JPH0248631A - 光ビーム走査方法及びその装置 - Google Patents

光ビーム走査方法及びその装置

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JPH0248631A
JPH0248631A JP19968988A JP19968988A JPH0248631A JP H0248631 A JPH0248631 A JP H0248631A JP 19968988 A JP19968988 A JP 19968988A JP 19968988 A JP19968988 A JP 19968988A JP H0248631 A JPH0248631 A JP H0248631A
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light beam
electrostrictive element
source unit
light source
displacement
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JP19968988A
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Sei Yoda
聖 依田
Akihiko Nakamura
明彦 中村
Masahiro Isoda
将博 磯田
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Juki Corp
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Juki Corp
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  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、各種の測定機器や電子機器に用いられる光
ビーム走査方法及びその装置に関する。
〔従来の技術〕
表面検査装置1例えば被測定物の形状(距離)を測定す
る光ビーム走査装置では、バーコードリーダ、レーザプ
リンタあるいはファクシミリ等に用いられる光ビーム走
査機構を応用して光ビームを照射するようにし、その光
ビームにより被測定物上に光スポットを生じさせ、この
光スポットを受光レンズにより半導体装置検出器の受光
面上に結像させることにより、被測定物までの距離を測
定する方法を用いることが考えられる。
第16図はレーザプリンタの光学系を応用した光ビーム
走査装置の概略を示すもので、半導体レーザ101で発
生して投光レンズ102を通ったレーザビームは、シリ
ンドリカルレンズ103を通って回転するポリゴンミラ
ー104の反射により走査され、球面レンズ105.f
θレンズ106を通って被測定物107の表面に光ビー
ムを走査する。
また、第17図はガルバノメータを用いた光ビーム走査
装置を示すもので、ガルバノメータ111の回転軸にミ
ラー112を固設し、このガルバノメータ111の振れ
によりミラー112を回動させて、図示しない光源から
の光ビームを走査している。
このように、従来考えられる光ビーム走査装置は、半導
体レーザ101.投光レンズ102.シリンドリカルレ
ンズ103.ポリゴンミラー104またはガルバノメー
タ111のミラー1129球面レンズ105.fθレン
ズ106等で構成される光ビーム走査機構を用いるのが
普通であった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、このような光ビーム走査装置では、いず
れもミラーの回転により光ビームを走査するので、光ビ
ームを高速かつ高精度で走査制御するのに限界があるば
かりか、立上り時間も遅いという問題点があった。
さらに、機構が複雑であり、光源とミラー等の光軸や角
度を合わせるためのユニットの組付けを高精度で行なう
ことが難しく、多大な組付は工数がかかるのでコスト高
になるという問題がある。
この発明はこのような問題点を解決し、簡単な機構で高
速かつ高精度な光ビーム走査が可能な光ビーム走査装置
を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するため、この発明による光ビーム走
査方法は、光ビームを発する光源ユニットを揺動自在に
