終了パルス
１１．Ｊはカウンタ５でクロック９を計数するゲート信
号を示す。
ｂはスライサ１の出力、Ｃは再トリガ不可能なワンショ
ットマルチバイブレーク６の出力、ｄ、ｅ、ｆは再トリ
ガ可能なワンショットマルチバイブレーク８のトリガの
状況、ｔｄハワンショットマルナバイブレーク８の準安
定時間、ｇは再トリガ可能なワンショットマルチバイブ
レーク８の出力、ｈは開始パルス１０、ｉは終了パルス
１１．Ｊはカウンタ５でクロック９を計数するゲート信
号を示す。
第３図の例のように、量子化ビデオ信号すか分割されて
いても分割されたビデオ信号の間隔がワンショットマル
チバイブレークの準安定時間ｔｃｌ以下であれば、正し
いパルス幅が信号ｊにおいて再現されるので測定の娯り
なく正しいパルス幅を測定することができる。
いても分割されたビデオ信号の間隔がワンショットマル
チバイブレークの準安定時間ｔｃｌ以下であれば、正し
いパルス幅が信号ｊにおいて再現されるので測定の娯り
なく正しいパルス幅を測定することができる。
なお以上はパルス幅測定の場合について説明シたか、こ
の発明はこれに限らず、パルス列の入力時間を測定する
のに使用してもよい。
の発明はこれに限らず、パルス列の入力時間を測定する
のに使用してもよい。
この場合ワンショットマルチバイブレークの準安定時間
ｔｄをパルス列のパルス間隔以上の値に選択すれば良い
。
ｔｄをパルス列のパルス間隔以上の値に選択すれば良い
。
以上のようにこの発明によれば量子化パルス信号の分割
を無視できるため、入力パルスの振幅かかろうじて量子
化できる限界のものでも、パルス幅を測定できる利点が
ある。
を無視できるため、入力パルスの振幅かかろうじて量子
化できる限界のものでも、パルス幅を測定できる利点が
ある。
第１図は従来のパルス幅測定装置の一例を示すブロック
線図、第２図はこの発明の一実施例を示すブロック線図
、第３図は第２図の実施例における動作タイムチャート
である。 なお図中１はスライサ、２は立上り微分回路、３は立下
り微分回路、４はクロック発生回路、５はカウンタ、６
は再トリガ不可能なワンショットマルチバイブレーク、
７は遅延回路、８は再トリガ可能なワンショットマルチ
バイブレーク、９はクロック信号、１０は開始パルス信
号、１１は終了パルス信号である。 なお各図中同一符号は同−又は相当部分を示すものとす
る。
線図、第２図はこの発明の一実施例を示すブロック線図
、第３図は第２図の実施例における動作タイムチャート
である。 なお図中１はスライサ、２は立上り微分回路、３は立下
り微分回路、４はクロック発生回路、５はカウンタ、６
は再トリガ不可能なワンショットマルチバイブレーク、
７は遅延回路、８は再トリガ可能なワンショットマルチ
バイブレーク、９はクロック信号、１０は開始パルス信
号、１１は終了パルス信号である。 なお各図中同一符号は同−又は相当部分を示すものとす
る。
Claims (1)
- １ 再トリガできないワンショットマルチバイブレーク
を量子化したパルス信号の立上りでトリガする段階、再
トリガできるワンショットマルチバイブレークを上記パ
ルス信号の立下りでＩ−ＩＪガする段階、上記再トリガ
できないワンショットマルチバイブレークのトリガ点を
上記再トリガできるワンショットマルチバイブレークの
準安定時間に等しい時間だけ遅延させて測定開始パルス
を発生する段階、上記再トリガできるワンショットマル
チバイブレークの安定状態復帰点で測定終了パルスを発
生する段階、上記測定開始パルスから上記測定終了パル
スまでの時間を計測する段階をそなえたことを特徴とす
るパルス幅測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7125677A JPS5858032B2 (ja) | 1977-06-15 | 1977-06-15 | パルス幅測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7125677A JPS5858032B2 (ja) | 1977-06-15 | 1977-06-15 | パルス幅測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS545772A JPS545772A (en) | 1979-01-17 |
| JPS5858032B2 true JPS5858032B2 (ja) | 1983-12-23 |
Family
ID=13455440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7125677A Expired JPS5858032B2 (ja) | 1977-06-15 | 1977-06-15 | パルス幅測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5858032B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5006504A (en) * | 1989-08-28 | 1991-04-09 | At&T Bell Laboratories | Preparing superconducting ceramic materials |
| US4911799A (en) * | 1989-08-29 | 1990-03-27 | At&T Bell Laboratories | Electrodeposition of palladium films |
-
1977
- 1977-06-15 JP JP7125677A patent/JPS5858032B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS545772A (en) | 1979-01-17 |
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