JPH0248714A - 温度制御装置 - Google Patents
温度制御装置Info
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- JPH0248714A JPH0248714A JP20057288A JP20057288A JPH0248714A JP H0248714 A JPH0248714 A JP H0248714A JP 20057288 A JP20057288 A JP 20057288A JP 20057288 A JP20057288 A JP 20057288A JP H0248714 A JPH0248714 A JP H0248714A
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- Control Of Resistance Heating (AREA)
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
装置に関する。
線と温度により抵抗値の変化する検知線を添設し、該検
知線の抵抗値変化を電位変化に変換し、この電位変化と
温度設定器による電位変化とを比較して所定温度に制御
するようにしている。
報を掲記する。
ータ線の近傍に設けているために、絶縁層を介して交流
電圧の誘導分が検知線に重畳されることになり、この結
果、もし交流電圧にノイズが印加したときは温度検出回
路が誤検出し正確な温度制御ができない欠点があった。
度検出回路が高温状態であると検出したり、高温状態で
あるのに低温状態であると検出する欠点があった(ハ)
発明が解決しようとする課題 本発明は、ノイズ等の外乱に影響されず器具本体の温度
に基ずき正確な温度制御を行うものである。
り正の抵抗変化を示す検知線とからなる線状体と、前記
ヒータ線に直列接続され該直列回路を交流電源に接続す
る開閉素子と、前記交流電源の電圧の所定位相を検出す
る位相検出回路と、該位相検出回路の出力に基ずき交流
電圧に対応する所定の位相間を可変して出力する位相可
変回路と、温度設定回路と、該温度設定回路の電位と前
記検知線の抵抗値に基ずく電位とを比較する比較回路と
、前記位相可変回路の出力に基ずき前記比較回路の出力
を比較し演算する演算回路とを備え前記演算回路は、前
記位相可変回路の出力時においてこの出力の期間中に前
記比較回路の出力のサンプリングを行い比較回路の出力
が予め設定された回数のカウントに基ずき前記開閉素子
を開閉する構成である。
印加されたとしても、位相可変回路の出力時においてこ
の出力の期間中に比較回路の出力のサンプリングを行い
、比較回路の出力が予め設定された回数よりも多い場合
は設定温度よりも高;Bであると判断して開閉素子を開
放し設定温度に維持すべく制御し、反対に比較回路の出
力が予め設定された回数よりも少ない場合は設定温度よ
りも低温であると判断して開閉素子を閉成し設定温度に
維持する。
と温度により正の抵抗変化を示す検知線(4)とからな
る線状体で、器具本体く図示せず)に配設している。(
5)は前記ヒータ線(3)に直列接続したS CRのよ
うな開閉素子、(6)は前記ヒータ線(3)と開閉素子
(5〉の直列回路に印加する交流電源、(7)は該交流
電源に接続した直流電源回路で、降圧用抵抗<8>、
(9)と第1ダイオード(10)とコンデンサ(11)
とチェナーダイオード(12)とから構成している。
電圧の正の周期において「LJレベルとなり、負の周期
においてrHjレベルとなる(第3図(C)参照)位相
検出回路で、抵抗(14)、 (15)と第2ダイオー
ド(16)と第1トランジスタ(17)とから構成して
いる。 (18)は抵抗(19)と可変抵抗器(2o)
と第3ダイオード(21)との直列回路からなる温度設
定回路、 (22)は第2トランジスタ(23)と抵抗
(24)と第4ダイオード(25)と検知線(4)と発
熱抵抗(26)との直列回路とからなるセンサー回路、
(27)は前記センサー回路(22)の抵抗(24)
と第4ダイオード(25)との接続部(B)の電位と温
度設定回路(18)の抵抗(19)とボリュウム(20
)との接続部(F)の電位とを比較する比較回路、 (
28)は前記位相検出回路(13)の出力に基ずき交流
電源(6)の電圧に対応する所定の位相間を可変して出
力する位相可変回路で、交流電源(6)の電圧の正の周
期において75〜90度の位相間を可変し、この間に3
回のパルスを出力する。 (29)は前記位相可変図2
M<28)の出力の期間中に前記比較回路(27)の出
力のサンプリングを行う演算回路で、交流電源(6)の
電圧の正の5個の周期において、それぞれの周期に位相
可変回路(28)から3つのパルスを出力し合計15パ
ルス中に比較回路(27)からの高温度信号を10回以
上のカウントしたときには後述する制御回路(30)及
び駆動回路(32)を介して前記開閉素子(5)を開放
する。5回以下のカウントをしたときには開閉素子(5
)を閉成すると共に6〜9回のカウントをしたときは現
在の15パルスを出力する前の15パルス中の比較回路
(27)の出力のカウントに基ずくデータにより制御を
行う。
すいて予め設定されたプログラムによりヒータ線(3〉
の発熱を制御する制御回路、 (31)は前記位相可変
回路(28)の出力により第2トランジスタ(23)を
ONにするパルス回路、 (32)は前記開閉素子(5
)の駆動回路、 (33)は前記交流電源(6)とヒー
タ線(3)。
発熱抵抗(26〉に密着固定している。
の(A)の波形が現れると共に位相検出回路(13)の
出力(C)の波形は第3図の<C>の様に現れる。
ては第1トランジスタク17)がONするため「L」レ
ベルとなり、負の周期においては第1トランジスタ(1
7)がOFFするため「H」レベルとなる。
圧の正の5個の周期においてそれぞれの周期に3パルス
ずつ出力し、この3パルスの出力の期間を75〜90度
の位相間(第3図のtの期間)において可変して出力す
る。(第3図の(D>の点線)そして、位相可変回路(
28)の出力に基ずきパルス回路(31)の出力(E)
が第3図の(B)の様に出力し、この時点で第2トラン
ジスタ(23)をONにしてセンサー回路(22)に通
電し比較回路(27)が抵抗(24)と第4ダイオード
(25)との接続部(B)の電位と抵抗(19)とボリ
ュウム(20)との接続部(F)の電位の比較を行う。
周期の位相可変回路(28)が3パルスの出力を行う時
のみONする理由としては、センサー回路(22〉で消
費する電力を極力少なくして全体としての消費電力を少