支持し、この光源ユニットの揺動中心から外れた点に、
印加電圧に応じて寸法歪を発生する電歪素子を有する一
端固定の変位部材の他端を圧接させ、電歪素子にその単
位変位量に対応する電圧を所定の変位量に達するまで所
定の時間間隔で積算して印加するものである。
また、この発明による光ビーム走査装置は、上記の方法
を実施するための装置であって、光ビームを発する光源
ユニットと、この光源ユニットを照射方向可変に揺動自
在に支持する支持部材と、この支持部材と光源ユニット
との間に介在して印加電圧に応じて寸法歪を発生する電
歪素子と、光源ユニットを電歪素子に押圧する付勢手段
とを有し、電歪素子の変位により光源ユニットを揺動さ
せて光ビームを走査するようにする。
さらに、一端に頚部を介して接続した頭部を、他端に尾
部を有する支持部材と、この支持部材の頭部と尾部との
間に介在して印加電圧に応じて寸法歪を発生する電歪素
子と、頭部の先端に接合した光ビームを発する光源ユニ
ットとを有し、電歪素子の変位により頚部を支点として
光源ユニットを揺動させて光ビームを走査するようにす
ることも可能である。
〔作 用〕
上記のように構成することにより、電歪素子に電圧を印
加すると、その電圧に応じて電歪素子が変位し、光源ユ
ニットが接動して光ビームの照射方向が変化する。
電歪素子の寸法は印加する電圧の大きさによって正確に
変化するので、この印加電圧を制御することにより光ビ
ームを所要の範囲で高速かつ高精度に走査することがで
きる。
そして、この電歪素子として積層圧電素子を用いること
により、応答性が早く無騒音で電力消費が少ない光ビー
ム走査装置を得ることができる。
〔実施例〕
以下、添付図面の第1図乃至第6図を参照してこの発明
の詳細な説明するが、これに先立ち。
この発明の使用する電歪素子について第7図を用いて簡
単に説明する。
印加電圧に応じて寸法歪を発生する電歪素子としてバイ
モルフ圧電素子と積層圧電素子の2種類のものが実用化
されている。
前者は第7図(a)に示すように、表裏両面に電極1a
、ibを形成した圧電板2a、2bを接合し、各111
極1a、lb間に電圧を印加するようにしたものであり
、低電圧で比較的大きな歪を発生することができるが、
応答速度が遅く1発生する力が小さく、かつ入力電気エ
ネルギーの機械エネルギーへの変換効率が小さいという
欠点がある。
一方、後者は同図(b)に示すように、両面に電極3a
、5bを形成した多数の圧電体4を接着剤等で積層して
接合し、各圧電体4の両側の各電極3a、”)b間に電
圧を印加するようにしたものである。
この積層圧電素子はバイモルフ圧電素子に比して歪の大
きさは小さいが、その精度が高く発生応力が大きくて応
答性も早く、熱や騒音の発生が極めてiJsさく、かつ
入力電気エネルギーの機械エネルギーへの変換効率が大
きいので消費電力も小さくてすむという長所があり、さ
らに電極間距離を小さくすることにより駆動電圧を低く
することが可能である。したがって、以下に述べる実施
例においても電歪素子としてこの積層圧電素子を用いる
のが望ましい。
第1図及び第2図はこの発明の一実施例を示すものであ
る。
この光ビーム走査装置は、支持部材11にフレーム11
8.11aを互いに平行して突設し、フレーム11a、
11aの先端部に端板12を固設すると共に、フレーム
11a、llaの先端部近くの対応する位置に軸孔13
.13を設け、この軸孔13,13に第2図の矢示方向
がら尖端部15aを持っ回動軸15,15を回動自在に
嵌装し、尖端部15aを光ビームを発生する光源ユニッ
ト14の外筒14cの側面に設けた軸受部14dで軸支
すると共に、回動軸15.15をフレームlla、l?
aの外側面において弾性のあるEリング150等で係着
して、回動軸の遊びを防止している。
また、光源ユニット14と端板12との間に圧縮ばね1
6を係着(後述する変位部材10の軸線上に設けるのが
好ましい)して、光源ユニット14を第1図で右旋方向
に付勢している。ここで。
圧縮ばね16は板ばねでも良く、または変位部材10方
向に付勢するコイルばねでもよい。
また、支持部材11には外部電極17a、17bを有す
る電歪素子17の一端を受台18′を介して固設し、そ
の他端には受台18を介して駆動部材19を一体とし、
この駆動部材1日の先端部に球状部19aを形成し、球
状部19aを光源ユニット14の側面に半径方向から当
