JPH0245826Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0245826Y2 JPH0245826Y2 JP11794083U JP11794083U JPH0245826Y2 JP H0245826 Y2 JPH0245826 Y2 JP H0245826Y2 JP 11794083 U JP11794083 U JP 11794083U JP 11794083 U JP11794083 U JP 11794083U JP H0245826 Y2 JPH0245826 Y2 JP H0245826Y2
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- Japan
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- voltage
- probe
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- output
- divider circuit
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 32
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 26
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 11
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 5
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、耐電圧試験装置に係り、特に被試験
体とプローブとの接触確認および高電圧の出力確
認に関する。
体とプローブとの接触確認および高電圧の出力確
認に関する。
従来、耐電圧試験装置では、たとえば第１図に
示すように試験装置TEの高圧トランスTsの２次
巻線の一方の端子を電流検出抵抗Rsを介して接
地電位に接続し、この接地電位の端子P1をケー
ブルCbを介して被試験体、たとえばオシロスコ
ープTeの電源プラグに接続するようにしている。
そして上記高圧トランスTsの他方の端子P2をケ
ーブルCbおよびプローブPbを介して上記オシロ
スコープTeのケース等の金属露出部分に接触さ
せて試験を行なうようにしている。
示すように試験装置TEの高圧トランスTsの２次
巻線の一方の端子を電流検出抵抗Rsを介して接
地電位に接続し、この接地電位の端子P1をケー
ブルCbを介して被試験体、たとえばオシロスコ
ープTeの電源プラグに接続するようにしている。
そして上記高圧トランスTsの他方の端子P2をケ
ーブルCbおよびプローブPbを介して上記オシロ
スコープTeのケース等の金属露出部分に接触さ
せて試験を行なうようにしている。
ところでこのような耐電圧試験装置で耐電圧試
験を行なう場合、高電圧を供給されるプローブの
接触子が被試験体Teに接触したか否かの接触確
認およびプローブPbに実際に高電圧が供給され
ているか否かの高電圧の出力確認を行なうことが
望まれている。
験を行なう場合、高電圧を供給されるプローブの
接触子が被試験体Teに接触したか否かの接触確
認およびプローブPbに実際に高電圧が供給され
ているか否かの高電圧の出力確認を行なうことが
望まれている。
接触確認を行なうためには、たとえば被試験体
Teと接地電位との間に電圧計を介挿することに
より、この電圧計の指示からプローブPbが被試
験体Teに接触したことを確実に知ることができ
る。しかしながらこのようなものでは、被試験体
Teに予め電圧計を接続しておく必要があり、試
験作業が著しく繁雑になり実用的でない。
Teと接地電位との間に電圧計を介挿することに
より、この電圧計の指示からプローブPbが被試
験体Teに接触したことを確実に知ることができ
る。しかしながらこのようなものでは、被試験体
Teに予め電圧計を接続しておく必要があり、試
験作業が著しく繁雑になり実用的でない。
また高電圧の出力確認を行なうためには、故意
にプローブを接地電位に接触させればよい。この
ようにすれば高電圧が出力されている場合は、電
流検出抵抗Rsの端子間電圧が上昇して保護動作
がなされ、それによつて高電圧の出力を確認する
ことができる。しかしながらこのような手段で高
電圧が出力されていないことを発見した場合、そ
れまでに試験を行なつた被試験体は全て再試験を
行なう必要があり合理的でない。
にプローブを接地電位に接触させればよい。この
ようにすれば高電圧が出力されている場合は、電
流検出抵抗Rsの端子間電圧が上昇して保護動作
がなされ、それによつて高電圧の出力を確認する
ことができる。しかしながらこのような手段で高
電圧が出力されていないことを発見した場合、そ
