JPH0247503A - 線幅測定器 - Google Patents
線幅測定器Info
- Publication number
- JPH0247503A JPH0247503A JP19934588A JP19934588A JPH0247503A JP H0247503 A JPH0247503 A JP H0247503A JP 19934588 A JP19934588 A JP 19934588A JP 19934588 A JP19934588 A JP 19934588A JP H0247503 A JPH0247503 A JP H0247503A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 abstract 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置製造用の線幅測定器に関し、特に、
光学的なコントラストの差異を光検知器で検出し試料の
線幅を測定する線幅測定器に関する。
光学的なコントラストの差異を光検知器で検出し試料の
線幅を測定する線幅測定器に関する。
従来、この種の線幅測定器は第3図に示すように、基本
的には試料台4上の試料5の像を、対物レンズ3、接眼
レンズ2を用いて光検知器1に結像させており、その際
の焦点合わせは駆動装置6bにて試料台4を上下させ試
料5と対物レンズ3の間の距離を変化させて行っていた
。
的には試料台4上の試料5の像を、対物レンズ3、接眼
レンズ2を用いて光検知器1に結像させており、その際
の焦点合わせは駆動装置6bにて試料台4を上下させ試
料5と対物レンズ3の間の距離を変化させて行っていた
。
前述した従来の線幅測定器は、試料台4を機械的に人力
又はモーターによって、歯車等の組み合わせで上下させ
ていたが、試料台4は微細な半導体装置の線幅を測定す
るなめに高精度な平坦度傾き精度1位置精度が要求され
、かなりの重量が必要であった。そのため、歯車等の摩
耗が激しく、その位置精度を低下させていた。この位置
精度の低下は、測定時の光学系の焦点ズレをひきおこし
、測定精度を低下させ、製品の歩留り及びその品質を低
下させるという重大な問題があった。
又はモーターによって、歯車等の組み合わせで上下させ
ていたが、試料台4は微細な半導体装置の線幅を測定す
るなめに高精度な平坦度傾き精度1位置精度が要求され
、かなりの重量が必要であった。そのため、歯車等の摩
耗が激しく、その位置精度を低下させていた。この位置
精度の低下は、測定時の光学系の焦点ズレをひきおこし
、測定精度を低下させ、製品の歩留り及びその品質を低
下させるという重大な問題があった。
本発明の目的は前記課題を解決した線幅測定器を提供す
ることにある。
ることにある。
前述した従来の線幅測定器に対し、本発明は光検知器と
の間の光学的距離を変化させて焦点合わせを行うという
相違点を有する。
の間の光学的距離を変化させて焦点合わせを行うという
相違点を有する。
前記目的を達成するため、本発明は試料の光学的なコン
トラストの差異により試料の線幅を測定する線幅測定器
において、試料の像を光検知器上に結像させるレンズ又
はミラーと、該レンズ又はミラーと光検知器との間の光
路長を変化させて焦点合わせを行う機構とを有するもの
である。
トラストの差異により試料の線幅を測定する線幅測定器
において、試料の像を光検知器上に結像させるレンズ又
はミラーと、該レンズ又はミラーと光検知器との間の光
路長を変化させて焦点合わせを行う機構とを有するもの
である。
以下、本発明の実施例を図により説明する。
(実施例1)
第1図は本発明の実施例1を示す構成図である。
図において、接眼レンズ2、対物レンズ3を介して試料
台4上の試料5の像を光検知器1に結像させる構成は従
来と同じである。
台4上の試料5の像を光検知器1に結像させる構成は従
来と同じである。
本発明は接眼レンズ2(又は対物レンズ3)を光検知器
1に対して移動させ、その光路長を変化させることによ
り焦点合わせを行う駆動装置6aを装備したものである
。
1に対して移動させ、その光路長を変化させることによ
り焦点合わせを行う駆動装置6aを装備したものである
。
実施例において、焦点合わせの際は接眼レンズ2(又は
対物レンズ3)を移動させて焦点合わせを行う。
対物レンズ3)を移動させて焦点合わせを行う。
本発明では移動する部分が試料台4と比べて軽量のレン
ズ2,3であり、試料台4の重量に起因する歯車等の摩
耗が少ない。
ズ2,3であり、試料台4の重量に起因する歯車等の摩
耗が少ない。
(実施例2)
第2図は本発明の実施例2を示す構成図である。
本実施例は凹状ミラー7.8を光学系として使用した場
合であり、第1図と同様に駆動装置6aは接眼ミラー7
又は対物ミラー8につけられており、焦点合わせは接眼
ミラー7又は対物ミラー8を移動させて行う。
合であり、第1図と同様に駆動装置6aは接眼ミラー7
又は対物ミラー8につけられており、焦点合わせは接眼
ミラー7又は対物ミラー8を移動させて行う。
この実施例では光学系として鏡を使用するため、色収差
の影響を受けないという利点かある。
の影響を受けないという利点かある。
以上説明したように本発明は焦点合わせの際の移動部を
重い試料台から軽いレンズ又はミラーにすることにより
、駆動部分の摩耗を防ぎ、測定精度を向上させる効果が
ある4又、モーター等で自動的に焦点を合わせる場合に
も移動部が軽いため、焦点合わせのための時間を短縮で
き、位置決め精度の向上を図ることができる効果を有す
る。
重い試料台から軽いレンズ又はミラーにすることにより
、駆動部分の摩耗を防ぎ、測定精度を向上させる効果が
ある4又、モーター等で自動的に焦点を合わせる場合に
も移動部が軽いため、焦点合わせのための時間を短縮で
き、位置決め精度の向上を図ることができる効果を有す
る。
第1図は本発明の実施例1を示す構成図、第2図は本発
明の実施例2を示す構成図、第3図は従来例を示す構成
図である。 1・・・光検知器 2・・・対物レンズ3・・
接眼レンズ 4・・・試料台5・・・試料
6a・・・駆動装置7・・・接眼ミラー
8・・・対物ミラーそど柊 5r:、:、q) を姑ツ 第1図 第2図 〜20− 第3図
明の実施例2を示す構成図、第3図は従来例を示す構成
図である。 1・・・光検知器 2・・・対物レンズ3・・
接眼レンズ 4・・・試料台5・・・試料
6a・・・駆動装置7・・・接眼ミラー
8・・・対物ミラーそど柊 5r:、:、q) を姑ツ 第1図 第2図 〜20− 第3図
Claims (1)
- (1)試料の光学的なコントラストの差異により試料の
線幅を測定する線幅測定器において、試料の像を光検知
器上に結像させるレンズ又はミラーと、該レンズ又はミ
ラーと光検知器との間の光路長を変化させて焦点合わせ
を行う機構とを有することを特徴とする線幅測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19934588A JPH0247503A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 線幅測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19934588A JPH0247503A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 線幅測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0247503A true JPH0247503A (ja) | 1990-02-16 |
Family
ID=16406227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19934588A Pending JPH0247503A (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 線幅測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0247503A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61124809A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-12 | Hitachi Ltd | 検査方法および検査装置 |
| JPS62212532A (ja) * | 1986-03-14 | 1987-09-18 | Shimadzu Corp | 焦電型リニアアレーセンサーを用いた撮像装置 |
-
1988
- 1988-08-10 JP JP19934588A patent/JPH0247503A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61124809A (ja) * | 1984-11-22 | 1986-06-12 | Hitachi Ltd | 検査方法および検査装置 |
| JPS62212532A (ja) * | 1986-03-14 | 1987-09-18 | Shimadzu Corp | 焦電型リニアアレーセンサーを用いた撮像装置 |
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