接させ、電歪素子17の変位により光源ユニット14が
回動軸15を中心として揺動し得るようにしている。
支持部材11は例えば高強度なインバーのように極めて
強靭で剛性が大きく電歪素子17と同水準の熱膨張係数
を持つ材質を用い、取付孔11bにより図示しない固定
部に位置決め部11cをガイドとして固設することによ
り、さらにその剛性を高め得る。
実際の組付けに際しては、まず電歪素子17の長手方向
の両端部に断面コの字状の受台18゜18′の平面側を
接着により一体とし、治具を用いて一方の受台18′を
受け、他方の受台18の溝部18aに、角柱状の駆動部
材19の他端を嵌入し、予圧をかけながら駆動部材19
を受台18に雄付けして電歪素子17と一体化して変位
部材10を構成している。
このような構成からなる変位部材10を適当な治具によ
り支持部材11に対して位置決めし、受台18′の溝部
18a を支持部材11の突出部11dに嵌入し、駆動
部材19側から予圧をがけて受台18′を支持部材11
に鑞付けする。
次に支持部材11のフレームlla、11aの軸孔15
,15に光源ユニット14の回動軸15゜15を回動自
在に嵌装し、光源ユニット14と端板12との間に圧縮
ばね1Bを係着して光源ユニット14の側面を駆動部材
19の先端球面部19aに圧接させる。
なお、光源ユニット14は、例えば第3図に示すように
半導体レーザ14aとそれから放射される発散光を集束
する投光レンズ14b、及びこれらを一体に保持する外
筒14Gとからなり、この外筒14cの側面に軸受部1
4d、14dを設けている。
また、駆動部材1日は、環境の温度変化による各構成要
素の熱膨張を考慮してその材質を選定することが必要で
ある。
すなわち、変位部材10の単位温度当りの伸びが、支持
部材11の変位部材取付面から軸孔13までの距離Xに
対する伸びにほぼ等しくなるような熱膨張係数を有する
材質(例えばインバー)を選ぶようにすれば、温度変化
による影響を除去することができる。
第4図はこの実施例の制御手段を含む全体のブロック図
を示すもので、マイクロコンピュータ(CPU)20に
設けた発光信号出力ポート21に半導体レーザ駆動回路
22を介して半導体レーザ14aを接続し、所定のタイ
ミングでレーザ光を照射し得るようにしている。
また、設定部23で設定された走査指令値を入力ポート
24からCPU20に入力し、その出力ポート25から
の出力データをD/A変換器2Bでアナログ信号に変換
し、電歪素子駆動回路27によって電歪素子17の電極
17a、17bに電圧を印加することにより、変位部材
10の電歪素子17にその印加電圧に対応する伸びを与
えて、光源ユニット14から発する光ビームを所要範囲
走査し得るようにしている。
第5図及び第6図はこの発明の他の実施例を示すもので
、この光ビーム走査装置の支持部材31はインバーのよ
うな強靭な材質からなり、その胴部31aは上部に頭部
31c2尾部31dを設けてあり、胴部31aと頭部3
1cとの間に頚部318を形成し、頭部31cが頚部3
1eを支点として弾性範囲内で拭動し得るようにしてい
る。
胴部31aには下部に複数の取付孔31fを設け、図示
しない固定部に強固に固設し得るようにし1頭部31c
と足部31dとの間には、前述の実施例と同様に電歪素
子17.受台18.18’及び駆動部材3日(頭部31
cと一体がよい)とからなる変位部材30を架設し、頭
部”tIQの先端部には光源ユニット14の側面を龜付
は等により一体に固設している。
これ番こより、電歪素子17の変位により頭部E51Q
が拭動することにより、光源ユニット14が頚部31e
を支点に拭動して光ビームを走査することができる。
第9図はこの発明による光ビーム走査装置の光路図を示
すものである。
ここで、 W:光ビームを走査しようとする平面物体A:光源ユニ
ット14の搗動中心 θ:光源ユニット14の振れ角 D:光源ユニット14の搗動中心Aから変位部材10ま
での垂直距離 Δd:自然長dの変位部材10の変位量Q:光スポット
の振れ幅 L:搗動中心Aから平面物体Wまでの距離とし、変位部
材10が自然長dである時の光ビームが平面物体Wに直
交するものとし、かつ角θが充分に小さいとすると1次
式が成立する。
Δd =tan  θ#θ Q     Δd D Δd Ω=      ・ L いま、例えばd ”= 20 m mの電歪素子17に
電圧150Vを印加して Δd=20μm を得ることができ。