なくするためである。
である時は第3図のくす、)の破線に示す弱レベルが設
定され、「強」である時は第3図の(b、)の破線に示
す高レベルが設定され、ボリュウム(20)の設定とは
無関係に異常高温度のレベルとして第3図の(b、)に
示す異常し゛ベルが設定される。
示す「弱」に設定されているとすれば、前述のように位
相可変回路(28)の出力がなされている期間中に前記
比較回路(27)の出力をサンプリングしその出力(弱
レベルよりも高い信号)がl[]/ tc;以上のとき
は演算回路(29)の出力データによって制御回路(3
0)が駆動回路(32)を介して開閉素子(5)をOF
Fにし器具本体の温度を弱レベルまで下げる。
になると前述のサンプリングによる比較回路(27)の
出力が5/10以下になるため、開閉素子(5)をON
にし器具本体を加熱する。
に設定されている場合であっても前述と同様な制御を行
う、また、器具本体の温度が第3図の(b、)に示す異
常レベルに上昇した場合であってもヒータ線(3)への
通電を停止する。
7)の出力が6/10〜9/10にあった場合4次現在
の15パルスを出力してサンプリングする前の周期の1
5パルス中の比較回路(27)の出力のカウントに基ず
き制御を行う9即ち、現在のサンプリングの前の周期に
サンプリングしたデータがボリュウム(20)で設定さ
れたレベルよりも高(10/15〜15/15)の場合
は開閉素子(5)のOFF状態をU続し、低く5/10
以下)の場合は開閉素子(5)のON状!ふを1!枕す
る。
、この出力の期間中に比較回路の出力のサンプリングを
行い比較回路の出力が予め設定された回数のカウントに
基ずきヒータ線に接続した開閉素子を開閉するものであ
るがら、サンプリング中において交流電源に外来ノイズ
が印加されたとしても、設定温度に対して器具本体の温
度が上昇した場合あるいは下降した場合のいずれの信号
かを正確に判断することができる。この結果外来ノイズ
によって、器具本体が設定温度に対して高温であるのに
低温と判断したり、あるいは低温であるのに高温である
と判断して異常加熱や加熱不足を生ずることがない。
波形図である。 (1)・・・線状体、(2)・・・絶縁層、(3)・ヒ
ータ線(4)・・検知線、(5)・・開閉素子、(6)
・・・交流電源(13)・・・位相検出回路、 (27
>・・・比較回路。 位相可変回路、 (29)・・・演算回路。 (28)・・・ 12図 出願人 三洋電機株式会社、、。 代理人 弁理士 西野卓嗣、□。 s3図
Claims (1)
- (1)絶縁層を介して添設したヒータ線と温度により正
の抵抗変化を示す検知線とからなる線状体と、前記ヒー
タ線に直列接続され該直列回路を交流電源に接続する開
閉素子と、前記交流電源の電圧の所定位相を検出する位
相検出回路と、該位相検出回路の出力に基ずき交流電圧
に対応する所定の位相間を可変して出力する位相可変回
路と、温度設定回路と、該温度設定回路の電位と前記検
知線の抵抗値に基ずく電位とを比較する比較回路と、前
記位相可変回路の出力に基ずき前記比較回路の出力を比
較し演算する演算回路とを備え、前記演算回路は、前記
位相可変回路の出力時においてこの出力の期間中に前記
比較回路の出力のサンプリングを行い比較回路の出力が
予め設定された回数のカウントに基ずき前記開閉素子を
開閉することを特徴とする温度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63200572A JPH0820911B2 (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63200572A JPH0820911B2 (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 温度制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0248714A true JPH0248714A (ja) | 1990-02-19 |
| JPH0820911B2 JPH0820911B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=16426565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63200572A Expired - Lifetime JPH0820911B2 (ja) | 1988-08-10 | 1988-08-10 | 温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820911B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6052136A (ja) * | 1983-09-01 | 1985-03-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 受信レベルの検出・判定回路 |
| JPS60162130A (ja) * | 1984-02-02 | 1985-08-23 | Sharp Corp | 電気カ−ペツト |
| JPS60241742A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-11-30 | 三洋電機株式会社 | 給電装置 |
-
1988
- 1988-08-10 JP JP63200572A patent/JPH0820911B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6052136A (ja) * | 1983-09-01 | 1985-03-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 受信レベルの検出・判定回路 |
| JPS60162130A (ja) * | 1984-02-02 | 1985-08-23 | Sharp Corp | 電気カ−ペツト |
| JPS60241742A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-11-30 | 三洋電機株式会社 | 給電装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820911B2 (ja) | 1996-03-04 |
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