れまでに試験を行なつた被試験体は全て再試験を
行なう必要があり合理的でない。
本考案は上記の事情に鑑みてなされたもので試
験装置側で接触確認および出力確認を行なうこと
ができ、作業性および試験の信頼性を著るしく向
上することができ、しかも作業者の安全性も高い
耐圧試験装置を提供することを目的とするもので
ある。
験装置側で接触確認および出力確認を行なうこと
ができ、作業性および試験の信頼性を著るしく向
上することができ、しかも作業者の安全性も高い
耐圧試験装置を提供することを目的とするもので
ある。
以下本考案の一実施例を第１図と同一部分に同
一符号を付与して第２図に示すブロツク図を参照
して詳細に説明する。すなわち高圧トランスTs
の２次巻線の一方の端子を端子P3を介して導出
し、この端子P3と上記２次巻線の他方の端子P2
との間に２個の抵抗R1，R2を直列に接続した第
１の分圧回路Dv1を介挿する。そして上記他方の
端子P2をケーブルCbを介してプローブPbの一方
の接触子N1に接続する。また上記抵抗R1，R2の
直列接続点をプローブPbの他方の接触子N2に接
続する。
一符号を付与して第２図に示すブロツク図を参照
して詳細に説明する。すなわち高圧トランスTs
の２次巻線の一方の端子を端子P3を介して導出
し、この端子P3と上記２次巻線の他方の端子P2
との間に２個の抵抗R1，R2を直列に接続した第
１の分圧回路Dv1を介挿する。そして上記他方の
端子P2をケーブルCbを介してプローブPbの一方
の接触子N1に接続する。また上記抵抗R1，R2の
直列接続点をプローブPbの他方の接触子N2に接
続する。
そして上記他方の端子P2と接地電位との間に
２個の抵抗R3，R4を直列に接続した第２の分圧
回路Dv2を介挿する。そしてこの第２の分圧回路
Dv2の分圧電圧を整流器Rfで整流した後ゲイン
N1の第１のバツフアアンプAP1を介して第１の
差動アンプDF1の非反転入力へ与える。また第１
の分圧回路Dv1の分圧点と接地電位との間に２個
の抵抗R5，R6を直列に接続した第３の分圧回路
Dv3を介挿する。そしてこの第３の分圧回路Dv3
の分圧電圧を整流器Rfで整流した後ゲインN2の
第２のバツフアアンプAP2を介して第１の差動ア
ンプDF1の反転入力へ与えて比較出力DF1putを得
る。
２個の抵抗R3，R4を直列に接続した第２の分圧
回路Dv2を介挿する。そしてこの第２の分圧回路
Dv2の分圧電圧を整流器Rfで整流した後ゲイン
N1の第１のバツフアアンプAP1を介して第１の
差動アンプDF1の非反転入力へ与える。また第１
の分圧回路Dv1の分圧点と接地電位との間に２個
の抵抗R5，R6を直列に接続した第３の分圧回路
Dv3を介挿する。そしてこの第３の分圧回路Dv3
の分圧電圧を整流器Rfで整流した後ゲインN2の
第２のバツフアアンプAP2を介して第１の差動ア
ンプDF1の反転入力へ与えて比較出力DF1putを得
る。
そして第２のバツフアアンプAP2の出力を第２
の差動アンプDF2の反転入力へ与え、この第２の
差動アンプDF2の非反転入力へは、可変電源PS
から参照電圧Vrefを与える。そしてこの第２の差
動アンプDF2の出力DF2putをアンドゲートAND
の一方の入力へ与え、この他方の入力へテスト開
始信号T.onを与えてこのアンドゲートANDを開
きテスト出力Tputを得るようにしている。
の差動アンプDF2の反転入力へ与え、この第２の
差動アンプDF2の非反転入力へは、可変電源PS
から参照電圧Vrefを与える。そしてこの第２の差
動アンプDF2の出力DF2putをアンドゲートAND
の一方の入力へ与え、この他方の入力へテスト開
始信号T.onを与えてこのアンドゲートANDを開
きテスト出力Tputを得るようにしている。
なお、端子P2の電圧VAに対して第１の分圧回
路Dv1の分圧電圧VBはたとえば10％だけ低くなる
ように抵抗R1，R2の値を設定する。また第２、
第３の分圧回路Dv2，Dv3の分圧比は等しくし、
第２のバツフアアンプAP2の増幅率を１とすると
第１のバツフアアンプAP1の増幅率N1は次の１）
式を満たすように設定する。
路Dv1の分圧電圧VBはたとえば10％だけ低くなる
ように抵抗R1，R2の値を設定する。また第２、
第３の分圧回路Dv2，Dv3の分圧比は等しくし、
第２のバツフアアンプAP2の増幅率を１とすると
第１のバツフアアンプAP1の増幅率N1は次の１）
式を満たすように設定する。
R1／R1＋R2＜N1＜１ ……１）
したがつて、第１の分圧回路Dv1の抵抗R1，R2
を９：１の比に設定したとすれば第１のバツフア
アンプAP1の増幅率N1を0.9〜１の範囲で、たと
えば0.95に設定すればよい。
を９：１の比に設定したとすれば第１のバツフア
アンプAP1の増幅率N1を0.9〜１の範囲で、たと
えば0.95に設定すればよい。
また第２の差動アンプDF2の非反転入力へ与え
る参照電圧Vrefは、第１の分圧回路Dv1の分圧電