D=1mmの時 L=l OOmmとすると Q=2mmL=200mm
とすると Q =4 mmL=400mmとすると Q
=8mm となり、距MLを変化させることにより、変位部材10
の僅かな変位量により光スポットの振れ幅。
即ち走査範囲を任意に設定できることが分る。
次に、第10図乃至第12図を参照して実際の光ビーム
走査手順を詳細に説明する。
平面物体W上の光ビームの振れ幅Qをn個の光スポット
S1*S2+・・・・・・+5ffl−□、Snで走査
するようにし、これに対応する電歪素子17の変位を単
位変位量Δd / nを基準として、Δd / n 。
2Δd / n + ”’ ”’ !Δd(第11図(
d)参照)とする。Δd、nは、第4図のブロック図に
示す設定部23であらかじめ設定される設定値であり。
11024を介してイニシャアル時にCPU20に読み
込まれる。
一方、CPUの20の中では変位Δd / n 。
2Δd / n 、・・・・・・、Δdは位置情報Pt
 e pz +・・・・・・、Pk、・・・・・・、P
nとして認識されている。
この位置情報Pi+Pz+・・・・・・、Pnは、デジ
タル量であり、一般に整数値である。そして、例えばこ
の位置情報Pkから変位(k・Δd / n )を得る
には次のようにしている。
まず、CPU20より位置情報PkをI/○25を介し
て出力し、D/A変換器2日でデジタル量からアナログ
量に変換する。このアナログ量を電歪素子駆動回路27
への入力信号とし、電歪素子17を駆動する。
D/A変換器2日の出力電圧すなわち電歪素子駆動回路
27の入力電圧をvl kとし、電歪素子17の駆動電
圧をVzkとすると、電歪素子駆動回路27は入力電圧
Vl kから出力電圧Vzkを得る電力増幅回路である
。こうして電歪素子17は、VZ kの電圧で駆動され
、所定変位k・Δd/nを得る。
ところで、電歪素子17はヒステリシスを持っており、
電歪素子17に加わる電圧と変位との関係は第8図(a
)に示される通りである。
すなわち、所定の変位k・Δd / nを得るには、印
加電圧V2 kとVZ k’の場合があるが、たとえこ
のヒステリシスを有していても、第8図(a)から分る
ように、電歪素子17を印加電圧v2を上げる方向、す
なわち充電しながら位置を決める場合と、印加電圧V2
を下げる方向、すなわち電歪素子17の電荷を放電しな
がら位置を決める場合とに区別することにより、印加電
圧と変位とを1対1に対応させることが可能となる。
そのため、CPU20のでは位置情報として2つの系を
持ち、一つは充電しながら位置を決゛める系であり、も
う一つは放電しながら位置を決める系である。
充電しながら位置を決める系の位置情報をPL+P2+
・・・・・・、Pk、・・・・・・、Pnとすると、位
置情報Pkはpi + P2 *・・・・・・の順にl
1025を介して出力され、電歪素子17にはV 21
 + V 22 r・・・・・・Vzk・・・・・・、
VZ nの順に徐々に電圧が上がる向きに印加され、変
位量Δd/n、2Δd / n 、・・・・・・、にΔ
d / n 、・・・・・・、Δdが決まる。
一方、放電しながら位置を決める系の位置情報をPt 
’ y P2 ’  ”・・・・HPk’  ・=−、
Pn’とすると、位置情報Pk’はPn’、Pn−1’
・・・・・・の順にl1025を介して出力され、電歪
素子17の印加電圧v2はV 2 n ’ (= V 
2 n LV2 n −1’ 、・・・・・・、VZ 
k’ と低下しながら変位量Δd、(n  t)Δd、
・・・・・・、にΔdn、・・・・・・Δdnに対応し
た位置が決まる。
以下、位置情報はPkとして充電する向きで説明してい
るが、放電する方向でも同じことが言える。
こうして、位置情報Pkと変位にΔdnの間の関係は決
められるが、位置情報Pkと変位量にΔdnを直接結ぶ
関係式は下記の手順で求めることができる。
第8図(b)において、領域〔■〕は印加電圧v2と変
位量Δdとの関係を表わす特性図である。ここで、電歪
素子17は電圧v2が印加され、光源ユニット14が振
動するが、支持部材、変位部材の熱膨張率、ヤング率、
電歪素子17の印加電圧変位特性などにより、本装置の
印加電圧■2と変位量Δdの関係が決まる。
第8図(b)の領域(m)は入力電圧Vl と印加電圧
v2の関係を示す電歪素子駆動回路27の特性である。
