JPH0246666B2 - - Google Patents

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JPH0246666B2
JPH0246666B2 JP62304029A JP30402987A JPH0246666B2 JP H0246666 B2 JPH0246666 B2 JP H0246666B2 JP 62304029 A JP62304029 A JP 62304029A JP 30402987 A JP30402987 A JP 30402987A JP H0246666 B2 JPH0246666 B2 JP H0246666B2
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JP
Japan
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substrate
vacuum
evaporation
thin film
evaporation sources
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP62304029A
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English (en)
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JPH01147056A (ja
Inventor
Hiroshi Takahashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Eikoo Enjiniaringu Kk
Original Assignee
Eikoo Enjiniaringu Kk
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Publication date
Application filed by Eikoo Enjiniaringu Kk filed Critical Eikoo Enjiniaringu Kk
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はは、真空蒸着法或は分子線エピタキシ
ー法等により、基板上に薄膜を形成する真空薄膜
形成装置に関する。
[従来の技術] 従来に於ける一般的な真空薄膜形成装置の構成
を、第3図に示した真空蒸着装置を例に説明す
る。真空槽1の中に、薄膜の原料を蒸発させる蒸
発源2,3と、この蒸発源に向けて基板5を装着
する基板ホルダ4とが設置されている。蒸発源
2,3は例えば、電子銃を備え、坩堝の中に蒸発
材料に電子線を照射して蒸発させる、いわゆる電
子衝撃型の蒸発源2や、クヌードセンセル等、抵
抗加熱型の蒸発源3等が用いられ、これらの周囲
は、何れもシユラウドと呼ばれる液体窒素等の冷
媒を用いた冷却器6で囲まれる。
前記真空槽1にはロードロツク室(試料準備
室)と呼ばれる補助真空槽7が設けられ、ここか
らトランスフアーロツド8により基板5を導入
し、これを基板ホルダ4に装着する。また同様に
して、ここから基板5を真空槽1の外側に取り出
す。
こうした真空装置に於て、基板5に薄膜を形成
するときは、真空槽1を10-9Torr程度の気圧に
まで減圧し、蒸発源2,3から蒸発材料を基板5
へ向けて蒸発させ、これを基板5の表面に被着
し、成膜させる。
[発明が解決しようとする問題点] 前記従来の真空薄膜形成装置において、成膜物
質が被着する基板5の表面の周囲の雰囲気或は物
理的な状態は、その基板5が置かれた真空槽1の
中の雰囲気或は物理的な状態に依存し、真空槽1
と独立して、その周囲の雰囲気や物理的な状態を
任意に形成することが困難であつた。即ち、真空
蒸着法や分子線エピタキシー法では、蒸発源2,
3の周囲に高い真空度を必要とし、従つて、真空
槽1を一体の空間で形成している従来のもので
は、基板5の表面も必然的にこうした高真空状態
下に置かれる。
このため例えば、特定のガス雰囲気中で、基板
5に被着した成膜物質をアニーリングし、反応さ
せる場合に、基板5を真空槽1の中に置いたまま
ではこれを行なうことができず、前記補助真空槽
7等に基板5を一旦待避させてから行なわなけれ
ばならない。しかし、これでは蒸着からアニーリ
ングまでに時間と手数がかかるという欠点があ
る。また同様にして、基板5に被着した成膜物質
をプラズマ中で反応させたり、或はCVD法を用
いて薄膜を気相成長させる場合、やはり基板5
を、一旦こうした状態を形成することができる別
の槽に移してから行なわなければならなかつた。
本発明は、前記従来の問題点を解決することを
目的とする。
[問題を解決するための手段] 即ち、前記本発明の目的は、真空槽11内に蒸
発源12,13と、この蒸発源12,13へ向け
て基板15を装着した真空薄膜形成装置に於て、
基板15の前面側に、その周囲を囲む隔壁26を
形成すると共に、前記蒸発源12,13から基板
表面に至る成膜物質の照射経路上に、前記蒸発源
12,13から発射された成膜物質の分子が通過
する貫通孔28を有するオリフイス27を配置
し、これらオリフイス27と前記隔壁26とによ
り、基板15の表面を含む小空間21を区画して
成ることを特徴とする真空薄膜形成装置により達
成できる。
[作用] 前記真空薄膜形成装置では、基板15表面を含
む小空間21が隔壁26とオリフイス27によつ
て、真空槽11から区画されているため、真空槽
11と独立して同基板15の表面の周囲の雰囲気
或は物理的状態を独自に形成することができる。
例えば、前記小空間21にのみ特定のガスを導入
したり、さらにその中に電場を形成してプラズマ
状態とすることができる。
他方、蒸発源12,13から発射される成報物
質の分子は、オリフイス27に形成された貫通孔
28を通して基板15の表面に被着させることが
できる。
従つて、基板15表面に成膜物質を被着させた
直後、或はそれと同時に、特定ガス雰囲気、或は
特定な物理的な状態の下で被着した物質を反応さ
せることも可能になる。
[実施例] 次ぎに、本発明を真空蒸着装置に適用した第1
図を参照しながら、本発明の実施例とその望まし
い実施態様について説明する。
真空槽11は隔壁17によつて蒸発源室19と
基板室20側の2つの部屋に仕切られ、前者の蒸
発源室19には蒸発源12,13が、後者の基板