圧の略1/2程度とすればよい。
る参照電圧Vrefは、第１の分圧回路Dv1の分圧電
圧の略1/2程度とすればよい。
このような構成において耐圧試験を行なう場
合、プローブPbの接触確認および高電圧の出力
確認は次のように行なえばよい。
合、プローブPbの接触確認および高電圧の出力
確認は次のように行なえばよい。
プローブを被試験体から離した状態で、
DF1put＝Ｈ……正常
Tput＝Ｈ……高電圧出力確認
プローブを被試験体に当接した状態で
DF1put＝Ｌ……接触確認
DF1put＝Ｈ……接触不良
Tput＝Ｈ……高電圧出力確認
Tput＝Ｌ……高電圧が出力されていない
したがつて上記），）の状態における第１
の差動アンプDF1の出力DF1put＝、アンドゲート
ANDの出力Tputの変化からプローブの接触確認
および高電圧の出力確認を行なうことができる。
の差動アンプDF1の出力DF1put＝、アンドゲート
ANDの出力Tputの変化からプローブの接触確認
および高電圧の出力確認を行なうことができる。
このようにすればプローブPbは一対の接触子
N1，N2を必要とするが、その電圧差は小さくで
きる。したがつて、プローブPbの構造を簡単に
でき、その製作も容易である。またプローブPb
の接触確認および高電圧の出力確認を行なえ、耐
電圧試験の試験結果の信頼性も高く、作業性も良
好である。
N1，N2を必要とするが、その電圧差は小さくで
きる。したがつて、プローブPbの構造を簡単に
でき、その製作も容易である。またプローブPb
の接触確認および高電圧の出力確認を行なえ、耐
電圧試験の試験結果の信頼性も高く、作業性も良
好である。
また高電圧の出力確認を行なう可変電源PSの
参照電圧Vrefは第１の分圧回路Dv1の分圧電圧VB
の略1/2程度に対応する電圧に設定すればよい。
したがつて参照電圧Vrefを厳密に校正しなくても
よいので調整が容易でまた高圧トランスTsの２
次出力電圧の変動時も誤動作することがない。同
様に第１の差動アンプDF1は第２、第３の分圧回
路Dv2，Dv3の分圧電圧を相対的に比較するよう
にしているので高圧トランスTsの２次出力電圧
の変動時も誤動作することなくプローブPbの被
験体Teへの接触を確実に検出することができる。
参照電圧Vrefは第１の分圧回路Dv1の分圧電圧VB
の略1/2程度に対応する電圧に設定すればよい。
したがつて参照電圧Vrefを厳密に校正しなくても
よいので調整が容易でまた高圧トランスTsの２
次出力電圧の変動時も誤動作することがない。同
様に第１の差動アンプDF1は第２、第３の分圧回
路Dv2，Dv3の分圧電圧を相対的に比較するよう
にしているので高圧トランスTsの２次出力電圧
の変動時も誤動作することなくプローブPbの被
験体Teへの接触を確実に検出することができる。
なお本考案は上記実施例に限定されるものでは
なく、たとえば第１、第２のバツフアアンプ
AP1，AP2の増幅率を等しくし、第２、第３の分
圧回路Dv2，Dv3の分圧比を異ならせるようにし
てもよいし、上記増幅率および上記分圧比を共に
異ならせて同様の効果を奏するようにしてもよ
い。
なく、たとえば第１、第２のバツフアアンプ
AP1，AP2の増幅率を等しくし、第２、第３の分
圧回路Dv2，Dv3の分圧比を異ならせるようにし
てもよいし、上記増幅率および上記分圧比を共に
異ならせて同様の効果を奏するようにしてもよ
い。
また上記実施例では第２のバツフアアンプAP2
の出力を第２の差動アンプDF2で参照電圧Vrefと
比較するようにしたが、第１のバツフアアンプ
AP1の出力を参照電圧Vrefと比較するようにして
もよいことは勿論である。
の出力を第２の差動アンプDF2で参照電圧Vrefと
比較するようにしたが、第１のバツフアアンプ
AP1の出力を参照電圧Vrefと比較するようにして
もよいことは勿論である。
以上詳述したように本考案は、高圧トランスの
２次巻線の一端を接地電位に接続し、他端を一対
の接触子を有するプローブの一方の接触子に接続
し、かつ上記２次巻線の端子間電圧を第１の分圧
回路で分圧して他方の接触子へ与えてこの一対の
接触子の電位をそれぞれ第２、第３の分圧回路で
分圧して第１の差動アンプへ与えてこの一対の接
触子間の開閉による上記分圧電圧の相対比の変化
を比較結果として出力するとともに上記第２、第
３の分圧回路の一方の分圧出力を予め設定した参
照電圧と比較してプローブに高圧トランスの２次
側出力電圧が印加されていることを確認する信号
を出力する第２の差動アンプを設けたものであ
る。したがつてプローブの被試験体に対する接触
確認および高電圧の出力確認を容易に行なえ、作
業性も良好で試験結果の信頼性も向上でき、しか
も作業者の安全性も高く、高電圧の変動に対する
誤動作の虞も少ない耐電圧試験装置を提供するこ
とができる。
２次巻線の一端を接地電位に接続し、他端を一対
の接触子を有するプローブの一方の接触子に接続