V2/Vlが電歪素子駆動回路27の増幅率であり、一
般には■1とv2とは非線型関係にある。
第8図(b)の領域(IV)はD/A変換器26の特性
を示すものである。デジタルの位置情報Pを入力として
電圧v1が得られる。位置情報Pと電圧V!との特性は
D/A変換器2日の分解能、直線性などで決まる。第8
図(b)の領域(1)が最終的に知りたい位置情報Pk
と変位にΔd / nの関係式となる。
第8図(b)(II)、 Cm)、 (IV)で示され
る特性はそれぞれ実験により求められる。それらの特性
から位置情報Pkと変位量にΔd / nを得るには、
例えば、第8図(b)において、変位量Δdを任意に複
数等分して第8図(b)の変位量の軸上にとり、図の矢
印の向きに特性図を使用し、印加電圧v2を決める。
同様にして、印加電圧v2から矢印の向きにプロットす
ることにより、入力電圧v1を求め、さらに、これに対
応する位置情報Pを求める。
こうして求められた位置情報Pと変位量Δdとの関係を
、第8図(b)の領域[1)上でプロットすることがで
き、求める特性が得られる6なお、変位量Δd/n、2
Δd / n 、・・・・・・kΔd / n 、・・
・・・・、Δdは説明の都合上等間隔にとったが、n個
のうち必要なスポットのみを細かくとることも可能であ
る。
第11図(a )、(b )、(c )、(d )に、
光スポット51tS2y・・・・・・、SnをQ / 
nずつ等間隔で移動する時の位置情報P1+P2+・・
・・・・、Pnの出力タイミングを示す(各曲線は第8
図(a)においてO→aの時の波形を示し、a→O時の
波形は省略しである)。ここで工は電歪素子17への充
電電流である。
第12図は電歪素子駆動回路27の一具体例を示すもの
で、駆動電源vBとアース間に直列に接続された2個の
トランジスタスイッチ41.42と、そのオン・オフを
それぞれ制御する2個のコンパレータ43,44と、入
力電圧v1をコンパレータ43又は44に切り換えて印
加する切換スイッチ45と、抵抗46.47等からなる
そして、切換スイッチ45をa側に切り換えると、#!
動電源VBによりトランジスタ41を介して電歪素子1
7を入力電圧v1に応じた電圧V2で充電して駆動する
ことができる。
また、切換スイッチ45をb側へ切り換えると、トラン
ジスタスイッチ42及び抵抗46.47を介して電歪素
子17の電荷を放電させて駆動することができる。
ところで、光スポットを等間隔で移動するには、に分割
する必要がある。そして、電歪素子17の印加電圧v2
対変位量Δdは第8図(a)で求められている。
一方、前にも述べたように電歪素子としては積層圧電素
子を用いた方が望ましいが、この積層圧電素子は電気的
にはコンデンサに相当し、1層されているので容量が大
きい。
その変位量は電歪素子に蓄積される電荷量にほぼ比例し
、容量の時間変化はコンデンサの充電曲線と似ている。
変位量かにΔd / nから(k+1)Δd / nに
変化し、光スポットが移動するためには、印加電圧Vz
をVzkからVz(k+IH,−上げなければならない
第8図(a)から変位量がΔdに近づくにつれ、引き上
げるべき印加電圧v2は小さくてすむことが分る。した
がって、電歪素子17に流れる電流もそれにともない、
始めは大電流が流れ、変位量がΔdに近づくにつれて小
さくなる。
このような関係を求めたものが、第11図(a)。
(b)、(c)、(d)に示すものである。出力電圧v
1と印加電圧v2とは第8図(b)の領域[IIr)に
示す特性図から分る様にその大部分の範囲が線型関係に
あり、出力電圧Vz と印加電圧v2との波形はほぼ同
様な曲線となる。
この発明の実施例ではcpu20を使用し、D/A変換
器26の出力電圧Vlは連続に変化せず。
ステップ状に変化させている。
そして、印加電圧v2と充電電流■の波形は電歪素子1
7がコンデンサとして電気的に近似できるため、第11
図(c)、(d)に示すように指数関数状となる。
すなわち、第11図(a)、(b)、(c)、(d)に
示すように、光スポットを等間隔で移動させるには、時
間jl +j2 +・・・・・・、tnの順で時間間隔
が徐々に増加する時点において、位置情報P1eP2t
・・・・・・、Pnをl1025を介して出力すること
により実現させることができる。
以上、第1図に示す実施例(光源ユニット14の搗中心
A)について説明したが、第5図に示す実施例のように