室20には基板ホルダ14が導入される。この真
空槽11には少くとも前記蒸発源室19側に減圧
手段としての真空ポンプ(図示せず)を連結する
が、真空ポンプはできるだけ蒸発源室19と基板
室20との双方に接続するのが望ましい。
第1図の実施例に於て、蒸発源12として、坩
堝に収納した蒸着材料に電子線を照射して蒸発さ
せる、いわゆる電子衝撃方式のものが示されてお
り、また蒸発源13としては、クヌードセンセル
等、電気抵抗加熱により、蒸着材料を加熱、蒸発
させる形式のものが示されている。これら蒸発源
12,13は、シユラウドと呼ばれる冷却器16
で囲まれていると共に、その蒸気発射経路上に各
シヤツタ23が設けられている。
前記隔壁17の蒸発源12,13から基板15
に至る蒸発経路上にゲートバルブ18が設けら
れ、図示の実施例ではこのゲートバルブ18が真
空槽11の側方に設けられた駆動機構25によつ
て開閉操作される。このゲートバルブ18が開く
ことによつて、基板室20と蒸発源室19とが通
じると共に、蒸発源12,13から基板15に至
る蒸着材料の蒸発経路が開放される。
他方、基板ホルダ14は、その下面に基板15
を着脱自在に保持する。この基板15の表面の周
囲は隔壁26によつて囲まれていると共に、この
隔壁26の下縁によつて囲まれた部分は、前記蒸
発源12,13から基板15の表面に至る成膜物
質の照射経路となつており、ここがオリフイス2
7で閉じられている。これによつて、基板15の
表面側は、真空槽11の中で独立した小空間21
として区画されている。
前記オリフイス27は、例えば第2図で示すよ
うに、多数の貫通孔28を有し、これを通して蒸
発源12,13から基板15表面への成膜物質の
照射を可能としている。さらに、成膜物質の分子
が基板15に照射されるときは、この貫通孔28
が耐えず移動するのが望ましい。具体的には、駆
動機構25によつて前記オリフイス27そのもの
を往復、回転させる。これによつて、基板15の
表面に、成膜物質が一様に被着する。
第1図に於て、29は前記小空間21に特定の
ガスを導入するガス導入系であり、ここから導入
したガスにより、前記小空間21を希薄ガス雰囲
気にすることができる。さらに、別途電極に設け
るか、或は前記隔壁26を電極として、小空間2
1に電場を形成することによつて、小空間21を
プラズマ状態とすることもできる。30は、基板
15の背後に設置したヒータであり、これによつ
て基板15を加熱し、その表面での反応を促進さ
せる。このヒータ30は、密閉形とすることによ
り、真空槽11は殆ど熱的影響を与えずに、基板
15のみを加熱できる。
なお、以上の実施例では、真空薄膜形成装置の
例として、真空蒸着装置が示されているが、分子
線エピタキシー装置等でも、同様にして本発明を
実施することができるのは言うまでもない。
[発明の効果] 以上説明した通り、本発明によれば、真空槽1
1と独立して、基板15の表面の雰囲気、物理的
状態等を形成、制御することができるため、基板
15への成膜直後、或はそれと同時に必要な状態
を形成しながら、成膜物質のガス分子との反応が
可能になる等、従来不可能とされていた成膜条件
が容易に整備できる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示す薄膜形成装置の
縦断側面図、第2図は同実施例に於て使用される
オリフイス27の一例を示す斜視図、第3図は従
来例を示す薄膜形成装置の縦断側面図である。 11……真空槽、12,13……蒸発源、14
……基板ホルダ、15……基板、21……小空
間、26……隔壁、27……オリフイス、28…
…貫通孔。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 真空槽11内に蒸発源12,13と、この蒸
    発源12,13へ向けて基板15を装着した真空
    薄膜形成装置に於て、基板15の前面側に、その
    周囲を囲む隔壁26を形成すると共に、前記蒸発
    源12,13から基板表面に至る成膜物質の照射
    経路上に、前記蒸発源12,13から発射された
    成膜物質の分子が通過する貫通孔28を有するオ
    リフイス27を配置し、これらオリフイス27と
    前記隔壁26とにより、基板15の表面を含む小
    空間21を区画して成ることを特徴とする真空薄
    膜形成装置。 2 特許請求の範囲第1項または第2項におい
    て、前記オリフイス27の貫通孔28が耐えず移
    動するものからなる真空薄膜形成装置。
JP30402987A 1987-11-30 1987-11-30 真空薄膜形成装置 Granted JPH01147056A (ja)

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JP30402987A JPH01147056A (ja) 1987-11-30 1987-11-30 真空薄膜形成装置

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JPH01147056A JPH01147056A (ja) 1989-06-08
JPH0246666B2 true JPH0246666B2 (ja) 1990-10-16

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0266161A (ja) * 1987-12-04 1990-03-06 Res Dev Corp Of Japan 真空蒸着装置
US5077875A (en) * 1990-01-31 1992-01-07 Raytheon Company Reactor vessel for the growth of heterojunction devices

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58153775A (ja) * 1982-03-08 1983-09-12 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 薄膜の製造方法

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JPH01147056A (ja) 1989-06-08

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