し、かつ上記２次巻線の端子間電圧を第１の分圧
回路で分圧して他方の接触子へ与えてこの一対の
接触子の電位をそれぞれ第２、第３の分圧回路で
分圧して第１の差動アンプへ与えてこの一対の接
触子間の開閉による上記分圧電圧の相対比の変化
を比較結果として出力するとともに上記第２、第
３の分圧回路の一方の分圧出力を予め設定した参
照電圧と比較してプローブに高圧トランスの２次
側出力電圧が印加されていることを確認する信号
を出力する第２の差動アンプを設けたものであ
る。したがつてプローブの被試験体に対する接触
確認および高電圧の出力確認を容易に行なえ、作
業性も良好で試験結果の信頼性も向上でき、しか
も作業者の安全性も高く、高電圧の変動に対する
誤動作の虞も少ない耐電圧試験装置を提供するこ
とができる。
第１図は従来の耐電圧試験装置による耐圧試験
を説明するブロツク図、第２図は本考案の一実施
例を示すブロツク図である。 TE……試験装置、Ts……高圧トランス、Pb…
…プローブ、Te……被試験体、Dv1，Dv2，Dv3
……分圧回路、AP1，AP2……バツフアアンプ、
DF1，DF2……差動アンプ。
を説明するブロツク図、第２図は本考案の一実施
例を示すブロツク図である。 TE……試験装置、Ts……高圧トランス、Pb…
…プローブ、Te……被試験体、Dv1，Dv2，Dv3
……分圧回路、AP1，AP2……バツフアアンプ、
DF1，DF2……差動アンプ。
Claims (1)
- 高圧トランスの２次巻線の一端を電流検出抵抗
を介して接地電位に接続するとともに他端を一対
の接触子を有するプローブの一方の接触子に接続
した試験装置と、この高圧トランスの２次巻線の
端子間に介挿されこの端子間電圧を分圧した分圧
電圧を上記プローブの他方の接触子へ与える第１
の分圧回路と、上記プローブの一方の接触子の電
位を分圧する第２の分圧回路と、上記プローブの
他方の接触子の電位を分圧する第３の分圧回路
と、上記第２の分圧回路の分圧電圧を第１のバツ
フアアンプを介して一方の入力へ与えられ上記第
３の分圧回路の分圧電圧を第２のバツフアアンプ
を介して他方の入力へ与えられ上記プローブの一
対の接触子間の開閉による上記第２、第３の分圧
回路の分圧電圧の相対比の変化を比較結果として
出力する第１の差動アンプと、上記第１、第２の
バツフアアンプの一方の出力と予め設定した参照
電圧とを比較し上記プローブに高圧トランスの２
次側出力電圧が印加されていることを確認する信
号を比較結果として出力する第２の差動アンプと
を具備することを特徴とする耐電圧試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11794083U JPS6025978U (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 耐電圧試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11794083U JPS6025978U (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 耐電圧試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6025978U JPS6025978U (ja) | 1985-02-21 |
| JPH0245826Y2 true JPH0245826Y2 (ja) | 1990-12-04 |
Family
ID=30271289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11794083U Granted JPS6025978U (ja) | 1983-07-28 | 1983-07-28 | 耐電圧試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6025978U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0635186Y2 (ja) * | 1988-06-03 | 1994-09-14 | シャープ株式会社 | 電子機器の耐圧試験装置 |
| JP5291860B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2013-09-18 | 日置電機株式会社 | 絶縁耐電圧試験装置 |
-
1983
- 1983-07-28 JP JP11794083U patent/JPS6025978U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6025978U (ja) | 1985-02-21 |
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