光源ユニット14が頚部31aを支点として揺動する場
合でも、上記と同様に第8図(b)に示すような各相関
曲線を実験的に求めて、これよりcpu20の位置情報
をl1025を介して出力するようにすればよい。
第13図は、第4図の実施例による光スポツト走査時の
CPU20の処理を示すフローチャートであり、半導体
レーザ駆動回路22(第4図)により半導体レーザ14
aを発光させ(ステップ■)。
光スポットSの位置を定め(ステップ■)、その位置に
応じた電圧を電歪素子17に印加する(ステップ■)。
さらに、印加電圧が予め定めた電圧に達したかどうかに
よって走査を続けるか否かを判断しくステップ■)、走
査を続ける場合はステップ■〜■を繰り返し、走査を終
了する場合には半導体レーザ14aの発光を停止させる
(ステップ■)。
このようにして、上述した各実施例によれば、極めて簡
単な構成で、電歪素子17に印加する電圧に応じて自由
にその変位量を制御することができ、それによって光源
ユニット14を揺動させて高速(数KHz程度)かつ高
精度な光スポットの走査及び位置決めが可能になる。
なお、上記各実施例においては、光ビームを同一平面内
において走査する場合について説明したが、光源ユニッ
トを互いに直交してそれぞれ独立して揺動し得るように
し、各回転軸線に直交して2個の変位部材を設けるよう
にすれば、光ビームをx−y方向に走査することができ
る。
また、光ij!14aは半導体レーザに限るものではな
く、LED等の発光素子を用いても差支えない。
次に、第14図及び第15図を参照してこの発明による
光ビーム走査装置を光学式距離測定装置に適用した応用
例を説明する。
第16図において、14は半導体レーザ14aと投光レ
ンズ14bとを外筒140で一体に保持した光源ユニッ
トであり、投光レンズ14bの主点Aを揺動中心として
揺動可能であり、揺動中心Aから間隔りを置いて設けら
れた自然長dの変位部材10の変位により駆動される。
40は揺動中心Aから真横の距1IiCの位置に主点B
を有する受光レンズ、41は受光レンズ40の主点Bか
ら距離Fの位置に水平に設けた半導体装置検出器(以下
rPsDJ と略称する)であり。
図示の都合上受光面のみを示している。
いま、変位部材10の電歪素子に電圧を印加しない状態
で光源ユニット14から垂直に光ビームが照射するよう
にし、その光ビームが被測定物W上に光スポットP1を
生じ、この光スポットP1を受光レンズ40によりPS
D41の受光面上の点Q1に結像させた時、受光レンズ
40の光軸とPSD41の受光面とが交わる定点QOか
ら点Q1までの距離をxlとすると、第17図にも示す
ように、揺動中心Aから被測定物Wまでの距離Llは次
式で表わされる。
すなわち、PSD41上の点Q1の位置を知ることによ
って被測定物Wまでの距離を測定することができる。
また、この状態から電歪素子に電圧を印加して変位部材
10を変位量Δdだけ伸長させ、光源ユニット14を揺
動中心Aの回りに揺動させ、光ビームを角θだけ振った
状態で、被測定物W上の点P1から距離Qの点に光スポ
ットP2を生じ、この光スポットP2の像が受光レンズ
40によりPSD41の受光面上の定点QOから距離X
2の点Q2に結像したとすると、第17図からとなり、
この(2)、(3)式から点P2までの距tlLzは次
式で表わされる。
C・F X2+ ここで、変位部材10の変位量Δdは電歪素子への印加
電圧によって一義的に決まるので1点Q2の位置を知れ
ば点P2までの距離L2を求めることができる。
すなわち、電歪素子に第11図(a)に示した各電圧を
印加して光ビームを走査することにより。
被測定物Wの表面形状を認識することが可能になる。
〔発明の効果〕
以上述べたように、この発明による光ビーム走査装置は
、光ビームを発生する光源ユニットとこの光源ユニット
を揺動自在に支持する支持部材との間に電歪素子を介在
させるだけの極めて簡単な構造なので、生塵性良好で製
造コストも安く1組立ても容易である。
また、光ビームの走査を光源ユニットの揺動により行な
うようにしたので、電歪素子の微少な変位により光スポ
ットの大きな振れ幅を得ることができ、高速かつ高精度
な光ビーム走査が可能になる。
なお、電歪素子に積層圧電素子を用いるようにすれば、
熱の発生が少なく無騒音で応答性が良く、かつ入力電気
エネルギーの機械エネルギーへの変換効率が良いので電
力消費が少ない光ビーム走査装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示す正面図、第2図は同
じくその平面図、 第3図は光源ユニットの構成を示す断面図、第4図はこ
の実施例の全体の植成を示すブロック図、 第5図はこの発明の他の実施例を示す正面図、第6図は
同じくその平面図。 第7図(a)、(b)はそれぞれ異なる電歪素子の構造
を示す斜視図、 第8図(a)は電歪素子の印加電圧と変位量との関係を
示す線図、(b)はCPUの位置情報と変位量との関係
を示す相関曲線図、 第9図は第1図〜第4図に示した実施例の光路図。 第10図はこの実施例による光ビームの走査方法を例示
する説明図。 第11図(a)はD/A変換器の出力電圧を経過時間と
の関係で示す線図、(b)は電歪素子へ供給すべき電流
を経過時間との関係で示す線図、(C)は電歪素子へ印
加すべき電圧を経過時間との関係で示す線図、(d)は
電歪素子の変位量を経過時間との関係で示す線図、 第12図は第4図の電歪素子開動回路の一例を示す電気
回路図、 第13図は第4図の実施による光ビーム走査時における
CPU20の処理を示すフロー図、第14図はこの発明
による光ビーム走査装置の応用例を示す斜視図、 第15図はその光路図。 第18図及び第17図は従来の光ビーム走査装置のそれ
ぞれ異なる例を示す説明図である。 10.50・・・変位部材 11.31・・・支持部材
14・・・光源ユニット 1日・・・圧縮はね(付勢手段) 17・・・電歪素子    19,39・・・駆動部材
20・・・マイクロコンピュータ(CPU)22・・・
半導体レーザ駆動回路 26・・・D/A変換器  27・・・電歪素子駆動回
路第1 図 第5 図 第6 図 第7 図 (Q) (b) 第9 図 ヒ1−+ 第10図 第11図 第12図 駆動電源 V口 第13図 第16図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光ビームを発する光源ユニットを揺動自在に支持し
    、該光源ユニットの揺動中心から外れた点に、印加電圧
    に応じて寸法歪を発生する電歪素子を有する一端固定の
    変位部材の他端を圧接させ、前記電歪素子にその単位変
    位量に対応する電圧を所要の変位量に達するまで所定の
    時間間隔で積算して印加することを特徴とする光ビーム
    操作方法。 2 光ビームを発する光源ユニットと、該光源ユニット
    を照射方向可変に揺動自在に支持する支持部材と、該支
    持部材と前記光源ユニットとの間に介在して印加電圧に
    応じて寸法歪を発生する電歪素子と、前記光源ユニット
    を前記電歪素子に押圧する付勢手段とを有し、前記電歪
    素子の変位により前記光源ユニットを揺動させて光ビー
    ムを走査するようにしたことを特徴とする光ビーム走査
    装置。 3 一端に頚部を介して接続した頭部を、他端に尾部を
    有する支持部材と、該支持部材の頭部と尾部との間に介
    在して印加電圧に応じて寸法歪を発生する電歪素子と、
    前記頭部の先端に接合した光ビームを発する光源ユニッ
    トとを有し、前記電歪素子の変位により前記頚部を支点
    として前記光源ユニットを揺動させて光ブームを走査す
    るようにしたことを特徴とする光ビーム走査装置。
JP19968988A 1988-08-10 1988-08-10 光ビーム走査方法及びその装置 Pending JPH0248631A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003089180A (ja) * 2001-09-18 2003-03-25 Shibuya Kogyo Co Ltd レーザモジュールの照射位置調節装置
WO2013118506A1 (ja) * 2012-02-08 2013-08-15 パナソニック株式会社 立体視用ポインタ装置

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JP2003089180A (ja) * 2001-09-18 2003-03-25 Shibuya Kogyo Co Ltd レーザモジュールの照射位置調節装置
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